YD/T 1998.1-2009
基本信息
标准号： YD/T 1998.1-2009
中文名称：接入网用单纤双向双端口光组件技术条件 第1部份：用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）的光组件
标准类别：通信行业标准(YD)
标准状态：现行
发布日期：2009-12-11
实施日期：2010-01-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar .pdf
下载大小：3956373
相关标签： 单纤 双向 端口 组件 技术 用于 基于 以太网 方式 无源光 网络
标准分类号
关联标准
出版信息
出版社：中国标准出版社
标准价格：0.0 元
出版日期：2010-01-01
相关单位信息
发布部门：工业和信息化部
标准简介
YD/T 1998.1-2009 接入网用单纤双向双端口光组件技术条件 第1部份：用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）的光组件 YD/T1998.1-2009 标准下载解压密码：www.bzxz.net
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标准内容
ICS33.180.01
中华人民共和国通信行业标准
YD/T 1998.1-2009
接入网用单纤双向双端口光组件技术条件第1部分：用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）的光组件
Technical specification of single fiber Bi-directional subassemblyforaccessnetwork
Part 1: optical subassembly for EPON2009-12-11发布
2010-01-01实施
中华人民共和国工业和信息化部 发 布前言·
1范围·
2规范性引用文件bzxz.net
3术语和定义·
缩略语
5要求·
6测试方法
机械和环境性能试验
8检验规则·
标志、包装、运输和贮存
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YD/T1998.1-2009
YD/T1998.1-2009
《接入网用单纤双向双端口光组件技术条件》分为以下两个部分：一第1部分：用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）的光组件；一第2部分：用于吉比特无源光网络（GPON）的光组件。本部分为《接入网用单纤双向双端口光组件技术条件》的第1部分。本部分在编制过程中，注意到与下列标准的协调一致：YD/T1419.2-2005接入网用单纤双向三端口光组件技术条件第2部分：用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）光网络单元（ONU）的单纤双向三端口光组件；一YD/T1475-2006接入网技术要求——基于以太网方式的无源光网络（EPON)；YD/T1531-2006接入网设备测试方法—基于以太网方式的无源光网络（EPON)。本部分由中国通信标准化协会提出并归口。本部分主要起草单位：深圳新飞通光电子技术有限公司、武汉邮电科学研究院、无锡市中兴光电子技术有限公司。
本部分主要起草人：李春芳、梁韬、曾庆刚、赵洁、米全林、梁臣桓、王幼林。H
接入网用单纤双向双端口光组件技术条件YD/T1998.1-2009
第1部分：用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）的光组件1范围
本部分规定了用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）的单纤双向双端口光组件的技术要求、测试方法、机械和环境性能试验、检验规则、标志、包装、贮存和运输要求等。本部分适用于基于以太网方式的无源光网络（EPON)的单纤双向双端口光组件（以下简称“组件”）。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分。然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T2828.1-2003
GB/T9771（所有部分）
YD/T701-1993
YD/T702-1993
YD/T 834-1996
YD/T1419.2-2005
SJ/T 11363-2006
SJ/T11364-2006
IEEE802.3ah-2004
MIL-STD-202G
MIL-STD-883G
计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划
通信用单模光纤
半导体激光二极管组件测试方法PIN/FET光接收组件测试方法
分布反馈激光二极管检测方法
接入网用单纤双向三端口光组件技术条件第2部分：用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）光网络单元（ONU）的单纤双向三端口光组件电子信息产品中有毒有害物质的限量要求电子信息产品污染控制标识要求信息技术系统间通信和信息交换一局域网和城域网特定要求——第3部分：CSMA/CD接入方式和物理层规范一增补文件：用户接入网媒质接入控制参数、物理层和管理层参数电子和电气元件试验方法标准
微电子器件试验方法标准
TelcordiaGR-468-CORE：2004
3术语和定义
用于通信设备的光电器件通用可靠性保证要求YD/T1419.2-2005中确立的术语和定义适用于本部分。4缩略语
下列缩略语适用于本部分。
BitErrorRatio
比特差错率
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YD/T1998.1-2009
5.1分类
EthernetPassiveOpticalNetworksElectrostatic Discharge
Non Return to Zero
OpticalDistributionNetwork
Optical LineTermination
Optical Network Unit
Pseudo-Random Bit Sequence
Root Mean Square
Single Longitude Mode
以太网无源光网络
静电放电
非归零
光配线网
光线路终端
光网络单元
伪随机码序列
均方根
单纵模
一按传输速率和距离分为1000BASE-PX10（10km）和1000BASE-PX20（20km）；一按光连接的方式分为插拨型和尾纤型。5.2光纤规格
推荐采用符合GB/T9771的单模光纤。5.3极限值
组件极限值见表1。
表1组件极限值
参数名称
工作管壳温度
贮存温度
焊接温度?
