本标准所涉及的低温试验适用于非散热和散热两类试验样品。对于非散热试验样品，试验Aa和Ab不违背早期发行的标准。本标准仅限于用来考核或确定电工、电子产品(包括件、设备及其他产品)在低温环境条件下贮存和(或)使用的适应性。这一低温试验不能用来评价试验样品对温度变化的耐抗性和在温度变化期间的工作能力，在这种情况下，应当采用试验N:温度变化试验方法。低温试验方法分为以下三类:非散热试验样品低温试验:——试验Aa:温度突变——试验Ab:温度渐变散热试验样品低温试验:——试验Ad:温度渐变本试验方法通常用于条件试验期间能达到温度稳定的试验样品。试验持续时间是从试验样品温度达到稳定时开始计算的。在特殊情况下，如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定，则试验持续时间从试验箱(室)达到规定试验温度时开始计算。相关规范应规定:a)试验箱(室)内温度变化速率;b)试验样品放入试验箱(室)的时间;c)试验样品在试验条件下暴露试验开始的时间;d)试验样品通电或加负载的时间。在这些条件下，相关规范的制定者可根据GB/T2424.1-1989导则选定以上4个参数(以上条件下的修订正在考虑之中)。 GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 GB/T2423.1-2001 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS19.040
中华人民共和国国家标准
GB/T 2423.1—2001
idtIEC 60068-2-1:1990
电工电子产品环境试验
第2部分：试验方法
试验A：低温
Environmental testing for electric and electronic products-Part 2:Test methods-Tests A : Cold2001-07-12发布
中华人民共和国
国家质量监督检验检疫总局
2001-12-01实施
GB/T 2423. 1—2001
IEC前言
试验A：低温试验的历史概况
试验A：低温与试验B：T热下标字母之间的关系引
引用标雄
非散热试验样品与散热试验样品试验方法应用对比3
非散热试验样品：温度突变试验和温度渐变试验应用对比·4
散热试验样品有或无强迫空气循环的试验6
第一篇
一般说明
试验设备
严酷等级
预处理
初始检测
条件试验
中间检测
最后检测
试验A&：非散热试验样品温度突变的低温试验相关规范应给出的信息
第二篇
12日的
一般说明
试验设备·
严酷等级·
预处理
初始检·
条件试验·
中间检测
试验Ab：非散热试验样品温度渐变的低温试验GB/T 2423.1—2001
最后检测
相关规范应给出的信息·
第三篇
一般说明·
试验设备·
严糙等级
预处理：
初始检测·
条件试验·
中间检测
最后检测
相关规范应给出的信息
附录 A(标准的附录)
附录B(标推的附录）
附录C(标准的附录）
试验Ad：散热试验样品温度渐变的低温试验坏境温度校推计算图
试验Ad方法A：有强迫空气循环试验温度状态的图示试验Ad方法B：有强迫空气循环试验温度状态的图示试验Ad(20.1.2)中方法A简要流程图附录 D(提示的附录)
附录E（提尔的附录）
试验 Ad(29.1.2)中方法B简要流程图++
GB/r 2423.1-2001
