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GB/T 2423.1-2008

基本信息

标准号: GB/T 2423.1-2008

中文名称:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温

标准类别:国家标准(GB)

标准状态:现行

发布日期:1981-08-10

出版语种:简体中文

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相关标签: 电工 电子产品 环境 试验 方法 低温

标准分类号

标准ICS号:电气工程>>输电网和配电网>>29.240.20输电线路和配电线路

中标分类号:电工>>电工综合>>K04基础标准与通用方法

关联标准

替代情况:替代GB/T 2423.1-2001

采标情况:IDT IEC 60068-2-1:2007

出版信息

出版社:中国标准出版社

页数:15页

标准价格:16.0 元

计划单号:20071254-T-469

出版日期:2009-10-01

相关单位信息

首发日期:1981-08-10

起草人:张志勇

起草单位:广州电器科学研究院

归口单位:全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC 8)

提出单位:中国电器工业协会

发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会

主管部门:中国电器工业协会

标准简介

本部分规定的低温试验适用非散热和散热试验样品。本部分代替GB/T 2423.1-2001《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温》,与之相比,主要变化如下:——删除了试验Aa:非散热试验样品温度突变的低温试验;——删除了附录A、附录B、附录C、附录D、附录E;——增加了试验Ae:散热试验样品温度渐变的低温试验——试验样品在整个试验过程通电。 GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 GB/T2423.1-2008 标准下载解压密码:www.bzxz.net

