GB/T 19346.2-2017
基本信息
标准号： GB/T 19346.2-2017
中文名称：非晶纳米晶合金测试方法 第2部分：带材叠片系数
标准类别：国家标准(GB)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准分类号
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标准简介
GB/T 19346.2-2017 非晶纳米晶合金测试方法 第2部分：带材叠片系数
GB/T19346.2-2017
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标准内容
ICS77.040.99
中华人民共和国国家标准
GB/T19346.2—2017
非晶纳米晶合金测试方法
第2部分：带材叠片系数
Methods of measurement for amorphous and nanocrystalline alloys-Part 2:Lamination factor of amorphous alloy strips2017-09-07发布www.bzxz.net
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2018-06-01实施
GB/T19346《非晶纳米晶合金测试方法》拟分为若干部分：-第1部分：环形试样交流磁性能：一第2部分：带材叠片系数；
本部分为GB/T19346的第2部分。本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本部分由中国钢铁工业协会提出本部分由全国钢标准化技术委员会（SAC/TC183）归口。GB/T19346.2—2017
本部分起草单位：中国钢研科技集团有限公司、安泰科技股份有限公司、冶金工业信息标准研究院本部分主要起草人：陈文智、李德仁、卢志超、栾燕、李准。iKAoNi KAca
iiiKAoNikAca
1范围
非晶纳米晶合金测试方法
第2部分：带材叠片系数
GB/T19346.2—2017
GB/T19346的本部分规定了平面压强法和卷环法测量非晶纳米晶合金带材的叠片系数的方法本部分适用于用快淬工艺制造的非晶纳米晶合金带材（以下简称带材）的叠片系数测量，其中平面压强法适用于矩形铁芯，粘接块体等用带材的叠片系数测量，卷环法适用于环形铁芯用带材的叠片系数测量。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件GB/T15019快淬金属分类和牌号
JF1305线位移传感器校准规范
JJG669压力传感器
3术语和定义
GB/T15019界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1
叠片系数
laminationfactor
磁性材料所占的横截面积与堆积体总横截面积之比，平面压强法测量叠片系数
测量原理
将一段带材裁切成一定数量、一定尺寸的片材试样，并依次同方向整齐叠放形成试样叠层。在规定的压强下测量试样叠层沿垂直于带材铸造方向的最大厚度。根据试样叠层的质量、长度、宽度、最大厚度和材料密度等参数计算出叠片系数。2主要仪器
一般要求
叠片系数测量系统由加压机构、线位移传感器、夹持与移动机构组成（见图1）。4.2.1.1
为了避免磁场或试样碎片对测量结果的影响，系统中的各种结构件均应由非铁磁性材料制成。系统中各种结构件的强度和刚性均应满足测量精度的要求。1
iiiKAoNiKAca
GB/T19346.2—2017
说明：
试样叠层：
压头：
压头升降机构：
线位移传感器；
量砧或压力传感器；
夹持机构；
移动机构。
4.2.2加压机构
图1叠片系数测量机构原理示意图加压机构用于对试样叠层施加规定的压强。可采用下列两种机构之一：自重式压头和量砧：
自重式压头用特定质量的金属材料制成，压头的底面与试样叠层接触；1