二极管
二极管
组件电源电压
尾纤弯曲半径！
ESD阀值
·商业级要求；
b工业级要求；
工作电流
LD反向电压
反向电压
正向电流
距组件引线根部至少2mm；
c焊接时间小于10s，
一般产品要求；
。符合RoHS要求的产品；
距光纤保护套至少25mm
VeR-LD)
V(R-PD)
最小值
最大值
5.4主要光电特性
5.4.1下行方向主要光接口参数
YD/T1998.1-2009
下行方向主要光接口参数见表2。除非另有规定，所有测试均在管壳温度范围内。表2下行方向光接口参数
参数名称
标称信号速率
工作波长范围
输出光功率
RMS光谱宽度（最大）
SLM激光-20dB光谱宽度
OLT发射
端参数
ONU接收
端参数
阀值电流
正向电压
边模拟制比
背光监视电流
跟踪误差
光回波损耗
标称比特率
接收灵敏度
饱和光功率
光回波损耗
光申扰
隔离度
2上行方向主要光接口参数
Gbit/s
规范值
1000BASE-PX10
1480~1500
见表4
-1.5~+1.5
≤-24
≤-45
1000BASE-PX20
1480~1500
见表4
-1.5~+1.5
≤-24
≤-45
测试条件
CW，l+20mA，常湿
调制速率1.25Gbit/s，消光
比≥6dB，眼图符合IEEE
802.3ah-2004中图60-6要求
T=70℃
T=85℃
T=85℃，CW，工作电流
≤IH+85mA
CW，lg+20mA
Ap=1490mm
PRBS27-1，NRZ码，
BER10-12，速率1.25Gbit/s,
1=1480mm~1500mm
Ap=1490nm
1310nm光信号对149Cmm
光信号
1490nm光信号对1310nm
光信号
所有测试均在管壳温度范围内。上行方向主要光接口参数见表3、表4。除非另有规定，
参数名称
标称比特率
工作波长范围
发射端
输出光功率
RMS光谱宽度（最大）
激光器
-20dB光谱宽度
边模拟制比
Gbit/s
上行方向光接口参数
规范值
1000BASE-PX10
1000BASE-PX20
1260~1360
见表4和图1
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1260~1360
见表4和图2
www. jz321.net
测试条件
CW，l+20mA，常温
调制速率1.25Gbit/s，消
光比≥6dB，眼图符合
IEEE802.3ah-2004中图
60-6要求
YD/T1998.1-2009
参数名称
阀值电流
发射端
端参数
正向电压
背光监视电流
跟踪误差
光回波损耗
接收灵敏度
饱和光功率
光回波损耗
突发接收建立时间
突发模式动态范围
光串扰
隔离度
1000BASE-PX10
工作波长
1480~1500
表3(续）
规范值
1000BASE-PX10
-1.5~+1.5
≤-24
≥>12
≤400
≤-45
4发射光谱带宽
RMS光谱宽度（最大值）
1000BASE-PX20
-1.5~+1.5
≤-27
≥>12
≤400
≤-45
测试条件
T=70℃
T=85℃
Te=85℃，
工作电流
≤IrH+85mA
lu+20mA
Ap=1310nm
PRBS27-1,NRZ码BER
10-12速率1.25Gbit/s，
2=1260mm~1360nm
2p=1310nm
1490mm光信号对1310mm
光信号
1310nm光信号对1490nm
光信号
单位nm
1000BASE-PX20
工作波长
1480~1500
RMS光谱宽度（最大值）
波长(nm)
YD/T 1998.1-2009
允许的最大
RMS谱宽
=0.115时的
RMS 谱宽
注：ε表示发射信号的色散值，当e≤0.115时，表示在传输距离范围内，色散代价可以控制在2dB以内。图11000BASE-PX10上行发射光谱极限图(wu)
波长(nm)
允许的最大
RMS谱宽
=0.10时的
RMS谱宽
注：ε表示发射信号的色散值，当e≤0.10时，表示在传输距离范围内，色散代价可以控制在2dB以内。图21000BASE·PX20上行发射光谱极限图5.5环保要求
组件的组成单元分类应符合SJ/T11363-2006中表1的要求，有毒有害物质的含量应符合SJ/T11363-2006中表2的要求。
6测试方法
6.1测试环境要求
组件的性能测试应在下列标准大气条件下进行。温度：15℃～35℃；
相对湿度：45%～75%；
一大气压力：86kPa～106kPa。
当不能在标准大气条件下进行时，应在试验报告上写明测试和试验的环境条件。6.2光电特性测试
6.2.1发射工作波长范围
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YD/T 1998.1-2009
按YD/T7011993中3.10节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.2阀值电流