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标准内容

ICS19.040
中华人民共和国国家标准
GB/T2423.1—2008/IEC60068-2-1:2007代替GB/T2423.1-2001
电工电子产品环境试验
试验A:低温
第2部分:试验方法
Environmentaltestingforelectricandelectronicproducts-Part2:TestmethodsTestsA:Coid(IEC60068-2-1:2007,EnvironmentalTestingPart2-1:Tests-TestA:Cold,IDT)2008-12-30发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2009-10-01实施
GB/T2423.1—2008/IEC60068-2-1:2007前言
规范性引用文件
术语和定义
非傲热试验样品与散热试验样品试验方法应用对比试验描述
试验程序
相关规范应给出的信息
8试验报告中应给出的信息
附录NA(资料性附录)
GB/T2423标准的组成部分
附录NB(资料性附录)试验A:低温和试验B:高温的分类代号小写字母之间的关系8
GB/T2423.12008/IEC60068-2-1:2007GB/T2423.1是GB/T2423标准的第1部分,GB/T2423标准的组成部分见资料性附录NA。本部分等同采用IEC60068-2-1:2007《环境试验第2-1部分:试验试验A:低温》(英文版)。本部分与IEC60068-2-1:2007相比,主要做了下列编辑性修改:—本部分的名称改为:《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温》—“本标准”一词改为“本部分”;——删除了IEC60068-2-1:2007前言;删除了IEC60068-2-1:2007引言,将其内容转化为增加的资料性附录NB的内容;-增加了资料性附录“GB/T2423标准的组成部分”(见附录NA);增加了资料性附录“试验A:低温和试验B:高温的分类代号小写字母之间的关系”(见附录NB);
一删除了第1章第1段中的“对于非散热试验样品,”;—第1章中最后两段的内容移到4.1中;-—4.3标题“非散热试验样品”改为“非散热试验样品的试验”;6.2最后一段原文为正文,本部分改为注。为清晰起见,上述修改已在正文相应位置加了脚注。本部分代替GB/T2423.1--2001《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温》,
与之相比,主要变化如下:
删除了试验Aa:非散热试验样品温度突变的低温试验;一一删除了附录A、附录B、附录C、附录D、附录E;-—增加了试验Ac:散热试验样品温度渐变的低温试验-试验样品在整个试验过程迹电。本部分的附录NA、附录NB为资料性附录。本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC8)提出并归口。本部分由广州电器科学研究院负责起草。本部分主要起草人:张志勇。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:-GB/T2423.1—1981、GB/T2423.1-1989、GB/T2423.1—2001。I
1范围
GB/T2423.1—2008/IEC60068-2-1:2007电工电子产品环境试验
第2部分:试验方法试验A:低温GB/T2423的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品。试验Ab和试验Ad与早期版本无实质性的差异,增加试验Ae的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都要通电运行的设备。
本低温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力。本低温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力,在这种悄况下,应采用GB/T2423.22。
本低温试验方法细分为以下几种:非散热试验样品低温试验:免费标准下载网bzxz
·试验Ab,温度渐变。
一散热试验样品低温试验:
·试验Ad,温度渐变;
·试验Ae,温度渐变,试验样品在整个试验过程通电。本部分给出的试验方法通常用于试验期间能达到温度稳定的试验样品。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T2423的本部分的引用而成为本部分的条歇。凡起注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然面,跛励根挪本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注目期的引用文件,其最新版本适用手本部分。
