GB∕T 35102-2017
基本信息
标准号： GB∕T 35102-2017
中文名称：信息技术 射频识别 800∕900MHz空中接口符合性测试方法
标准类别：国家标准(GB)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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标准简介
GB∕T 35102-2017 信息技术 射频识别 800∕900MHz空中接口符合性测试方法
GB∕T35102-2017
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标准内容
ICS35.220.01
中华人民共和国国家标准
GB/T35102—2017
信息技术射频识别
800/900MHz空中接口符合性测试方法Information technology-Radio frequency identification-Conformance test methods for air interface at 8o0/900 MHz2017-11-01发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2018-05-01实施
规范性引用文件
术语、定义、符号和缩略语
术语和定义
缩略语
4基本要求
测试条件
读写器测试装置
标签测试装置
通用测试设备
5读写器符合性测试
读写器调制方式和工作频率
读写器邻信道功率泄漏比
读写器打开和关闭载波时的射频信号包络读写器到标签的射频信号包络
读写器数据编码
读写器前导码
读写器解调和解码……
读写器链接时序T
读写器链接时序T：
读写器链接时序T
读写器命令
5.12读写器多标签防碰撞机制
5.13读写器安全协议
6标签符合性测试
标签解调
标签工作频率
6.3标签基带编码和副载波调制***6.4标签前导码….
6.5标签反向链路频率和频率允差6.6标签链接时序T
标签链接时序T
标签状态转换
标签命令测试
GB/T35102—2017
GB/T35102—2017
标签防碰撞
标签安全协议
附录A（资料性附录）
附录B（资料性附录）
附录C（规范性附录）
............................................................测试场地
测试方法与基础标准要求的关系标签模拟器
......
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草GB/T35102—2017
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由全国信息技术标准化技术委员会（SAC/TC28)提出并归口。本标准起草单位：中华人民共和国工业和信息化部电子工业标准化研究院、中国人民解放军国防科学技术大学、北京中电华大电子设计有限责任公司、天津中兴智联科技有限公司、西安西电捷通无线网络通信股份有限公司、上海聚星仪器有限公司、北京同方微电子有限公司、中国物品编码中心。本标准主要起草人：刘文莉、高林、王宏义、冯敬、耿力、沈红伟、刘晓平、杜志强、张国强、陈柯、郑黎明孟庆云、鄢若、李卓凡。
1范围
信息技术射频识别
800/900MHz空中接口符合性测试方法GB/T35102—2017
本标准依据GB/T297682013规定了840MHz845MHz和920MHz925MHz射频识别空中接口的符合性测试方法
本标准适用于840MHz～845MHz和920MHz～925MHz射频识别设备（读写器和标签）的空中接口符合性测试。
规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件GB/T29261.3一2012信息技术自动识别和数据采集技术词汇第3部分：射频识别GB/T29768一2013信息技术射频识别800/900MH2空中接口协议3术语、定义、符号和缩略语
3.1术语和定义
GB/T29261.3—2012界定的术语和定义适用于本文件。3.2符号
GB/T29768一2013界定的以及下列符号适用于本文件。PW脉冲宽度。
Target盘点标志。
GI天线增益。
T。前向链路基准时间。
Tpri标签到读写器通信链路的基准时钟周期。TRext前导信号指示。
ds读写器天线与测试天线之间的距离dTE读写器天线与标签模拟器之间的距离。入工作频率对应的波长
3.3缩略语
GB/T29768一2013界定的以及下列缩略语适用于本文件。AM：幅度调制（amplitudemodulation）ASK：幅移键控（amplitudeshiftkeying）DSB-ASK：双边带幅移键控（double-sidebandamplitudeshiftkeying）1bzxz.net
GB/T35102—2017
