本标准规定了红外探测器的环境试验方法。本标准所述的试验方法为人工环境的试验方法。本标准适用于非报警红外探测器的各类环境试验。本标准通常是用于在条件试验期间能达到稳定温度的试验样品——即非散热样品。 GB/T 15430-1995 红外探测器环境试验方法 GB/T15430-1995 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
红外探测器环境试验方法
Environmental testing methods for infrared detectors1主题内容与适用范围
1.1主题内容
本标准规定了红外探测器的环境试验方法。本标准所述的试验方法为人工环境的试验方法。1.2适用范围
GB/T 15430---1995
本标准适用！非报警红外探测器的各类环境试验。采用本标准时有关规范要根据红外探测器可能遇到的环境条件、结构特点，从试验技术和经济等方面作出综合分析后，再规定采用哪些试验方法、严酷程度以及试验顺序等。
本标准通常是用于在条件试验期间能达到稳定温度的试验样品一一即非散热样品。2引用标准
GB2421电工电了产品基本环境试验规程总则GB2122电工电子产品基本环境试验规程名词术语GB2423.3电工屯了产品基本环境试验规程试验Ca：恒定源热试验方法GB2423.4电工电了产品基本环境试验规程试验Db：交变湿热试验方法GB2423.5电工电子产品基本环境试验规程试验Ea：冲击试验方法电工电子产品基本环境试验规程试验Eb：碰撞试验方法GB 2423. 6
GB2423-10
GB 2423. 11
GB2423-12
GB 2423. 13
GB 2423. 14
GB2423.15
GB 2423. 16
GB 2423. 22
电工电子产品基本环境试验规程试验Fc：振动(正弦)试验方法电工电子产品基本环境试验规程试验Fd：宽带随机振动试验方法一般要求电工电了产品基本环境试验规程试验Fda：宽带随机振动试验方法高再现性电工电子产品基本环境试验规程试验Fdb:宽带随机振动试验方法中再现性电工电子产品基本环境威验规程圭试验Fdc：宽带随机振动试验方法再现性
电工电了产品基本环境试验规程试验Ga：恒如速度试验方法电工电子产品基本环境试验规程试验J：长霉试验方法
电工电子产品基本环境试验规程星试验N：温度变化试验方法
GB2423.23电工电子产品基本坏境试验规程试验Q：密封GB2423.24电工电子产品基本环境试验规程试验Sa：模拟地面上的太阳辐射试验方法GB 2423. 20E
电工电子产品基本环境试验规程试验U,引出端及整体安装强度GJB360.12电子及电气元件试验方法密封试验3术语、符号、代号
本标推中的术语、符号，代号符合GB2422的规定，国豪技术监督局1995-01-06批准1995-08-01实施
4-般要求
GB/T 15430—1995
4.1设备仪器的误差
用于进行条件试验以及进行测试的仪器设备，其误差要求应根据被控参数的误差，按国家有关计量法规进行选择和周期检定。其误差应不人于被控参数误差的1/3。4.2试验程序
试验程序是指一个试验方法所包括的整套操作过程。通常有以下程序：4.2.1预处理（必要时）
进行预处理是为了消除试验样品在试验开始前所受的影响。具体方法由有关规范规定。4.2.2初始检测（必要时）
在环境试验之前，试验样品在规定的大气条件下，按有关规范要求进行外观检查及光电性能检测。4.2.3条件试验
给试验样品施加规定的环境条件，以确定对样品的影响。4.2.4中间检测
在条件试验期间要求样品工作时，应在样品受试过程中进行检测。4.2.5恢复（必要时）
在条件试验之后，最后检测之前，应按规定的时间和条件进行恢复。4.2.6最后检测
恢复期结束后，按有关规范要求进行外观检查及光电性能检测。4.2.7失效判据
由有关规范规定合格与否的标准。4.3标准大气条件
标准大气条件符合GB2121的规定。4.3.1基准标准大气条件
作为计算依据的基准条件为：
温度：20℃：