本标准等同采用国际电T委员会IEC60068-2-1:1990（第五版）环境试验第2部分：试验试验A：低温》及其修改1：1993.修改2：1994。本标准与IEC60068-2-1：t990（第五版）的差异：为与GB/T2423电工电子产品环境试验系列标推的名称协调一致，本标准名称为：《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温》。本标准与GB/T 2423.1：1989主要有下列差异：本标准的技术内容，编写格式及表达方法与IEC60068-2-1：1990相一致。而GB/T2423.1-1989虽然等效采用IEC60068-2-1:1974（第四版）,但编写格式与表达方法与IEC60068-2-1:1974相差很多,如将试验 Aa、试验 Ab 及试验 Ad 三种试验相同的内容归纳编辑成章：将其附录 B、附录C改为标准正文图1、图2:删春了*试验Aa、Ab、Ad的相同点和不同点示意图，根据GB/T1.1标准编写模板，在引言中加入引用标准一条。一本标难增加了附录D和附录E（根据IEC60068-2-1:1990的修改2:1994)。-删去了GB/T2423.11989中6.2第3段（本标准为4.2、15.2和26.2)最斥一句：\但在任何情况下，持续时间不应少于30 min\。根据GB/T 2422—1995,本标准将 relevant specification译成\相关规范\,而GB/T 2423.1—198是译成“有关标难”。
本标准是GB/T2423《电上电子产品环境试验》系列标准之一，在本标准涉及到的与IEC出版物相对应的国家标准有：
GB/T24211999电T电子产品环境试验第1部分：总则（idtIEC60068-1：1988）GB/T2422—1995电工电于产品环境试验术语(eqVIEC60068-5-2：1990）GB/T2424.1—1989电.T.电子产品环境试验规程高低温试验导则(eqVIEC60068-3-1:1974）本标准的附录 A、附录B、附录 C 为标准的附录。本标准的附录D、附录E为提示的附录。本标准从实施之日起,同时代替GB/T 2423.1—1989。本标准由国家机械工业局提出并由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会归口。
木标雄起草单位：广州电器科学研究所。本标准主要起草人：赵世杰、陈洁、张永彬。木标准首次发布于1981年，第1次修订于1989年2月。本标准委托全国电工电子产品坏境条件与环境试验标准化技术委员会负责解释。GB/T2423.1-2001
IEC 前言
1）IEC关于技术事项的正式决议或协议.是由对该问题有特殊兴趣的所有国家委员会派代表参加的技术委员会制定的，它尽可能地表达国际上对所讨论问题的一致意见。2）这些决议或协议以推荐形式供国际上使用，并在此意义上为各国委员会所接受。3）为了促进国际间的统一性，IEC希望所有国家委员会，在其国家条件允许的范围内采用IEC推荐的标准的止文形式为国家标准形式。在国家标准与IEC标准之间存在任何不一致时，要尽可能在国家标准中明确指出。
本标准由IECTC50环境试验技术委员会50B气候分技术委员会制定。IFC60068-2-1（第五版）是以IEC60068-2-1（1974）第四版（包括第四版校正版IEC60068-2-1A：1976和第四版修订：1983)和下列文件为基础，表】
出版物
60068-2-1（第四版）
第一次修订本
60068-2-1A
六个月法
50B(CO)158
50B(CO)239
50B(CO)182
投票报告
50B(CO)163
5B(CO)250
50B(CO)187
有关同意本标准的全部投票资料，可在上表投票报告中找到。本标谁引用了以下IEC出版物：
出版号IEC60068-1：1988环境试验第一部分：总则两个片法
50B(CO)167
投票报告
50B(CO)172
IEC:60068-3-1：1974环境试验第三部分：背景信息、第一章：低温和十热试验
GB/T 2423.1—2001
第一次出版(1954)
试验A：低温试验的历史概况
只包含试验A：低温试验，仪涉及温度的突变，标准试验时问6h。第二次出版（1960）
与试验A同，但标准试验时间改为2h。第三次出版(1966)
介绍：
试验 Aa;与前版试验 A同。