DUT：被测设备（deviceundertest）ID：标识符（identifier）
PSK：相移键控（phaseshiftkeying)RBW：分辨率带宽（resolutionbandwidth）SSB-ASK：单边带幅移键控（single-sidebandamplitudeshiftkeying）VBW：视频带宽（videobandwidth）VSWR：电压驻波比（voltagestandingwaveratio)4基本要求
测试条件
4.1.1测试环境
除另有规定外，测试应在23℃士3℃，相对湿度为40%～60%无凝结的环境下进行。4.1.2预处理
测试前应将DUT在测试环境中放置24h4.1.3默认允差
除另有规定外，测试设备特性和测试过程产生的量值充差为土5%。4.1.4测试场地
除另有规定外，测试应在电波暗室中进行。当电波暗室限制了设备的移动和测试距离时，允许测试在开阔测试环境下进行。测试场地参见附录A。4.1.5测试位置的噪声电平
与测试DUT相同条件下，使用频谱分析仪测量测试位置的噪声电平至少1min。在10kHz测量带宽下，噪声电平在0.5GHz～2GHz频率范围内最大值为一60dBm；在800MHz～960MHz的工作频率范围内，噪声电平的最大值为一90dBm。应特别注意杂散辐射，如未充分屏蔽的计算机显示器。4.1.6扩展不确定度
测试方法规定的测试量的扩展不确定度应在测试报告中予以说明。4.1.7测试方法与基础标准要求的关系本标准与GB/T29768一2013要求的关系参见附录B。4.2读写器测试装置
4.2.1测试天线和定向耦合器
测试天线应带有阻抗为50Q的天线连接器。在测试所采用的频率范围内，天线VSWR应不大于1.2:1。
定向耦合器应选用阻抗为50的三端口器件。在测试所采用的频率范围内，定向耦合器端口的VSWR应不大于1.2：1，定向耦合器的耦合度应不大于10dB，带内不平坦度应不大于2
4.2.2读写器工作频率及调制测试装置GB/T35102—2017
读写器工作频率及调制测试装置包括测试天线和频谱分析仪（见4.4.1），如图1所示。测试天线与被测读写器天线的距离（ds）设置为3入或10a。测试天线
频谱分析仪
图1读写器工作频率及调制测试装置4.2.3读写器解调和链路时序测试装置被测读写器
读写器解调和链路时序测试装置包括标签模拟器和数字示波器（见4.4.2），如图2所示。在读写器解调和链路时序测试时，附录C中规定的标签模拟器应在读写器天线主功率辐射法线方向上、以接收场强的最优朝向、距离读写器天线dT处放置，dTE设置为3入或10a。数字示波器
标签模拟器
标签模拟器
图2读写器解调和链路时序测试装置4.2.4带定向耦合器的读写器测试装置被测读写器
带定向耦合器的读写器测试装置包括读写器天线、定向耦合器、频谱分析仪、数字示波器、标签模拟器，如图3所示。带定向耦合器的读写器测试装置既可用于读写器的前向链路的测试，也可用于标签响应的链路时序测试。测试天线与读写器天线的距离（d。）设置为3A或10A。测试天线
模拟器
定向耦合器
分析仪
示波器
带定向耦合器的读写器测试装置图3
读写器天线
被测读写器
GB/T35102—2017
4.2.5基准标签
基准标签应符合GB/T297682013.至少支持GB/T29768一2013的必选命令。基准标签的T，值的应在GB/T29768—2013要求的范围内。4.3
标签测试装置
4.3.1读写器天线和定向耦合器
读写器天线应满足表1的规定。
表1用于标签测试的读写器天线要求符号
读写器天线最大尺寸
读写器天线增益
注：d-是天线中心到被测标签中心的距离。定向耦合器的要求见4.2.1。
4.3.2标签解调和链路时序测试装置最小值
最大值
标签解调和链路时序测试装置包括读写器天线，定向耦合器、频谱分析仪，数字示波器、矢量信号发生器，如图4所示。在标签解调和链路时序测试时，被测标签应置于读写器天线主功率辐射法线方向上、以接收场强的最优朝向、距离读写器天线d处放置，d。设置为3入或10a。读写器
失量信号
发生器
定向耦合器
分析仪
4.3.3标签反向散射测试装置
示波器
图4标签解调和链路时序测试装置被测标签
标签反向散射测试装置包括读写器天线，定向耦合器、频谱分析仪，数字示波器，矢量信号发生器如图5所示。该装置中包含两个集成的天线，其中一个用作读写器天线，用于量信号发生器的信号发射，另一个用作测试天线连接到频谱分析仪或数字示波器，两个天线平行放置，应减少两个天线间的信号耦合。
标签反向散射测试装置用于测试标签的返回信号。被测标签应置于读写器天线主功率辐射法线方向上、以最优接收场强的朝向、距离读写器天线ds处放置，ds设置为3或10入。4
失量信号
发生器
4.3.4测试用读写器
定向耦合器
分析仪
示波器
测试天线
读写器
图5标签反向散射测试装置
GB/T35102—2017
被测标签
