本规范规定了金属氧化物半导体气敏件质量评定程序、试验和测量方法、包装和储运的一般要求。具体要求和特性在相应的空白详细规范和详细规范中规定。本规范适用于金属氧化物半导体气敏件，其他气敏件亦可参照采用。 GB/T 15652-1995 金属氧化物半导体气敏元件总规范 GB/T15652-1995 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
金属氧化物半导体气敏元件总规范Generic specification for gas sensors of metal-oxide semiconductor1 主题内容与适用范围
GB/T 15652—1995
本规范规定了金属氧化物半导体气敏元件（以下简称气敏元件）质量评定程序.试验和测量方法、包装和储运的一般要求。具体要求和特性在相应的空白详细规范和详细规范中规定。本规范适用于金属氢化物平导体气敏元件，其他气敏元件亦可参照采用。2总则
2.1优先顺序
若本规范要求与详细规范或其他有关文件之间出现矛盾，应按如下优先顺序使用文件：1．详细规范；
b、空白详细规范：
总规范；
d．中国电子元器件质量认证章程；e：IECQQC0010021EC电f元器件质量评定体系程序规则》；f.其他引用文件（如IEC文件）。2.2有关文件
包装储运图示标志
GB2421
电工电子产品基本环境试验规程总则电工电了产品基本环境试验规程试验A：低溢试验方法GB 2423. 1
电工电·子产品基本环境试验规程试验B；高温试验方法
GB 2423.4
电工电子产品基本环境试验规释、试验Db：交变湿热试验方法电工电子产品基本环境试验规程试验Eal冲击试验方法电工电子产品基本环境试验规程GB 2423.10
试验Fc：振动（正弦）试验方法电工电子产品基本环境试验规程试验Kd：接触点和连接件的二氧化硫试验方法GB 2423.20
GB2828逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的捡查）GB/T4475敏感元器件术语
GB 7408星期编号
GB/T15653金属氧化物半导体*敏元件测试方法SJ1155敏感元器件型号命名方法SJ/T10554敏感元器件文字符号
SJ/T10555
电气用图形衍号敏感元器件
IECQQC001002IFC电了元器件质量评定体系程序规则2.3术语、符号，代号
国家技术监督局1995-07-24批准1996-04-01实施
GB/T156521995
本规范中使用的术语、符号、代砂分别按GB/T4475、SJ/T10554、SJ/T10555的规定2-4分类
气敏元作应按下列规定分类，
烧结型；
b．游膜型；
厚膜型！
d、混合型。
2.5标志
2.5.1气激元件上的标志
气辙元件上应有下列标志：
a.引出端识别
在详细规范中应规定引出端的识别b，产品型号
各产品都应按SJ1155标志其型号：制造」只别或商标
在合格的气敏元件上应有制造厂的识别或商标；检验批识别代码
捡验批识别代码应符合GB7408的规定，采用在周的编号之前加上年份的最后两位数字来表示（例如：8305表示1983年的第5周）。当在同一个周内有-批以上的产品提交质量一致性检验时，应在上述批的识别代码后加上：个大写英文字母作为鉴别批的后缀字母。当标志面积不允许时.详细规范应按上述优先顺序给出最低要求。2.5.2特殊标患
制造厂如果采用任何特殊标志，绝不能妨碍或遮掩2.5.1条中要求的标惑。产品说明书上应有特殊标志的说明，2.5.3整体包装（或包装盒）上应有下列标志：除引出端识别标志外的2.5.1条所列的全部标志；a.
详细规范号：
检验和重新检验（如果进行重新检验时)日期：检验员识别代码；
e.共他。
3质量评定程序
3.1质量评定体系
作为一个完整的质量评定体系，应遵守3.4条和3.5条的程序。3.2初始制造阶段
对本规范来说，初始制造阶段是盛体表面撤感涂覆材料的配料工艺过程。这些工艺过程应在被批准的制造厂监控之下进行，但不要求在同一地点完成（见IECQQC001002中的11.1.2条）。3.3结构相似的元件
结构相似元件应足在同一生产线使用本质上相同的设计、材料、工艺和方法生产的气敏儿件。总检食员应中报制选厂内实施\结构相似性方案的办法，并按每个结构上相似的组确定代表型孕，以便使国家临餐机构(NSI)满意。对于气敏元件的日检、标志.尺寸、可焊性和出端强度，仅要求相同的外壳，可采用电气不合格品。3.4鉴定批准程序
3. 4. 1 鉴定此准的授于
制造广：
GB/T15652—1995
满足1FCQ（2C001002鉴定批雅的总要求；a.