压头自重通过压头底端对试样叠层施加压力，压强为（50士0.5）kPa压头带有升降机构其行程应不小于5mm；
量砧在压头下方，以支撑试样叠层和承接压头对试样叠层的压力；量砧顶面为一圆形平3
面，其尺寸应不小于压头；
量砧顶面与压头底面的圆心应在同一条垂线上，量砧顶面与压头底面构成两个测量面，4
b）小型压头和压力传感器［当不便使用a)时]：1）小型压头用金属材料制成，压头的底面与试样叠层接触；压头通过升降和加压机构对试样叠层施加压力，压强为（50土0.5)kPa；压头的升降行程应2）
不小于5mm;
用一只压力传感器置于试样叠层下方，在作为量砧的同时也用于测量压头对试样叠层的3）
压力；压力传感器的顶面为一圆形平面，其尺寸应不小于压头；压力传感器顶面与压头底面的圆心应在同一条垂线上；压力传感器顶面与压头底面构成4）
两个测量面；
压力传感器的量程应不小于测量压力的120%（推荐的量程为测量压力的120%～5
200%）；在实际测量条件下，压头通过其底端对试样叠层施加压强的最大偏差和重复性均应不大于士1%；
压力传感器应按照JJG669的要求定期检定。HiiKAoNiKAca
GB/T19346.2—2017
4.2.2.2压头的底面为圆形平面（推荐的直径为14mm~17mm，面积为154mm~227mm）4.2.2.3
3由压头和量砧（或压力传感器）构成的两个测量面的平行度偏差应不大于0.005mm。4.2.3线位移传感器
4.2.3.1线位移传感器用于测量试样叠层的厚度。线位移传感器的测杆底端与压头上端连接，并可与压头一起升降。
4.2.3.2线位移传感器的量程应不小于5mm，精度应不低于土0.5%。4.2.3.3线位移传感器应按照JJF1305的要求定期检定4.2.4夹持与移动机构
4.2.4.1夹持机构用于将试样叠层夹紧。夹持机构对试样叠层施加的夹紧力应保证在测量和移动过程中试样叠层与夹持机构之间不产生相对位移。4.2.4.2移动机构用于使试样叠层沿垂直于带材铸造方向横移，其行程应保证在测量时压头底端能够覆盖整个试样叠层的宽度范围。4.3试样
4.3.1取长度为一个或两个冷却辊周长的连续带材，带材表面应无污染、无皱褶、无锈蚀、无杂物4.3.2沿带材铸造方向将其裁剪为20片或40片相同长度的片材试样，每片的长度偏差应不大于土0.5mm，见图2。带材在裁剪时不应产生碎片。6
说明：
带材经裁剪后形成的片材试样。3
带材铸造方向
图2制备叠片系数测量用试样裁剪示意图4.3.3将片材试样以同方向依次叠放整齐，使片材试样的边缘上下对齐，形成试样叠层，见图3。带材铸造方向
说明：
带材经裁剪后形成的片材试样。图3试样叠层示意图
4.4测量方法
4.4.1试样叠层的最大总厚度按下列方法测量：3
iiiKAoNiKAca
GB/T19346.2—2017
在无试样状态下，降下加压机构，使压头与量砧或压力传感器所构成的测量面相接触，并施加a)
（50士0.5）kPa的压强，将线位移传感器置零b）抬起压头，将试样叠层置于测量面之间，使试样的铸造方向与移动机构的移动方向垂直，将试样叠层的层间对齐，使试样叠层的横向边缘位于测量面之间，使试样叠层的边缘覆盖大约三分之二的压头直径，然后用夹持机构夹紧试样叠层；c）
降下压头，使试样叠层被压紧在测量面之间，并施加（50士0.5）kPa的压强，读取线位移传感器的读数作为第一个测量点的试样叠层总厚度；d）抬起压头，使横移机构与试样叠层一起移动一个不大于压头直径的距离，作为第二个测量点；降下压头，使试样叠层被压紧在测量面之间，并施加（50士0.5)kPa的压强，读取线位移传感器e
的读数作为第二个测量点的试样叠层总厚度；重复以上步骤，依次测量其他测量点的总厚度。测量点的数量应使压头完全覆盖试样叠层的f
整个宽度。得到所有测量点总厚度的最大值hmx。4.4.2用精度不低于0.02mm的量具测量试样的宽度和长度。测量宽度时，将试样沿长度方向弯曲180°，然后测量圆弧处的宽度。测量长度时，将试样沿宽度方向弯曲180°，然后测量圆弧处的长度。4.4.3用精度不低于试样叠层质量0.1%的天平称量试样叠层的质量。4.4.4带材的叠片系数按式（1）计算：m