气压：101.3kPa（760mm汞柱）。注：由于相对湿度对所测产品参数的影响不能通过计算求得，因此没规定相对湿度。4.3.2仲裁试验的标准天气条件
由供需双方协议选择下列仲裁试验的标准大气条件之一进行测量，如果相对湿度对试验结果没影响可不考虑。
20±ir
23±1℃
25±1℃
27±1℃
4.3.3试验的标准大气条件
15~～35℃
相对湿度
63%~-67%
48%~～52%
48%~52%
63% ~67%
相对湿度
45%~75%
如有特殊要求，应在有关规范中规定。气压
86~-106 kPa
86~106 kPa
86～106 kPa
86~106kPa
86~106kPa
4.3.4恢复条件
4.3.4.1在条件试验之后，如果要做参数测量，则试验样品应在参数测量的气候条件下恢复。4.3.4.2如果条件试验之后不做参数测量，则试验样品应在正常试验大气条件下恢复。GB/T15430—1995
4.3.4.3如果要测量的光电参数受试验样品所吸收的潮或表面状况的影响变化很快，其恢复条件应在有关规范中规定。
4.3.5干燥的标准件
在一系列测量前，要求对试验样品进行干燥时，应在下列标准条件下T燥6 h。温度
40±2℃
55±2℃
相对度
如果另选干燥条件和下燥时间，应花有关规范中规定。4. 4考虑试验顺序的一般原则
86~106 kPa
86~-106kPa
当对同一试验样品依次进行两种以上的试验项日时，必须注意合理的试验顺序。安排试验顺序时，一般应考虑以下几个方面：a.
探测器实际遇到的环境因紊的顺序。前面试验项目的试验结果对后面试验的影响。h.
试验时间和经费，长期效应的试验项目一般应放在最后。具体试验顾序应在有关规范中规定。d、有些试验如长霉、盐雾、辐照试验等不包括在标准试验顺序内，如果需要也可用另外抽取的：试验样品做试验。
4.5各试验项目之间的时间间隔
对同试验样品依次进行两种以上的试验项目时，各试验项目原则上应连续进行，但由于各种原因试验不能连续进行时，两试验项目之间的停顿时间不得超过5d。5详细要求
5-1低温购存试验
5.1.1试验方法分类
本试验的试验方法分两种：
试验方法Aa温度突变试验：先谢节试验箱的温度到规定值，然后放入试验样品，这种试验为温度突变试验。
试验方法Ab温度渐变试验：当试验箱温度为试验室温度时将样品放人，然后调节试验箱温度到规定值。这种试验为温度渐变试验。5.1.2日的
本试验用于确定红外探测器在低温环境条件下贮存及运输的适应性。5.1.3试验设备
5.1.3.1试验箱在其有效空间内应能提供规定的温度和允差，可以用强追空气循环来保持温度的均匀性。条件试验中的持续时间是从样品达到规定温度或试验箱达到规定温度时算起。5. 1. 3. 2若无其他规定,试验箱的温度变化率应小于 5'C /min。5. 1. 3. 3为了限制辐射影响,试验箱壁温度偏离规定的试验坏境温度不应超过 8%,5.1.4严酷程度
用试验的温度和持续时间来表示试验的严酷程度，具体数值由有关规范规定，但应优先从下列数值中选取；
5.1.4.1温度
—65,—55,—45,—40,—30,—20,—15,—10,—5,0,+5℃。温度允差士3℃。
5.1.4.2持续时问
2,4,8,16,24,48,72,96 h。
5. 1.5试验程序
5.1.5.1预处理（必要时）
由有关规范规定。
5.1.5.2初始检测
GB/T 15430—1995
按有关规范规定对样品进行外观检查及光电性能检测。5.1.5.3条件试验
a。试验样品应在非工作状态进行条件试验。投入试验箱之前是否需要包装或加干燥剂由有关规范规定。
b、根据不同的试验要求，可采用下列方法之一进行试验。试验法A：
将处于室温的试验样品放入温度已降至规定值的试验箱内，待温度稳定后，保持规定时间,取出样：品，试验结束。
试验方法Ah：
将处于室温的试验样品放入同温度的试验箱内，然后将试验箱温度降到规定值（降温速率由有关规范规定）。待温度稳定斥，保持规定时间。将试验箱温度按规定速率升至室温，取出样品，试验结束。5.1.5.4恢复
