GB/T 17473.1-2008
基本信息
标准号： GB/T 17473.1-2008
中文名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
标准类别：国家标准(GB)
标准状态：现行
发布日期：2008-03-31
实施日期：2008-09-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：914436
相关标签： 微电子 技术 贵金属 浆料 测试方法 固体 含量 测定
标准分类号
标准ICS号：冶金>>有色金属>>77.120.99其他有色金属及其合金
中标分类号：冶金>>有色金属及其合金产品>>H68贵金属及其合金
关联标准
替代情况：替代GB/T 17473.1-1998
出版信息
出版社：中国标准出版社
书号：155066·1-31520
页数：4页
标准价格：10.0 元
计划单号：20062653-T-610
出版日期：2008-06-01
相关单位信息
首发日期：1998-08-19
起草人：陈一、张骏、朱武勋
起草单位：贵研铂业股份有限公司
归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
提出单位：中国有色金属工业协会
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：中国有色金属工业协会
标准简介
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。 本部分代替ＧＢ／Ｔ１７４７３．１—１９９８《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定》。本部分与ＧＢ／Ｔ１７４７３．１—１９９８相比，主要有如下变动：———将原标准名称修改为微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定；———删除了引用文件ＧＢ／Ｔ２４２１—１９８９；———本部分增加了聚合物低温固化型浆料的固体含量测定内容；———对于聚合物低温固化浆料，根据浆料使用温度的不同来确定检测固体含量的温度；———浆料平行取样由两份增加为三份；———删除了中温烧成浆料的内容，将高温烧成浆料改为烧结型浆料；———试料相互之间测试值之差不大于平均值的１％测定结果有效。 GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定 GB/T17473.1-2008 标准下载解压密码：www.bzxz.net
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标准内容
ICS77.120.99
中华人民共和国国家标准
GB/T17473.1—2008
代替GB/T 17±73. 1—1998
微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定
Test methods of precious metals pastes used formicroelectronics-Determination of solids content2008-03-31发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2008-09-01实施
GB/T 17473.12008
本标准是对GB/T17473-：1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》（所有部分）的整合修订,分为7个部分：
8微电了技术用贵金属浆料测试方法固体含查测定：GB/T 17473. 12008
-GB/T17473.2—2003数电了技术月资金属浆科测试方法细度测定；-GB/T 17473.3—2008
微电子技术月贵金浆料测试方法方阻测定；-GB/T 17473, 4---2008
8微电子技术用贵金属浆料测试方法附差力测试；---- GB/T 17475. 5—2008
8微电了技术用贵金属浆料试方法粘度测定：
-GB/T17473.6—2008微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定；Www.bzxZ.net
GB/T17473.7—2008微电子技术用贵金属浆料测试方法本部分为GB/T17473—2003的第1部分，可焊性、附焊性測定。
本部分代替GB/T17473.1—1993%厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定》。本部分与GB/T17473.1—1998比，主要有如下变动：将原标准名称修改为微电了技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定；别除了引月文件 GR/T 2421---1989;-本部分绝加了聚合物低温固化型浆料的固体含量测定内容；刘于聚合物低温固化浆料.根据浆料使用温度的不同来确定检测固体含去的温度：浆料平行取样由两份增加为三份：删除了中温烧成浆料的内容.将离腿烧成浆料改为烧结型浆料；-试料相互之间测试值之差不大卡乎均值的1%测定结果有效。本部分由中国有色金属工亚协会提出。本部分白全国有色金属标准化投术委员会归口。本部分由贵研铂业股份有限公司责起节。本部分主要起节人：陈-、张骏、式勋。本部分所代替标准的历次殿需发布情况为：GB/T 17473.1—1996。