满足本规范3.1条初始制造阶段的要求；h.
按IECQQC001002中11.3.1条a的办法，提供鉴定批准试验资料（见表1)。c.
为了特定应用所需的附加试验、有关环境试验后的电气被限值应在详纠规范中规定。3. 4. 2鉴定批准的维持
鉴定批准的维持应满足IECQQ:001002中11.5条的要求。3.4.3抽样
鉴定检验样本应能代表寻求鉴定批准的气敏元件范围，样本人小及合格判定数在表1中子以详细规定。
当试验表中引入附加试验组时，“(”组要求的气敏元件数也应增加，增加的数址等于附加试验纽所要求的数量。
3. 4.4试验
为了个详细规范所包括的气敏元件的鉴定批谁，需要进行表1规定的全部试验，筹组试验接表1中给出的顺序进行。
全部样品都应经受\0\组试验，然后分到其他各组。作\0\组试验里发规不合格的气敏元件不能用于其他各组，当一个气敏元件不能满足一个组的全部或部分试验时，就计为\1个不合格品”。当不合格品数未超过规定的每组（或分组）允许不合格品数和允许不合格品总数时，则给予批准。表1鉴定批准的试验表
睑验项目
直观检查和尺寸检育
清估空气中电阻
测液度范围
测气车中电阻
灵敏度
持征涨度比
响应时向
恢复时间
强焊(适州)
加热功率
短期负荷
引出端强度
方法引证
本规范4.4条
GH/T 156531955
按现定bZxz.net
GR/T15653-1995
本规范4.6.5条
GB/T15653-1995
木规范
4. 2. 1条
试验条作
接规定
接规定
按规岩
按规定
样本大小
不合格品数
总充许
不合格品数
检验项目
环境温度系数
环境龈度系数
温度冲击
长期负荷
交变懿熟
防爆(适用时)
耐腐蚀（适用时）
GB/115652—1995
续表1
万齿引证
GB/T 15653—1995
本规范 4. 6- 6 条
本规范4.7.2条
本规范
4. 6. 8 条
4. 6.7条
本规范
本规范 4. 8.2 条
本规范 1- 6. 10 条
注，第1组品不进行第0组试验。3.5质量致性检验
3.5-1生产批
试验条件
接规定
接规定
按规定
按规定
按规定
接规定
样本大小
总充许
不合格品数
不合格品数
二个生产批应出在同一生产线上采用相同的设计，工艺、材料、设备制造的气敏元件组成。3.5.2检验批的构放
一个检验批可由一个生产批组成，或由几个在本质上相同的条件（材料、工艺、设备等）下制造的结构相似气敏元件的生产批组成。在由若干个生产批组成的检验批中，最先提交与最后提交的生产批之间的间隔时间不得超过一个月。
3.5.3试验一览表
供质量一致性检验的逐批检验和周期检验一览表应在与总规范相关联的空白详细规范中给出。此一览表还应规定逐批和周期检验的组别划分，抽样和周期。检验水平(11.)和合格质量水(AQL)应从GB 2828 中选取。
3.5.4不合格批的再次提交
当样品不能满足逐批检验的要求时，应按IFCQQC001002中12.4条处理。3.5.5放行批证明记录
当有关详细规范规定放行批证明记录且购货行要求时，至少应给出下列内容周期检验包括的分组试验特性参数数据以及受试气敏元件数和不合格气敏元件数，而不涉及曾拒收的特性参数。
合格试验记录的内容应遵守IECQQCn01002中14章的要求。3.5.6延期交货
批放行后此存期超过12个月的气敏元件，发货前应按详细规范的A组和B组进行重新检验。3.5.7非检验参数
在详细规范中未规定工作条件的性能是不能保证的，也不应作为检验项日。3. 5. 8周期检验
GB/T15652—1995
当样本不能满足周期检验的要求时，应按1ECQQC001002中12.6条处理。3.5.9替代法
本舰范中规定的试验和测试方法不定是必须采用的唯方法。然而，制造厂应向国家监督检查机构证明其使用的替代的试验方法能得出与使用规定方法时相问的结果。在有争议的情况下，作为仲裁和判定，只能使用本规范和有关规范规定的方法。4试验和测量方法
4.1试验程序
试验程序指一个试验方法所包括的一整套操作过程，通常包括下列各项：预处理；
b．初始检测：
C、条件试验；
d．恢复(有必要时)
e.最后检测
在条件试验期间，根据需要可能要做间检测。十间检测及试验程序中各项的技术细节和要求按详细规范的规定进行。
4.2标人气条件
4.2.1试验的标准大气条件
除非另有规定，一般试验及其恢复应在GB 2421规定的如下的标准大气条件下进行：温度;15~35
相对湿度：45%~75%;
气压:86~106 kPa.