由有关规范规定。
5. 1. 5. 5最后检测
按有关规范规定对试验样品进行外观检查及光电性能检测。5.1.6失效判据
出有关规范规定。
5.1.7采用本试验时应规定的细则a
预处理（见5.1.5.1条）；
初始检测（见5.1.5.2条）；
样品的状态及包装细节（见5.1.5.3条a)，采用的试验方法(见 5. 1. 5. 3茶b);试验的严酷程度（见5.1.4条）;恢复（见5.1.5.4条）
最后检测(见5. 1.5.5条）
失效判据（见5.1.6条）。
5.2高温贮存试验
5.2.1试验方法分类
本试验的试验方法分两种：
试验方法Ba温度突变试验：先调节试验箱的温度到规定值，然后放入试验样品：这种试验为温度突变试验。
试验方法Bb温度渐变试验：当试验箱温度为试验室温度时即将样品放人，然后开启热源，将箱和样品一起升温到规定值，这种试验为蕴度渐变试验。5.2.2日的
本试验用于确定红外探测器在高温环境条件下贮存及运输的适应性。5.2.3试验设备
5.2.3.1试验箱在其有效工作空问内应能提供规定的温度和允差，可以用强迫空气循环来保持试验温度的均勾性。条件试验中的持续时间是从样品达到规定温度或试验箱达到规定温度时算起。5.2.3.2若无其他规定，试验箱的温度变化速率应小于5℃/min。GB/T 15430--1995
5.2.3.3为了限制辐射影响，试验箱壁温度偏离规定的试验环境温度不应超过3%。5.2.4严酷程度
用试验的温度和持续时间来表示试验的严酷程度·具体数值出有关规范规定，但应优先从下列数值中选取：
5.2.4.1温度
40,45.50,55,60,70,75,85C.
温度允差士2℃。
5.2.4.2持续时间
2,4,8,16,24,48,72,96 h.
5.2.5试验程序
5.2.5.1预处理（必要时）
由有关规范规定。
5.2.5.2初始检测
按有关规范规定对样品进行外观检查及光电性能检测。5.2.5.3条件试验
a.试验样品应在非工作状态进行条件试验。投入试验箱之前是否需要包装或加干燥剂由有关规范规定。
b。根据不同的试验要求，可采用下列方法之一进行试验试验方法Ha：
将处于空温的试验样品放入温度已升至规定值的试验箱内，待温度稳定后，保持规定时间，取出样品，试验结束。
试验方法 Bb：wwW.bzxz.Net
将处于室温的试验样品放入同一温度的试验箱内，然后将试验箱温度升到规定值（升温速率出有关规范规定）。待温度稳定后，保持规定时间。将试验箱温度按规定速率降至室温，取出样品，试验结束。5.2.5.4恢复
由有关规范规定。
5.2.5.5最后检测
按有关规范规定对试验样品进行外观检查及光电性能检测。5.2.6失效判据
出有规范规定。
采用本试验时应规定的细则
预处理（见5.2.5.1条）；
初始检测（见5.2.5.2条）
样品的状态及包装细节（见5.2.5.3条a）；采用的试验方法（见5.2.5.3条b）试验的严酷程度（见5.2.4条）：恢复（见5.2.5.4条）：
最后检测（见5.2.5.5条）;
失效判据（见5.2.6条）。
5.3低温工作性能试验
5.3.1日的
本试验用丁确定红外探测器在低温环境下使用时的适应性。5.3.2试验设备
GB/T15430---1995
5.3.2.1低温工作性能试验台的试验箱应能提供规定的温度和允差。5.3.2.2低温工作性能试验台的试验箱应具有覆益红外探测器工作波段的透红外窗口和相应的光电性能测试装置。
5.3.2.3低温T作性能试验台应有低真空抽气装置，以便必要时抽低真空，除去样品表面的水汽。5.3.2.4条件试验中的试验持续时间，是从试验样品达到规定温度或试验箱达到规定温度时算起。5.3.3严醋程度
用试验时的低温温度和持续时间来表示试验的严酷程度。具体数值由有关规范规定，但应优先从下列数据中选取：
5.3.3.1低温温度T
—65.—60,—55,45-40，—30，—20,—15,—10，—5,0,+5℃。温度允差±3℃。
5.3.3.2持续时间1
0. 5,1.2 h.
