GB/T 2423.27-1981
基本信息
标准号： GB/T 2423.27-1981
中文名称：电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法
标准类别：国家标准(GB)
标准状态：已作废
发布日期：1981-08-10
实施日期：1982-04-01
作废日期：2006-04-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：KB
标准分类号
标准ICS号：试验>>19.040环境试验
中标分类号：电工>>电工综合>>K04基础标准与通用方法
出版信息
标准价格：8.0 元
相关单位信息
复审日期：2004-10-14
起草单位：环标委第三工作组
归口单位：全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会
发布部门：中国电器工业协会
主管部门：中国电器工业协会
标准简介
GB/T 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法 GB/T2423.27-1981 标准下载解压密码：www.bzxz.net
标准图片预览
标准内容
中华人民共和国
国家标准
电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验方法
确定产品在低温、低气压和湿热所组成的连续综合环境下的适应性。本试验的对象是装在飞行器中没有温度控制和不增压区域的产品。2试验的一般说明
GB 2423.27-—81免费标准下载网bzxz
本标准提供由低温，低气压和湿热所组成的标准环境试验程序，首先低温和低气压结合在一起进行，然后升温，将低气压和湿热结合在一起进行，最后恢复正常大气压力，让试验样品置于正常温、湿度环境下。
本试验是模拟飞行器在升降期间，未增压而温度又未控制的区域内所遇到的条件，装有弹性密封（例如插头座连接器）的非散热试验样品变冷时，会使密封件硬化和材料收缩，而当周围气压降低后，这种密封有可能损坏造成产品内部压力损失。当飞行器降入潮湿大气时，冷的产品表面会结霜结冰，用于气压回升，空气中的水份或融霜生成的流动水滴，可能会因产品内外压差而侵入产品内部，在密封件恢复到它的正常弹性后，水份就被留在产品内部。同样对于不密封，但配有很紧的盖子而又没有排泄孔的设备也可能在设备内部发生积水现象。3有关试验设备的说明
3.1试验箱必须能满足低温试验方法和低气压试验方法所规定的要求并能在一小时内从低温条件升至3035℃，还必须具有在低气压条件下升温，同时能够加入水蒸汽的能力。3.2由于本试验中有水汽放入，常引起绝缘电阻降低，所以试验样品上引出线经过试验器壁时应不留缝隙，所以引出线要有合适的长度，并要有足够的密封绝缘。3.3如果试验样品有运动的零部件，因试验样品内部有可能结冰而妨碍这些零、部件的运动，则试验箱应具有监控这一种运动动作的电子或机械装置。4试验程序
4.1试验样品应按有关标准规定安装在箱内。4.2当试验样品为插头座连接器时，如有关标推没有规定，它们是插着的，有关标准应说明多路连接器的接线情况。
4.3如有关标准要求试验样品在试验期间或试验结束时有功能显示，则这种显示装置应与试验样品一起放入试验箱内。
4.4除有关标准另有规定外，在升降温时，试验样品应不通电。5预处理
试验样品应按有关标准的规定进行预处理。6初始检测
试验样品应按有关标准规定进行外观检查及电气和机械性能检测。7条件试验
国家标准总局发布
全国电工电子产品环境
技术标准化技术委员会
1982年4月1日实施
全国电工电子产品环境技术
标准化技术委员会第三工作组
GB 2423.27-81
试验箱处于试验室温度，试验样品不包装、不通电、处于“准备工作”状态和按其正常工作位置或按有关标准规定放入箱内。
7.1箱内温度降低到有关标准规定的值，温度变化按每5分钟计算平均速率不大于1℃/分。当试验样品达到温度稳定时，可按有关标准规定进行检测。7.2温度维持在规定值，箱内气压应以不超过10千帕/分的速率降至有关标准规定值，并要按有关标准规定进行检测。
7.3压力维持在规定值，箱温以较均匀的速度在一小时内升高到30℃或室内温度（以高者为准）。同时加入水蒸汽其速度要足以在试验样品上结霜。7.4当试验样品表面温度达到0℃至5℃之间，表面开始融霜时箱内的压力应以大致均匀的速度在15～30分钟的时间内恢复到室内气压值。7.5箱温达到30℃或室内度（以高者为准）后，温度应保持一小时，如检查时间较长则维持的时间应足以进行性能检测。湿度应保持大于95%，以使试验样品表面出现凝露。7.6应按有关标准规定进行检测。7.7如有关标准规定，可按顺序重复第7.1条至第7.6条的试验步骤，重复次数按有关标准规定，重复进行试验时不得改变箱内试验样品的状态。8恢复
除非有关标准另有规定，试验样品应连同连接引出线一同留在试验箱内，直到试验样品内部温度达到标准的试验大气条件。
9最后检测
试验样品应按有关标准规定进行外观检查及电气租机械性能检测。采用本标准应给出的细则
当有关标推采用本试验方法时，应对下列项目作出具体规定a。低温值和低气压值（从低温试验方法和低气压试验方法中选取）。b。预处理。
心，条件试验前应进行的电气和机械检测。d。试验箱中试验样品的安装方式和任何特殊的要求。例如插头座连接器的配合和布线。e。低温、低气压条件时要进行的电气和机械检测。f。高温和高时要进行的电气和机械检测。g．低温/低压/湿热的循环次数。h。恢复后要进行的电气和机械检测。282
见第7.1条和第7.2条
见第5章
见第6章
见第4.1条和第4.2条
见第7.1条和第7.2条
见第7.6条
见第7.7条
见第9章
1．本标准应与下述标准一起使用：GB2423.27--81
GB2421一81《电工电子产品基本环境试验规程总则》
GB2422一81《电工电子产品基本环境试验规程名词术语》
