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GB/T 19799.2-2012

基本信息

标准号: GB/T 19799.2-2012

中文名称:无损检测 超声检测 2号校准试块

标准类别:国家标准(GB)

标准状态:现行

出版语种:简体中文

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相关标签: 无损 检测 超声 校准

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GB/T 19799.2-2012 无损检测 超声检测 2号校准试块 GB/T19799.2-2012 标准压缩包解压密码:www.bzxz.net

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标准内容

[CS19.100;25.160.40
中华人民共和国国家标准
GB/T 19799.2—2012/ISO 7963:2006代替 GB/T19799.2-—2005
无损检测
超声检测
2号校准试块
Non-destructive testing-Ultrasonic testing Specification for calibration block No. 2(1SO7963:2006,IDT)
2012-09-03发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2013-03-01实施
中华人民共和国
国家标雅
无损检测超声检测2
2号校准试块
GB/T 19799.2—2012/ISO 7963:2006*
中国标准出版社出版发行
北京市朝阳区和平里西街甲2号(100012)北京市西城区三里河北街16号(100045)网址 spc, net, cn
总编室:(010)64275323
发行中心:(010)5178(1235
读者服务部:(01D)68523946
中国标推出版社案皇岛印刷厂印剧各地新华书店经销
开本 880×1230
2012年12月第一版
字数 16 千字
2012年12月第一次印刷
书号:155066-1-45874定价16.00元如有印装差错
由本社发行中心调换
版权专有
丧权必究
举报电话:(010)68510107
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。GB/T 19799.2—-2012/IS0 7963:2006本部分代替GB/T19799.2—2005无损检测超声检测2号校准试块》。本标准与GB/119799.22005相比.除编辑性修改外主要技术变化如下修改了规范性引用文件(见第2章,2005年版的第2章);增加了术语和定义(见第3章);修改了材料(见第5章,2005年版的第4竞)元-增加了标记(见第7章);
修改了使用方法(见第8章,2005年版的第6章);-增加了证书(见第9章)。
本部分使用翻译法等同采用ISO7963:2006《无损检测超声检测2号校准试块规范》(英文版。
本部分由全国无损检测部分化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。本部分起草单位:上海泰司检测科技有限公司、上海锅炉厂有限公司、上海材料研究所、济宁瑞样模具有限责任公司(山东济宁模具厂)、上海宝钢工业检测公司。本部分主要起草人:张佩铭、魏忠瑞、金宇飞、章怡明罗云东,本部分所代替标准的历次版本发布情况为:-GB/T19799,2—2005.
GB/T 19799.2—2012/ISO 7963.2006引言
2号校试块的尺寸、形状不同于ISO2400(GB/119799.1)所描述的,2号校准试块更小更轻,并且几何形状更简单,2号校准试块不提供如同人试块那样广泛的应用范围,尤其不能用予对超声探伤仪的全面校验但是在实际检测中,可以随时用2号校准试块对超声检测设备的时基线和灵缴度设置进行简单的校验。此外,它也适用于对小型斜探头的人射角和人射点的校验。注:现行的EN12223对1号校准试块进行了详细说明。1范围
GB/T 19799.220 12/1S0 7963:2006无损检测超声检测2号校准试块
GB/T19799的本部分规定了2号校准试块的尺寸,材料、制造,以及用它对超声检测设备进行校推和校验的使用方法。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件,凡是不注日期的引用文件-其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T3505产品几何技术规范(GPS)表面结构轮廊法术语、定义及表面结构参数(ISO4287:1997,IDT)
GB/T12604.1无损检测术语超声检测(1SO5577:2000,IDT)EN10025-1结构钢热轧产品第1部分:通用性交货技术条件(Hotrolledproductsofstructuralsteels--Part l:Gencral tcchnical delivery conditions)3术语和定义
GB/T 12604.1界定的术语和定义适用于本文件。4尺寸
图1给出了试块的尽寸。
除刻度长度的公差为士0. 5 mm之外,其余的尺寸公差为士0.1 mn。平均表面粗糙度Ra的定义按ISQ4287试块厚度允许大于 12. 5 Ⅱm(见 A 1)。GB/T 19799.2—2012/IS0 7963 :2006说明,
反射面。
图 1 超声检测用 2 号试块 试块尺与刻度尺寸单位为变米
表而粗糙度单位为微米
5材料
