GB∕T 7424.22-2021 光缆总规范 第22部分：光缆基本试验方法 环境性能试验方法 GB∕T7424.22-2021 标准压缩包解压密码：www.bzxz.net

ICS 33.180.10
中华人民共和国国家标准
GB/T 7424.22—2021
部分代替GB/7424.22008
光缆总规范
第22部分：光缆基本试验方法
环境性能试验方法
Optical fibre cable generic specification-Part 22:Basic optical cabletest proceduresEnvironmental test methods(1EC 60794-1-22:2017.Optical fibre cablesPart 1-22.Generic specification-Basic optical cable test proceduresEnvironmental lest meihods.MOD)
2021-04-30发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2021-11-01实施
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规范性引用文件
方法 FI:温度循环
方法F5：渗水
方法F7:核辐射
方法F8：气阳
万法F9：老化
方法F10：水下光缆耐静水压
方法F11：扩套收缩（用丁接插软线的光缆）10方法F12.终端组件用光缆的温度循环..11
方法F13：微管耐气压
方法F11:耐紫外线
13方法F15：光缆外部冰冻：
方法F16:复合物滴流
方法F17：光缆收缆（光纤伸出）**16方法F18：接续装置中直通松套管温度循坏：次
附录A（资料性附录）本部分与1EC60791-1-22：2017相比的结构变化情况附录B（规范性附录）颜色的持久性·-rKaeerKa-
GB/T 7424.22—2021
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GB3/T7421分为以下9个部分：
光缆总规范第1部分：总则：
光缆总规范第20部分：光缆基本试验方法总则和定义：
机械性能试验方法；
一光缆总舰范第21部分：光缆基本试验方法光缆总规范第22部分：光缆基本试验方法环境性能试验方法：
光缆总规范第23部分：光缆基本试验方法光缆元构件试验方法：
电气试验方法：
光缆总舰范
第24部分：光缆基本诚验方法
一光缆第3部分：分规范室外光缆；一光缆第4部分：分规范光纤复合架空地线：光缆第5部分：分规范用于气吹安装的徽型缆和光纤单元。不部分为GB/T7424的第22部分
本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起节：GB/T 7424.22—2021
G3/T7421.20~G3/7124.21共同代替G3/7121.22008≤光缆总舰范第2部分：光缆基本试验方法》本部分代替GB/T7424.2—2008中的第21章~第28章：本部分与GB/T7424.2—2008的第21章～第28章相比，主要技术变化如下：修改了方法F1温度循环中试样预处现[见3.4.2.2008年版的21.4b门；增加了方法F1温度循环程序适用性要求[见3.4.3h)」；增加广方法F1温度循环中升温速率和降温速率的要求（见3.4.3）；增加了表1\给定试样质量的最小热均衡时问11”（见表1)：删除了方法F3：护套完整性”（见2008年版的第22章）；增加了“方法F5C\（见4.2.3）：增加了方法F5中对水的要求（见4.3.2）：增川了\方法F9：老化\的内容（见第7章）：增加了“方法F11:扩套收缩(用丁接插软线的光缆）\的内容（见第9章)：增加广方法F12：终端组件用光缆的温度循环\的内容（见第10章）；增加了“方法F13：微管耐气压”的内容（见第1章）；增加了“方法F14：耐紫外线\的内容（见第12章）：增加了方法F15：光缆外部冰冻\的内容（见第13章）；将复合物滴流的方法编号由F6改为F16（见第11章，2008年版的第21章）；修改了复合物滴流试样的数量和长度（见14.2.2.2008年版的24.2）；—修改「复合物滴流的试样制各要求L见14.2.3a），2008年版的24.2c）1）」；一增加了“方法F17：光缆收缩（光纤伸出)\的内容(见第15章）；增加了“方法F18：接续装置中占通松套管温度循环”的内容（见第16章）：一增加广规范性附录B\颜色的持久性”：本部分使用重新起草法修改采用1FC60791-1-22：2017《光缆第-22部分：总规范光缆基本试验方法环境性能试验方法》。
