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GB∕T 36017-2018

基本信息

标准号: GB∕T 36017-2018

中文名称:无损检测仪器 X射线荧光分析管

标准类别:国家标准(GB)

标准状态:现行

出版语种:简体中文

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相关标签: 无损 检测 仪器 射线 荧光 分析

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GB∕T 36017-2018 无损检测仪器 X射线荧光分析管 GB∕T36017-2018 标准压缩包解压密码:www.bzxz.net

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标准内容

ICS19.100
中华人民共和国国家标准
GB/T36017—2018
无损检测仪器
X射线荧光分析管
Non-destructive testing instrumentsX-ray fluorescence analysic tube2018-03-15发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2018-10-01实施
规范性引用文件
3产品分类
技术要求
试验方法
检验规则
标志、包装、运输和贮存
GB/T36017—2018
iiiKANiKAca
本标准按照GB/T1.12009给出的规则起草本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC122)归口。GB/T36017—2018
本标准起草单位:深圳国珑仪器有限公司、苏州市华测检测技术有限公司、辽宁仪表研究所、丹东市无损检测设备有限公司。
本标准主要起草人:郭冰、甘佳俊、王琳、包如岭iKAoNi KAca
-iiiKAoNniKAca
1范围
无损检测仪器
X射线荧光分析管
GB/T36017—2018
本标准规定了X射线荧光分析管的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于侧窗X射线荧光分析管和端窗X射线荧光分析管。2
规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T191包装储运图示标志
GB/T13384机电产品包装通用技术条件GB224482008500kV以下工业X射线探伤机防护规则GB/T254801
仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法3产品分类
型号规格
X射线荧光管的型号规格见表1。表1X射线荧光管的型号规格
XY(C或D)1-1/50
XY(C或D)2-2/60
XY(C或D)3-3/60
注:如有特殊规格制造厂与用户协商解决,并参照本标准执行3.2型号编制方法
1kW系列
2kw系列
3kw系列
X射线荧光管的型号主要由特征代号和规格代号两个基本部分组成。特征代号主要反映产品分类,用汉语拼音字母表示;规格代号主要反映产品参数规格,用阿拉伯数字表示,编制方法见表2。表2X射线荧光管的型号编制方法型号构成
分类形式
表示方法
第1部分
第2部分
X射线类小类
荧光分析
用字母X表示
用字母Y表示
第3部分
X射线窗位置
用字母C或D表示
C一侧窗、D端窗
第4部分
产品序号
用阿拉伯数字表示
第5部分
第6部分
表示额定功率 表示额定管电压
iiKANiKAca
GB/T36017—2018
4技术要求
X射线荧光管应符合本标准规定,并按照规定程序批准的图样和技术文件制造。4.2工作条件
X射线荧光分析管正常工作应满足以下条件:环境温度为5℃~30℃;
空气相对湿度不大于85%;
大气压力85kPa~106kPa;
电源的频率为50Hz士1Hz,电源电压波动应不超过输人值的士10%,使用性能
X射线荧光管的额定功率,最大管电压,最大管电流应符合表3规定表3X射线荧光管的额定功率,最大管电压,最大管电流型号
XY1-1/50(60)
XY2-2/60(100)
XY3-3/60(100)
靶材种类
Pt.W.Mo.Rh
Pt.W.Mo.Rh
Pt,W、Mo,Rh
额定功率/kw
最大管电压/kv
最大管电流/mA
4.3.2X射线荧光管的发射特性:当管电压为20kV,灯丝电流(交流供电)为规定值时,管电流应符合下列要求:
a)大于或等于30mA(1kW系列);大于或等于40mA(2kW系列);
大于或等于80mA(3kW系列)
4.3.3X射线荧光管杂质谱线应符合下列要求。靶面杂质谱线强度(1杂)/靶材特征谱线强度(1靶)比值小于表4的列数值。
靶面杂质谱线强度(1杂)/靶材特征谱线强度(1靶)比值表4
1杂/1靶
HiiKAoNiKAca
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4.3.4X射线荧光管的焦点形状应规整,焦点尺寸应符合具体产品标准中的产品说明书,焦点尺寸误差小于十30%。
4.3.5X射线荧光管的窗口材料为铍,铍窗有效直径不小于$13mm,铍窗厚度应符合表5规定。表5铍窗厚度
W、Mo.Rh.Pt
铍窗厚度/mm
小于或等于0.75
小于或等于0.5
4.3.6X射线荧光管的靶面角度为26°X射线辐射圆锥角不小于50°,在其范围内X射线辐射强度应均勾,相对密度差不大于0.3。
