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CH 8017-1999

基本信息

标准号: CH 8017-1999

中文名称:航测仪器整机精度检定规程

标准类别:测绘行业标准(CH)

英文名称:Verification regulation for the general accuracy of aerophogrammetric instruments

标准状态:现行

发布日期:1999-03-19

实施日期:1999-05-01

出版语种:简体中文

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标准分类号

标准ICS号:数学、自然科学>>07.040天文学、大地测量学、地理学

中标分类号:综合>>测绘>>A77摄影与遥感测绘

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出版信息

页数:19页

标准价格:18.0 元

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标准简介

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标准内容

CH 8017-. 1999
为了加强对航测仪器整机精度检测工作的需要.本标准规定广整机检定的检测条件、检具、方法和精度评定限差要求。并有标准附录A检测记录计算表格示例。从而为开展航测仪器整机精度检测工作提供了统一的技术依据
本标准的附录A是标准的附录。
本标准由国家测绘局提出并归口。本标准由国家测绘局测绘标准化研究所、江苏省测绘研究所共同负责起草本标准主要起草人:毕生成、马聪丽、成燕辉152
1范围
中华人民共和国测绘行业标准
航测仪器整机精度检定规程
Verification regulation for the genaral accuracyof aerophotogrammetric instrumentsCH 8017 --. 1999
本标准规定了各等级精度的模拟立体测图仪、解析测图仪和纠正仪的整机精度的检定。本标准适用于新制造、使用中和维护后的立体测图仪与解析测图仪和由模拟测图仪、立体坐标量测仪改造而成的相应等级精度的机助或解析测图仪的整机精度检定。并适用于各种类型纠正仪整机精度检定。
对于引进国外相应等级精度的仪器亦可参照本标准进行整机精度检定。2引用标准
下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。CH8006---91模拟测图仪系列及其基本参数CH/T 8007--91HMT10模拟测图仪CH 8012---92HJT 05解析测图仪CH 8005-910.8~~7.0倍纠正仪
3定义
3.1 航测仪器整机精度(genaral accuracy of aerophotogrammetric instruments)用模拟像对(或模拟像片)对测图仪(或纠正仪)在仪器整个量测范围内测定三维(或二维)空间定位精度的总称。
3.2模拟像片玻璃板(analogphotographplate)用玻璃材料制造,表面刻有按共线方程求得的像面坐标点位的十字状刻线,成为模拟中心投影构像的像片。
3.3模拟像对玻璃板(pairof analogphotographplatcs)模拟可构成立体像对的两张模拟像片玻璃板。4检测条件
4.1室内温度:20C±5C;
4.2室内温度每小时变化:≤3℃/h;4.3检具在室内平衡温度时间:≥2h;4.4纠正仪在暗室或半暗室进行检测。5方法提要
本标准规定采用专用模拟像对玻璃板检测立体测图仪和解析测图仪的检测方法,采用专用模拟像片玻璃板检测纠正仪的检测方法。国家测绘局1999-03-19批准
1999-05-01实施
CH 8017-1999
模拟航摄时的几何关系,根据设计的像片内、外方位元素和航向重叠度以及具有一定高痒的均匀分布的地面点坐标值,按共线方程解算得出地面点在左、右像面上的坐标值,并以「字形状通过离精度的两坐标刻划设备精密刻划在经光学加工的平行平面玻璃板上,制成模拟像片和模拟像对玻璃板。从而排除了航摄仪镜头畸变、底片压平、摄影材料变形等的误差影响。用模拟像对在之体测图仪、解析测图仪上检测时,以常规航片作业方法进行内定问,相对楚问,绝对定向后,测定各模型点的二维空间坐标,其与应有值之差计算得出高程相对中误差HHI…平均商程面的相对航高)和平面点位中误差m.(归化至像片面上),作为整机精度,以评定立体测图仪和解析测图仪整机精度
