YD/T 2006-2009 光通道功率可调合波器技术要求和测试方法 YD/T2006-2009 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS33.180.20
中华人民共和国通信行业标准
YD/T 2006-2009
光通道功率可调合波器
技术要求和测试方法
Technical requirements and test methods of VMUX2009-12-11 发布
2010-01-01实施
中华人民共和国工业和信息化部　发 布前
范围·
规范性引用文件
缩略语、术语和定义·
分类·
技术要求·
测试方法
可靠性试验·
检验规则.
9标识、包装、运输和贮存
附录A（规范性附录）WDM系统中心波长分配表附录B（资料性附录）50GHz问隔VMUX参数指标次
YD/T2006-2009
YD/T2006-2009
本标准的“可靠性试验”参考了TelcordiaGR-1221-CORE-1999《无源光器件可靠性保证总规范》、GR-1209-CORE-2001《无源光器件总规范》、GR-468-CORE-2004《通信设备用光电子器件通用可靠性保证要求》的部分内容。
本标准在制定过程中注意与YD/T1320-2004《光密集波分复用器/去复用器技术要求和试验方法》的协调一致。
本标准的附录A为规范性附录，附录B为资料性附录。本标准由中国通信标准化协会提出并归口。本标准由中兴通讯股份有限公司、武汉邮电科学研究院、工业和信息化部电信研究院、深圳新飞通光电子技术有限公司起草。
本标准主要起草人：沈百林、张红宇、武成宾、方瑜、郑彦升、吴晓平、赵文玉、李春芳。H
1范围
光通道功率可调合波器技术要求和测试方法YD/T2006-2009
本标准规定了光通道功率可调合波器的技术要求和测试方法，包括相关定义、分类、技术要求、测试方法、可靠性试验、检验规则及标识、包装、运输和贮存。本标准适用了光密集波分复用系统的光通道功率可调合波器（以下简称VMUX），光通道功率可调分波器可参照执行。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准。然面，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T2828.1-2003计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划GB/T2421-1999
电工电子产品环境试验第1部分：总则GB/T20440-2006密集波分复用器/解复用器技术条件YD/T1960-2009N×10Gbit/s超长距离波分复用（WDM）系统技术要求SJ/T11363-2006电子信息产品中有毒有害物质的限量要求SJ/T11364-2006电子信息产品污染控制标识要求TelcordiaGR-468-CORE-2004通信设备用光电子器件通用可靠性保证要求TelcordiaGR-1209-CORE-2001无源光器件总规范TelcordiaGR-1221-CORE-1999无源光器件可靠性保证总规范3缩略语、术语和定义
3.1缩略语
GB/T20440-2006中确立的以及下列缩略语适用于本标准。AWG
Array Waveguide Grating
ElectrostaticDischarge
HumanBodyModule
Multiplexer
Thin Film Filter
VariableMultiplexerofOpticalChannelPowerVariable Optical Attenuator
3.2术语和定义
阵列波导光栅
静电放电
人体模型
合波器
介质膜滤波
光通道功率可调合波器
可调光衰减器
GB/T20440-2006中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3.2.1
YD/T2006-2009
光通道功率可调合波器VMUX
VMUX是一种由MUX、多个VOA和控制电路组成的通道功率可调整的光密集波分复用器。MUX实现多个波长的合波，控制电路根据系统光功率均衡需求控制每个通道VOA的衰减量，调整每个通道的光功率。VMUX结构如图1所示。
衰减范围attenuationrange
控制电路
图1VMUX结构框图
0入，入2入，
衰减范围是衰减值可设置的最大值与衰减值可设置的最小值之间的差值，单位为dB。注：衰减值可设置的最小值为0dB。3.2.3
衰减精度attenuationaccuracy
衰减精度是在衰减范围内，所有通道衰减的设置值与实际值之差绝对值的最大值，单位为dB。4分类
按VMUX的工作机理分为：
TFF。
按VMUX的工作通道问隔分为：
—100GHz；
50GHz。
按VMUX的滤波器通带形状分为：平顶型；
高斯型。
技术要求
5.1性能要求
YD/T2006-2009
表1给出了100GHz间隔平顶型VMUX的参数指标，100GHz间隔高斯型VMUX的参数指标可参照表1执行，50GHz间隔VMUX的参数指标参见附录B。100GHz间隔平顶型VMUX参数指标表1
衰减范围
减精度
通道间隔
通道数
中心波长
—0.5dB通道宽度
通道平坦度
通道插入损耗
通道插入损耗均匀性
相邻通道隔离度
非相邻通道隔离度
波长热稳定性
插入损耗热稳定性
偏报相关损耗?
