本标准规定了含石墨3%、5%、10％的银石墨电触头的技术要求，试验方法，检验规则以及标志、包装与贮存。本标准适用于粉末压制烧结挤压，或烧结复压工艺生产的银石墨电触头。该系列产品主要用作低压开关电器的闭合、断开触头和滑动触头。 GB 12940-1991 银石墨电触头技术条件 GB12940-1991 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
银石墨电触头技术条件
Technical specification for silver-graphiteelectrical contacts
1主题内容与适用范围
GB12940—91
本标准规定了含石墨3%、5%、10%的银石墨电触头的技术要求，试验方法，检验规则以及标志、包装与贮存。
本标准适用于粉末压制烧结挤压，或烧结复压工艺生产的银石墨电触头。该系列产品主要用作低压开关电器的闭合、断开触头和滑动触头。2引用标准
GB2828
逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查）GB5163可渗性烧结金属材料密度的测定GB5586电触头材料基本性能试验方法GB5587.银基电触头基本形状、尺寸、符号及标注3符号、代号及标注方法
3.1：符号及代号
一代表烧结挤压法生产的纤维型银石墨电触头：代表烧结复压法生产的普通型银石墨电触头；代表经复压加工后，再进行退火热处理的P型软态银石墨电触头，-代表经复压加工后的P型硬态银石墨电触头。3.2标注方法
3.3标注示例
见表1。
国家技术监督局1991-06-06批准A
工艺方法
石墨组分的百分含量
石墨（碳元素符号）
银（元素符号）
触字拼音字首，代表电触头
1992-03-01实施
CAgC(3)Q
CAgC（5）Q
CAg C(10) Q
CAgC(3)P
CAgC(5）P
技术要求
GB12940—91
含石墨3%的Q型AgC电触头
含石墨5%的Q型AgC.电触头
含石墨10%的Q型AgC电触头
含石墨3%的P型AgC电触头
含石墨5%的P型AgC电触头
银石墨电触头产品的化学成分、机械、物理性能（指焊接面不脱碳和不覆银层的银石墨电触头4.1
产品）如表2规定。
产品名称
银石墨（3）Q
银石墨（5）Q
银石墨（10）Q
银石墨（3）P
CAgC(3) Q
CA8C(5)Q
CAgC(10) Q
CAgC(3)P
银石墨（5）PAgC（5）P
银石墨电触头化学成分、机械、物理性能化学成分，wt%
不大于
机械、物理性能
不小于
硬度HB
不小于
R：245
Y：392
R：245
Y：392
注：导电度IACS%是以国际标准软铜的电阻1.7241uQ.cm为100%导电度换算来的。4.2制造银石墨电触头应选用胶体石墨粉，胶体石墨粉的要求见附录A。电阻率
不小于
导电度
不小于
4.3银石墨电触头产品的尺寸公差、表面粗糙度等应符合GB5587规定。特殊要求者由供需双方商定。
化学成分分析，在工艺稳定、原材料不变时，仅分析含碳量或含银量。4.4
4.5银石墨电触头表面不得有裂纹、气泡、疤块、掉边、缺角、污物及分层等缺陷。边缘毛刺高度不大于0.1mm。
4.6银石墨电触头产品金相组织应分布均匀，如附录D图D1至图D5所示。银石墨电触头产品的金相组织，在磨片试样的整个观察面上，不应有裂纹，挤压鱼尾，或100μm4.7
GB12940-91
长（长和宽的算术平均值）的夹杂物或石墨颗粒的聚集物，或富银区及明显的银带，其缺陷金相图如附录E图E1至图E10所示。
4.8银石墨电触头供货方式有两种：Q型银石墨电触头产品有脱碳和不脱碳的两种，P型银石墨电触头产品有不覆银层和覆银层的两种。其脱碳层和覆银层的厚度以及脱碳后的密度、硬度由供需双方商定。4.9有脱碳或覆银层的银石墨电触头产品，其脱碳层或覆银层不应有连续的石墨线，在脱碳层或覆银层与银石墨的结合界面，不得有裂纹和100μm长的夹杂或石墨颗粒的聚集物。5试验方法
5.1银石墨电触头产品的厚度和毛刺高度，用分度值为0.01mm的外径干分尺检查，其余尺寸用读数值为0.02mm的游标卡尺或其他适用的仪器、工具进行检查。5.2表观质量用目测或借助于10倍放大镜、工具显微镜或投影仪观察。5.3密度、硬度、电阻率测定按GB5586进行，在测量密度时如发现试品吸水，则按GB5163规定方法进行，硬度测定在产品工作面上进行。，5.4银石墨电触头化学成分分析参照附录F规定进行。5.5金相组织检查，Q型银石墨电触头取与纤维方向垂直和平行的两个截面进行，P型银石墨电触头取与工作面垂直的截面进行。有脱碳层或覆银层的银石墨电触头产品，其金相组织检查应包括结合面部分，金相组织检验方法见附录C。6检验规则
6.1电触头产品质量检查，由生产单位的技术检验部门成批进行。每批应为同一批配料和相同工艺生产的。
6.2银石墨电触头产品质量检查、抽样方法和判定规则。6.2.1外观检查100%。