按YD/T701-1993中3.3节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.3输出光功率
按YD/T701-1993中3.4节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.4RMS光谱宽度
按YD/T701-1993中3.10节规定进行测试，其值符合表2、表3、表4规定。6.2.5-20dB光谱宽度
按YD/T834-1996中4.13节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.6边模抑制比
按YD/T834-1996中4.13节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.7正向电压
按YD/T701-1993中3.1节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.8背光监视电流
按YD/T701-1993中3.9节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.9跟踪误差
按YD/T701-1993中3.15节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.10接收灵敏度
按YD/T702-1993中3.2.2节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.11饱和光功率
按YD/T1419.2-2005中5.3.17节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.12光串扰
按YD/T1419.2-2005中5.3.13.2节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.13隔离度
按YD/T1419.2-2005中5.3.16.2节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.14光回波损耗
按YD/T1419.2-2005中5.3.15节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。7机械和环境性能试验
7.1试验环境要求
试验环境要求同6.1节。
7.2机械和环境性能试验
机械和环境性能试验项目见表5。表5机械和环境性能试验
试验项目
物理特
可焊性：
性试验
ESD值b
引用标准
MIL-STD-883G方法2003.8
MIL-STD-883G方法3015.7
试验条件
不要求蒸汽老化
人体放电模型
抽样方案
性试验
试验项目
机械冲击
变频摄动
引用标准
MIL-STD-883G方法2002.4
MIL-STD-883G方法2007.3
光纤保持力门
Telcordia
表5(续）
试验条件
YD/T1998.1-2009
抽样方案
试验条件A，加速度500g，脉冲持续时间1.0ms，5次/轴向
试验条件A频率：20Hz～2000Hz，加速度：20g，扫频速率；4min/循环，循环次数：4循环/轴向，方向X、Y、Z
涂覆层或紧套光纤：拉力5N，保持时GR-468-CORE:20043.3.1.3.3
光纤扭折
插拔熏复性
高温贮存
低温贮存
非工作环
境试验
温度循环
恒定湿热
工作环境寿命（高温）
Telcordia
GR-468-CORE:20043.3.1.3.1
Telcordia
3.3.1.4.1
Telcordia
Telcordia
间1min
松套或增强性光纤：拉力10N，保持时间1min
涂覆层光纤、紧套或松套光纤：扭折力5N，10次循环，扭折点离器件3cm增强性光纤：扭折力10N，10次循环，扭折点离器件3cm
GR-468-CORE：2004插拨200次
GR-468-CORE：2004不加电，温度85℃C，时间2000hGR-468-CORE：2004不加电，温度一40℃，时间72hMIL-STD-883G方法1010.8
MIL-STD-202G方法103B
Telcordia
可用参数不合格品进行。
极限温度一40℃、+85℃，温度变化速率：10℃/min，维持时间：30min，循环次数500次
温度85℃，相对湿度85%，时间500hGR-468-CORE：2004T。=70℃或T=85℃，额定工作条件下t=2000h
LTPDLTPD
b在ESD阐值试验中，所有样品须试验至其失效为止（通过不断增加电压）。“0”（失效数）表示ESD阀值小于最小允许值的器件数
7.3不合格判据
各项试验完成后，组件出现下列故障中的任意一种情况即判定为不合格：a）外壳破裂或有裂纹、组件内部的元器件发生脱落；b）在相同测试条件下，试验前后，输出光功率、灵敏度的变化量大于1dB，阀值电流变化量大于10%；c）寿命（高温）试验时，试验前后，输出光功率、接收灵敏度的变化量大于3dB，阀值电流变化量大于50%。
8检验规则
8.1检验分类