偏报模色散
回波损耗
方向性bzxZ.net
工作温度
贮存温度
·其他通道数可定制
b衰减设置为0dB
。全衰减范围
2外观要求
40或48
见附录A
-30～+30
≥>50
-5～+65
-40～+85
VMUX外形尺寸与设计尺寸应相符；外观应平滑、无油渍、无伤痕、无裂纹，整个器件牢固，引线无松动或端口的连接器的插拔需平顺。3环保符合性要求
VMUX的组成单元分类应符合SJ/T11363-2006中表1的规定，有毒有害物质的限量要求应符合SJ/T11363-2006中表2的规定。
6测试方法
测试环境
VMUX的性能试验应符合GB/T2421-1999中5.3.1规定的大气条件。测试用仪表
测试用仪表应符合GB/T20440-2006中5.3的规定。3
YD/T2006-2009
6.3外观检查
进行光学性能测试前，对VMUX进行目测检查，外观应符合5.2的规定。6.4通道中心波长、波长热稳定性、一0.5dB通道宽度的测量按GB/T20440-2006中5.4.1的要求进行。6.5通道插入损耗、插入损耗热稳定性、通道平坦度、通道插入损耗均匀性的测量设置VOA衰减为0dB，按GB/T20440-2006中5.4.2的要求进行。6.6相邻隔离度、非相邻隔离度的测量设置VOA衰减为0dB，按GB/T20440-2006中5.4.3的要求进行。6.7偏振相关损耗的测量
按GB/T20440-2006中5.4.4的要求进行。6.8偏振模色散的测量
按GB/T20440-2006中5.4.5的要求进行。6.9回波损耗的测量
按GB/T20440-2006中5.4.6的要求进行。6.10方向性的测量
按GB/T20440-2006中5.4.7的要求进行。6.11色散的测量
按GB/T20440-2006中5.4.8的要求进行。6.12衰减范围、衰减精度的测量a）测试配置
测试配置如图2所示。
温度试验箱
通道1
可调谱激光源
b）测试步骤
通道2
控制平台
图2VMUX的衰减范围、衰减精度测量方法框图光功率计
1）将VMUX放入温度试验箱，控制平台正常工作：2）将温度试验箱的温度设置为常温（+25℃），恒溢30min后进行测量；3）将可调谐激光源调谐至波长入，接VMUX的通道i，光功率计接公共输出端；4）设置通道i的衰减为0dB，测量和记录光功率Pi，单位为dBm：YD/T2006-2009
5）设置通道的衰减为5dB，测量和记录光功率P2，单位为dBm；通道i在5dB衰减时的衰减精度为IP1—P25l；
6）设置通道i的衰减为10dB，测量和记录光功率P3，单位为dBm；通道i在10dB衰减时的衰减精度为IP1-P3-10l:
7）改变可调谐光源的波长和相应的光纤连接，重复步骤4）～步骤6），获得其他通道的衰减精度，取最大值作为VMUX在常温时的衰减精度：8）设置所有通道的衰减为10dB，验证衰减范围为10dB时表1的参数指标是否合格；9）将温度试验箱的温度设置为低温（一5℃），恒温30min后，重复步骤3）～步骤8）完成测量；10）设置高温（+65℃），恒温30min后，重复步骤3）～步骤8）完成测量；11）取常温、低温和高温下衰减精度的最大值作为VMUX的衰减精度。7可靠性试验
VMUX的可靠性试验包括机械完整性试验、耐久性试验和特殊试验。表2给出了可靠性试验的具体要求，其中，耐湿试验曲线如图3所示。表2VMUX可靠性试验要求
批内允许
试验项目
机械冲击
机械振动
光纤侧拉
光纤和光缆
保持力
（直拉）
试验方法
GR-1221-CORE6.2.1
GR-1221-CORE6.2.2
GR-1209-CORE5.4.3.3
试验条件
冲击次数：5次/每方询，6个方向（3个坐标轴)：冲击等级：500g；持续时间：1ms。
或者从1.8m处自由落体到混凝土地.上：3个坐标轴；重复8次
条件A；加速度：最大为20g：振动频率：（20～2000）Hz；持续时间：4min/每循环，4循环/每轴向
涂光纤、紧套缓冲型光纤：0.23kg，90°，5s，2个方向。
松散缓冲型光纤、加强型光缆；0.45kg90%，5s，2个方向
涂覆光纤、紧套缓冲型光纤：0.45kg5s，3次。
GR-1209-CORE5.4.3.4
松散缓冲型光纤、加强型光缆：1.0kg，5s，3次。