5.3.4试验程序
5.3.4.1预处理（必要时）
由有关规范规定。
5.3.4.2初始检测
按有关规范规定对试验样品进行外观检查和光电性能检测。5.3.4.3条件试验
除非另有规定，试验样品应在不加包装的状态下经受试验，试验箱是否抽低真空以及样品的固a.
定方式，均由有关规范规定。
试验样品应在试验室温度下直接放入同一温度的低温试验箱内。b.
试验箱温度降到规定的低温值T。c.
试验箱温度稳定后，样品在此温度下保持1时间。在恒温过程中样品的工作状态由有关规范规定。
中间检测
按有关规范规定测量样品的光电性能。f．试验结束取出样品。
5.3.4.4恢复
由有关规范规定。
5.3.4.5最后检测
按有关规范规定对试验样品进行外观检查和光电性能检测。5.3.5失效判据
由有关规范规定。
5.3.6采用本试验时应规定的细则。a.
预处理（见5.3.4.1条）；
初始检测（见5.3.4.2条）#
样品的安装状态（见5.3.4.3条a）d、试验的严酷程度（见5.3.3条）恒温过程中样品的工作状态（见5.3.4.3条d）；e.
中间检测（见5.3.4.3条e）；
恢复（见5.3.4.4条），
最后检测（见5.3.4.5条）；
i.失效判据（见5.3.5条）。
5.4高温工作性能试验
5.4.1日的
GB/T 15430—1995
本试验用于确定红外探测器在高温环境下使用时的适应性。5.4.2试验设备
5.4.2.1高温工作性能试验台的试验箱应能提供规定的温度和允差。5.4.2.2高温工作性能试验台的试验箱应具有覆盖红外探测器工作波段的透红外窗口和相应的光电性能检测装置。
5.4.2.3高温T作性能试验台应有低真空抽气装置，以便必要时抽低真空，除去样品表面的水汽、5.4.2.4条件试验中的试验持续时间，是从试验样品达到规定温度或试验箱达到规定温度时算起。5.4.3严醋程度
用试验时的高温温度和持续时间来表示试验的严酷程度。具体数值由有关规范规定，但应优先从下列数据中选取：
5. 4. 3.1高温温度TB
40,45,50,55,60,70,75'C.
温度允差土2C。
5.4.3.2持续时间t1
0. 5,1,2 h.
5.4.4试验程序
5.4.4.1预处理（必要时）
由有关规范规定。
5.4.4.2初始检测
按有关规范规定对试验样品进行外观检查和光电性能检测。5.4.4.3条件试验
除非另有规定，试验样品应在不加包装的状态下经受试验。试验箱是否抽低真空以及样品的固定方式,均由右关规范规定。
试验样品应在试验室温度下直接放入一温度的高温试验箱内。试验箱温度升到规定的高温值Tn。d.
试验箱温度稳定后，样品在此温度下保持t时间。在恒温过程中样品的工作状态由有关规范规定。
中间检测
按有关规范规定测量样品的光电性能。f.试验结束取出样品。
5.4.4.4恢复
由有关规范规定。
5.4.4.5最后检测
按有关规范规定对试验样品进行外观检查和光电性能检测。5.4.5失效判据
出有关规范规定。
5.4.6采用本试验时应规定的细则a.
预处理（见5.4.4.1条）；
初始检测（见5.4.4.2条）：
样品的安装状态（见5.4.4.3条a）；d.
GB/T 15430—1995
试验的严酷程度（见5.4.3条）
恒温过程中样品的工作状态（见5.4.4.3条d）：中间检测（见5.4.4.3条e)；
恢复（见5.4.4.4条）；
最后检测（见5.4.4.5条）；
1.失效判据（见5.4.5条）。
5.5恒定湿热试验
5.5.1目的
本试验用于确定红外探测器在恒定湿热：条件下贮存和运输的适应性。5.5-2试验设备
应符合GB2423.3中第2章的有关规定。5.5. 3严酷程度
用试验的温度、湿度和持续时间来表示试验的严酷程度。具体数值由有关规范规定，但应优先从下列数据中选取：
5. 5. 3. 1相对湿度
90%~95%。
5.5.3.2温度
20,25,40'C.
