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GB 12951-1996

基本信息

标准号: GB 12951-1996

中文名称:离子感烟火灾探测器用镅241α放射源的技术条件

标准类别:国家标准(GB)

标准状态:现行

发布日期:1996-01-02

实施日期:1997-01-02

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

下载大小:172831

标准分类号

标准ICS号:环保、保健与安全>>废物>>13.030.30特殊废物

中标分类号:能源、核技术>>同位素与放射源>>F51放射源

关联标准

替代情况:替代GB 12951-1991;被GB 12951-2009代替

出版信息

出版社:中国标准出版社

页数:9页

标准价格:10.0 元

出版日期:1997-01-02

相关单位信息

首发日期:1991-06-04

复审日期:2004-10-14

起草人:金巨宝、晃得胜、庞遵哲、徐向东、关晓钟

起草单位:中核公司404厂

归口单位:全国核能标准化技术委员会

发布部门:中国核工业集团公司

主管部门:中国核工业集团公司

标准简介

本标准规定了离子感烟火灾探测器用镅241a 放射源的技术要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及检验证书。本标准适用于各种离子感烟火灾探测器用镅241a 放射源。 GB 12951-1996 离子感烟火灾探测器用镅241α放射源的技术条件 GB12951-1996 标准下载解压密码:www.bzxz.net