本部分与IEC60794122：2017村比在结构上有较多调整，附录A巾列出「本部分与IEC60794122：2017的章条编号对照一览表，
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本部分与IEC60794122:2017的技术性差异及其原因如下：关于规范性引用文件，本部分做了具有技术性差异的调整·以适应我国的技术条件，调整的情况集中反映在第2章舰范性引用文件中，具休调整如下；·用修改采用国际标准的GB/T15972.40代替了IEC60793-1-40；●用修改采用国际标准的GB/T15972.46代替了IEC60793146；，用修改采用国际标准的（13/T15972.51代替厂1E（60793-1-51：。用等同采用国际标准的（13/T16122.2代替了IS04892-2：·用等同采用国际标准的GB/T16422.3代替了IS(）4892-3：·删除了IEC60304；
·删除『IEC6079411;
·删除『IEC60811503：
。增加引用了G3/T 6995.2;
* 增加引用了 GB/T7424.20 2021;·增加引用了GB/T26168.1
—4.1中增加了\F5C的3种方式选择其中之一”一4.5中增加了“在规定的试验时间内”。一8.3中将\最小长度”修改为“受试长度”。9.1中增加了*（跳线）”
9.3将“最小分辨率为0.12%\修收为*最小分辩率不天丁0.5mm一9.5中将“护套收缩率不得超过详细规范的规定估”修改为“最后1个循环后5个试样相对于初始长度的平均护套收缩量不应超过详细规范的规定估”。—13.2中增加\成圈直径由详细规范规定”，13.6待规定细节中增加\成圈直径。增加了图11。
本部分做广下列编辑性修改：
将标准名称改为《光缆总规范第22部分：光缆基本试验方法环境性能试验方法》。请注意本文件的某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中华人民共和国工业和信总化部提出。本部分山全国通信标准化技术委员会（SAC/TC.485)归口：本部分起草单位：成都泰瑞通信设备检测有限公司、四川汇源光通信有限公司、成都大店线缆有限公司、江苏亨通光电股份有限公司、长飞光纤光缆股份有限公司、江苏永鼎股份有限公司、烽火科技集团有限公司、江苏南方通信科技有限公司、通鼎五联信总股份有限公司、南京华信滕仓光通信有限公司、江苏通光信息有限公司。
本部分主要起草人：宋志佗、时彬、赵秋香、罗毅、薛梦驰、李英志、彭媛、刘骋、李婧、陆赞赞、段建彬、陈晓红、黄止欧、季忠、王小泉、刘玉琴。本部分所代替标准的历次版本发布情况为：-G3/T7425（所有部分）—1987：GB/T8405（所有部分）1987：
GB/T7424.11998（第3章和第6章)；—GB/T 7424.2—2002GB/T7424.2—2008(第21章~第28章）-rKaeerkca-
1范围
GB/T 7424.22—2021
光缆总规范第22部分：光缆基本试验方法环境性能试验方法
GB/T7424的本部分规定了光缆环境性能各试验方法的日的、试样、设备、程序、要求和待规定细节。
本部分适用于光缆，包光纤单元、微管光纤单元等，也适用于光电混合缆2规范性引用文件
下列文件对工本文件的应用是必不可少的。儿是注且期的引用文件，仅注月期的版本适用工本文件。凡是不注Ⅱ期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T2423.22—2012环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化（IEC60068-2-14：2009.1DT
GB/T6995.2电线电缆识别标志方法第2部分：标准颜色G3/T7124.20一2021光缆总规范第20部分：光缆基本试验方法总则和定义(IEC60794-1-2:2017.MOD)
（31【5972.10）光纤试验方法规范第40部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序&减(GB/T15972.40—2008.IEC60793-1-40:2001.MOD)GB/T15972.16光红试验方法规范第46部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序透光率变化（GB/T15972.46—2008,IEC60793146：2001,MOD）(G3/T15972.54光纤试验方法规范第54部分：环境性能的测量方法和试验程序伽玛辐照