6.2.2尺寸检查按GB2828（见附录B）的二次正常检查抽样方案Ⅱ级一般检查水平进行抽样，其合格质量水平（AQL值）厚度为2.5，其他尺寸为4.0。6.2.3密度、硬度、电阻率、化学成分、金相组织检查，按GB2828二次正常抽样方案，其中密度、硬度按S－2特殊检查水平进行抽样。其合格质量水平（AQL值）为4.0；电阻率、化学成分金相组织按S－1特殊检查水半进行抽样。其合格质量水平（AQL值）为10。见附录D。6.2.4化学成分分析，若触头单重小于0.5g的应加倍抽样。密度、硬度、金相组织检查可在同一样品上进行。
6.3·银石墨电触头产品化学成分分析及密度测定，必须去掉脱碳层和覆银层。6.4Q型银石墨电阻率测定，可用切片前的挤压条料，切取50mm长的试样进行。对异型挤压条，则须加工成规则电阻率试样，以便进行测定，P型银石墨电阻率的测定，须按与产品相同工艺制作标准试样，其标准试样尺寸为50mm×10mm×4mm。6.5用户验收产品时，若发现有不符合本标准的，必须在收到该产品两个月之内，向制造单位提出。7标志、包装、运输、贮存
7.1每批产品应附有产品合格证及检验单。7.2产品合格证应标明：
8触头产品名称（或代号）规格及批号（或编号）；b.触头重量或粒数
c.制造日期；
d．制造单位名称
e：检验员及检验部门印章。
7.3产品检验单内容：
GB12940-91
&。产品名称或代号、规格及批号（或编号）；b.触头重量或粒数；
C．产品机械、物理性能、化学成分及金相照片；d．检验日期；
e.制造单位名称
f．检验员及检验部门印章。
7.4银石墨电触头应按同一成分、同一规格进行包装7.5产品纸包后采用塑料袋封装。每袋触头重量不得超过1kg。塑料袋装人硬纸盒，每盒净重不得超过4kg。每盒上应标明触头名称、规格、重量或粒数，生产批号或编号，制造单位名称。7.6电触头产品发运，应装人包装箱内，并用松软的材料填实。7.7包装箱内应附有装箱单，装箱单上应注明：a．袋（盒）的总数
b．各种型号或尺寸规格的电触头的袋（盒）数；c．电触头净重；
d．包装日期；
e．包装者印签。
7.8包装箱应标明：
8．制造单位名称；
b.毛重及净重；
c．附有检验单的应加注：
d．防潮、防震标志。
7.9银石墨电触头产品在运输中应防潮、防震。7.10银石墨电触头产品应贴存在无腐蚀气氛的仓库内，并防受潮。GB12940—91
附录A
胶体石墨粉剂
（补充件）
A1制造银石墨电触头应选用胶体石墨粉，其石墨纯度不小于99%，石墨中的灰分不大于1%。A2石墨纯度及灰分的测定：
A2.1仪器设备：使用一般实验室仪器。A2.2测定手续：
取经105～110℃2h烘干后的石粉2g（用万分之一天平）移人已灼烧至恒重的瓷中，并置于800～850℃的茂福炉中，灼烧至恒重称量。A2.3结果及计算
胶体石墨粉中灰分及石墨纯度的百分含量如式（A1)、（A2）计算：（m,-m2）×100
灰分（%）三
石墨纯度（%）=2-（\,=mz)×100.2
式中：m,瓷埚与灰分的质量，g
一灼烧至恒重的瓷埚的重量，g。附录B
产品检查抽样表
（补充件）
（A1)
（A2)
B1本附录引用的数据部分摘自GB2828逐批检查计数抽样程序及抽样表，以便使用本标准时查用。B2二次正常检查抽样表如表B1。表中符号：
使用箭头下面的第一个抽样方案，当产品数量大于或等于批量时，抽样方案的判定数组保持不变；
使用箭头上面的第一个抽样方案；*—使用下面适用的抽样方案
Ac—合格判定数；
R。——不合格判定数。
批量范围
91~150
151280
281~500
501~1200
1201~3200
3201~10000
10001~3500 0下载标准就来标准下载网
35001~150000
150001~
500000
抽样数黄字码
特殊检查水平
GB12940—91
表B1抽样表
查水平
抽样数
量字码
抽样次
第二，
二次正常检查抽样方案表
合格质量水平（AQL）
抽样数
累计抽
样数量
批量范围
500001以上
抽样数量字码
特殊检查水平
GB12940-91
续表B1
一般检
查水平
抽样数
量字码
抽样次
附录C
二次正常检查抽样方案表
合格质量水平（AQL）
抽样数
银石墨电触头的金相检验方法
（参考件）
C1本附录为银石墨电触头金相检验参考方法。C2金相取样
累计抽
样数量
C2.1P型银石墨电触头产品取垂直于触头工作面的截面为金相观察面。2.5
C2.2Q型银石墨电触头产品取垂直和平行于挤压方向的两个截面为金相观察面。C3金相制样
A。 Re
C3.1将截取的试样用镶嵌方法固定，然后用水砂纸或金相砂纸由粗到细逐级进行磨光。C3.2经磨光后的试样，在抛光机上抛光到表面光亮，无划痕为止。C3.3抛光后的试样经水洗后，用滤纸立即措干。10
C4试样不需浸蚀，放在金相显微镜下检查产品的金相组织及缺陷，金相组织检查用200×，缺陷检查用100×。
C5聚集物、夹杂物及富银区的测量，用显微镜的目镜测微尺进行，测量数值取其长和宽的算术平均值。
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