GB/T2421电工电子产品环境试验第1部分:总则(GB/T2421··1999,idtIEC60068-1:1988)GB/T2422电工电子产品环境试验术语(GB/T2422-1995,CqvIEC60068-5-2:1990)GB/T2423.22电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化(GB/T2423.22-2002,IEC60068-2-14:1984,IDT)GB/T2424.1电工电子产品环境试验1:1974,IDT)
GB/T2424.5电工电子产品环境试验3-5:2001,IDT)
商温低温试验导则(GB/T2424.1·--2005,IEC60068-3-温度试验箱性能确认(GB/T2424.5--2006,IEC60068-GB/T2424.7电工电子产品环境试验试验A和试验B(带负载)用温度试验箱的测册(GB/T2424.7—2006,IEC60068-3-7:2001,IDT)IEC60721(所有部分)环境条件分级3术语和定义
GB/T2422确立的以及下列术语和定义适用于本部分。IEC60068-2-1:2007原文在句前有“对于非散热试验样品,”。1)
GB/T2423.1—2008/IEC60068-2-1:20073.1
工作空间低气流速度lowairvelocityintheworkingspace指工作空间的调节气流速度,能维持设定的条件,但也足够低,以致试验样品上任意点的温度不会由于空气循环的影响丽降低5K以上(如果可能,不大于0.5m/s)。3.2
工作空间高气流速度highairvelocityintheworkingspace指工作空间的调节气流速度,为了维持设定的条件,同时使得试验样品上任意点的温度由于空气循环的响而降低5K以上。
4非散热试验样品与散热试验样品试验方法应用对比4.1总则
温度试验箱的制造和认妆赚GB/T2424.5和GB/T2424.7的规定进行。2)高温和低温试验导则T2424.1,总则见GB/T24213)只有在以下情况,为试验样品是散热的:当温度达到稳定时(见GB/T2421中相应内容),在自由空气的条件下(例如,俄气流速度循环)测量的试验样品表面最热点的温度超过试验样品周围空气温度5K以上。当相笑规范要求进行贴存或运输试验,或未指定在试验期间施加负载,低温试验Ab是适用的。
4.2工作空间是离气流速度或是低气流速度的确定在测册和试验的准环境条件下(见GB//2421),以及气流速度<0.2m/s按照待试验的低温条件下的规定给试验彩晶通电或加电气负载当试验样品的度达到秘定,应使用合适的监测装置测量试验样品上或其周围若个有代表性的位留的温度。之后每一个位置的温升应予以记录。开启试验箱的通风装量使空气循环,当温度达稳定时,重新测我上述位置处的温度。如果此次测得的温度与上次无客流动时测得的温度相差超过5K(或相关规范规定的其像值)应在检测报告中记录这些温度值,并为该试验箱具有高气流速度循环。然后给试验样品断电并去掉任何负载条件。
4.3非散热试验样品的减验
在温度渐变试验中就验样品放人处于试验室温度的试验糖中,然后慢毅降低试验箱中温度,防止由于温度改变而对读验品产生有害作用。建议采用高气流速度循环,因伪这样可以减少达到温度稳定所需要的时间。
4.4散热试验样品的试验\
试验Ad和试验Ae描述了撤热试验样品在低气流速度循环下的验程序。这允许试验样品的局部发热点在其内部扩展的情况,类似手安装后的产品在应用中发生的情况。4.5温度监控
应使用温度传感器来测量试验箱里的空气温度,温度传感器的位置离试验样品的距离应确保其受热扩散的影响可忽略不计。应适当注意以避免热辐射影响这些测量,更多信息见GB/T2424.5。4.6包装
对于贮存和运输试验,设备可以带包装进行试验。然而,由于本部分规定的低温试验是稳态试验,设备最终将稳定在试验箱温度,所以,应去掉包装进行试验,除非相关规范要求带包装,或者发热元件是2)该段在IEC60068-2-1:2007原文中位于第1章,3)该段在IEC60068-2-1:2007原文中位于第1章。4)IEC60068-2-12007原文为“热试验样品”,2
与包装合为一体的。
4.7图示
GB/T2423.1—2008/IEC60068-2-1:2007为了便于试验方法的选择,图1给出了几种不同试验方法的图示。试验A:低温
试验Ab见5.2
5试验描述
5.1总则
试验Ad见5.3
微热?
降温调节期通电香?
试验Ac见5.4
图1试验A:低温试验方框图
试验Ab、试验Ad和试验Ae是相似的,差异见5.2.2、5.3.2和5.4.2,从第6章开始的其他部分这些试验共同的。试验箱内的温度变化速率不应超过1K/min(不超过5min时间的平均值)。相关规范应规定试验样品试验时的功能要求。应注意试验样品的任何冷却装置要符合相关规范的要求。5.2试验Ab:非散热试验样品温度渐变的低温试验5.2.1目的
本试验方法用来进行非散热试验样品的低温试验,试验样品在低温条件下放懈足够长时间以达到温度稳定。
5.2.2概述
将试验样品放人温度为试验室温度的试验箱中,然后将温度调节到符合相关规范规定的严等级温度。当试验样品温度达到稳定后,在该条件下暴露到规定的持续时间。对于试验时循要通电运行的试验样品(即使它们不属于傲热试验样品),应在试验样品温度达到稳定后通电,根据要进行功能检测。这种情况下,可能还需要一段时间达到温度稳定,然后试验样品在该低温条件下暴露到相关规范规定的持续时间。