GB2424.15一81《电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则》2.本标直接引用国际电工委员会标准第68-2一39号出版物，1976年第一版，低温、低气压和湿热连续综合试验（IEC Standard Publication 68-2--39 Test Z/AMD：Combined sequentialcold low air pressure and damp heat test )283
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
国家标准
电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验方法
确定产品在低温、低气压和湿热所组成的连续综合环境下的适应性。本试验的对象是装在飞行器中没有温度控制和不增压区域的产品。2试验的一般说明
GB 2423.27-—81免费标准下载网bzxz
本标准提供由低温，低气压和湿热所组成的标准环境试验程序，首先低温和低气压结合在一起进行，然后升温，将低气压和湿热结合在一起进行，最后恢复正常大气压力，让试验样品置于正常温、湿度环境下。
本试验是模拟飞行器在升降期间，未增压而温度又未控制的区域内所遇到的条件，装有弹性密封（例如插头座连接器）的非散热试验样品变冷时，会使密封件硬化和材料收缩，而当周围气压降低后，这种密封有可能损坏造成产品内部压力损失。当飞行器降入潮湿大气时，冷的产品表面会结霜结冰，用于气压回升，空气中的水份或融霜生成的流动水滴，可能会因产品内外压差而侵入产品内部，在密封件恢复到它的正常弹性后，水份就被留在产品内部。同样对于不密封，但配有很紧的盖子而又没有排泄孔的设备也可能在设备内部发生积水现象。3有关试验设备的说明
3.1试验箱必须能满足低温试验方法和低气压试验方法所规定的要求并能在一小时内从低温条件升至3035℃，还必须具有在低气压条件下升温，同时能够加入水蒸汽的能力。3.2由于本试验中有水汽放入，常引起绝缘电阻降低，所以试验样品上引出线经过试验器壁时应不留缝隙，所以引出线要有合适的长度，并要有足够的密封绝缘。3.3如果试验样品有运动的零部件，因试验样品内部有可能结冰而妨碍这些零、部件的运动，则试验箱应具有监控这一种运动动作的电子或机械装置。4试验程序
4.1试验样品应按有关标准规定安装在箱内。4.2当试验样品为插头座连接器时，如有关标推没有规定，它们是插着的，有关标准应说明多路连接器的接线情况。
4.3如有关标准要求试验样品在试验期间或试验结束时有功能显示，则这种显示装置应与试验样品一起放入试验箱内。
4.4除有关标准另有规定外，在升降温时，试验样品应不通电。5预处理
试验样品应按有关标准的规定进行预处理。6初始检测
试验样品应按有关标准规定进行外观检查及电气和机械性能检测。7条件试验
国家标准总局发布
全国电工电子产品环境
技术标准化技术委员会
1982年4月1日实施
全国电工电子产品环境技术
标准化技术委员会第三工作组
GB 2423.27-81
试验箱处于试验室温度，试验样品不包装、不通电、处于“准备工作”状态和按其正常工作位置或按有关标准规定放入箱内。
7.1箱内温度降低到有关标准规定的值，温度变化按每5分钟计算平均速率不大于1℃/分。当试验样品达到温度稳定时，可按有关标准规定进行检测。7.2温度维持在规定值，箱内气压应以不超过10千帕/分的速率降至有关标准规定值，并要按有关标准规定进行检测。
7.3压力维持在规定值，箱温以较均匀的速度在一小时内升高到30℃或室内温度（以高者为准）。同时加入水蒸汽其速度要足以在试验样品上结霜。7.4当试验样品表面温度达到0℃至5℃之间，表面开始融霜时箱内的压力应以大致均匀的速度在15～30分钟的时间内恢复到室内气压值。7.5箱温达到30℃或室内度（以高者为准）后，温度应保持一小时，如检查时间较长则维持的时间应足以进行性能检测。湿度应保持大于95%，以使试验样品表面出现凝露。7.6应按有关标准规定进行检测。7.7如有关标准规定，可按顺序重复第7.1条至第7.6条的试验步骤，重复次数按有关标准规定，重复进行试验时不得改变箱内试验样品的状态。8恢复
除非有关标准另有规定，试验样品应连同连接引出线一同留在试验箱内，直到试验样品内部温度达到标准的试验大气条件。
9最后检测
试验样品应按有关标准规定进行外观检查及电气租机械性能检测。采用本标准应给出的细则
当有关标推采用本试验方法时，应对下列项目作出具体规定a。低温值和低气压值（从低温试验方法和低气压试验方法中选取）。b。预处理。
心，条件试验前应进行的电气和机械检测。d。试验箱中试验样品的安装方式和任何特殊的要求。例如插头座连接器的配合和布线。e。低温、低气压条件时要进行的电气和机械检测。f。高温和高时要进行的电气和机械检测。g．低温/低压/湿热的循环次数。h。恢复后要进行的电气和机械检测。282
见第7.1条和第7.2条
见第5章
见第6章
见第4.1条和第4.2条
见第7.1条和第7.2条
见第7.6条
见第7.7条
见第9章
1．本标准应与下述标准一起使用：GB2423.27--81
GB2421一81《电工电子产品基本环境试验规程总则》
GB2422一81《电工电子产品基本环境试验规程名词术语》
GB2424.15一81《电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则》2.本标直接引用国际电工委员会标准第68-2一39号出版物，1976年第一版，低温、低气压和湿热连续综合试验（IEC Standard Publication 68-2--39 Test Z/AMD：Combined sequentialcold low air pressure and damp heat test )283
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。