组件分为出厂检验和型式检验。8.2出厂检验
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出厂检验分为常规检验和抽样检验。8.2.1常规检验
常规检验应百分之百进行，检验项目如下：a）光电性能检测
按本部分6.2节的规定进行检测，其值符合表2、表3的规定。b）温度循环
非工作状态，极限温度一40℃、+85℃，循环次数20次，高、低温维持时间30min，温度变化速率10℃/min；
恢复：在正常大气条件下恢复1h后测试；失效判据：输出光功率、灵敏度的变化量大于1dB，阀值电流变化量大于10%。c）外观
目测，无明显划痕，无各种污点、镀层无脱落、起皮、锈蚀等现象；标志清晰牢固。8.2.2抽样检验
从批量生产中生产的同批或若干批产品中，按GB/T2828.1~2003规定，取一般检查水平IⅡI，接收质量限（AQL）和检验项目如下。
a）外观
AQL取1.5。检验方法：目测，表面无明显划痕，无各种污点，产品标识清晰牢固。b）外形尺寸
AQL取1.5。检验方法：用满足精度要求的量度工具测量，应符合产品技术条件规定。c）光电性能检测
AQL取0.4。检验方法：按本部分6.2节的规定进行检测，其值符合表2、表3的规定。8.3型式检验
8.3.1检验条件
组件有下列情况之一时，应进行型式检验：a）产品定型时；
b）正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时；c）产品停产12个月后，恢复生产时；d）出厂检验结果与鉴定时的型式检验有较大差别时；e）正常生产36个月后；
f）国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。8.3.2型式检验项目及抽样方案
型式检验的项目及抽样方案见表5。8.3.3型式检验样品的处理
凡经受了型式检验的样品，一律不能作为合格品交付使用。8.3.4不合格的判定
每项试验完成后，不合格的判定按7.3节规定执行。8.3.5重新检验规定
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中华人民共和国通信行业标准
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接入网用单纤双向双端口光组件技术条件第1部分：用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）的光组件
Technical specification of single fiber Bi-directional subassemblyforaccessnetwork
Part 1: optical subassembly for EPON2009-12-11发布
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1范围·
2规范性引用文件bzxz.net
3术语和定义·
缩略语
5要求·
6测试方法
机械和环境性能试验
8检验规则·
标志、包装、运输和贮存
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YD/T1998.1-2009
YD/T1998.1-2009
《接入网用单纤双向双端口光组件技术条件》分为以下两个部分：一第1部分：用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）的光组件；一第2部分：用于吉比特无源光网络（GPON）的光组件。本部分为《接入网用单纤双向双端口光组件技术条件》的第1部分。本部分在编制过程中，注意到与下列标准的协调一致：YD/T1419.2-2005接入网用单纤双向三端口光组件技术条件第2部分：用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）光网络单元（ONU）的单纤双向三端口光组件；一YD/T1475-2006接入网技术要求——基于以太网方式的无源光网络（EPON)；YD/T1531-2006接入网设备测试方法—基于以太网方式的无源光网络（EPON)。本部分由中国通信标准化协会提出并归口。本部分主要起草单位：深圳新飞通光电子技术有限公司、武汉邮电科学研究院、无锡市中兴光电子技术有限公司。
本部分主要起草人：李春芳、梁韬、曾庆刚、赵洁、米全林、梁臣桓、王幼林。H
接入网用单纤双向双端口光组件技术条件YD/T1998.1-2009
第1部分：用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）的光组件1范围
本部分规定了用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）的单纤双向双端口光组件的技术要求、测试方法、机械和环境性能试验、检验规则、标志、包装、贮存和运输要求等。本部分适用于基于以太网方式的无源光网络（EPON)的单纤双向双端口光组件（以下简称“组件”）。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分。然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T2828.1-2003