测试用读写器应实现GB/T29768一2013规定的读写器的必选功能。测试用读写器的T，T和T时间应满足GB/T29768—2013中的要求，工作频率在840MHz～845MHz和920MHz～925MHz，能够解调FM0基带编码、米勒基带编码以及副载波调制，且能够按照GB/T29768一2013中6.1要求提供防碰撞测试功能
4.4通用测试设备
4.4.1频谱分析仪
频谱分析仪的RBW应为30kHz，VBW应为100kHz，最小频宽应支持8倍数据速率。测试时应使用最大峰值进行检波，应使用1kHz分辨率带宽测试高于频谱分析仪噪声电平3dB的幅度信号或噪声；应能够以土2dB准确度测试与当前信号10kHz频率的偏差、比当前信号电平高90dB的信号；频率标记读精确度应在子带隔离土2%范围内，应能够实现土1dB的相对幅度测试以及能够显示分辨频率偏差为1kHz的两个信号。
当频谱分析仪不具备测试所需的失量分析功能时，可采用采样后软件分析的方法。4.4.2数字示波器
采用数字示波器，应至少具有100M/s的采样率和8位的分辨率；否则，数字示波器应至少具有1GHz的带宽和5G/s的采样率。
4.4.3矢量信号发生器
矢量信号发生器的电平分辨率至少为0.1dB，寄生谐波小于一30dB，AM深度支持0%～100%；AM分辨率至少为0.1%，AM畸变应小于2%，AM平坦度小于0.3dB,频率准确度应达到0.01HzVSWR应小于1.5：1。
5读写器符合性测试
5.1读写器调制方式和工作频率
5.1.1测试目的
验证读写器是否使用DSB-ASK或者SSB-ASK方式调制射频载波；验证读写器工作频率是否为840MHz~845MHz和920MHz~925MHz，频带内共40个信道，信道中心频率计算见GB/T29768-2013中5.2.2。
GB/T35102—2017
5.1.2测试步骤
读写器调制方式和工作频率测试步骤如下：a)
采用图1所示的测试装置进行测试；设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下；按表2中定义的首个测试用例参数设置被测读写器工作频率和调制方式：设置频谱分析仪为功率-频率模式，并处于功率触发等待中：被测读写器发出启动查询命令，命令参数见表3；频谱分析仪被启动查询命令触发后，采集并保存发送信号曲线：根据采集到的功率-频率曲线验证被测读写器发送信号的调制方式和工作频率；按表2中定义的测试用例参数改变被测读写器工作频率和调制方式，重复步骤d)～g），直至h）
所有40个信道的工作频率和调制方式都测试完毕。注：当频谱分析仪不支持读写器的调试方式时，可采用采样后软件解调的方式进行解调方式分析。表2读写器调制方式和工作频率测试用例序号
注1:n=0~19
工作频率/MHz
840.125+0.25m
920.125+0.25m
注2：DSB-ASK或SSB-ASK调制方式可二者择一进行测试。3启动查询命令测试参数
数据域
命令代码
10100100元
注：T=6.25us或12.5us
5.1.3测试报告
反向链路速率因子
调制方式
DSB-ASK
SSB-ASK
DSB-ASK
SSB-ASK
编码选择
测试报告应记录被测读写器支持的调制方式，以及所有被测信道下实际测量的工作频率。5.2
读写器邻信道功率泄漏比
5.2.1测试目的
CRC-16
验证读写器邻信道功率比是否满足GB/T29768一2013中5.2.4的要求：第一邻道泄漏比应小于一40dB，第二邻道泄漏比应小于一60dB5.2.2测试步骤
读写器邻信道功率泄漏比测试步骤如下：a
被测读写器天线端口通过衰减器与频谱分析仪连接：6
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中华人民共和国国家标准
GB/T35102—2017
信息技术射频识别
800/900MHz空中接口符合性测试方法Information technology-Radio frequency identification-Conformance test methods for air interface at 8o0/900 MHz2017-11-01发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2018-05-01实施
规范性引用文件
术语、定义、符号和缩略语
术语和定义
缩略语
4基本要求
测试条件
读写器测试装置
标签测试装置
通用测试设备
5读写器符合性测试
读写器调制方式和工作频率
读写器邻信道功率泄漏比
读写器打开和关闭载波时的射频信号包络读写器到标签的射频信号包络
读写器数据编码
读写器前导码
读写器解调和解码……
读写器链接时序T
读写器链接时序T：
读写器链接时序T
读写器命令
5.12读写器多标签防碰撞机制
5.13读写器安全协议
6标签符合性测试
标签解调
标签工作频率
6.3标签基带编码和副载波调制***6.4标签前导码….
