GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法 GB/T35006-2018 标准压缩包解压密码：www.bzxz.net

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GB/T35006—2018
半导体集成电路
电平转换器测试方法
Semiconductor integrated circuits-Measuring method of level converter2018-03-15发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2018-08-01实施
中华人民共
国家标准
半导体集成电路
电平转换器测试方法
GB/T35006—2018
中国标准出版社出版发行
北京市朝阳区和平里西街甲2号（100029）北京市西城区三里河北街16号（100045）网址：spc.org.cn
服务热线：400-168-0010
2018年1月第一版
书号：155066·1-58844
版权专有
侵权必究
规范性引用文件
术语和定义
测试环境要求
测试注意事项
功能测试
测试原理图
测试程序
测试条件
6静态参数测试
输人钳位电压（V）
输人高电平电压（Vm）：
输人低电平电压（VL），
输出高电平电压（Von）
输出低电平电压（VoL）
输人高电平电流（Im）
输人低电平电流（Iu）
输出高电平电流（IoH）
输出低电平电流（IoL）
输出高阻态时高电平电流（IozH）输出高阻态时低电平电流（IozL）静态电流（IccQ）
电流偏移量（AIcxQ）
输出对地短路电流（IosL）
输出对电源短路电流（IosH）
开启电阻（RON）
通道间开启偏移电阻（△RoN）
7动态参数测试·
电源电流（Icc）
最高工作频率（fMAx）
最低工作频率（fMIN
输人电容(C,)和输出电容(Co）
输出由低电平到高电平传输延迟时间（tPLH）输出由高电平到低电平传输延迟时间（tPHL）次
GB/T35006—2018
GB/T35006—2018
输出由高阻态到高电平传输延迟时间（tPzH）输出由高阻态到低电平传输延迟时间（tpz）输出由高电平到高阻态传输延迟时间（tpHz）输出由低电平到高阻态传输延迟时间（tpLz）输出由低电平到高电平转换时间（tTLH）输出由高电平到低电平转换时间（tTHL）眼图高度（eH）
眼图宽度（ew）
确定性抖动(D,）
随机抖动（R，）
总抖动(J.）
iiiKAoNikAca
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草GB/T35006—2018
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会（SAC/TC78/SC2)归口。本标准起草单位：深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、工业和信息化部电子第五研究所、成都振芯科技股份有限公司。本标准主要起草人：宦承永、邬海忠陆坚、魏军，王小强、罗彬iKAoNi KAca
-iiiKAoNniKAca
1范围
半导体集成电路
电平转换器测试方法
GB/T35006—2018
本标准规定了半导体集成电路电平转换器（以下称为器件）功能，静态参数和动态参数的测试方法本标准适用于半导体集成电路电平转换器功能，静态参数和动态参数的测试：2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件GB/T17574一1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。3.1
deviceunder test;DUT
被测器件
测试过程中的被测对象。
测试适配板
load board
用于被测器件与自动测试系统（ATE)连接的转接板或应用测试板。3.3
参考电平
reference voltage
在测试过程中，测试系统的输人装置与输出装置固有的一个阈值电平。3.4
eye diagram
用余辉的方式累计叠加显示采集到的串行信号的位流结果，叠加后的图形为眼孔状。3.5
眼图高度
eye height
眼图在垂直方向张开的幅度。
眼图宽度
eye width
眼图在水平方向张开的幅度。
jitter
信号在某个时刻，相对于其理想时间位置上的短期偏离。1
-iiKAoNni KAca
GB/T35006—2018
deterministic jitter
确定性抖动
由可识别的干扰信号造成的，该抖动幅度有限，具备非随机的产生原因。3.9
随机抖动
random jitter