温度允差±2℃。
5.5.3.3持续时间
2,4,6,10,21,56 d.
本试验中的持续时间足从试验样品所处环境达到规定温湿度时算起。5.5.4试验程序
5.5.4.1预处理（必要时）
由有关规范规定。
5.5.4.2初始检测
按有关规范规定对试验样品进行外观检查及光电性能检测。5.5.4.3条件试验
a、试验样品应在不加包装的非工作状态或按有关规范规定的状态放入试验箱内。b．试验样品在规定的温湿度条件下保持规定的时间。对恢复时间有严格要求的试验样品，在条件试验开始时应分批放入试验箱，试验结束时分批取出。5.5.4.4恢复
由有关规范规定。
5.5.4.5最后检测
按有关规范规定对试验样品进行外观检查和光电性能检测。5.5.5失效判据
由有关规范规定。
5.5.6采用本试验时应规定的细则预处理（见5.5.4.1条）；
初始检测（见5.5.4.2条）；
试验样品的状态及包装细节（见5.5.4.3条a），试验的严酷程度（见5.5.3条）；d.
恢复（见5.5.4.4条）；
f.最后检测<见5.5.41.5条）
g失效判据（见5.5.5条）。
5.6交变湿热试验
应符合GB2423.4的规定。
5.7温度变化试验
5.7.1试验方法分类
本试验的试验方法分两种：
GB/T 15430 1995
试验方法Va：具有规定转换时间的温度变化试验。试验方法Nb：具有规定温度变化率的温度变化试验。5.7.2试验方法Na：具有规定转换时间的溢度变化试验5.7.2.1口的
使试验样品通过在高低温环境的交替暴露中，经受气温迅速变化的影响，以确定其对贮存运输期间可能遇到的温度变化的适应性。5.7.2.2试验设备
应符合GB2423.22中第3章的有关规定。5.7.2.3严酷程度
试验的严酷程度是由高低温的温度值、转换时间、暴露时间以及循环次数综合确定。具体数值由有关规范规定，位应优先从下列数据中选取：5. 7.2. 3. 1低温温度TA
65,—60,55,—50,*45,—40.-30.—20C.温度允差±3℃。
5. 7. 2. 3 2高温温度 T
40.50,55.60,70,75℃.
温度允差士2℃。
5.7.2.3.3在上述两种温度下的暴露时间±10. 5,1.2.3 h.
t包括放人样品后箱内温度恢复到规定温度过程的时间。5.7.2.3.4两种温度的转换时间t不大于5min。
5.7.2.3.5循环次数
5.7.2.4试验程序
5.7.2.4.1预处理(必要时)
由有关规范规定。
5.7.2.4.2初始检测
按有关规范规定对试验样品进行外观检查和光电性能检测。5.7.2.4.3条件试验
除非另有规定，试验样品应在非工作状态下进行试验，其包装方式由有关规范规定。b.
试验样品应在试验室环境温度下直接放入温度已调到规定T值的低温箱内。试验样品在低温下保持规定时间t。试验样品从低温箱中取出，在时间间隔t内放入已调到规定温度T的高温箱中。d
试验样品在高温下保持规定的时间t1。试验样品从高温箱中取出，在试验空环境温度下保持规定的时间2。GB/T15430—1995
g．以工操作过程构成个循环（见图1)。如果仅做一次循环时，试验样品还应以规定的转换时问，从 Tr降至T,并保持t时间。取出样品,试验结束。在做多次循环时，最后一个循环结束后，样品从高温箱中取出，并经受恢复程序。B
次衡环
A一第一次循环的起点T低温值,T高温值；t1一高低滤下录露时间一转换时间B第一次循环结束点;B\一仪做一次循环时的结束点5.7.2.4.4恢复
。在条件试验结束后，试验样品应在正常试验大气条件下恢复，恢复时间要足以使试验样品的温度达到稳定。
b.对于特定类型的试验样品，有关标准可以规定一个特定的恢复条件和时问。5-7.2.4.5最后检测
按有关规范规定对试验样品进行外观检查和光电性能检测。5.7.2.5失效判据
由有关规范规定。
5.7.2.6采用本试验时应规定的细则a.