4.2.2仲裁试验的标准大气条件
对环境温、湿度有严格要求的试验应在如下的仲裁大气条件下进行：温度：25±1℃
相对湿度：48%~52%
气压:86~106 kPl。
在进行电测量前，应使气元件温度与测盘环境温度达到平衡，并满足测试方法规定的般注意求。
4.3试验顺序
当对同一气敏元件进行两种（或两种以上）的试验项目时，试验顺序应按表1或详细规范中各表顺序进行。
4.4直观检查和尺寸检查及其方法4.4.1外部日检
外部目捡应包括
a.标志的正确性、-致性和耐久性用日检法检查标志应是清晰、正确和毕固的并应符合详细规范的要求。b.外部封装质量
气元件应采用使质量·致的方法进行加工。用目检法检查基座、网罩应表面光滑、无裂纹，防爆金属网应采用双层80月以上不锈钢均成，并整齐、无损伤、无脱落，引线坚固无松动现象。4.4.2内部目检
内部日检应使用放大镜，按详细规范的要求进行。4. 4. 3尺寸验证
..comCB/T15652-1995
尺寸验证应使用卡尺，接详细规范要求验证外形及关键部位的尺寸。4.5电气参数测量及其方法
表1所列的电气参数的测应按GB/T15653或详细规范规定的方法进行。4.6环境试验及其方法
4.6.1振动（正该）
气元件的振动试验力法按GB2123.10的现定进行。4. 6.1.1试验条件
频率范围：10~500Hz;
振动幅值：0.35mm(50m/s2)：
交越频率:57. 7 [1z:
波形：止弦波：
频率奔差：±0.5Hz(10～100Hz）；10. 5%(大100 Hz时)
扫频速率：每分钟-倍频程：
速率容差：±10%；
扫频方向：气敏元件基座轴向，管心轴问，两轴的垂直方问；扫频次数：每个方向10次：共30次。4. 6. 1. 2 试验程序
a.颈处理
试样在试验前应在标准大气条件下工作一段时间，时间长短由详细规范规定。b.初始捡测
按详细规范要求检测检测气体中的电阻值和本规范1.4.1条要求进行月检。检测后试样应在标准大条件下放置1h
c.条件试验
将处于非工作状态的试样紧固在试验台上，按试验条件进行试验。试验期间如果详细规范有要求应进行中间检测
d最后检测
试验结束后,不经恢复，按详细规范要求检测检测气体中的电阻值和本规范4.4.1条要求进行巨检。
4. 6. 1. 3 试验设备
试验设备应符合GB 2423.10中有关规定。4. 6.2浒击(规定脉冲)
气敏元件的冲击试验方法接GB2423.5的规定进行。4. 6.2. 1试验条件
锋值妞速度;1 0u0 m/5\
标称持续时间：6 mb#
波形：半正弦波：
波形容差;士15%
速度变化=3.75m/*#
变化容差；逆度变化量值的±10%；冲击脉冲速度变化量值的测量从理想脉冲前的 们. 4 1) 开始到想脉冲后的(. 1 P 为止;注：1)为弥称脉冲的持续时间，冲击向;取垂直于性心轴向的正负共4个方向+GB/T 15652—1995
冲击次数：每个方向施3次,共12次。4.6-2.2试验程序
：预处班
按 4. 6.1. 2 A的规定。
1、初始检测
4.6.1.2 b的规定。
c．条件试验
将非工.作状态的试样紧固在试验台上，按试验条件进行试验。d．最后检测
按1.6.1.2d的规定。
4.6.2. 3试验设备
冲击台的性能及测试系统应符合GB2123.5中有关规定。4.6.3跌落
4. 6. 3. 1 试验条件
跌落高度：800mm;
跌落方式：自由落体；
跌落次数：3次。
4.6.3.2试验程序
a.预处理
按 4. 6. 1. 2 ±的规定。
b、初始检测
按4.6.1.2b的规定。
e、条件试验
将处丁非工作状态的试样按试验条件自由落体落到台板上。d.最后检测
按4. 6. 1.2 d的规定。
4.6.3.3试验设备