用模拟像片在纠正仪上检测时,当用4个角点纠正对点后,检测其余各点误差,从而评定纠正仪整机精度,
6专用检测器具
6.1HMD模拟像对玻璃板
检具代号:
——模拟
航空摄影测量
模拟像对玻璃板刻划点位分布见图1。6.1.1HMID)模拟像对主要技术参数a.焦距:f=152.50mm;
b.像幅:230mm×230mm;
c.框标:有以主点对称分布的上下、左右框标标志及4个象限中和为士100mm处的4个十字状标志;
倾角:左片9+2°30,=1\30,=0;d.1
右片R=—1°30°,Wr+2°30°,R--0;e.
基线分量:B=1500m,B0,B,=→30m;f.平均高程面的相对航高:H=2750m;g.摄影比例尺:1:18033;
成图比例尺:1:5000;
i.地面点平面位置见图2,在3000m×1500m范围内均布15个点作为平面精度的检测和平面精度的评;
j.高程布点:采用框架结构模型设置高程点.分五层高程值分别为十300.00m,=100.00m,0-100.00m.30000m五层,在单号点上同-平面点设置+300.00m,0,300.00m三种高程,在双号点上同-平面点设置有+100.00m,100.00m二种高程,另外设置1623号8个点,高程各不机厘且尾数相差0.1m。模型范围内最大高差达1/3H,另有左、右主点的高程,见图1。6.1.2主要技术要求
a.采用5~6mm厚玻璃板经光学精加;b.在230mm×230mm范围内刻划点位中误差应小于±0.002~0.003mmc
刻划线宽为0.01~0.02mm。
6.2HMP模拟像片玻璃板
CH 80171999
CH8017.-1999
图2HMD模拟像对地面点平面位置分布图注:1~15点的三位数字编号中前位数表示高程的百米数,后二位表示平而点号,16~23的平面点号与高程值分列、5外还有左、片主点501和50R、共18个高程,23个平面点位。在高程检测时.时以任舍7、9点和501、50R其中的组,即成为46或42个高程值。
表1HMD模拟像对地面点点号、坐标和高程点
1 750.000
2 500.000
4 000.000
4 000.000
4 000.000
4 000.000
4 000. 000
检具代号:
2 500.000
CH 8017—1999
续表1
2500,000
1 750.000
2 500.000
2 125.000
航空摄影测量
3 625.000
3 625.000
2 875. 000
2 125. 000)
2 427.920
2 621,419
模拟像片玻璃板点位刻划分布见图3,HMP模拟像片玻璃板分为HMP-1和HMP-2两种(可刻在同-块玻璃板上),检测纠正仪时两种都要检测,其中HMP-1在4倍、6倍纠正倍率时使用,HMP-2在4倍纠正倍率时使用。
6.2.1HMP-1模拟像片主要技术参数a.
焦距:f210.00mm
像幅:230mmx230mm:
倾角:3°=+3°,0;
航高:H=1260.00m;
CH 8017-1999
地面点平面位置见图4,在900m×900m范围内均布25个点。6.2.2HMP-2模拟像片主要技术参数焦距:f=88.00mm;
HMP---/2
图3HMP模拟像片玻璃板点位刻划分布图b.
个点。
像幅:230mm×230mm;
倾角:9=+3,—3°=0;
航高:H=3520.00m;
地面点平面位置见图5,在6000m×6000m范围内均布9个点并在4个象限中央设4个点共1312
图4HMP-1模拟像片地面
点平面位置分布图
6.2.3主要技术要求
玻璃板厚度为5~6mm、经光学精加.T.;刻划点位中误差应小于士0.007mm;h.
图5HMP-2模拟像片地面
点平面位置分布图
刻划线宽为0.02~~0.04mm。
7检测方法
7.1立体测图仪整机精度检测
7.1.1检测器具
CH 8017--1999
HMI)模拟像对玻璃板1对,三等标准金属线纹尺。7.1.2检测方法
a、装片:模拟像对玻璃板分别安置在左、右像片盘上,并通过放大镜仔细观察使框标标志对准像片盘相应标志,其对准误差不得大于0.005mm,个别不得大于0.008mm。h.安置主距:安置左、右主距=152.50mm,精确到0.01mm。模型比例尺选择:在保证模拟像对模型所有高程、平面的活动范围的条件下,尽可能选择较大c.