(GB/T 15972.542008.IEQ 60793-1-54:2003.MOD)G3/T【6422.2塑料实验室光源暴露试验方法第2部分：氙弧灯（F13/T16422.2—2014.ISO4892-2:2006.IDT)
斗实验空光源暴露试验方法第3部分：荧光紫外灯（G13/T16122.8—2014.G3/T【6422.8塑料
ISO 4892-3:2006.IDT)
(G[3/T26168.！电气绝缘材料确定电离辐射的影响第1部分：辐射相互作用和剂量测定(GB/T26168.12018.IEC60544-1:2013,IDT)3方法F1:温度循环
3.1目的
本试验适用于用温度循环来试验光缆，以确定光缆遭受温度变化时衰减的稳定性。本试验还可用于评代松套管或其他独立的光缆元构件，具体在详细规范巾规定光缆衰减变化可能伴随温度变化而发生，这适常是因为光纤的热胀系数与光缆加强构件和护层的热胀系数不同而引起光纤弯曲或拉紧的结果。温度相关性测量的试验条件应模拟最坏的情况。本试验用于监测在贮存、运输和使用期间可能发生的温度范国内的光缆性能,或名在一个选定的温-riKacerKAca-
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度范围内（通常比上述情况所要求的更宽）检验与光纤基本无微弯状态有美联的衰减稳定性注1：终端组件川光缆的温度循环试验F12是不试验的个特例，专门针对接插线光缆。注2：老化试验F9市，把温度循坏试验F1置于FS试验之前和（或)之后，常这些试验是起进行注3：光缆收缩试验F17采用方法FI进行温度循环这些试验一起进行。3.2试样
诚样应是一个制造长度的光缆·或名是详细规范中规定长度的光缆，长度要适合于取得期望的衰减测量精度。
为了获得可重复的数值，光缆试样应以不影响测量的方式放人温度箱中。其方法以是绕成松弛的圈或绕在大点径筒体的缆盘上，绕在带有软垫层的缆盘或零张力的设施上。光纤的膨胀和收缩（例如在光缆内滑动)能力可能要受光缆弯曲半径的影响，因此.试样的状态尽可能接近正常使用的状态。光缆试样的弯曲点径应不违背详细规范中规定的光缆、套管或其他单心的最小弯曲直径
潜在的问题在于试样和支持物（缆盘、篮式线架、托盘）的膨胀系数不同，只要“无影响”的条件术完全实现，它就可能在温度循环期问刘试验结果生显荠影响。试验是模拟实际敷设情况，在该情况下，光缆人多数长度内人致是直的。影响因素主要是调节温度的细节、支持物的类型和材料、试样圈和缆盘的古径等一般性要求包括如下儿点：
a）卷绕直径宜足够人，以保持光纤适应热胀冷缩差的能力。卷绕直径宜显者人于光缆交货缆盘直径
b）因温度产生的光缆热胀冷缩不应受到限制。儿其要特别小心避免试验期问在光缆上残留张力。例如，不紧绕在缆盘上，因为这会限制低温下光缆收缩。另方而.多层紧绕能限制高温下的膨胀
c）宜以人直径成圈、带渠软层的缆盘或简易零张力装置进行松绕。d）测试光纤数及分布要求见（13/T7421.20—2021巾4.9.1及附录13。e）光缆两端以及与测量设备的连接都成置于温度箱外，以避免不良影响：当需要时，为了限制受试光缆长度，可把光缆中几根光纤串连起米进行测量。应限制接头数量，并把接头放置在温度箱外而，
3.3设备
设备应包括：
a）1台适合测定衰减变化的衰减测量设备，测量设备应符合（G13/T15972.10及（GB3/T15972.16的规定。
b）1个温度箱，其大小应适合丁容纳光缆试样，其温度应控制在规定试验温度的工3℃以内。适用的温度箱示例见G[3/2123.222012的第8章。c）1个温度探测装置，必要时用以测量试样的温度，对丁热容量大的试样，叫能需要验证试样的温度稳定性，而不是仪仪用表1规定的热均衡时间t1：3.4程序
3.4.1初始测量
试样应做目视检查.并应在初始温度下测定衰减的初始值。3.4.2预处理
预处理条件由用户与供方商定。2
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3.4.3步骤
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图「和图2分别为中一温度的循坏程序和组合温度的循坏程序。它们表明了温度循坏的顺序。如果只规定一个高温和低温，则按图1.对于具有多个高温和低温的，按图2。详细步骤如下：注1：为了清晰，下面的流程是接照图1编写的，如果使用图2.则重复每个温度必骤，即低温重复步骤b)步骤d），高温重复步步聚）
把处于坏境温度下的试样放进处于同样环境温度下的温度箱内。除非另有规定，应把温度箱内的温度降低到低温TA2,冷却速率不得超过60℃/h，b)
注2：最初的循环温度使用极值工和T，无论是用图1还是图2在温度箱内的温度达到稳定之后，试样成暴露于该低温条件下适当时间：d)