4.3.7X射线荧光管在额定负荷下连续工作30min,不应有放电等异常现象4.4可靠性要求
4.4.1X射线空气比释动能率应满足GB22448一2008中第3章的要求4.4.2X射线荧光管的寿命即累计工作时限不少于500h,在工作时限内杂质谱线强度不应超过表4所规定的数值的100%。
4.4.3X射线荧光管油密封应良好,没有漏油渗油迹象,油的耐压应大于45kV/2.5mm。4.4.4X射线荧光管为阳极接地水冷,水密封良好,没有漏水渗水现象,水流必需畅通,水流量符合表6规定时,应能正常工作。
表6水流量
XY(C或D)1-1/50
XY(C或D)2-2/60
XY(C或D)3-3/60
水流量/(L/min)
大于或等于3
大于或等于4
水质要求
纯水或蒸馏水
4.4.5X射线荧光管应有足够的机械强度,在加速度39.2m/s,频率为40次/min,连续冲击500次试验后荧光管的外形结构和电参数均应符合本标准规定。4.5外观质量要求
4.5.1X射线荧光管与荧光光谱仪的安装密封面的粗糙度应不低于Ra=1.6。4.5.2X射线荧光管的阳极冷却装置应采用耐腐蚀材料,管外部件应有防腐镀层、漆层,有关标志要齐全、正确。
4.5.3表面镀层应牢固,不应有脱落、起皮现象,4.5.4表面漆层应色泽均勾、光滑平整,不应有明显划伤和脱落现象。4.5.5在用户遵守荧光管的保管使用、维护和运输规则条件下,在寿命期限内,从制造厂发货日期起12个月内,因产品质量不良而发生损坏或不能正常工作时,制造厂应负责更换,以补充寿命期。3
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5试验方法
5.1试验条件
按4.2规定的条件进行。
5.2试验用主要仪器仪表和器具
试验用主要仪器仪表和器具如下:测量用的电压表、电流表的精度不低于1.5级;a)wwW.bzxz.Net
误差不超过士10%的辐射剂量仪(伦琴计);b)
黑度计或测微光度计,光强可调阅片灯:d
荧光管测试台;
调压器(5kW);
焦点测试装置及工业X光胶片;
10mm厚有机玻璃样品;
低温箱:
恒温箱。
5.3灯丝特性试验
施加已在产品文件中规定的灯丝电流,待电流表读数稳定后,读出相对应的灯丝电压值。5.4X射线荧光管的额定功率、最大管电压及最大管电流5.4.1X射线荧光管的额定功率的测试施加产品文件规定的灯丝电流(电压),按规定的预热时间预热后,施加产品文件中规定的管电压的一半时,调节灯丝电流(电压),使阳极电流达到在规定的管电压下荧光管额定功率所确定的电流值,然后以不大于10kV/min的时速升至规定值,同时调节灯丝电流(电压),使阳极电流保持不变。5.4.2X射线荧光管最大管电压的测试将荧光管装在测试台上,按规定的工作规程,将管电流、管电压调至最大值时,由电压表表针的指示数读取管电压值。
5.4.3X射线荧光管最大管电流的测试将荧光管装在测试台上,按规定的工作规程,将管电流、管电压调至最大值时,由毫安表针的指示数可读取最大管电流值。
5.5X射线荧光管的发射特性
将高压时间控制器调在允许条件下,调节灯丝电流(电压)至某一值,施加给定的管电压,直至管电压在加载时仍符合给定的数值,并读取相应阳极电流值。用同样的方法可测出在(一组)给定管电压下的(一组),阳极电流。三f(I)(灯丝电流)曲线。因灯丝回路处在高压回路里,所以灯丝电流I不能在高压电路里直接测出,可用灯丝变压器初,次4
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级匝数比的关系。间接粗略的测出灯丝电流:也可对每一个坐标点的灯丝电流值在关闭高压情况下,直接测量出准确的灯丝电流值
5.6X射线荧光管杂质谱线
5.6.1X射线荧光管光谱纯度的测试光谱纯度的测试是在电压和电流稳定度应不大于0.2%的X射线衍射仪上进行。也可以采用电压和电流稳定度不大于0.2%的应用X射线衍射原理(na=2dsin)制成的其他装置上进行X射线光谱纯度测试的光路结构见图1。其中:
光源、分光晶面与接收狭缝4之轴线互相平行;a)
分光晶面与衍射仪轴心相重合;b)
光源与接收狭缝4应位于衍射仪圆周上:d
说明:
光源F、狭缝1.S1、2固定不动,狭缝3、S2、4及计数管V以2倍于分光晶面的角速度同步旋转。
光源:
第一狭缝(开放):
发散狭缝(1/60或0.02mm);
收敛狭缝(同2);
接收狭缝(0.01mm);
索洛狭缝:
计数管:
LiF200晶体:
衍射仪圆:
光束接收部分。
图1光谱纯度测试光路结构示意图5
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将待测X射线荧光分析管装在衍射仪上,在相关产品标准中规定的电参数条件下,测绘该X射线荧光分析管的谱线图,如图2或图3所示说明:
说明:
特征谱线相对强度(K系):
杂质线;
衍射半角。
单色X射线荧光分析管谱线示意图A图2
特征谱线相对强度(K系);
-杂质线:
衍射半角。
图3单色X射线荧光分析管谱线示意图B测得的谱线中,各特征线积分强度相对值应符合表7规定(检查任意两个波长即可)。各谱线所在角,可按n=2dsing计算,入为波长;d为分光体晶格常数;LiF200之2d=4.028。如果各特征谱线相对强度偏离表7应有比例数10%以上时,则应重新调整测绘。如铬靶管K。大于60.6或小于40.6时,应加衰减片重测。
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