6.5标签反向链路频率和频率允差6.6标签链接时序T
标签链接时序T
标签状态转换
标签命令测试
GB/T35102—2017
GB/T35102—2017
标签防碰撞
标签安全协议
附录A（资料性附录）
附录B（资料性附录）
附录C（规范性附录）
............................................................测试场地
测试方法与基础标准要求的关系标签模拟器
......
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草GB/T35102—2017
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由全国信息技术标准化技术委员会（SAC/TC28)提出并归口。本标准起草单位：中华人民共和国工业和信息化部电子工业标准化研究院、中国人民解放军国防科学技术大学、北京中电华大电子设计有限责任公司、天津中兴智联科技有限公司、西安西电捷通无线网络通信股份有限公司、上海聚星仪器有限公司、北京同方微电子有限公司、中国物品编码中心。本标准主要起草人：刘文莉、高林、王宏义、冯敬、耿力、沈红伟、刘晓平、杜志强、张国强、陈柯、郑黎明孟庆云、鄢若、李卓凡。
1范围
信息技术射频识别
800/900MHz空中接口符合性测试方法GB/T35102—2017
本标准依据GB/T297682013规定了840MHz845MHz和920MHz925MHz射频识别空中接口的符合性测试方法
本标准适用于840MHz～845MHz和920MHz～925MHz射频识别设备（读写器和标签）的空中接口符合性测试。
规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件GB/T29261.3一2012信息技术自动识别和数据采集技术词汇第3部分：射频识别GB/T29768一2013信息技术射频识别800/900MH2空中接口协议3术语、定义、符号和缩略语
3.1术语和定义
GB/T29261.3—2012界定的术语和定义适用于本文件。3.2符号
GB/T29768一2013界定的以及下列符号适用于本文件。PW脉冲宽度。
Target盘点标志。
GI天线增益。
T。前向链路基准时间。
Tpri标签到读写器通信链路的基准时钟周期。TRext前导信号指示。
ds读写器天线与测试天线之间的距离dTE读写器天线与标签模拟器之间的距离。入工作频率对应的波长
3.3缩略语
GB/T29768一2013界定的以及下列缩略语适用于本文件。AM：幅度调制（amplitudemodulation）ASK：幅移键控（amplitudeshiftkeying）DSB-ASK：双边带幅移键控（double-sidebandamplitudeshiftkeying）1bzxz.net
GB/T35102—2017
DUT：被测设备（deviceundertest）ID：标识符（identifier）
PSK：相移键控（phaseshiftkeying)RBW：分辨率带宽（resolutionbandwidth）SSB-ASK：单边带幅移键控（single-sidebandamplitudeshiftkeying）VBW：视频带宽（videobandwidth）VSWR：电压驻波比（voltagestandingwaveratio)4基本要求
测试条件
4.1.1测试环境
除另有规定外，测试应在23℃士3℃，相对湿度为40%～60%无凝结的环境下进行。4.1.2预处理
测试前应将DUT在测试环境中放置24h4.1.3默认允差
除另有规定外，测试设备特性和测试过程产生的量值充差为土5%。4.1.4测试场地