预处理（见5.7.5.1条）；
初始检测（见5.7.5.2条）；
样品的状态及包装方式（见5.7.5.3条u);试验的严酷程度（见5.7.4条）；恢复（见 5.7.5.4条）；
最后检测(见 5. 7. 5. 5 条);
失效判据（见5.7.6条）。
5.7.3试验方法 Nb：具有规定温度变化率的温度变化试验。5.7.3. 1日的
使试验样品在具有规定温度变化率的高低温环境下交替暴露，以确定其对贮存运输期间可能到的温度变化的适应性,
5.7.3.2试验设备
GB/T 15430—1995
应符合GB2423.22中第12章的有关规定。5.7.3. 3严酷程度
试验的严酷程度是由高低温温度值、暴露时间、降温和升温速率以及循环次数综合确定。具体数值由有关规范规定，但应优先从下列数据中选取：5.7.3.3.1低温温度TA
65,60,- 55,45,—40,—30,—20'C.温度充差3℃。
5. 7. 3. 3. 2 高温温度 TB
40.50.55,60,70,75C。
温度充差士2℃。
5.7.3.3.3在上述两种温度中的暴露时问t0. 5,1-2 h.
5.7.3.3.4降温和升温速率
1+0.5 C/min,310.5 C/min,5±1 ℃/min。5.7.3.3.5循环次数
1,2。
5.7.3.4试验程序
5.7.3.4.1预处理（必要时）
由有关规范规定。
5.7.3.4.2初始检测
按有关规范规定对试验样品进行外观检查和光电性能检测，5.7.3.4.3条件试验
除非另有规定、试验样品应在非工作状态下进行试验。其包装方式巾有关规范规定。a.
试验样品应在试验室的环境温度下直接放入同~-温度下的试验箱（室）内。试验箱(室)温度按规定的速率降到规定的低温温度TA在箱温达到稳定以后，试验样品应在低温条件下保持规定时间t1试验箱（室）温度应以规定的速率升到规定的高温温度TB。在箱温达到稳定以后，试验样品应在高温条件下保持规定的时间1。f
箱(室)内温度又应以规定的速率降到试验室的环境温度。鸟
b。以上操作过程构成一个循坏（见图2)。如果仅做一次循环时，试验样品还应以规定的速率从室温降至低温TA，并保持t附时间。取出样品，试验结束。在做多次循坏时，最后，-个循环结束后，样品从高温箱中取出，并经受恢复程序。5.7.3.4.4恢复
由有关规范规定。
5.7.3.4-5最后检测
接有关规范规定对试验样品进行外观检查和光电性能检测。5.7.3.5失效判据
由有关规范规定。
5.7.3.6采用本试验时应规定的细则a.
GB/T 15430—1995
次循环
A一筛一循环的起点;TA一低温值;T高温慎商低温下暴时间；
B--第一次循环结束点;B'仪做-一次循环时的结束点预处理（见5.7.3.4.1条）
初始检测（见5.7.3.4.2条）；
样品的状态及包装方式（见5.7.3.4.3条a）：试验的严酷程度（见5.7.3.3条）；恢复（见5.7.3.4.4条），
最后检测(见5.7.3.4.5条）；
失效判据（见5.7.3.6条）。
5.8低气压试验
5.8.1月的
本试验用于确定红外探测器在低气压条件下贮存、运输或使用的适应能力。5.8-2试验设备
时间（
5.8.2.1在低气压试验箱中应装有温度和压力指示器，以便确定温度、压力.月试验销应保证达到条件试验规定的气压和温度。
5.8.2.2气压恢复正常时，注入试验箱的空气应卡燥清洁，不得污染试验样品和设备，5.8.3严醋程度
试验的严酷程度由试验的温度、气压和持续时间综介确定。5.8.3.1气压
有关规范应优先从下列数据中选取：表1
气压值
海拨高度
5.8.3.2温度
±1kPa
=0. 5 kPa
±0.1 kPa
15.0718.0520. 1
26. 631.2
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