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GB/T 27582-2011

基本信息

标准号: GB/T 27582-2011

中文名称:光学功能薄膜 等离子电视用电磁波屏蔽膜 屏蔽效能测定方法

标准类别:国家标准(GB)

标准状态:现行

出版语种:简体中文

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相关标签: 光学 功能 薄膜 等离子 电视 电磁波 屏蔽 效能 测定方法

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GB/T 27582-2011 光学功能薄膜 等离子电视用电磁波屏蔽膜 屏蔽效能测定方法 GB/T27582-2011 标准压缩包解压密码:www.bzxz.net

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标准内容

ECS 71. 080. 99
中华人民共和国国家标准
GB/T 27582—2011
光学功能薄膜
屏蔽膜
等离子电视用电磁波
屏蔽效能测定方法
Optical functional films-Electromagnetic interference shielding film for plasmaTy-Determination of shielding effectiveness201t-12-05发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2012-03-01实施
本标准的附录 A 为资料性附录。言
本标准由中国石油和化学工业联合会提出。本标雅由全国光学功能薄膜材料标准化技术委员会(SAC/TC431)归口本标准起草单位:中国乐凯胶片集团公司,本标准起草人:刘贤案、唐志健、焦聪宣。TTKAONKACA
GB/T 275B2—2011
1范围
等离子电视用电磁波
光学功能薄膜
屏蔽膜屏蔽效能测定方法
GB/T 27582-2011
本标准规定了等离子电视上使用的各种电磁波轭射屏敲材料的平面波屏蔽效能泌定方法,本标准适用于电磁波屏蔽膜及光学滤光计电磁波屏蔽效能的检验。2 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标雅的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所布的修改单(不包括勘误的内容)或订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/T6113.101、无线电骊扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第1-1部分:无线电匾扰和抗扰度测量设备测设备
3术语和定义
下列术语和定义适用于本标准。3.1
电磁波屏蔽膜tlectromagnetic interfereaceshielding film在塑料薄膜(例如案对车一巾酸乙二醇酯PET)表面镀覆遥明金居磨或金属网格,具有阻挡电磁被辑射功能的功能膜。
光学滤光片optical filter
电磁波屏蔽模与具有共他功能的膜(例如阻近红外,校正怎效电色谢,以及降低表面反射)组合在一起,直接安装在等离子电视上或者贴在平玻璃上历再安装在等离子电视上使用的专用滤光器。3.3
shielding effeetiveness
屏蔽效能
在同-激励电平下,无屏蔽材料和有屏蔽材料时接收到的功率或电压之比,并以对数表示。即SE =20 Ig(V/V,>
或 SE 10 Ig(P./P:)
式中:
屏蔽效能,单位为分贝(dB);
无屏蔽材料时接收的电压;
有屏蔽材料时接妆的电压;
无屏蔽材料时接妆的功率;
有屏蔽材料时接妆的助率。
TTKANYKACA
CB/T27582—2011
4测试方法
4. 1 调节条件
测试应在温度(23主2)℃,相对逝度45%~75%的环境中至少调节48h。4.2测试环境
大气压力86kPa~106kPa.环境电磁噪声对测垦结果不产生影响。4.3测试设备
4.3.1信号源
频率范围:30 MIIz~1 GHz;
最大输山功率:十13dBmW
输出阻抗:5Ca;
电压驻波比:<2.0。
4.3.2电磁干扰测量收
工作频率范围与信号源一致,测量误差满足 GB/T 6113. 101的要求。4.3.3法兰同轴测试装置
如图1所示,该同轴装置内的电场与磁场相互正交,月垂直于电磁波的传播方向,因此测量结果是试样对垂直人射平面波的屏蔽效能。频率范围:5 kHz~1. 5 GHz;
特性阻抗:502;
电压性皱比:≤1d3;
测量动态范围:>100 dB3。
同轴逆接器:
维逻轴线,支架
注接器紧间螺母;
锥形同轴线控体;
图法兰同轴测试装玉
TTKANTKACA
导轨:
5—--底座。
4.3.4衰减器
频率范围:30MHz~1.5GHz;
特性阻抗:500:
10d固定衰减器(额定功率满足測试要求)驻波比:≤1.2.
4.4试样制备
GB/T 27582—2011
负载试样最人厚度t多5mm,试样外径115mm,被测的材料应按以下规格制作成试样(见图2)
bl15-0.gcmm
35+g\mm
负载试作
图 2 试样尺寸示意图
4. 5测试程序
帮考试样
rp15-l.g mm
4. 5. 1 按图 3 连接测量装置,将满足 4. 3. 1 要求的信号源通过 10 dB裁减器直接接人该装置的一端,该装置的另一端古接通过10 dB衰减器与电磁下扰测量仪(干扰接收机)相连接,测量时注意测量电赖应尽量的短。bZxz.net
效减举
信导源
雄形间轴线
衰减器
下忧接收器
图3信号源/电硅干扰测量(干扰接收机)法测量连接图4.5.2把参考试伴装人法兰同轴谢试装置中,在法兰同轴测试装受中夹试样时应将导电面翻向信号源端,并夹紧试样,使试样与法兰同轴装登紧密的接触,避免因接触不良而引起的测量误差。对屏蔽效能高的试样及玻璃等脆性导电试样,在同轴法兰的法兰面上必须加导电讨垫。借号源调到某测试频率点上,输出电卡置于适中,调节电磁下扰测量仪(干扰接收机)频率,使读数最大。增加信号源输出电平,使电磁正扰测量仪(干扰接收机)读数大于被测试样的屏蔽效能估计值,并记下此读数V(dBμV)。4.5.3取下参考样,把负载试样装人法兰同轴装置中,保持信号源類率和输出电平不变,观察电磁干扰测量仪(干扰接收机)谈数.如果读数大于它的背景噪声最少10dB,记下此时干扰测量仪的该3
TTKANTKACA
GB/T 27582--2011
4.5.4计算负载试样的屏蔽效能:SE(dB)=V。—V1.4.5.5保持信号源输出不变,改变信号源赖率,重复上述步骤,可测得负载试样在不同赖率点L的屏蔽效能,在进行测量时应至少在30 MHz,50MHz、100 MHz、300 MHz,500 MHz,1GMHz等频率点给出测量结果
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(资料性附录)
屏蔽材料表面电阻与屏蔽效能的关系GB/T27582—2011
导电材料的表面电阻反映材料的电导率。屏蔽材料的屏蔽效能与其表面电阻之间存在一定的关联,表面电阻趣小,屏避效能越大.表A.1为某·屏敲材料表而电阻与屏蔽效能的关系。当然表面电与屏蔽材料之间没有一个通用的固定公式,但可以从表面电阻定性的摊导出房敲效能。对于特定材料可以通过实验确定这一材料的相互对应关系。在口带研发过程中就可以用相对简便的表而电阻来表征它的辟蔽效能,直至表面电阻达到要求慎再去测定它的屏避效能。表A1某一屏蔽材料的表面电阻和屏蔽效能表面电阻/n
屏蔽效能/d
注:表格中蔽效能是 200 MHz 的值:
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