GB/T9771（所有部分）
YD/T701-1993
YD/T702-1993
YD/T 834-1996
YD/T1419.2-2005
SJ/T 11363-2006
SJ/T11364-2006
IEEE802.3ah-2004
MIL-STD-202G
MIL-STD-883G
计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划
通信用单模光纤
半导体激光二极管组件测试方法PIN/FET光接收组件测试方法
分布反馈激光二极管检测方法
接入网用单纤双向三端口光组件技术条件第2部分：用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）光网络单元（ONU）的单纤双向三端口光组件电子信息产品中有毒有害物质的限量要求电子信息产品污染控制标识要求信息技术系统间通信和信息交换一局域网和城域网特定要求——第3部分：CSMA/CD接入方式和物理层规范一增补文件：用户接入网媒质接入控制参数、物理层和管理层参数电子和电气元件试验方法标准
微电子器件试验方法标准
TelcordiaGR-468-CORE：2004
3术语和定义
用于通信设备的光电器件通用可靠性保证要求YD/T1419.2-2005中确立的术语和定义适用于本部分。4缩略语
下列缩略语适用于本部分。
BitErrorRatio
比特差错率
建筑321---标准查询下载网
YD/T1998.1-2009
5.1分类
EthernetPassiveOpticalNetworksElectrostatic Discharge
Non Return to Zero
OpticalDistributionNetwork
Optical LineTermination
Optical Network Unit
Pseudo-Random Bit Sequence
Root Mean Square
Single Longitude Mode
以太网无源光网络
静电放电
非归零
光配线网
光线路终端
光网络单元
伪随机码序列
均方根
单纵模
一按传输速率和距离分为1000BASE-PX10（10km）和1000BASE-PX20（20km）；一按光连接的方式分为插拨型和尾纤型。5.2光纤规格
推荐采用符合GB/T9771的单模光纤。5.3极限值
组件极限值见表1。
表1组件极限值
参数名称
工作管壳温度
贮存温度
焊接温度?
二极管
二极管
组件电源电压
尾纤弯曲半径！
ESD阀值
·商业级要求；
b工业级要求；
工作电流
LD反向电压
反向电压
正向电流
距组件引线根部至少2mm；
c焊接时间小于10s，
一般产品要求；
。符合RoHS要求的产品；
距光纤保护套至少25mm
VeR-LD)
V(R-PD)
最小值
最大值
5.4主要光电特性
5.4.1下行方向主要光接口参数
YD/T1998.1-2009
下行方向主要光接口参数见表2。除非另有规定，所有测试均在管壳温度范围内。表2下行方向光接口参数
参数名称
标称信号速率
工作波长范围
输出光功率
RMS光谱宽度（最大）
SLM激光-20dB光谱宽度
OLT发射
端参数
ONU接收
端参数
阀值电流
正向电压
边模拟制比
背光监视电流
跟踪误差
光回波损耗
标称比特率
接收灵敏度
饱和光功率
光回波损耗
光申扰
隔离度
2上行方向主要光接口参数
Gbit/s
规范值
1000BASE-PX10
1480~1500
见表4
-1.5~+1.5
≤-24
≤-45
1000BASE-PX20
1480~1500
见表4
-1.5~+1.5
≤-24
≤-45
测试条件
CW，l+20mA，常湿
调制速率1.25Gbit/s，消光
比≥6dB，眼图符合IEEE
802.3ah-2004中图60-6要求
T=70℃
T=85℃
T=85℃，CW，工作电流
≤IH+85mA
CW，lg+20mA
Ap=1490mm
PRBS27-1，NRZ码，
BER10-12，速率1.25Gbit/s,
1=1480mm~1500mm
Ap=1490nm
1310nm光信号对149Cmm
光信号
1490nm光信号对1310nm
光信号
所有测试均在管壳温度范围内。上行方向主要光接口参数见表3、表4。除非另有规定，
参数名称
标称比特率
工作波长范围
发射端
输出光功率
RMS光谱宽度（最大）
激光器
-20dB光谱宽度
边模拟制比
Gbit/s
上行方向光接口参数
规范值
1000BASE-PX10
1000BASE-PX20
1260~1360
见表4和图1
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1260~1360
见表4和图2