试验样品通常在非工作状态下进行试验。本试验通常采用高气流速度循环。5.3试验Ad:散热试验样品温度渐变的低温试验一—试验样品在温度开始稳定后通电5.3.1目的
本试验方法用来进行散热试验样品的低温试验,试验样品在低温条件下放置足够长时间以达到温度稳定,
5.3.2概述
如果需要,可通过试验确定试验箱能否满足低气流速度的要求。将试验样品放入温度为试验室温3
GB/T2423.1—2008/IEC60068-2-1:2007度的试验箱中,然后将温度调节到符合相关规范规定的严酷等级温度。给试验样品通电或加电负载,检查试验样品以确定其功能是否符合相关规范的要求。试验样品应按照相关规范规定的工作循环和负载条件(如可行时)处于运行状态。当试验样品的温度达到稳定后,在该条件下暴露到相关规范规定的持续时间。本试验通常采用低气流速度循环。5.4试验Ae:散热试验样品温度渐变的低温试验一一试验样品在整个试验过程通电5.4.1目的
本试验方法用来进行散热试验样品的低温试验,试验样品在低温条件下放置足够长时间以达到温度稳定,并且要求试验样品在整个试验过程中通电。5.4.2概述
如果循要,可通过试验确定试验箱能否满足低气流速度的要求。将试验样品放人温度为试验室温度的试验箱中,给试验样品逾电非粮据器要进行功能检测(见5.4.3)然后将温度调节到解合关规范规定的严酷等级温度。当试验样品的温度达到稳定后,在该条件下暴磷到规定的持续时间
本试验通常采用低气速度循环。5.4.3给试验样品通电
然后给试验样品通电或加电负戴,检查试验样品以确定其功能是否符合相类规范的要求。试验样品应按吸相关规范规定的工作循环和负载条件(如可行时)处于运行状态。试验程序
性能确认
GB/T2424.5串了温度试验箱的性能确认指南.GB/T2424.1给出了试险A和试验B的一般操作指南。
与救热试验样冠界寸和数册相比,试验箱应该足够大。6.2工作空间
试验样品应能完圣餐熟人试验精的工作空间内。稳定状态时,流向检品的空气溢度应处于试验严酷等级弹度的土K范瘤内。工作空间的空气温度应按照4.5来测
注;当由于试验箱尺寸的顾因不维持上述容差时,容差可以放宽,试验道度大于每于一25℃时为士3K;试验温度大于等于一65℃,减小25为士5K。当采用了上述睿差、则应在减验报告中指明。56.3热辐射
应尽可能限制试验样品通过热辅射方式传热的能力,这通赏是采取遮挡试验样品的发热或冷却元件,以及确保构成试验箱内壁各部件的温度写调节空气的温度无明显差异的方式来实现。6.4带人工冷却装置的试验样品
相关规范应规定试验样品的冷却介质的特性。当冷却介质是空气时,应注意使空气不受到污染,并保持足够干燥,避免潮湿方面的问题。6.5安装
试验样品安装和连接时的热传导和其他相关特性应在有关规范中规定。当试验样品使用时是安装在特定的装量中时,在试验时应使用这些装置。5)IEC60068-2-1;2007原文中该段为正文,考虑到该段的内容是对放宽温度容差情况的附加说明,应为注。在IEC60068-2-2:2007原文中相应的内容即为注。4
6.6严酷等级
GB/T2423.1—2008/IEC60068-2-1:2007相关规范应规定由温度和试验持续时间表示的试验严醋等级,严酷等级应:从6.6.1和6.6.2所给的数值中选取;a
从已知的环境得出,如果该环境给出显著差异的数值:引自其他知名的相关数据源(例如IEC60721)。c)
-65℃
-55℃
~40℃
-33℃
-25℃
-20℃
-10℃
持续时间
当本试验法结合耐久性和可靠性相关的试验使用时,应注意相关标准或规范给出的关于此类试验持续时间的特定建议。
6.7预处理
预处理按相窥薄的要求进行。
6.8初始检测
试验样品的初始
6.9条件试验
可通过目视检查和(或)按相关规范要求逃行功能检测狄得。U
试验样品应按相关规的详细规定在低温条件下暴露至规定的续时箱。对于试验样品不能达摄穿稳定的例外情况,试验持续时间是从试验样品通电时开始计算的。典型地,这种情况是由那些具有长时间工作循环的样品引起的。6.10中间检测
相关规范可能要求在条件试验中间或条件试验结束耐(试验样品仍在试验箱中)进行加负载和(或)测量。如果要求进行这种测量,相关规范应对这种测盘的内容及时间间进行规定。对于这种测量,试验样品不应移出试验箱。
注:如果要求知道某种试验样品在规定的试验持续时间结束之前的性能,应该为每一不间的试验持续时间准备一个单独批次的试验样品。每一批次的样品应单独进行恢复和最后检测。6.11最后的线性升温
如果试验样品在试验期间保持在运行状态或负载条件下,应在温度上升前断电或卸掉负载,但试验Ae除外,因为该试验要求试验样品在整个恢复期间保持通电运行状态。当规定的试验持续期结束时,试验样品应保持在试验箱内,然后将温度慢慢升至试验标准条件的温度偏差范围内。试验箱内的温度变化应不超过1K/min(不超过5min时间的平均值)。5
GB/T2423.1—2008/IEC60068-2-1:20076.12恢复
试验样品应在试验箱内经过恢复过程或其他合适过程。应采取合适的步骤按要求去除水滴,并不损害试验样品。
试验样品在标准环境条件下进行恢复,恢复时间应足够使温度达到稳定,至少1h。如果相关规范要求,试验样品应在恢复期间连续通电或加载并测量。如果上述标准条件不适合待检测的试验样品,相关规范可要求其他的恢复条件。6.13最后检测