Lt=l.b.hmx·pm
式中：
带材的叠片系数；
试样叠层的总质量，单位为千克（kg）；试样叠层的长度，单位为米（m）；试样叠层的宽度，单位为米（m）试样叠层总厚度的最大值，单位为米（m）；材料的密度，单位为千克每立方米（kg/m），为试样供方提供的约定密度。5
卷环法测量叠片系数
测量原理
.（1）
将一定长度的带材试样以一定的张力卷绕成圆环，通过测量圆环的尺寸和质量计算出叠片系数。5.2试样的制备
试样通常长度为10m的连续带材，5.3测量方法
5.3.1将按5.2制备好的试样在张力为每10mm带宽0.50N士0.05N的条件下卷绕成内径为10mm且端面整齐的圆环。
5.3.2用精度不低于0.02mm的量具在试样的至少3个位置分别测量圆环的内径、外径和高度，然后分别取平均值，
5.3.3用精度不低于圆环质量0.1%的天平称量圆环的质量，5.3.4带材的叠片系数按式（2)计算：Lr=
元·pm-h·(D2-d\)
-iiKAoNniKAca
式中：
带材的叠片系数；
圆环的质量，单位为千克（kg）；圆环的高度平均值，单位为米（m）；圆环的外径平均值，单位为米（m）：圆环的内径平均值，单位为米（m）；GB/T19346.2—2017
材料的密度，单位为千克每立方米（kg/m\），为试样供方提供的约定密度再现性和不确定度
叠片系数测量的再现性：用相对标准差表示，其值应不大于2%6.1
应识别测量中影响测量不确定度的因素，计算并报告测量结果的不确定度。试验报告
试验报告应包含以下内容：
本部分标准编号；
采用的测量方法；
试样基本参数：试样的名称、编号、质量、密度、尺寸等；测量结果和不确定度。
iKAoNi KAca
GB/T19346.2-2017
中华人民共
国家标准
非晶纳米晶合金测试方法
第2部分：带材叠片系数
GB/T19346.2—2017
中国标准出版社出版发行
北京市朝阳区和平里西街甲2号（100029）北京市西城区三里河北街16号（100045）网址：spc.org.cn
服务热线：400-168-0010
2017年9月第一版
书号：155066·1-57357
版权专有
侵权必究
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中华人民共和国国家标准
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非晶纳米晶合金测试方法
第2部分：带材叠片系数
Methods of measurement for amorphous and nanocrystalline alloys-Part 2:Lamination factor of amorphous alloy strips2017-09-07发布www.bzxz.net
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2018-06-01实施
GB/T19346《非晶纳米晶合金测试方法》拟分为若干部分：-第1部分：环形试样交流磁性能：一第2部分：带材叠片系数；
本部分为GB/T19346的第2部分。本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本部分由中国钢铁工业协会提出本部分由全国钢标准化技术委员会（SAC/TC183）归口。GB/T19346.2—2017
本部分起草单位：中国钢研科技集团有限公司、安泰科技股份有限公司、冶金工业信息标准研究院本部分主要起草人：陈文智、李德仁、卢志超、栾燕、李准。iKAoNi KAca
iiiKAoNikAca
1范围
非晶纳米晶合金测试方法
第2部分：带材叠片系数
GB/T19346.2—2017