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测试条件
CW，l+20mA，常温
调制速率1.25Gbit/s，消
光比≥6dB，眼图符合
IEEE802.3ah-2004中图
60-6要求
YD/T1998.1-2009
参数名称
阀值电流
发射端
端参数
正向电压
背光监视电流
跟踪误差
光回波损耗
接收灵敏度
饱和光功率
光回波损耗
突发接收建立时间
突发模式动态范围
光串扰
隔离度
1000BASE-PX10
工作波长
1480~1500
表3(续）
规范值
1000BASE-PX10
-1.5~+1.5
≤-24
≥>12
≤400
≤-45
4发射光谱带宽
RMS光谱宽度（最大值）
1000BASE-PX20
-1.5~+1.5
≤-27
≥>12
≤400
≤-45
测试条件
T=70℃
T=85℃
Te=85℃，
工作电流
≤IrH+85mA
lu+20mA
Ap=1310nm
PRBS27-1,NRZ码BER
10-12速率1.25Gbit/s，
2=1260mm~1360nm
2p=1310nm
1490mm光信号对1310mm
光信号
1310nm光信号对1490nm
光信号
单位nm
1000BASE-PX20
工作波长
1480~1500
RMS光谱宽度（最大值）
波长(nm)
YD/T 1998.1-2009
允许的最大
RMS谱宽
=0.115时的
RMS 谱宽
注：ε表示发射信号的色散值，当e≤0.115时，表示在传输距离范围内，色散代价可以控制在2dB以内。图11000BASE-PX10上行发射光谱极限图(wu)
波长(nm)
允许的最大
RMS谱宽
=0.10时的
RMS谱宽
注：ε表示发射信号的色散值，当e≤0.10时，表示在传输距离范围内，色散代价可以控制在2dB以内。图21000BASE·PX20上行发射光谱极限图5.5环保要求
组件的组成单元分类应符合SJ/T11363-2006中表1的要求，有毒有害物质的含量应符合SJ/T11363-2006中表2的要求。
6测试方法
6.1测试环境要求
组件的性能测试应在下列标准大气条件下进行。温度：15℃～35℃；
相对湿度：45%～75%；
一大气压力：86kPa～106kPa。
当不能在标准大气条件下进行时，应在试验报告上写明测试和试验的环境条件。6.2光电特性测试
6.2.1发射工作波长范围
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YD/T 1998.1-2009
按YD/T7011993中3.10节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.2阀值电流
按YD/T701-1993中3.3节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.3输出光功率
按YD/T701-1993中3.4节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.4RMS光谱宽度
按YD/T701-1993中3.10节规定进行测试，其值符合表2、表3、表4规定。6.2.5-20dB光谱宽度
按YD/T834-1996中4.13节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.6边模抑制比
按YD/T834-1996中4.13节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.7正向电压
按YD/T701-1993中3.1节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.8背光监视电流
按YD/T701-1993中3.9节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.9跟踪误差
按YD/T701-1993中3.15节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.10接收灵敏度
按YD/T702-1993中3.2.2节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.11饱和光功率
按YD/T1419.2-2005中5.3.17节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.12光串扰
按YD/T1419.2-2005中5.3.13.2节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.13隔离度
按YD/T1419.2-2005中5.3.16.2节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。6.2.14光回波损耗