试验用嵌落台板为铺在水泥地上厚30 mm的硬杂木板。4.6.4引出端强度
4.6.4. 1 试验条件
试验方式：拉力试验；
施加拉力：20N：
拉力方向：沿基座轴竖直向下+
试验次数；每个插脚进行1次，
持续时间：每次10%。
4.6.4.2试验程序
且。预处埋
将基座插脚下端弯成钩状以便施加拉方。b。初始检测
按4.6.1.2b的规定。
茶件试验
将非工作状态的试样紧固在试验架上，按试验条件进行试验。试验期间按详细规范对试拌进行月d.最后检测
按 4. 6. 1. 2 d 的规定。
4.6.4.3试验设备
GB/T 15652—1995
试验架应能保证试样安装牢固并能承受所施拉力。4.6.5锡焊
4. 6. 5. 1试验条件
a.可焊性试验
试验方式：焊球法；
试验温度：235±5℃：
焊球重量;200 mg。
b.耐焊接热试验
试验方式：熔铁法；
试验温度：350±10℃
试验时间:10±1 8。
4.6.5.2试验程序
初始检测
按 4. 6. 1. 2 b 的规定。
b.预处理
将管脚漫焊剂，准备试验。
C条件试验
在管脚露出基座2mm处按条件进行试验。可焊性试验时，应计算从管脚切开焊球接触加热头到焊料流至导线周图、把管脚覆盖所需的时间。d．恢复
试验结束并清除试样残留的焊剂后，将试样在标准大气条件下放置1h。e。最后检测
试验结束经恢复后，按详细规范要求检测检测气体中的电阻值和本规范4.4.1条要求进行目检。4.6.5.3试验设备
试验时若需要支择撑测应用绝热材料，试验用铁应保证试验温度误符合试验条件要求，4.6-6温度冲击
气敏元件的温度冲击试验方法按GB2423.5的规定进行。4.6.6.1试验条件
试验方式，两箱法：
试验温度：-40℃/85℃；
温度睿差：士2℃（高温时）
±3（低温时）
循环次数;5次：
保持时间：0.5h。
4.6.6.2试验程序
a.预处理
按 4. 6. 1. 2 a 的规定。
b、初始检测
按4.6.1.2h的规定。
c．条件试验
GB/T156521995
将非工作状态的试样按先低温、后高温的循环次序，按试验条件进行试验。高、低温转格时间不大于3 in。
试验结束后，试样应在标准人气条件下放置2h，e、最后检测
按 4. 6. 5. 2 e 的规定。
4.6.6.3试验设备
高、低温箱应能有足够的热容量，以保证试样放人试验箱后，3min内工作空问能够达到规定的温度值,其他要求应符合GB2423.1和GB2423.2的有关规定。4.6.7交变湿热
气敏元件的交变湿热试验方法按GB2423.4的规定进行。4. 6.7.1 试验条件
最高温度：40℃；
温度容差±2℃，
试验周期：2+
每周期时间:24 h,
4. 6.7.2试验程序
a：处理
按4.6.1.2a的规定。
b.初始检测
按 4. 6. 1.2 b 的规定
c。条件试验
将非工作状态的试样（接好连线）放入25士2℃的试验箱中，保持1h后开始加避至相对湿度≥95%（温度不变），然后进行如下步骤的循环试验。升温：试验箱温度在2.5h内队25±2C升至40±2℃，在此期间相对湿度保持在92%～98%。保持高温高湿至第12 h 后开始降温。降温：试验籍温度在2.5h内从40士2℃降同252℃，在此期间相对湿度保持在92%～98%。保持常温高湿至第24h后开始下-循环。试验期间如果详细规范有规定，则应进行中间捡测。d恢复
试验结束后,试样在标大气条件下处理 2 h。e.最后检测
按4.6.5.2的规定
4.6-7.3试验设备
试验箱的性能应符合GB2423.4中的有关规定。4.6.8低温
气敏元件的低温试验方法按GB2423.1中Al的规定进行，4. 6. 8. 1 试验条件
试验方式：温度渐变；
温度：a.