由时序或相位的无规律变化导致的抖动，可采用正态（高斯)分布进行统计。3.10
总抖动
totaljitter
随机抖动与确定性抖动之和。
4总则
测试环境要求
除另有规定外，电测试环境条件如下：环境温度：15℃～35℃；
环境气压：86kPa～106kPa；
如果环境湿度对试验有影响，应在相关文件中规定。4.2
测试注意事项
测试期间，应遵循以下事项：
环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合相关文件的规定；ao
施于被测器件的电源电压应在规定值的士1%以内，施于被测器件的其他电参量的准确度应符b）
合相关文件的规定；
被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件；应避免因静电放电而引起器件损伤；d）
非被测输人端和输出端是否悬空应符合相关文件的规定。功能测试
5.1目的
根据规定的要求设置程序。按电平转换器的功能原理生成测试向量或真值表，通过测试系统PG模块或信号发生器输人到被测电路，同时通过测试系统或相关仪表对输出信号比较，测试被测器件是否达到相关文件规定的真值表要求测试原理图
功能测试原理图如图1所示。
iiKANiKAca
测试程序
测试程序如下：
输入装置
将被测器件接入测试系统中；
电源端施加规定的电压；
被测器件
功能测试原理图
非被测输人端施加规定的条件：输出装
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被测输人端设置输人激励信号，检测相应的输出端信号是否符合相关文件规定的真值表；按c)d)的规定，分别测试每个输人端。5.4
测试条件
相关文件应规定下列条件：
环境或参考点温度；
电源电压：
输人端条件；
输出端电压。
静态参数测试
输入钳位电压（V）
测试带有附加钳位二极管的输人端的输入钳位电压。6.1.2测试原理图
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6.1.3测试条件
输入装置
可调电压输入装置
相关文件应规定下列条件：
环境或参考点温度；
电源电压：
输人端条件；
输出端电压。
输入高电平电压（Vm）
被测器件
图2钳位电压测试原理图
测试输出电压为规定值时，输入端所施加的最小高电平电压。6.2.2
测试原理图
VH的测试原理图如图2所示。
测试条件
相关文件应规定下列条件：
a）环境或参考点温度；
电源电压：
输入端条件；
输出端电压。
测试程序
测试程序如下：
将被测器件接人测试系统中；
电源端施加规定的电压；
非被测输人端施加规定的条件；价
被测输入设置输人电压VH，调节输入电压V值，检测相关文件规定的真值表输出是否异常：4
e）按c）～d)的规定，分别测试每个输人端6.3输入低电平电压（V）
6.3.1目的
测试输出端电压为规定值时，输人端所施加的最大低电平电压。6.3.2测试原理图
V的测试原理图如图2所示。
测试条件
相关文件应规定下列条件：
环境或参考点温度；
电源电压；
输人端条件；
输出端电压。
测试程序
测试程序如下：
将被测器件接入测试系统中；
电源端施加规定的电压；
非被测输人端施加规定的条件；GB/T350062018
被测输入设置输人电压Vl，调节输人电压VI值，检测相关文件规定的真值表输出是否异常；d）
按e）～d)的规定，分别测试每个输人端。输出高电平电压（Von）
按GB/T17574—1998第IV篇第2节1的规定。6.5输出低电平电压（VoL）
按GB/T17574—1998第IV篇第2节1的规定。输入高电平电流（Im）
按GB/T17574—1998第IV篇第2节2的规定。输入低电平电流（In）
按GB/T17574—1998第IV篇第2节2的规定。6.8输出高电平电流（IoH）
测试输入端在施加规定的条件使输出为高电平时，输出端流出器件的电流6.8.2测试原理图
Ion的测试原理图如图3所示。
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6.8.3测试条件
相关文件应规定下列条件：
环境或参考点温度；
电源电压：
b）目
输入端条件；
输出端施加的电压。
测试程序
测试程序如下：
被测器件
输出高电平电流测试原理图
将被测器件接入测试系统中；
电源端施加规定的电压；
输人端施加规定的条件；
被测输出端施加规定的电压：其余输出端开路：在被测输出端测得IOH;
按c）～e)的规定，分别测试每个输出端。输出低电平电流（Ior）
测试输入端在施加规定的条件使输出为低电平时，输出端流人器件的电流。6.9.2测试原理图
IoL的测试原理图如图4所示。
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