GB/T19346的本部分规定了平面压强法和卷环法测量非晶纳米晶合金带材的叠片系数的方法本部分适用于用快淬工艺制造的非晶纳米晶合金带材（以下简称带材）的叠片系数测量，其中平面压强法适用于矩形铁芯，粘接块体等用带材的叠片系数测量，卷环法适用于环形铁芯用带材的叠片系数测量。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件GB/T15019快淬金属分类和牌号
JF1305线位移传感器校准规范
JJG669压力传感器
3术语和定义
GB/T15019界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1
叠片系数
laminationfactor
磁性材料所占的横截面积与堆积体总横截面积之比，平面压强法测量叠片系数
测量原理
将一段带材裁切成一定数量、一定尺寸的片材试样，并依次同方向整齐叠放形成试样叠层。在规定的压强下测量试样叠层沿垂直于带材铸造方向的最大厚度。根据试样叠层的质量、长度、宽度、最大厚度和材料密度等参数计算出叠片系数。2主要仪器
一般要求
叠片系数测量系统由加压机构、线位移传感器、夹持与移动机构组成（见图1）。4.2.1.1
为了避免磁场或试样碎片对测量结果的影响，系统中的各种结构件均应由非铁磁性材料制成。系统中各种结构件的强度和刚性均应满足测量精度的要求。1
iiiKAoNiKAca
GB/T19346.2—2017
说明：
试样叠层：
压头：
压头升降机构：
线位移传感器；
量砧或压力传感器；
夹持机构；
移动机构。
4.2.2加压机构
图1叠片系数测量机构原理示意图加压机构用于对试样叠层施加规定的压强。可采用下列两种机构之一：自重式压头和量砧：
自重式压头用特定质量的金属材料制成，压头的底面与试样叠层接触；1
压头自重通过压头底端对试样叠层施加压力，压强为（50士0.5）kPa压头带有升降机构其行程应不小于5mm；
量砧在压头下方，以支撑试样叠层和承接压头对试样叠层的压力；量砧顶面为一圆形平3
面，其尺寸应不小于压头；
量砧顶面与压头底面的圆心应在同一条垂线上，量砧顶面与压头底面构成两个测量面，4
b）小型压头和压力传感器［当不便使用a)时]：1）小型压头用金属材料制成，压头的底面与试样叠层接触；压头通过升降和加压机构对试样叠层施加压力，压强为（50土0.5)kPa；压头的升降行程应2）
不小于5mm;
用一只压力传感器置于试样叠层下方，在作为量砧的同时也用于测量压头对试样叠层的3）
压力；压力传感器的顶面为一圆形平面，其尺寸应不小于压头；压力传感器顶面与压头底面的圆心应在同一条垂线上；压力传感器顶面与压头底面构成4）
两个测量面；
压力传感器的量程应不小于测量压力的120%（推荐的量程为测量压力的120%～5
200%）；在实际测量条件下，压头通过其底端对试样叠层施加压强的最大偏差和重复性均应不大于士1%；
压力传感器应按照JJG669的要求定期检定。HiiKAoNiKAca
GB/T19346.2—2017
4.2.2.2压头的底面为圆形平面（推荐的直径为14mm~17mm，面积为154mm~227mm）4.2.2.3
3由压头和量砧（或压力传感器）构成的两个测量面的平行度偏差应不大于0.005mm。4.2.3线位移传感器
4.2.3.1线位移传感器用于测量试样叠层的厚度。线位移传感器的测杆底端与压头上端连接，并可与压头一起升降。
4.2.3.2线位移传感器的量程应不小于5mm，精度应不低于土0.5%。4.2.3.3线位移传感器应按照JJF1305的要求定期检定4.2.4夹持与移动机构
4.2.4.1夹持机构用于将试样叠层夹紧。夹持机构对试样叠层施加的夹紧力应保证在测量和移动过程中试样叠层与夹持机构之间不产生相对位移。4.2.4.2移动机构用于使试样叠层沿垂直于带材铸造方向横移，其行程应保证在测量时压头底端能够覆盖整个试样叠层的宽度范围。4.3试样
4.3.1取长度为一个或两个冷却辊周长的连续带材，带材表面应无污染、无皱褶、无锈蚀、无杂物4.3.2沿带材铸造方向将其裁剪为20片或40片相同长度的片材试样，每片的长度偏差应不大于土0.5mm，见图2。带材在裁剪时不应产生碎片。6