GB/T 19799.2—2012/1S0 7963:2006校难试块的制作,应采用EN10025-1的S355JO缴钢或其等效材料。6制备
校准试块的材质应均匀,且经超声检测无缺陷(见A,2)。为获得细晶组织和良好的材质均匀性,在最终机加工前应将试块按以下方式进行热处理:a)以920℃的温度保温30min,并用水率冷;b)再加热到650℃至少保温2h,然后在静止空气中冷却,热处理后机加工前,应从两个相互垂直的方向,并沿轧制方向对试块做进一步的超声检测。热处理后,所有表面应至少去除2 mm。所有尺寸和表面粗糙度应符合图1要求。为了防止附加效应的产生,刻度的深度应为0.1mm士0.05mm。刻度槽的长度应为6mm,并且其位置公差为士0.2mm。
机加工完成后应进行最整超声检测。试块的纵波速度应为5920m/s士30m/s,横被速度应为3255m/s±15m/s。7标记
2号试块上应按图1做永久性参考标记,除此之外试块上还应做以下永久性标记:生产商商标;
本标推号;
…-唯一的序列号。
8使用方法
8.1时基线的设置
调节时基线时,应将相继回波的前沿(左侧边)调整到与仪器屏葬对应的刻度相一致。脉种传播时间取决于被检材料中的超产波波速。8. 1. 1用直探头校准不大于 250 mm的时基线探头在校准试块反射面上的放置位置应按图2a)的示意,图2b)是校准范围为50mm时荧光屏(A扫描)上的显示示意图。
注:当校准距离大于10借的试块厚度时可能会出现用难,这敢决于所用的探头和额率,单位为普米
a)探头在校准试块上的位置
图 2用直探头校准不大于 250 mm的时基线GB/T 19799.2—2012/ISO7963:20060
b)校准范围为50mm时A扫描的显示示意围图2(续)
8.1.2用小型斜探头校准100mm或125mn的时基线单位为米
小型横波探头在校准试块上的位置按图3a)(用于125mm校准距离)和图3b)(用于100mm校准距离)。图3a)和图3b)也给出了这两种校准范圖的仪器荧光开显示示意图。单位为旁米免费标准bzxz.net
用F125mum校准范围
b)用于100mm校准范围
图3小型横波探头在校准试块上的位暨8.2灵敏度设置和探头校验
8.2.1概递
狼多因素会影响灵敏度设置(见A.3)。8.2.2纵波探头灵敏度设置
探头应严于图4 中“a”所在的位置。4
灵敏度的设置应以A扫描中显示的连续回波作为参考基准。GB/T 19799.2—2012/IS0 7963;2006也可将探头放在图4\b\的位置,利用直径5mm孔的回波,使相应回波度最大,以此设置灵敏度。
图4直探头灵敏度设置
8.2.3小型横波探头
8.2.3.1灵敏度设置
应以直径5mm的孔的最大回波作为灵敏度设置的参考基准(见图5中位置“a\)。图5小型斜探头灵敏度设置
也可分别利用半径为50mm和25mm的两个圆柱面进行灵敏度设置。在这种情况下有两种设置的方法:使用经校推的增益调节器,先将来自于圆柱面的回波调到屏幕高度的80%,然后再将其调节到需设暨的水平。
b)不用增益调节器,利用来自于圆柱而的多个连续回波调节灵敏度(见图6)。校验探买时,声糊合是一个重要因素,当进行探头之间的比较时,应使用相同的耦合介质。ABA
图6小型斜探头不用增益调节器进行灵敏度设置5
CB/T19799.2—2012/IS0 7963:20068.2.3.2探头入射点位置的测定
小型斜探头应按图3a)或3b)放置,并在校准试块主平面上平行移动,直到来自于柱面的反射回波幅度达到最大。
这时探头入射点与试块上毫米刻魔尺的中心重合。8.2.3.3声束角度的定
用5mm直径的孔的回波测定声束角度将小型斜探头在校催试块主平面上平行称动,直勤来自于5mm直径的孔的反射回波幅度达到最大。
产束角度可以直接从校准试块上与探头入射点重合的刻度值上读得,当探头人射点与刻度线不重合时也可以采用插值法获取。
图7所示的这些位置可用于测定45°、60°和70的探头60
图7小型斜探头声束角度测定
9证书
对于每一块试块,制造商都应发布一份证书以说明:a)该试块符合本标准(ISO7963或GB/T19799.2);所测得的纵波声速卒均值:双;b)
所测得的横波声速平均值孙,
附录A
(规范性附录)
校准试块的特性和用途
A,1用于“非小型\探头校准的试块厚度GB/T19799.2—2012/ISO7963.2006当用于非小型探头时,可以使用更厚的试块,例如20mm或25mm厚。&. 2最终机加工前后的材料超声检测建议用纵波探头(品片直径10mm、频率6MH2)进行两次检测:a)将探头:按图2a)放置,第四次底面回被的波幅应比后面出现的、由品粒构产生的噪声高出至 50 dB.
b)在材料均匀性方面,不应有波幅大于晶粒散射波幅的缺陷。A.3设置灵敏度需考虑的因素
设暨灵敏度时宜考虑下列因素,它们可分为四大类:设备脉种能量、频率、脉冲被形、放大率等:a
所用探头:种类,尺寸、产阻抗、品片阻尼、声场极值分布图等;b
被检材料:表面状态(与耦合有关),材料种类(收性)等:d)E
缺陷分析:形状、取向、性质等。GB/T19799.2—2012/ISO7963:2006教考文献
[1] ISO 2400 Welds in steelRefcrence blck for the calibration of equiprnent for ultrasonic examina-tion
[2]EN12223
Non-destruetive testing--Ultrasunic cxamination-Specification for calibrationblock No, 1
版权专有侵权必究
书号:155066·1-45874
GB/T 19799. 2-2012
打印日期:2013年1月29口F0091定价:
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