按YD/T1419.2-2005中5.3.15节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。7机械和环境性能试验
7.1试验环境要求
试验环境要求同6.1节。
7.2机械和环境性能试验
机械和环境性能试验项目见表5。表5机械和环境性能试验
试验项目
物理特
可焊性：
性试验
ESD值b
引用标准
MIL-STD-883G方法2003.8
MIL-STD-883G方法3015.7
试验条件
不要求蒸汽老化
人体放电模型
抽样方案
性试验
试验项目
机械冲击
变频摄动
引用标准
MIL-STD-883G方法2002.4
MIL-STD-883G方法2007.3
光纤保持力门
Telcordia
表5(续）
试验条件
YD/T1998.1-2009
抽样方案
试验条件A，加速度500g，脉冲持续时间1.0ms，5次/轴向
试验条件A频率：20Hz～2000Hz，加速度：20g，扫频速率；4min/循环，循环次数：4循环/轴向，方向X、Y、Z
涂覆层或紧套光纤：拉力5N，保持时GR-468-CORE:20043.3.1.3.3
光纤扭折
插拔熏复性
高温贮存
低温贮存
非工作环
境试验
温度循环
恒定湿热
工作环境寿命（高温）
Telcordia
GR-468-CORE:20043.3.1.3.1
Telcordia
3.3.1.4.1
Telcordia
Telcordia
间1min
松套或增强性光纤：拉力10N，保持时间1min
涂覆层光纤、紧套或松套光纤：扭折力5N，10次循环，扭折点离器件3cm增强性光纤：扭折力10N，10次循环，扭折点离器件3cm
GR-468-CORE：2004插拨200次
GR-468-CORE：2004不加电，温度85℃C，时间2000hGR-468-CORE：2004不加电，温度一40℃，时间72hMIL-STD-883G方法1010.8
MIL-STD-202G方法103B
Telcordia
可用参数不合格品进行。
极限温度一40℃、+85℃，温度变化速率：10℃/min，维持时间：30min，循环次数500次
温度85℃，相对湿度85%，时间500hGR-468-CORE：2004T。=70℃或T=85℃，额定工作条件下t=2000h
LTPDLTPD
b在ESD阐值试验中，所有样品须试验至其失效为止（通过不断增加电压）。“0”（失效数）表示ESD阀值小于最小允许值的器件数
7.3不合格判据
各项试验完成后，组件出现下列故障中的任意一种情况即判定为不合格：a）外壳破裂或有裂纹、组件内部的元器件发生脱落；b）在相同测试条件下，试验前后，输出光功率、灵敏度的变化量大于1dB，阀值电流变化量大于10%；c）寿命（高温）试验时，试验前后，输出光功率、接收灵敏度的变化量大于3dB，阀值电流变化量大于50%。
8检验规则
8.1检验分类
组件分为出厂检验和型式检验。8.2出厂检验
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出厂检验分为常规检验和抽样检验。8.2.1常规检验
常规检验应百分之百进行，检验项目如下：a）光电性能检测
按本部分6.2节的规定进行检测，其值符合表2、表3的规定。b）温度循环
非工作状态，极限温度一40℃、+85℃，循环次数20次，高、低温维持时间30min，温度变化速率10℃/min；
恢复：在正常大气条件下恢复1h后测试；失效判据：输出光功率、灵敏度的变化量大于1dB，阀值电流变化量大于10%。c）外观
目测，无明显划痕，无各种污点、镀层无脱落、起皮、锈蚀等现象；标志清晰牢固。8.2.2抽样检验
从批量生产中生产的同批或若干批产品中，按GB/T2828.1~2003规定，取一般检查水平IⅡI，接收质量限（AQL）和检验项目如下。
a）外观
AQL取1.5。检验方法：目测，表面无明显划痕，无各种污点，产品标识清晰牢固。b）外形尺寸
AQL取1.5。检验方法：用满足精度要求的量度工具测量，应符合产品技术条件规定。c）光电性能检测
AQL取0.4。检验方法：按本部分6.2节的规定进行检测，其值符合表2、表3的规定。8.3型式检验
8.3.1检验条件
组件有下列情况之一时，应进行型式检验：a）产品定型时；
b）正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时；c）产品停产12个月后，恢复生产时；d）出厂检验结果与鉴定时的型式检验有较大差别时；e）正常生产36个月后；
f）国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。8.3.2型式检验项目及抽样方案
型式检验的项目及抽样方案见表5。8.3.3型式检验样品的处理
凡经受了型式检验的样品，一律不能作为合格品交付使用。8.3.4不合格的判定
每项试验完成后，不合格的判定按7.3节规定执行。8.3.5重新检验规定
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