的模型比例尺,般选择模型比例尺1:10000。d,相对定向:6个标准点(O1.、OR、501、503、513、515)的残余上下视差以像片比例尺计应不大于0.010~0.015mm(相当于1/4测标)。e.绝对定向:
(a)归化模型比例尺:用模拟像对模型4个角点(501、503、513、515)进行比例尺归化。当用图解对点时应使平面对点误差不大于0.1mm,个别点允许达0.2mm误差。当采用模型点计数器记录上述4个角点的模型坐标进行比例尺归化时边长和对角线线段长度与应有值之差应小于0.02mm,个别线段长度充许误差0.03mm。
(b)模型置平:用(a)述4个角点为平面和高程定向点.经合理配赋后高程定向点残余误差不大于0.15m,4个高程定向点之间最大较差应不大于0.2m,个别允许达0.3mf.高程和平面坐标量测:
量测489(或46、42)个高程值和15个点平面坐标值。(a)高程量测:采用立体观察、一人单测,以往返两次切读的读数取中数。同一点往返测高程值二次切读读数较差应不大于0.2m,个别点允许达0.3m。当往返量测48(或46、42)个点高程后,凡二次读数超限(大于0.2m)点个数超过总点数的1/5时,则全部高程点须重新切读,如果超限点数在总点数的1/5之内,则允许对超限的点重新往返测高程值。记录、计算表格见附录A中的表A1。(b)平面坐标量测:立体观察切读15个点的高程和平面点位[801、602、503、404、205、606、507(50L)、408、509(50R)、610、811、412、513、414、215],并记录每点、J坐标,同一点其往返测二次读数之差不应大于相当实地0.1.m、个别允许差0.2m。记录计算表格见附录A中的表A2。对于带缩放仪或绘图桌而无、计数器的立体测图仪器,采用立体观察切读9个点[801、503、205、507(501.)、408.509(50R)811.513、2151并刺点在0.1mm厚聚脂薄膜上(或图板.t),然后用三等标准金属线纹尺量取边长和对角线,记录表格见附录A中的表A3。7.2解析测图仪整机精度检测
7.2.1检测器具
HMD模拟像对玻璃板1对。
7.2.2检测方法
a.内定尚:模拟像对玻璃板分别安置在左、右承片盘上后,测标依次精确对准1个框标、框标应有值为4个象限中zy=+100.000mm.内定向误差应小于0.003mml.个别不得大于0.005mm。b。相对定向:6个标准点的残余上下视差以像片比例尺计应不大于0.003mm,个别不得大于0.005 mmc
绝对定向:用4角4个点(501、503、513、515)的高程值和平面大地坐标作为绝对定向值。其平面坐标误差应小于0.05m,个别允许0.10m.高程定向点误差应不大于0.05m,个别点允许达0.1m。159
CH 8017--- 1999
d.高程和乎面坐标量测:采用立体观察、一个单测,以往返测两次切读的读数中数。量测48(或46、42)个高程点和15个点平面坐标值,并自动记录打印出48(或46、42)个高程值和15个点的平面坐标值,亦可48(或46、42)个点平面坐标值全部记录打印。其高程值同一点往返测二次切读读数较差应不大于0.2m,个别点允许大0.3m。当往返测48(或46、42)个点高程后,如二次读数超限(大于0.2m))点个数超过总点数的1/5,则全部高程点须重新切读。如超限点个数在总点数的1/5以内.则允许对超限的点重新往返测高程值。高程检测记录计算表格见附录A中的表A1。平面坐标.、y同--点往返测二次读数之差应不大于相当于实地0.1m,个别点允许不大于0.2m。平面检测记录计算表格见附录A中的表A4。7.3纠正仪整机精度检测
7.3.1检测器具
HMP-1、HMP-2模拟像片玻璃板,读数显微镜。7.3.2检测方法
7.3.2.1HMP-1模拟像片纠正对点a.装片:模拟像片玻璃板刻划面向下放在承片框上并准确归心。安置仪器主距值f一210.00mm。b.纠正对点:放大4倍时,用在600mm×600mm范围内均布25个点,且展点误差不大于0.lmm的对点底图进行纠正对点。以最外围4角4个点(11、1551、55)作为纠正点。经配赋后4个纠正点上对点误差应不大于0.1mm,个别点充许不大于0.2mm。c.目视估读或必要时用读数显微镜读取25个点的误差值,并记录25个点的点位误差.记录表格见附录A中的表A5左上部。
d.改变缩放倍数为6倍时或直接安置在6倍时,用在450mm×450mm范围内均布9个点月展点误差不大于0.1mm的对点底图,分4个象限(各9个点)进行缩放对点。对点误差应不大于0.1mm,个别允许不大于0.2mm。