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标准内容

GB 12951—1996
离子感烟探测器用镭241α放射源是重要的消防电子器材原件,随着消防电子工业的迅速发展.镭241α源的生产工艺不断提高,国内外用户对源的质量要求越来越严,原国家标准GB1295191《离子感烟火灾探测器用镭241α放射源的技术条件》已不能满足生产和使用的要求。按照部分生产家和用户的要求,中国核工业总公司于1995年向原标准的编写单位四○四广下达了修订本标准的任务,四○四厂编写人员听取了源的生产和使用单位的意见,修订了标准的部分内容,使之更加先进、合理。本标准从实施之日起,同时代替GB12951—91。本标准的附录A是提示的附录
本标准由中国核工业总公司提出。本标准起草单位:中国核工业总公司四〇四厂。本标准主要起草人:金巨宝、显得胜、庞遵哲、徐向东、关晓钟。s!
1范围
中华人民共和国国家标准
离子感烟火灾探测器用241α
放射源的技术条件
Specification of americium-241 alpha sources forionization smoke fire detectorsGB 12951—1996
代替GB12951·91
本标准规定了离子感烟火灾探测器用镭241α放射源(以下简称“镭α源”)的技术要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存及检验证书。本标准适用于备种离子感烟火灾探测器用镭241α放射源。2 引用标准
下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效,所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB32828—87逐批检查计数抽样程序及抽样表(适用于连续批的检查)GB4075--83密封放射源分级
用于电离辐射半导体探测器的放大器和前置放大器的测试方法GB 4079—83月
GB 4833-89
多道幅度分析器测试方法
GB5201-85带电粒子半导体探测器测试方法GB6378—86不合格品率的计量抽样检查程序及图表(适用于连续批的检查)(GB11806—89放射性物质安全运输规定GB15849—1995密封放射源的泄漏检验FJ/T535—91离子感烟火灾探测器用镭241α放射源的环境试验方法3技术要求
3.1镭α源应由镭241α源片、源支架等部分构成。α源片与源支架应配合良好,无松动。3.2原料要求如下:
3.2.1核素与杂质含量:
核素:罐241(241Am)
杂质含量(杂质的放射性与镭241放射性之比):不大于10-4。3.2.2覆盖层材料
金钯合金或其他等效材料。
3.2.3源支架材料
1Cr18Ni9Ti或其他等效材料。
3.3α源的安全性能等级检验应不低于GB4075中规定的C32222要求。3.4罐α源源片的外观质量:
国家技术监督局1996-12-19批准382
1997-12-01实施
GB12951-1996
3.4.1镭α源源表面应平整、光滑、无裂纹、无色变、针孔、划伤等缺陷。3.4.2源支架表面应光滑、无毛刺。3.5罐α源的能量和活度等性能要求:3.5.1每个镭α源的放射性活度宜限制在37kBg以内。3.5.2罐α源的α能谱应符合下述要求:a)对于α粒子峰值能量在3.0MeV~4.0MeV范围内的α源,其α粒子能谱的半高全宽度应不大于1.2MeV、对4.0MeV以上的α源,其α粒子能谱的半高全宽度应不大于0.8MeV。b)对于峰值能量标称值在4.0MeV以下的镭α源,其峰值能量离散度应不大于士10%,对于峰值能量标称值在4.0MeV以上的镭α源,其峰值能量离散度应不大于士5%。3.5.3镭α源的α粒子表面发射率之离散度应不大于标称值的土20%。3.6镭α源的表面沾污和泄漏应不大于37Bg。3.7镭α源的环境试验结果应满足EJ/T535的要求。3.8生产单位应给出在相应使用条件下镭α源的推荐使用期限。4检验方法
4.1安全性能等级检验按GB4075的规定进行。4.2表面沾污和泄漏水平检验按GB15849的规定进行。4.3环境试验按EJ/T535规定进行。4.4α源活度、α粒子能量、α粒子表面发射率能谱的测试,可采用附录A(提示的附录)中提供的方法或其他符合测试要求的方法进行。4.5镭α源活度测试值的总不确定度应小于土10%。α源α粒子能量测试值的总不确定度应小于±5%。
4.6对于罐α源α粒子表面发射率的测试,可采用测试值总不确定度小于土10%的α计数测量装置进行测试。
5检验规则
5.1产品必须经生产厂质量检验部门严格检验,保证产品质量符合本标准要求的规定。5.2用户有权按本标准对产品进行验收,必要时可就争议事项提请国家法定认可的计量部门进行仲裁。
5.3产品检验分为型式检验和出厂检验。5.3.1型式检验
凡属下列情况之一者,产品应进行型式检验:a)研制的新产品;
b)产品在设计、规格、工艺及材料有重大改变时;c)不经常生产的品种再次生产时;d)对成批大量生产的产品,必须进行定期抽检。型式检验项目包括:
c)安全性能等级检验;
()α源活度、α粒子能谱及α粒子表面发射率等指标检验;g)表面沾污和泄漏水平检验;
h)环境试验。
5.3.2出厂检验
出厂检验项目包括:
a)外观质量检验;
GB12951---1996
b)α粒子能谱及α粒子表面发射率等指标检验;C)表面沾污和泄漏水平检验。
5.3.3抽样检查方法按GB2828或GB6378的规定。其中检验水平和合格质量水平(AQL)的指标H供需双方协商确定。
6标志、包装、运输、贮存及检验证书6.1标志
镭源的产品标志,可以用产品检验证书的形式提供。6.2包装和运输
镭α源的产品包装和运输按GB11806的要求进行。6.3贮存
媚α源应在通风、干燥和无腐蚀性气体的环境中贮存。6.4检验证书
生产单位对出厂产品,应提供产品检验证书交付使用单位。检验证书内容包括:
a)放射源名称、源的型号和批号;b)源的安全性能等级检验结果;c)源的活度、α粒子能量及α粒子表面发射率技术指标;d)表面沾污和泄漏水平检验结果;e)抽检方法和规定;
f)生产单位和检验证书签发人、检验日期。38.4
GB12951-1996
附录A
(提示的附录)
镭α源性能测量方法
本附录是为配合α源性能测量而提供的方法,可用于镭α源的型式检验和出厂检验。A1覆盖层均匀的α源能量测量
A1.1测量仪器及其要求
A1.1.1金硅面垒半导体探测器。各项指标应符合GB5201的要求。A1.1.2线性放大器和前置放大器。各项指标应符合GB4079的要求。A1.1.3多道幅度分析器。各项指标应符合GB4833的要求。A1.1.4应保证测量装置的系统总不确定度小于土3%。A1.2测量方法
A1.2.1采用三种以上能量不同的标准α放射源对多道幅度分析器进行能量刻度。也可采用已按能量校准过的精密脉冲产生器的信号对多道幅度分析器进行刻度。A1.2.2刻度所用的α放射源的自吸收对测量结果的影响,必须保证其可以忽略或者可以校正。A1.2.3按刻度条件进行镭α源能量测量。测量中须保持测量条件固定不变。A1.2.4记录下所测α能谱,求出峰位所在道址,再按刻度结果将峰位道所对应的能量计算出来。A2覆盖层均匀的韬α源活度测量A2.1小立体角装置
A2.1.1测量装置及其要求
a)小立体角装置
采用不锈钢管加工制成。应有准确可靠的定位盘和准直器,以保持源与准直器的同心和平行。应保证装置可抽真空至0.67Pa以下。b)探测器
可采用各项指标符合GB5201要求的金硅面垒半导体探测器或采用CsI(T1)薄晶体闪烁探测器。c)自动定标器
阙值应连续可调。
也可采用计算机多道脉冲幅度分析器。d)应保证测量装置的系统总不确定度小于士5%。A2.1.2测量方法bZxz.net
a)在采用金硅面垒半导体探测器时,应按GB5201的要求选定测量条件进行测量。b)测量时应保证装置真空度小于1.33Pa。c)须保证测量装置最小可测信号幅度所对应的α粒子能量条件进行测量d)装置在使用前,应采用241Am标准源进行计量比对;投入使用后,应定期进行计量比对。A2.1.3测量数据处理
测量结果的计算式(A1)为:
式中:Aa——镭α源活度,Ba;
na—经校正的α计数率,粒子数/s;(-—用4元归一的几何条件;
A。 = no/(Gn)
(A1)
GB12951-1996
n-一与测量条件无关的探测器效率。A2.2低能光子测量方法
A2.2.1测量装置及其要求
a)探测器
可采用Nal(TI)薄晶体闪烁探测器,也可采用半导体探测器。采用NaI(TI)薄晶体时,其晶体窗I应为铍窗或薄铝窗。
h)线性放大器和前置放大器
仪器的各项指标应符合GB4079的要求。c)自动定标器
阈值应连续可调。
也可采用计算机多道脉冲幅度分析器d)应保证测量装置的系统总不确定度小于士5%。A2.2.2测量方法和数据处理
a)测量期间必须保证测量条件一致,α源正面须对准探测器,α源与探测器之间的距离可根据镭α源额定活度大小确定。
b)按选定条件,设置甄别阈测量或从测得的整个能谱曲线中获得镭α源的0.0596MeV射线光电峰内的脉冲计数。然后根据装置的源峰探测效率,求出镭α源所发射的光子数。c)根据镭241核素衰变图中已精确知道的光子能量和分支比关系,由0.0596MeV的光子产额和测量得到的光子发射率,计算出镭α源活度。d)应定期采用241Am标准源对测量装置进行标定。386
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