除另有规定外，测试应在电波暗室中进行。当电波暗室限制了设备的移动和测试距离时，允许测试在开阔测试环境下进行。测试场地参见附录A。4.1.5测试位置的噪声电平
与测试DUT相同条件下，使用频谱分析仪测量测试位置的噪声电平至少1min。在10kHz测量带宽下，噪声电平在0.5GHz～2GHz频率范围内最大值为一60dBm；在800MHz～960MHz的工作频率范围内，噪声电平的最大值为一90dBm。应特别注意杂散辐射，如未充分屏蔽的计算机显示器。4.1.6扩展不确定度
测试方法规定的测试量的扩展不确定度应在测试报告中予以说明。4.1.7测试方法与基础标准要求的关系本标准与GB/T29768一2013要求的关系参见附录B。4.2读写器测试装置
4.2.1测试天线和定向耦合器
测试天线应带有阻抗为50Q的天线连接器。在测试所采用的频率范围内，天线VSWR应不大于1.2:1。
定向耦合器应选用阻抗为50的三端口器件。在测试所采用的频率范围内，定向耦合器端口的VSWR应不大于1.2：1，定向耦合器的耦合度应不大于10dB，带内不平坦度应不大于2
4.2.2读写器工作频率及调制测试装置GB/T35102—2017
读写器工作频率及调制测试装置包括测试天线和频谱分析仪（见4.4.1），如图1所示。测试天线与被测读写器天线的距离（ds）设置为3入或10a。测试天线
频谱分析仪
图1读写器工作频率及调制测试装置4.2.3读写器解调和链路时序测试装置被测读写器
读写器解调和链路时序测试装置包括标签模拟器和数字示波器（见4.4.2），如图2所示。在读写器解调和链路时序测试时，附录C中规定的标签模拟器应在读写器天线主功率辐射法线方向上、以接收场强的最优朝向、距离读写器天线dT处放置，dTE设置为3入或10a。数字示波器
标签模拟器
标签模拟器
图2读写器解调和链路时序测试装置4.2.4带定向耦合器的读写器测试装置被测读写器
带定向耦合器的读写器测试装置包括读写器天线、定向耦合器、频谱分析仪、数字示波器、标签模拟器，如图3所示。带定向耦合器的读写器测试装置既可用于读写器的前向链路的测试，也可用于标签响应的链路时序测试。测试天线与读写器天线的距离（d。）设置为3A或10A。测试天线
模拟器
定向耦合器
分析仪
示波器
带定向耦合器的读写器测试装置图3
读写器天线
被测读写器
GB/T35102—2017
4.2.5基准标签
基准标签应符合GB/T297682013.至少支持GB/T29768一2013的必选命令。基准标签的T，值的应在GB/T29768—2013要求的范围内。4.3
标签测试装置
4.3.1读写器天线和定向耦合器
读写器天线应满足表1的规定。
表1用于标签测试的读写器天线要求符号
读写器天线最大尺寸
读写器天线增益
注：d-是天线中心到被测标签中心的距离。定向耦合器的要求见4.2.1。
4.3.2标签解调和链路时序测试装置最小值
最大值
标签解调和链路时序测试装置包括读写器天线，定向耦合器、频谱分析仪，数字示波器、矢量信号发生器，如图4所示。在标签解调和链路时序测试时，被测标签应置于读写器天线主功率辐射法线方向上、以接收场强的最优朝向、距离读写器天线d处放置，d。设置为3入或10a。读写器
失量信号
发生器
定向耦合器
分析仪
4.3.3标签反向散射测试装置
示波器
图4标签解调和链路时序测试装置被测标签
标签反向散射测试装置包括读写器天线，定向耦合器、频谱分析仪，数字示波器，矢量信号发生器如图5所示。该装置中包含两个集成的天线，其中一个用作读写器天线，用于量信号发生器的信号发射，另一个用作测试天线连接到频谱分析仪或数字示波器，两个天线平行放置，应减少两个天线间的信号耦合。
标签反向散射测试装置用于测试标签的返回信号。被测标签应置于读写器天线主功率辐射法线方向上、以最优接收场强的朝向、距离读写器天线ds处放置，ds设置为3或10入。4
失量信号
发生器
4.3.4测试用读写器
定向耦合器
分析仪
示波器
测试天线
