本部分规定了电子电气产品中汞的氢化物发生原子荧光光谱测定方法。本部分适用于电子电气产品中汞的测定。 SN/T 2004.1-2005 电子电气产品中汞的测定 第1部分:原子荧光光谱法 SN/T2004.1-2005 标准下载解压密码：www.bzxz.net

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本部分的附录A为资料性附录。
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1范围
电子电气产品中汞的测定
第1部分：原子荧光光谱法
本部分规定了电子电气产品中汞的氢化物发生原子荧光光谱测定方法：本部分适用于电子电气产品中汞的测定。2方法提要
SN/T 2004.1—2005
对电子电气产品中的金属材质，直接采用规酸消解方法处理。对其他材质，采用密闭高温压力罐-酸消解法处理，使材质中的汞成为可溶性盘类溶解在酸消解液中。消解液导人原子荧光光度计中进行测定。
3试剂
除非另有说明，在分析中仅使用确认为分析纯及以上的试剂和蒸馏水或去离子水或相当纯度的水。3.1硝酸：优级纯。
3.2硝酸溶液（5+95）。
30%过载化氢：分析纯。
盐酸：优级纯。
氢氟酸:分析纯。
氢氧化钠：分析纯。
3.7氢氛化钠溶液（5 g/L):称取5.0官氮氧化钠(3.6),溶于水中，稀释至1000 mL,混勾。3.8硼氢化钠(NaBH,）：分析纯。3.9卿氢化钠溶液（0.2g/L）：称取0.1g氢化钠（3.8)溶于500ml.氢氧化钠溶液（3.7)中，混勾，用前现：
3.10乘标准储备液：度为1mg/mL。3.11汞标准使用液：浓度为0.5μg/mE.,用汞标准俺备液（3.10)逐级稀释配制，用硝酸溶液（3.2）定容。bzxz.net
4仪器和设备
4.1原子荧光光度计：配备汞空心阴极灯，仪器对汞的检测限应达到2.0ng/mL.仪器工作条件参见附录A。
4.2烘箱：(0～200)℃.控温精度±5℃。4.3压力罐：聚四氟乙烯内胆以及不锈钢外套。4.4电热板。
4.5破碎设备：电锯、研磨机、金属切割机、车床等。5样品制备
5.1聚合物材质
用电锯，研磨机等破碎设备将样品研磨成粒径不超过1mm的粉未样。-
附录A
(资料性附录）
原子荧光光度计工作条件
原子炭光光度计工作条件如表A.1所示。表A.原子荧光光度计工作条件
负商函/V
灯电流/mA
载气流速/(mL/mim）
屏蔽气流速/(mL/mnin:)
原子化器温度/心
原了化器高度/mm
加液时间/s
读数时间/s
延迟时间/s
进样体积/ml.
注：所用仪器型号为北京万拓AFS-230a,实验可根据其他仪器类型选择合适工作：条件。SV/T 2004.1--2005
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