wi1范围
微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定
本部分规定了微电子技术引费企尽浆料中面体含量的测试方法。GB/T 17473.1—2008
本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。2引用文件
下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修敢单（不包措却误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，敲励根据本部分邀成协议的各为研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分，GB/T8170数值修约舰则
3方法原理
贵金属浆料在一定温度下加热一定时间，根据奶热前后的质量差酒寇其固体含匠。4仪器与设备
4. 1无平感量为0.0001。
4.2箱式电阻炉最高使用温度 1 000℃,经温精度为二20℃。4. 3鼓风式恒温烘箱:最高使用温度 300℃,控温精度为士5℃。4.4干燥器;变色残胶作干燥剂。5试样
将样品搅拌均勾：不得引入杂质。，6测试步骤
实验环境;环境温度 15 ℃~35'C,相对湿度 45%～75%、大气压强 86 kPa~106 kPa。6.1 试料
6.1.1烧结型浆料：称取三份1g的试料，准确到0.0001g，分别置于儿恒重的2tl瓷埚中。6. 1. 2固化型浆料:称取三份 0. 2 号~0. 3 g 的试料,雅确到 0, (00 1 岛,分别置于聚酯 PET 薄膜片J2,造当摊开。
6.2实验温度与操作
6. 2. 1 烧结型浆料:将装有试料的垢埚置于箱式电阻炉中,微开炉门,升温至 150C,保湿 30 t1i15。关上炉门，继续升温至名50C,保温30min，烧结完成后关闭电源.打开炉门冷却至80℃100它取出垢蜗，置于干燥器小，冷却至室温，称量。6. 2.2固化型浆料：将载有试料的聚酯PET薄膜置]鼓风式恒温烘箱中，加热到浆料固化温度，保温60 tnit,取出游膜放人干燥器中冷至宰温，称量，7试结果计算
7.1 按式(1)计算,浆料中重体质量分数为 2,数值以%表示：1
GB/T17473.1—2008
式中：
-浆料中固体的质迹分数,%，
m—--埚或聚酯薄膜的质量，单位为克(g)：一地场或聚酯薄膜与试料加热前质之和，单位为克(g);m
-埚或聚酯独膜与试料加热后质景之和，单位为克()。7.2测试结果表示至小数点后两位，有效数字的尾数按GB/T8170数值修约规则进行，7.3取三份试料试结果的算术平均值作为测定结果。1)
二份试料相互测试绝对值之差均不大于乎沟值的1另定果有效，否则另取试样重新测定，7.4
检测报告
检测报告应包括以下内容：
试样编号：
b)试样名称、牌号、规格；
c）产品批号：
d）测试结果及检测部门即擎；
c）本标雅编号：
测试人没测试日期。
m中国标准在线服务网
http://gb168.cn
标准号：GB/T17473.1-2008
购买者：上海正峰工业
订单号：0100081118010920
防伪号：2008-1118-10419-5226-6039时
间：2008-11-18
价：13元
GB/T 17473. 1-2008
中华人民共和国
国家标准
微电子技术用安金属浆料测试方法固体含量测定
GB/T 17473. 1-20C8
中国标准出版社出发行
北京家兴门外三里河北街16号
邮政编码：100045
网址 spe, tet, ect?
电话：6852394665517548
中国标准出版社秦杂印别厂印刷各地新华书店经销
开本880×1230115
学教5下学
2008 年 6 月第一版
2008每 6 H第一次印刷
书号1155060：1-3:520
如有印装差错
由本社发行中心调换
版权专有《侵权必究
举报电话：（D10)6B533533
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中华人民共和国国家标准
GB/T17473.1—2008
代替GB/T 17±73. 1—1998
微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定
Test methods of precious metals pastes used formicroelectronics-Determination of solids content2008-03-31发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2008-09-01实施
GB/T 17473.12008
本标准是对GB/T17473-：1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》（所有部分）的整合修订,分为7个部分：
8微电了技术用贵金属浆料测试方法固体含查测定：GB/T 17473. 12008
-GB/T17473.2—2003数电了技术月资金属浆科测试方法细度测定；-GB/T 17473.3—2008
微电子技术月贵金浆料测试方法方阻测定；-GB/T 17473, 4---2008
8微电子技术用贵金属浆料测试方法附差力测试；---- GB/T 17475. 5—2008
8微电了技术用贵金属浆料试方法粘度测定：