一试验 Ah;温度渐变的新方法。第四钦出版(1974)
介绍：
试验 Aa;与前版试验 Aa 同。
试验Ah：与前版试验Ab向。
试验Ad：散热样品温度渐变的新方法。试验A：低温与试验B：热下棕卒母之闻的关系，试验A：低温与试验B：十热下标字母之间的关系，见下表：下标学母
样品类型
非散热
非散热
非散热
试验A：低温试验
温度变化
试验开始时的样品温度
稳定*
稳定*
样品类型
非散热
非敏热
试验 B:干热试验
温度变化
试验开始时的样品温度
稳定*
稳定*
稳坑*
*：在试验持续时间开始之前，试验样品要达到温度稳定。在特殊情况下，也可能不是这样，这需要在相关规范中提供附加信息，见引言的第1节和IEC60068-3-1（所涉及的这些情况的修改正在考虑中)。
中华人民共和国国家标准
电工电子产品环境试验
第2部分：试验方法
试验A：低温
Environmental testing for electric and electronic products-Part 2: Test methods-Tests A :Cold公
1概述
GB/T 2423. 1—200T
idtIEC 60068-2-1:1990
代替GB/T 2423.1—1989
本标推所涉及的低温试验适用于非散热和散热两类试验样品。对于非散热试验样品·试验Aa和Ab 不违背早期发行的标准。
本标准仪限于用来考核或确定电工，电子产品（包括元件、设备及其他产品）在低温环境条件下贮存和（或)使用的适应性。
这一低温试验不能用来评价试验样品对温度变化的耐抗性和在温度变化期间的工作能力，在这种情况下，应当采用试验N：温度变化试验方法。低溢试验力法分为以下三类：
非散热试验样品低温试验：—·试验Aa:温度窦变试验Ab:温度渐变
散热试验样品低温试验：
-试验 Ad:温度渐变
本试验方法通常用丁条件试验期间能达到温度稳定的试验样品、试验持续时间是从试验样品温度达到稳定时开始计算的。在特殊情况下，如果条件试验期间试验样品达不到温度定，则试验持续时间从试验箱(案)达到规定试验温度时开始计算。柑规范应规定：
）试验箱(室)内温度变化速率；b）试验样品放入试验箱(室)的时问，）试验样品在试验条件下暴露试验开始的时间：）试验样品通电或加负载的时间。在这些条件下，相关规范的制定者可根据GB/T2424.1一1989导则选定以上4个参数(以上条件下的修订止在考虑之中）。
2引用标准
下列标推所包念的条文，通过在本标准中用而构戒为本标准的条文：本标准出版时，所示版本球为有效。所有标准都会被修订，使用本杯准的各方应探讨使用下列标推最新版本的可能性。GB/T24211999电工电子产品环境试验第1部分：总则(idtIEC60068-1：1988）GB/T24221995电1.电子产品环境试验术语（eqVIEC60068-5-2：1990）中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局2001-07-12批准2001-12-01实施
GB/T 2423- 1—2001
GB/T2424.1—1989电工电子产品基本环境试验规程高温低温试验导则(eqv1EC60068-31:1974)
3非散热试验样品与散热试验样品试验方法应用对比试验样品温度达到稳定后，在自由空气条件（即没有强迫空气循环）下测量时，试验样品表面上最热点温度高于周围大气温度5K以1的，认为是散热的（见GB/T2421--1999中的4.3）。对于贮存试验及试验期间没特别说明加负载的试验样品，试验采用低温试验方法Ab。4非散热试验样品：温度突变试验和温度渐变试验应用对比温度突变试验Aa：先将试验箱（室）温度调节到规定试验温度，然后放入具有室温的试验样品，这是一种简便的节约时间的方法，本试验方法适用于已知温度突变对试验样品不产生损伤时的情况。温度渐变试验Ab：先将具有室温的试验样品放入亦为室温的试验箱（室）内，然后将试验箱（室）温度逐渐冷却到规定试验温度。