读写器
图5标签反向散射测试装置
GB/T35102—2017
被测标签
测试用读写器应实现GB/T29768一2013规定的读写器的必选功能。测试用读写器的T，T和T时间应满足GB/T29768—2013中的要求，工作频率在840MHz～845MHz和920MHz～925MHz，能够解调FM0基带编码、米勒基带编码以及副载波调制，且能够按照GB/T29768一2013中6.1要求提供防碰撞测试功能
4.4通用测试设备
4.4.1频谱分析仪
频谱分析仪的RBW应为30kHz，VBW应为100kHz，最小频宽应支持8倍数据速率。测试时应使用最大峰值进行检波，应使用1kHz分辨率带宽测试高于频谱分析仪噪声电平3dB的幅度信号或噪声；应能够以土2dB准确度测试与当前信号10kHz频率的偏差、比当前信号电平高90dB的信号；频率标记读精确度应在子带隔离土2%范围内，应能够实现土1dB的相对幅度测试以及能够显示分辨频率偏差为1kHz的两个信号。
当频谱分析仪不具备测试所需的失量分析功能时，可采用采样后软件分析的方法。4.4.2数字示波器
采用数字示波器，应至少具有100M/s的采样率和8位的分辨率；否则，数字示波器应至少具有1GHz的带宽和5G/s的采样率。
4.4.3矢量信号发生器
矢量信号发生器的电平分辨率至少为0.1dB，寄生谐波小于一30dB，AM深度支持0%～100%；AM分辨率至少为0.1%，AM畸变应小于2%，AM平坦度小于0.3dB,频率准确度应达到0.01HzVSWR应小于1.5：1。
5读写器符合性测试
5.1读写器调制方式和工作频率
5.1.1测试目的
验证读写器是否使用DSB-ASK或者SSB-ASK方式调制射频载波；验证读写器工作频率是否为840MHz~845MHz和920MHz~925MHz，频带内共40个信道，信道中心频率计算见GB/T29768-2013中5.2.2。
GB/T35102—2017
5.1.2测试步骤
读写器调制方式和工作频率测试步骤如下：a)
采用图1所示的测试装置进行测试；设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下；按表2中定义的首个测试用例参数设置被测读写器工作频率和调制方式：设置频谱分析仪为功率-频率模式，并处于功率触发等待中：被测读写器发出启动查询命令，命令参数见表3；频谱分析仪被启动查询命令触发后，采集并保存发送信号曲线：根据采集到的功率-频率曲线验证被测读写器发送信号的调制方式和工作频率；按表2中定义的测试用例参数改变被测读写器工作频率和调制方式，重复步骤d)～g），直至h）
所有40个信道的工作频率和调制方式都测试完毕。注：当频谱分析仪不支持读写器的调试方式时，可采用采样后软件解调的方式进行解调方式分析。表2读写器调制方式和工作频率测试用例序号
注1:n=0~19
工作频率/MHz
840.125+0.25m
920.125+0.25m
注2：DSB-ASK或SSB-ASK调制方式可二者择一进行测试。3启动查询命令测试参数
数据域
命令代码
10100100元
注：T=6.25us或12.5us
5.1.3测试报告
反向链路速率因子
调制方式
DSB-ASK
SSB-ASK
DSB-ASK
SSB-ASK
编码选择
测试报告应记录被测读写器支持的调制方式，以及所有被测信道下实际测量的工作频率。5.2
读写器邻信道功率泄漏比
5.2.1测试目的
CRC-16
验证读写器邻信道功率比是否满足GB/T29768一2013中5.2.4的要求：第一邻道泄漏比应小于一40dB，第二邻道泄漏比应小于一60dB5.2.2测试步骤
读写器邻信道功率泄漏比测试步骤如下：a
被测读写器天线端口通过衰减器与频谱分析仪连接：6
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