应对试验样品进行目视检查以及相关规范要求的性能检测。7
相关规范应给出的信息
当相关规范包含试验A:低温时,应给出下列适用项目的细节:a)试验类型;
预处理;
初始检测;
安装和支撑的详细描述;
试验样品(包含冷却系统)在条件试验期间的状态;e
严酯等级,即温度和试验持续时间;D
温度变化速率;
条件试验期间的测量和(或)加负载;恢复(如果是非标准条件);
最后检测;
供需双方同意的对试验程序的任何偏离;不能获得低气流速度时(见4.2)的温度差异。1)
8试验报告中应给出的信息
试验报告中应至少给出下列信息:a)客户(名称和地址);
b)检测实验室(名称和地址,如果有,还包括合格认可的详细信息);c)检测日期;
d)试验类型(Ab,Ad,Ae);
试验目的(开发、质量鉴定等);e
试验标准,版本(注日期对本部分的引用);8)
相关试验室检测程序(代号和发行号);试验样品描述(工程图、照片、数量、结构、状态等);试验箱标识(制造商、型号、唯一性标识符等);i
试验箱的性能(设定温度点控制、气流等);j)
)气流速度和方向(流向试验样品的空气流速和方向);k)
测量系统的不确定度;
校准日期(最近一次校准和下一次应校准的日期);初始、中间和最后检测;
要求的严醋等级(从试验规范中);p)
试验的严醋等级(测量点、数据等);试验样品的性能(功能检测的结果等);试验期间的观察结果及采取的措施;试验总结;
分发。
注:宜为每一项试验填写-份日志,该日志可附在报告中。GB/T2423.1—2008/IEC60068-2-1:20077
GB/T2423.1—2008/IEC60068-2-1:2007附录NA
(资料性附录)
GB/T2423标准的组成部分
除本部分外,GB/T2423标准的其他组成部分如下:GB/T2423.2—2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法2.2007,IDT)
试验B:高温(IEC60068-2-
GB/T2423.3—2006
电工电子产品环境试验
第2部分:试验方法
试验Cab:恒定湿热试验
(IEC60068-2-78:2001,IDT)
GB/T2423.4一2008电工电子产品环境试验12h循环)(IEC60068-2-30:2005,IDT)第2部分:试验方法
GB/T2423.5--1995电工电子产品环境试验(idtIEC60068-2-27:1987)
GB/T2423.6-1995
(idtIEC60068-2-29:1987)
电工电子产品环境试验
试验Db
第2部分:试验方法
第2部分:试验方法
GB/T2423.7---1995
电工电子产品环境试验
验第2部分:试验方法
倒(主要用于设备型释品)(idtIEC60068-2-31:1982)GB/T2423.8-1995
(idtIEC60068-2-32:1990)
GB/T2423.10---2008
(IEC60068-2-6:1995,IDT)
GB/T2423.15---2008
电工电子产品环境试验
电工电子产品环境试验
电工电子产品环境试验
度(IEC60068-2-7:1986,IDT)GB/T2423.16-2008
(IEC60068-2-10:2005IDT)
GB/T2423.17---2008
2-11:1981,IDT)
GB/T2423.18-2000
交变湿热(12h+
试验Ea和导则:冲击
试验Eb和导则:碰撞
试验Ec和导则:倾跌与翻
第2部分:试验方法
第2部分:试验方法
试验Ed:自由跌落
试验Fc:振动(正弦)
试验Ga和导则:稳态加速
第2部分:试验方法
电工电子产品环境试验
电工电子产品环境试验
电工电子产品环境试验
钠溶液)(idtIEC60068-2-52:1996)GB/T2423.21--2008
8电工电子产品环境试验
(IEC60068-2-13:1983,IDT)
GB/T2423.22--2002
(IEC60068-2-14:1984,IDT)
第2部分:试验方法
第2部分:试验方法
第2部分:试验方法
第2部分:试验方法
电工电子产品环境试验
GB/T2423.23—1995
5电工电子产品环境试验
GB/T2423.24--1995
电工电子产品环境试验
阳辐射(idtIEC60068-2-5:1975)GB/T2423.25—2008电工电子产品环境试验综合试验(IEC60068-2-40:1976,IDT)GB/T2423.26—2008
电工电子产品环境试验
综合试验(IEC60068-2-41:1976,IDT)GB/T2423.27—2005
电工电子产品环境试验
压/湿热连续综合试验(IEC60068-2-39:1976,IDT)8
试验J和导则:长每
试验Ka:盐雾(IEC60068-
试验Kb:盐雾,交变(氯化
试验M:低气压试验方法
第2部分:试验方法
试验Q:密封
试验N:温度变化
第2部分:试验方法试验Sa;模拟地面上的太第2部分:试验方法
试验Z/AM:低温/低气压
第2部分:试验方法试验Z/BM:高温/低气压第2部分:试验方法试验Z/AMD:低温/低气
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