带状光缆：2.0kg；5s，3次
不合格品
率（LTPD）
充允许样
「充许失
(只）
插入损耗
变化量≤
YD/T2006-2009
试验项目
高温贮存
（干热）
高温高湿
(湿热）
低温贮存
温度循环
高温加电
（可选）
试验方法
GR-1221-CORE6.2.4
表2(续）
试验条件
温度（+85±2）C；湿度：<40%；不加电，不在线监测；共2000h。温度（+75±2）C；湿度：（90±5）%；GR-1221-CORE6.2.5
或者（+85±2）℃；湿度：（85±5）%；不加电，不在线监测；共500h
GR-1221-CORE6.2.6
温度（一40±5）℃；不加电，不在线监测；共2000h
（~40±2）℃～（+70±2）℃
GR-1221-CORE6.2.7极限点持续时间≥15min：循环100次。不加电，不在线监测+75℃时，相对湿度（85~95）%；+25GR-1221-CORE6.2.8
GR-468-CORE4.2
C和-40C时不控制相对湿度；极限点持续时间：3～16h；包括5个完整循环，具体耐湿试验曲线见图3
温度（+70±2）℃C；湿度：<40%；加电，在线监测；共2000h
GR-1221-CORE6.2.9HBM，至少500V批内允许
不合格品率
(LTPD)
允许样
注：不加电试验不要求在线监测，只带比较试验前后插入损耗的变化量，根据数据判定合格与否(a)
1个完循环
+75时湿度为（85~95）%
b若使用两个温度试验箱，样品转移时间可在5～15nin内图3耐湿试验曲线
1.5~2.5hb
时间（h）
1.5~2.5 h
失效数
插入损耗
变化量≤
工作正常
8检验规则
8.1检验职责
VMUX由质量检验部门按本标准要求检验合格并发给合格证后方可出厂。8.2检验分类
分出厂检验和型式检验。
8.3出厂检验
8.3.1日常检验
对生产的全部产品进行检验，其检验数据应随同产品提交给用户。对VMUX的每个通道进行的日常检验项目至少应包括如下项目：一中心波长；
-0.5dB通道宽度；
一插入损耗；
一偏振相关损耗；
一相邻通道隔离度、非相邻通道隔离度；回波损耗；
—衰减精度。
8.3.2抽样检验
YD/T2006-2009
出质量部门从一个生产批的产品或几个生产批的产品中按一定比例抽取完整的产品或样品进行检验。检验批应由同型号、同等级、同类、同尺寸和同成分，在基本相同的时段和一致的条件下制造的产品组成。抽样检验项目与8.3.1相同。抽样应符合GB/T2828.1-2003的规定，般检验水平为II、接收质量限为0.1。
8.4型式检验
VMUX有下列情况之一时，应进行型式检验：一产品定型时；
一正式生产后，如结构、材料、工艺，有较大改变，可能影响产品性能时；一正常生产时，24个月后，应周期性进行型式检验；→一产品长期停产后，恢复生产时；出厂检验结果与上次型式检验有较大差别时；—国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。9标识、包装、运输和购存
9.1标识
每个产品应标明产品名称、型号规格、编号、批的识别代码等标识。产品的污染控制标识应符合SJ/T11364-2006中第5章的规定，在包装盒和产品上打印电子信息产品污染控制标识。
9.2包装
产品应有内包装，用盒子包装好，包装内应有产品说明书、产品性能测试单和品质保证单，包装盒7
YD/2006-2009
上应标有产品名称、型号规格、生产厂家、执行标准号、防静电标识、绿色产品标识等。包装盒内应有产品说明书。说明书内容包括：型号、简要工作原理和主要技术指标、工作条件、安装尺寸和管脚排列、使用注总事项等。9.3运输
包装好的产品可用常用的交通工具运输，运输中避免雨、雪的直接淋袭，烈日曝晒和猛烈撞击。当产品需要长途运输时，需用木箱或硬纸箱做外包装，在箱上写明不能抛甩、碰、压，应有防雨防潮标志，以免损坏产品。
9.4购存
产品应贮存在环境温度为（一10+45）℃，相对湿度不大于80%且无腐蚀性气体、液体的仓库里。此存期超过3个月的产品，出库前应按8.3.1的规定重新测试，合格方可出库。o
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