—15±3℃
-40士3（有必要时）：
保持时间：2h。
4. 6.8.2试验程序
a．预处理
按 4. 6. 1. 2 ± 的规定。
b.初始检测
按4.6.1.2b的规定
GB/T15652—1995
c、条件试验
将工作状态的试样放入具有试验室坏境温度的试验箱内，开动试验箱，以1℃/min的速率降至规定低温温度，保持2h后以1℃/min的速率升至室温。试验期间按详细规范要求进行中间检测。d．恢复
按4.6.6.2d的规定。
e.最后检测
接4.6.5.2c的规定。
4.6.8.3试验设备
试验箱的性能应符合GB 2423. 1中Ad 的有关规定，4. 6. 9高温
气敏元件的高温试验方法按GB2423.2中a的规定进行。4. 6. 9. 1 试验条件
试验方式：温度渐变：
温度：55+2C，
保持时问:2 h，
4- 6- 9. 2试验程序
a。预处理
按 4. 6. 1. 2 ± 的规定。
b.初始检测
按4.6.1.2b的规定。
条件试验
将T作状态的试样放入具有试验空环境温度的试验箱t,开动试验箱,以 1C/min 的速率升至规定高温温度，保持2h后以1℃/min的速率降至室温。试验期间按详细规范要求进行中间检测。d．恢复
按 4. 6.5.2 d 的规定。
最后检测
按 4. 6. 5. 2 c 的规定。
4.6. 9.3试验设备
试验箱的性能应符合GB2423.2中Ba的有处规定。4.6.10耐腐蚀
气敏元件的耐腐蚀试验方法按GB2423.20的规定进行。4. 6. 10. 1 试验条件
试验方式：载气工作；
试验气体，业硫酸气体；
气体液度：0.4×10-6,10-6；
持续时间：240h.
4. 6. 10. 2试验程序
a预处理
接 1. 6. 1.2 的规定。
御始检测
按 4. 6.1. 2 h的规定,
e：条作试验
按试验条件要求进行试验。
d．恢复
GB/T15652—1995
条件试验结束后，在清洁空气中、标准大气条件下继续通电24h，然后再放置2h。e、最后检测
按4.6.5.2e的规定。
4.6.10.3试验设备
试验用电源应能保证其输出误差不大于士5%。试验箱应符合GB2123.20的有关规定。4.7电负荷试验及其方法
4.7.1短期负荷
4.7.1.1试验条件
加热电压：规定正带值的125%：通电时间:96 h。
4.7.1.2试验程序
、预处理
按1.6.1.2a的规定。
b.初始检测
按 4. 6- 1.2 b 的规定。
、条件试验
按条件要求试验。试验期间，根据详细规范要求进行中间检测。d．恢复
按 4. 6. 6. 2 d 的规定。
c：最后检测
按4.6.5.2的规定。
4.7.1.3试验设备
试验用的电源应能保证其输出误差不大于+5%。4.7.2长期负荷
4.7.2.1试验条作
试验方式：正常通电：
通电时间：2000h。
4. 7.2.2 试验程序
A：预处理
按4.6.1.2a的规定。
b.始检测
按 4. 6. 1, 2 b 的规定
条作试验
按试验条件进行试验，试验期间每隔23h向试样通规定浓度的检测气体（保持1h）。试验期间按详细规范要求进行中问检测。
d．恢复
按4.6.6.2d的规定。
e.最后检测
按 4. 6. 5. 2 e 的规定。
4.7.2.3试验电源
GB/T15652—1995
试验用的电源应能保证其输出误差大不人于土5%。4.8其他试验及其方法
4.8.1老化
4.8.1.1老化条件
老化方式：正常通；
老化时间，240h(或按详细规范规定的时间）。4.8-1.2老化程序
a.预处理
按 4. 6. 1. 2 a 的规定。
b、初始检测
按4.6.1.2b的规定。
c条件老化
按试验条件要求通电老化。
d．恢复
按 4. 6. 6.2 d的规定。
e.最后检测
按4.6.5.2e的规定。
4.8.1.3试验设备
老化设备的电源应能保证其输出误差不大于土5%。4.8.2防爆
4.8.2.1试验要求
防爆试验属安全性检验，应送国家指定检验部门进行。4.8. 2. 2试验项目
结构检验，
b.安全火花性能试验。
送检时制造厂应提供表面温度·绝缘介电强度，防护性能等结构数据。附加说明：
本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标难由电子工业部标准化研究所山几。本标准由电子1业部标准化研究所、哈尔滨通江晶体管厂负责起草。本标准主要起草人陈勘.宝贵马付秋、张伟。
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