这种试验方法不会因温皮变化对试验样品产生损伤作用。若由于试验样品尺寸太大，或由于复杂的功能试验接线.在突变试验时不能做到将其放入低温箱而不产尘结霜情况时，世应采用试验Ab。5散热试验样品有或无强追空气循环的试验散热试验样品较好的试验方法是在尤强迫空气循环下进行的，若难以达到这一要求，当敬热试验样品在有强迫空气循环耐可采用试验Ad这一方法，有强迫空气循环的试验有两种方法：方法A和方法B。方法A是用于试验箱（室）足够大而不需用强追空气循环也能满足试验需求，们在试验箱（室内不用强迫空气循环就不能保持规定的低温环境。方法B用于试验箱(宰)太小，不用强迫空气循环就不能符合试验要求。6图解
为了使于试验方法选择，各种方法分类框图如图1所示。为了方便本标准使用者，本标准给出了对于每一试验方法无交叉引用关系的完整内容。有些条款是相同的，特别是试验方法Aa和Ab。图2的框图表明哪些是相同的，哪些是不同的。针验A：低温
非散热试验样品
Aa:温度宠变
Ab:温度渐变
无人工净却
试验样品
无强追空气
循环试验
(29. 1. 1)
有竭迫空
猴环试验
(29. 1. 2)
低温试验方法分类的方框图
散热试验样品
Ad：温度满变
有人工冷知
或验样品
净却系统和
试脸糖分开
(29. 2. 1)
冷却系统和试
验箱不分开
各种试验方法图解程序
一般说明
试验设备
严酷等载
预处理
初始检测
条件试验
中间险测
最后检测
关规范应给出的信息
GB/T2423.1—2001
图2试验A：低温试验方法框图试验Aa、Ab和Ad的和同点与不同点图示1自的
GB/T2423-12001
第一篇试验Aa：非散热试验样品温度突变的低温试验提供一种标难的试验程序，用以确定经受温度突变不致产生损伤作用的非散热电工、电子产品（包括元件，设备及其他品)低温下存和使用的适应性，试验样品应在低温下放置足够长时间达到温度稳定。试验持续时间通常从样品达到温度稳定时开始计算，不能满足这一条件时，则参见引言第1章。2一般说明
本试验是将具有室温的试验样品放人温度为相关规范规定的符合严酷等级的试验箱（室）内。试验样品达到温度稳定后，在该条件下暴露规定的持续时间。试验样品通常处于不工作状态下。本试验通常采用强追空气循环。
3试验设备
3.1试验箱（室）1.作空间内，应能提供4.1所规定的温度条件，可以用强迫空气循环来保持温度均匀。3.2为了限制辐射影响，箱（室）内壁各部分温度与规定试验温度之差不应超过8%（按开尔文温度计算），且试验样品不应受到不符合上述要求的任何加热与冷却元件的直接辐射。4严酷等级
试验的严酷等级主要由试验溢度和试验持续附间决定，相关规范应优先从4.1和4.2所给数值中选取。
4.1温度
--65C13℃
-55'℃+3℃
--40℃13℃
—25℃±3℃
-10℃+3℃
-5C±3℃
-5℃±3℃
4.2持续时间
2h,16 h,72h,96h
当本标准作为与耐久性或可靠性相联系的有关试验时，则其试验所需的持续时间由柜关规范规定，若试验的口的仅仅是检查试验样品在低温时能否正常上作，则试验的时间只限于使样品温度达到稳定。
5预处理
按相关规范规定的要求进行。
6 初始检测
按相关规范规定对试验样品进行外观检查及电气和机械性能的检测。4
7条件试验
GB/T 2423. 1- -2001
7.1将处于室温下的试验样品，在不包装，不通电、“准备使用”状态，按正常位置或其他规定的位置敏人试验箱（室）内。此时，该试验箱（宰）的度也为室温。当实际1.试验样品和某种特定的安装架一起使用时，试验时就应使用这些装置一起进行试验。试验箱温度测量按GB/T 2421—1.999 中 4.4的规定进行。7.2将试验箱（室）的温度调控到符合严酷等级的温度值，并有足够时间使样品达到温度稳定（温度稳定的定义参见GB/T2422—1995的1.8)。7.3对于功能性试验，必须按相关规范规定对试验样品给予电或加电气负载，并检查确定其能否达到规定功能。