说明：
带材经裁剪后形成的片材试样。3
带材铸造方向
图2制备叠片系数测量用试样裁剪示意图4.3.3将片材试样以同方向依次叠放整齐，使片材试样的边缘上下对齐，形成试样叠层，见图3。带材铸造方向
说明：
带材经裁剪后形成的片材试样。图3试样叠层示意图
4.4测量方法
4.4.1试样叠层的最大总厚度按下列方法测量：3
iiiKAoNiKAca
GB/T19346.2—2017
在无试样状态下，降下加压机构，使压头与量砧或压力传感器所构成的测量面相接触，并施加a)
（50士0.5）kPa的压强，将线位移传感器置零b）抬起压头，将试样叠层置于测量面之间，使试样的铸造方向与移动机构的移动方向垂直，将试样叠层的层间对齐，使试样叠层的横向边缘位于测量面之间，使试样叠层的边缘覆盖大约三分之二的压头直径，然后用夹持机构夹紧试样叠层；c）
降下压头，使试样叠层被压紧在测量面之间，并施加（50士0.5）kPa的压强，读取线位移传感器的读数作为第一个测量点的试样叠层总厚度；d）抬起压头，使横移机构与试样叠层一起移动一个不大于压头直径的距离，作为第二个测量点；降下压头，使试样叠层被压紧在测量面之间，并施加（50士0.5)kPa的压强，读取线位移传感器e
的读数作为第二个测量点的试样叠层总厚度；重复以上步骤，依次测量其他测量点的总厚度。测量点的数量应使压头完全覆盖试样叠层的f
整个宽度。得到所有测量点总厚度的最大值hmx。4.4.2用精度不低于0.02mm的量具测量试样的宽度和长度。测量宽度时，将试样沿长度方向弯曲180°，然后测量圆弧处的宽度。测量长度时，将试样沿宽度方向弯曲180°，然后测量圆弧处的长度。4.4.3用精度不低于试样叠层质量0.1%的天平称量试样叠层的质量。4.4.4带材的叠片系数按式（1）计算：m
Lt=l.b.hmx·pm
式中：
带材的叠片系数；
试样叠层的总质量，单位为千克（kg）；试样叠层的长度，单位为米（m）；试样叠层的宽度，单位为米（m）试样叠层总厚度的最大值，单位为米（m）；材料的密度，单位为千克每立方米（kg/m），为试样供方提供的约定密度。5
卷环法测量叠片系数
测量原理
.（1）
将一定长度的带材试样以一定的张力卷绕成圆环，通过测量圆环的尺寸和质量计算出叠片系数。5.2试样的制备
试样通常长度为10m的连续带材，5.3测量方法
5.3.1将按5.2制备好的试样在张力为每10mm带宽0.50N士0.05N的条件下卷绕成内径为10mm且端面整齐的圆环。
5.3.2用精度不低于0.02mm的量具在试样的至少3个位置分别测量圆环的内径、外径和高度，然后分别取平均值，
5.3.3用精度不低于圆环质量0.1%的天平称量圆环的质量，5.3.4带材的叠片系数按式（2)计算：Lr=
元·pm-h·(D2-d\)
-iiKAoNniKAca
式中：
带材的叠片系数；
圆环的质量，单位为千克（kg）；圆环的高度平均值，单位为米（m）；圆环的外径平均值，单位为米（m）：圆环的内径平均值，单位为米（m）；GB/T19346.2—2017
材料的密度，单位为千克每立方米（kg/m\），为试样供方提供的约定密度再现性和不确定度
叠片系数测量的再现性：用相对标准差表示，其值应不大于2%6.1
应识别测量中影响测量不确定度的因素，计算并报告测量结果的不确定度。试验报告
试验报告应包含以下内容：
本部分标准编号；
采用的测量方法；
试样基本参数：试样的名称、编号、质量、密度、尺寸等；测量结果和不确定度。
iKAoNi KAca
GB/T19346.2-2017
中华人民共
国家标准
非晶纳米晶合金测试方法
第2部分：带材叠片系数
GB/T19346.2—2017
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2017年9月第一版
书号：155066·1-57357
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