-GB/T17473.6—2008微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定；Www.bzxZ.net
GB/T17473.7—2008微电子技术用贵金属浆料测试方法本部分为GB/T17473—2003的第1部分，可焊性、附焊性測定。
本部分代替GB/T17473.1—1993%厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定》。本部分与GB/T17473.1—1998比，主要有如下变动：将原标准名称修改为微电了技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定；别除了引月文件 GR/T 2421---1989;-本部分绝加了聚合物低温固化型浆料的固体含量测定内容；刘于聚合物低温固化浆料.根据浆料使用温度的不同来确定检测固体含去的温度：浆料平行取样由两份增加为三份：删除了中温烧成浆料的内容.将离腿烧成浆料改为烧结型浆料；-试料相互之间测试值之差不大卡乎均值的1%测定结果有效。本部分由中国有色金属工亚协会提出。本部分白全国有色金属标准化投术委员会归口。本部分由贵研铂业股份有限公司责起节。本部分主要起节人：陈-、张骏、式勋。本部分所代替标准的历次殿需发布情况为：GB/T 17473.1—1996。
wi1范围
微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定
本部分规定了微电子技术引费企尽浆料中面体含量的测试方法。GB/T 17473.1—2008
本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。2引用文件
下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修敢单（不包措却误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，敲励根据本部分邀成协议的各为研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分，GB/T8170数值修约舰则
3方法原理
贵金属浆料在一定温度下加热一定时间，根据奶热前后的质量差酒寇其固体含匠。4仪器与设备
4. 1无平感量为0.0001。
4.2箱式电阻炉最高使用温度 1 000℃,经温精度为二20℃。4. 3鼓风式恒温烘箱:最高使用温度 300℃,控温精度为士5℃。4.4干燥器;变色残胶作干燥剂。5试样
将样品搅拌均勾：不得引入杂质。，6测试步骤
实验环境;环境温度 15 ℃~35'C,相对湿度 45%～75%、大气压强 86 kPa~106 kPa。6.1 试料
6.1.1烧结型浆料：称取三份1g的试料，准确到0.0001g，分别置于儿恒重的2tl瓷埚中。6. 1. 2固化型浆料:称取三份 0. 2 号~0. 3 g 的试料,雅确到 0, (00 1 岛,分别置于聚酯 PET 薄膜片J2,造当摊开。
6.2实验温度与操作
6. 2. 1 烧结型浆料:将装有试料的垢埚置于箱式电阻炉中,微开炉门,升温至 150C,保湿 30 t1i15。关上炉门，继续升温至名50C,保温30min，烧结完成后关闭电源.打开炉门冷却至80℃100它取出垢蜗，置于干燥器小，冷却至室温，称量。6. 2.2固化型浆料：将载有试料的聚酯PET薄膜置]鼓风式恒温烘箱中，加热到浆料固化温度，保温60 tnit,取出游膜放人干燥器中冷至宰温，称量，7试结果计算
7.1 按式(1)计算,浆料中重体质量分数为 2,数值以%表示：1
GB/T17473.1—2008
式中：
-浆料中固体的质迹分数,%，
m—--埚或聚酯薄膜的质量，单位为克(g)：一地场或聚酯薄膜与试料加热前质之和，单位为克(g);m
-埚或聚酯独膜与试料加热后质景之和，单位为克()。7.2测试结果表示至小数点后两位，有效数字的尾数按GB/T8170数值修约规则进行，7.3取三份试料试结果的算术平均值作为测定结果。1)
二份试料相互测试绝对值之差均不大于乎沟值的1另定果有效，否则另取试样重新测定，7.4
检测报告
检测报告应包括以下内容：
试样编号：
b)试样名称、牌号、规格；
c）产品批号：
d）测试结果及检测部门即擎；
c）本标雅编号：
测试人没测试日期。
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标准号：GB/T17473.1-2008
购买者：上海正峰工业
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防伪号：2008-1118-10419-5226-6039时
间：2008-11-18
价：13元
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国家标准
微电子技术用安金属浆料测试方法固体含量测定
GB/T 17473. 1-20C8
中国标准出版社出发行
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电话：6852394665517548
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开本880×1230115
学教5下学
2008 年 6 月第一版
2008每 6 H第一次印刷
书号1155060：1-3:520
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