e.分别读取误差值并记录4个象限各9个点的对点误差,记录表格见附录A中的表A5下部。7.3.2.2HMP-2模拟像片纠正对点a.安置仪器主距:F=88.00mm。b。纠正对点:放大4倍时,用在600mm×600mm范围内分布13个且展点误差不大于0.1mm的对点底图,以最外围的4角4个点(111、115、151、155)作为纠正点对点,经配赋后4个纠正点上对点误差应不大于0.1mm,个别点允许不大于0.2mmc.读数并记录13个点位对点误差,记录表格见附录A中的表A5右上部。8检测数据处理及整机精度评定限差要求8.1检测数据处理
8.1.1高程中误差
式中:V。.二次高程读数平均值与应有值的较差,m;n-—观测高程点个数。
8.1.2相对高程中误差
mn/H =1/(H/mz)
式中:H-—平均高程面的相对航高,m。8.1.3平面精度
a.用于立体测图仪的15个点平面精度检测。160
(2)
平面中误差(模型上):
化至像片面上:
式中:f--焦距,152.50mm;
仪器上平均投影高度.mm;
n.—-·观测值个数;
CH 8017 -. 1999
t-—未知数个数本规程设定为4个):[v]=[deda]+[dydy] -[dx]+[ay]_N+15bzxz.net
N,=[dx,]+[dy,];
N-[dx]+[dy.];
dr,-adx;
dr2=h .dr;
dy,=cdy,
α、b、d在计算表格(表A2)中绘出:d\低测值—成有值
dy=y摄测值“—y成有值;
b.用于解析测图仪的15个点平而精度检测平面中误差(地面上):
化至像片面上:
式中:EVV]-[drdα]+Ldydy];
dz—x坐标读数平均值减去应有值,m;dy-y坐标读数平均值减去y应有值.m;n—观测平面点个数。
9点刺点平面精度检测
(3))
对于不附有、计数显示功能的立体测图仪,用图解刺点后,以边长、对角线线段量测值与应有值比较。
8.1.4纠正对点后检测点的残余对点误差用模拟像片纠正对点后直接读取投影点与对点底图上相应点之误差并标记误差方向,8.2整机精度评定限差要求
8.2.1立.体测图仪整机精度限差要求对立体测图仪整机精度限差要求如表2所示。161
CH 8017 --. 1999
表2立体测图仪整机精度限差
高程相对中误差
1/20000以上
1/10000以上
1/5000以上
m(像面上)
≤±0.007mm
≤±0.015mm
±0.030mm
仪器型号示例
HMT05*A
HMT 10 * Ar+Bas
HMT 20*
注:表2所列平面精度不包括绘图桌及缩放仪。带缩放仪的平面精度,线段边长允许差0.2mm,对角线互差0.4mm,对于直角坐标式绘图桌,要求边长及对角线误差不大于0.2mm。8.2.2解析测图仪整机精度限差要求对解析测图仪整机精度限差要求如表3所示。表3解析测图仪整机精度限差
高程相对中误差
1/20000以上
1/10000以上
1/13000以上
1/5000以上
注:*参照(H 800--91;
* *参照CH 8012—92;
** *参照测绘标准体系表(96)。8.2.3纠正仪整机精度限差要求
mr(像面上)
±0.007mm
≤±0.015mm
≤±0.010mm
≤±0.030mm
仪器型号示例
HJT02BC-1,C130
HJT05 JX-3,APS-P*-
HMT10\
HJTI0**
在放大4倍、6倍纠正时,当4角纠正点误差小于0.1mm(个别为0.2mm)时,其检测点残余对点误差应在0.1mm以内(个别误差允许达0.2mm)。8.3检测结果的处理和检定周期
8.3.1经检测符合本标准精度限差要求的仪器应填发仪器精度检定合格证书,对不符合本标推的应发给检定结果通知书,用户须重新进行检校维修,然后再重新检定。各等级仪器如使用年久,检校维修后仍达不到本仪器原等级限差要求,可降低仪器等级,按其达到的限差等级发给合格证书。8.3.2检定周期可根据仪器具体使用情况确定,般为1年,对于解析测图仪最长不超过2年,尤其在仪器搬动或大的检校后必须及时对仪器进行检定。162
仪器名称:
型号、编号:
应有值/ m
应有值/
应有值/ m
观测高程个数n
高程中误差m=
相对高程中误差mz/H=1/
CH 8017--1999
附录A
检测记录计算表格
(补充件)
HMD模拟像对模型高程检测表
检测地点:
案温:
观测者:
记录者:
计算者;
日期:
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