ICs 39.060
分类号:188
备案号:18368-2006
中华人民共和国轻工行业标准
QB/T1135-2006
代QB/T11351991
首饰金、银覆盖层厚度的测定
X射线荧光光谱法
Jewellery-Measurement of gold anaf silver coating tickness-X-ray fluorescence spectrometric methods2006-08-19发布
中华人民共和国国家发展和改革委员会2006-12-01实施
rKAoNiKAca
Q3/T1135-2006
本标准悬对QB/T1135一1991《凸说命、银激盖层厚度的测定方法X附线荧光光谱法》的修汀.本标象照ISO3497:2000《金俩覆盖层履尚层厚度的测定X射绒荧光光谢法》(英文版)编写。本标雅与QB1135:1991栅比,主要变化划下:一依据GB1.1一2000的行关规定,对标准的表达方式和名称格式进行了修改:一塔州了第2章规范性引文件:
本标滩出中国轻工业联合会提出。本标准出个国首饰标泄化技术委员会(5AC/IC256)归11。本标洲起敬单位:当家产饰质娠监督检验心。本标准主婆起节人:范积芳、李素肯、李卡鹃、事武军、本标准自实施之H起,代替原轻二业部发布的轻工行业标准QB1135一1991《首饰金、很稳层厚度的测定方法X射线荧光光谱法》:本标准于19916月第次发有,本次为第一次修译。1范围
首饰金、银覆盖层厚度的测定
X射线荧光光谱法
本标浒规定了用x射线荧光光谱法测量百饰金、覆盖层厚度的方法。QB/T 1135—2006
本标准适月丁首饰及其他工艺品-金,鼠等覆益层厚!的测定(覆盖层与基体为非朴问材质),注:水方汉的覆高层同相当十是金成乐银的厚度,可报实际合、银覆益层含肇逃行折算,2规范性引用文件
下列文件中的条款通过木标准的可而成为本标准的条款:凡是注门期的用文州,其随质所有的修改单(不括谢误的内容)成修订版均不适川于本标准,然而,鼓刷根据本标准达成协议的各方研究是否可使军这些义件的最亲版本。凡是不注叫划的引川文行,其最新版本迟用丁本标推QB1131首饰金餐盖辰原狗规定(ISO10713:1992:MOD)QB1132首饰银覆盖展京度的规定3方法原理
采用×射线荧光光满法测量金、银覆盖层厚度是通过检测和分析X射线荧光而确定度置厚度的每靠的原子部具有其本身独有的电了列,对于给定的特征X射线,其能骨取决」该原子内原子序数,因此,不同的材料将产牛不同能量的X射线荧光。通过X射线装光测厚仪对不同材料发出的特征X射线荧光逊行能量分辨利强度的检测,可以确定材料的特性,从而测定覆层厚度。4器设备
4.1X射线聚光光仪。
4.2采用不同整体的覆盖金、银层的标准样块:4.3仪器户检的参考标样。
5仪器的校准
校谁是仪器测量临先祝条件,校准的几的是使被測样品覆盖层是度对X射线荧光发射强度之问建立灌硫的关素,
5.1校准模式的选择
各类型的X射线炭光测厚仪部具有荐下种校准模式,应按筏盖层|基材的类型选用适当的校准模式。
5.2校准模式的输入
避定柜应的校准模式后,将采用相应的存催界按规程输入校准模式,当采用标准进行校准因,应采川与测试样品完全“致的条件(包括检测孔尺寸:和同稳盖层利基材及测量时间等):生校准程序统泵时,将片动人测最模式:
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6测量程序
6.1校准
校准按第5章
标样的校准
进行测试前履
检,以保证仪器
样品的测试
当仪器校淮纬
测试点
以求平,
bZxz.net影响精度的因
计数统计
让x蔚线光
所有射性测量=
7.2测时间
的程序进行。待校
的调整“
测栏品其治机河基
进入测试模式:测
定在随机情况下进律
这一统
火保证达卸精
7.3镀层厚度
说明书逊行操作望
差的标祥逆行仪器校
整应具有代表选,
滩在·固定府叫内发
空有关
鹭的滩确度受被测样叫的厚度范围影响,在镀层饱和厚度范用内准确度最TTKAONTKAca-
周参照标样进行自
测试应不低于3个
数主不定树,
超过饱和厚度时
准确凌急剧降,文时线蒙光的强度殖厚版临变化是微,因而在此鼎国谁碗度较,其饱和序度因爱盖层材料的不尚面异:X射线荧光测厚仪的饱厚度近以使为表1所规定的范围装饱和厚度近似值
银/调
引径。
涮蛋面擦
7.6密度
金/黄
是在而进行的,花人可避免地要在山而上测尺寸
小取铁
样的尺寸和形状,为粪得满意恂是而的人小样
芳薇盖
度与所用
试样的镀层密度,此时溉试数辩潮i/um
选择尺为0.lmm的测量
锋锣层表前有代表斗的最人
。刘此可授照密度修正模式输入性。测试完毕可以按照科应的程序,将案度修正值挖。
7.7表面清洁度
测试前滴除栏品装前所行污瓶,如尘土、油猎、锈蚀物,漆以及氢化物等保护法,否则将影稳蔻层厚度的测景:
8准确度
在被测镀层的极限
芮、允诈误遇
QB/T 1135—2006
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中华人民共和国
轻工行业标雅
首饰金、银糙盖层厚度的测定
X射线荧光光谱法
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