若相关规范有所要求，试验样品应按其规定的作循环和负载条件（若可行时）处于运行状态，或者不了通电。
注：此时试验样品处于运行或在负载条件下：只要表面温度不超过周围大气温度5K，均认为是非散热的。7.4试验样品在低温条件下暴露的持续时间，应由相关规范规定。持续时间从温度达到稳定时算起。注：对于一些小试验样品,没有必要通过测甘来检查其是否达到温度稳定,见 GB/T 2421一1999的 4- 8 法 2-。7.5若相关规范要求进行中间检测，按本标准第一篇中第8章的要求逃行。7.6在条件试验结束时，应使试验样品恢复原状，对通电运行或加电气负载的试验样品，应在恢复程序前停止通电或卸去负载。
8中间检测
相关规范可规定在条件试验期间或结束时（试验样品仍在试验箱（室）内）加负载和（或）测量·者需要时应规定测量的项月和时间。测量时，试验样品不应从试验箱（宰)中取出。注：在条件试验期间不允许把试验样品从试验箱(宰)内取出进行恢复前的测量后又重新效人试验箱(室)内。如果在持续时间结束前要了解试验样品在特定时问的性能，则对每个特定的时间应另外增加一批试验样品，进行恢复和最后的测虽，应对每批试验样品分别进行。9恢复
9.1试验样品应在标准大气条件下进行恢复直到解冻。9.2为了除去水滴，可用于抖动试验样品，或用室温的空气进行短时吹风，9.3试验样品在标准大气条件下恢复时，恢复时间要足以使其达到温度稳定，最少为1h，当几个样品同时进行试验，而1h的恢复时间又足够时，则最长恢复时间为2h，所有测量必须在这一时问终了前进行完毕。
9.4若相关规范有要求，要在恢复期间对试验样品通电或加负载，并连续地测量其性能。9.5当标准人气条件对试验样品不适宜时，相关规范可规定其他恢复条件。10最后检测
按相关规范的规定对试验样品进行外观检查及电气和机械性能的检测。11相关规范应给出的信想
当相关规范包含低温试验时,应给出下列项月的尽可能适用的细节：采用说明：
17IFC60068-2-」原文1FC60068-1中4.6的注2.识根据IEC:G0068-1应为4.8的注25
A）预处理：
b）初始检测；
GB/T2423.1--2001
c）条件试验期间.试验样品的安装状态；d）严酷等级（湿度和试验持续时间）：e）条件试验期间的测量和（或)负载：f）恢复（如不是标准条件下恢复）：）最后检测；
h）供需双方同意的对试验程序的任何更改。第二篇试验Ab：非散热试验样品温度渐变的低温试验12目的
提供一种标准诚验程序，用以确定作散热的电工电子产品（包括元件，设备和其他产品）在低温必存和(或)使用的适应性。
试验样品应在低温下放置足够长时问以达到温度稳定。章。
试验持续时间通常从试验样品达到温度稳定时开始计算，如不能满足这一条件，则参见引言第113一般说明
本试验是将具有室温的试验样品放入温度也为室温的试验箱（室）内，然后将试验箱（室）的温度调整到符合相关规范规定的严酷等级的温度值，在试验样品达到温度稳定后，在该条件下暴露规定的持续时间。试验样品通常处于不工作状态下。本试验通常采用强迫空气循坏，14试验设备
14.1试验箱（室）工作空间内，应能提供15.1所规定的温度条件，以用强追空气循环来保持温度均勾。
14.2为了限制辐射影响，箱（室）内壁各部分温度与规定试验温度之差不应超过8%（按开尔文温度计算），Ⅱ试验样品不成受到不符合上述要求的任何加热与冷却元件的直接辐射。15严酷等级Www.bzxZ.net
试验的严醋等级主要由试验温度和试验持续时间决定，相关规范应从15.1和15.2·所给数值中选取。
15.1温度
65-1 3℃
—55℃±3 C
—40C±3℃
—25℃+3℃
-10'℃±3℃
+5℃=3C
-5℃+3℃
15-2持续时间
2 h,1G h.72h,96 h
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。