最小热均衡时间见表「；无论如何.热均衡时间t应足以使光缆均衡到规定温度。除非刃有规定，温度箱内的温度升高到高温工e，升温速率不得超过60℃/h。温度箱内的温度达到稳定之后，试样应暴露丁该高温条件下适当时问：以适当的冷却速率把温度箱内的温度降低到室温估：这个程序构成1个循环（见图1或图2）。循环与循环之间的节点，不需要热均衡，而且不进行测量。h）重复步骤b）~步骤g).继续下一次循坏，除非相关详细规范刃有要求，试样应经受至少2个循坏。按照图1，单一温度循环应由1个低温和1个高温组成，最后1个循坏应是1个低温和1个高温，如图1所示，如果需要多个低温和高温，则最后1个循环应包括2个或2个以上的低温和2个或2个以上的高温，如图2所示。在最后1个循环，如果规定了多个温度，则试样应在每个中间温度（TA或Tm)停留合适的时间t1，在全部循环程序结束时.试样在空温下保持适当时间11
第1个循环开始时在室温下、最后1个循坏中每个规定的温度台阶「（TA，T2、T、Tm)热均衡时问结束时、最终循环结束时在室温下·都应测量基诚，如果详细规范要求在中问的循环进行测量，则测量应以同样的方式逆行j）在从温度箱取出之前，受试试样应在环境温度下已达到温度稳定表1给定试样质量的最小热均衡时间t试样质量
0.35以下
16-109
101~250
251500
501以上
注：试验人员的职责在于确保热均衡时间足以便光缆达到规定温度。-riKaeerkca-
最小热均衡时间t！
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试验箱
试验箱
3.4.4恢复
1个循环
图1单一温度的循环程序
1个循环
图2组合温度的循环程序
如果从温度箱取出之后室温不符合B/T7424.20一2021中4.2规定的标准试验条件，则试样应在标准试验条件下达到温度稳定，相关详细规范可对给定类型的试样给出恢复时间。3.5要求
试验的合格判据应在详细规范中规定，典型的失效模式包括光纤断裂、衰减劣化或光缆的物理损伤。除非另有规定，衰变化都以温度循环试验并始前室温下测得的衰诚(见3.4.1)为基准逃行计算。3.6待规定细节
详细规范应包括如下内容：
光缆试样长度。
受试光纤数（当不同于3.2时）
受试光纤长度，
光纤之问的连接类型（可选）。温度限估：
1）图1中T和T:
2）图2中TAl、TA、Te.和Te
循坏次数，
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g）在每个温度极值下的湿度水平（如果有要求），h）在规定波长下的最人衰减变化（见3.5)与温度循环的函数关系，3.7待报告细节
卷绕型式：
a）成圈、装盘或其他（在缆盘川有挚层时需说明垫层类型和所用材料)；h）卷绕直径；
单层或多层：
(l）卷绕张力和零张力装置（如果有的话)。热均衡时问t，如果与表1中规定的不同。4方法F5:渗水
4.1目的
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本试验适用丁连续阳水的光缆。其目的准丁确定光缆阻止水沿着规定长度迁移的能力，有3种方法：
—F5A评价由于护套损坏引起的径向进水；一F513评价阻水结构光缆的全截而从暴露在水巾的光缆端的纵向进水；一F5（也评价从光缆端的纵向进水，们它适用于用吸水膨胀阻水材料的光缆应按详细规范中的规定，采用3个方法（F5A，F5B或F5C)之一在光缆试样上检验合格件。方法F5A试验缆芯和套之问的水迁移，而方法F5B和F5C试验全截面的水迁移：方法F5C包括一个预处埋步骤，1台限水流设备或史长的试样.模拟沿光缆长度某位置或光缆端发生的渐渐进水：F5C的3种方式可选择其市之。多层护套结构，例如铠装光缆，它们未设计成阻水结构，因此在施加密封头之前去掉外护层。
4.2试样
4.2.1方法F5A
在距离光缆试样段一端3m处环状去除25mm宽的护套和包带.把1个水密闭套管施加在暴露的缆芯1如同桥接在护套间隙」并施加1m高水头。试样的相反一端应加密封帽，以使堵往泄漏水，试样成足够长，它包括试验端长度、剥除护套的长度和足以用端帖堵住相反端的长度：通常
3.1m就足够厂，
4.2.2方法F5B
光缆试样长度不超过3m.
成把1个水密闭套智施川到试样的-端，施1m高的水头注1：如朵装光缆的铠装层不是阻水结构，可在施加密封套之前刺除光缆端头的铠装，注2：水压可能把光纤和填充复合物从填充式光缆缆芯的松套管挤出来，这种情况导致“试验无效”。国此，缆芯可能需要在出1端（例如用屏障或包上布）阳止光纤出来。由于填充松套筒具有极好的阳水能力试验重点可集中在光缆其他部分的渗水性能。有鉴于此·在人口端把填充松套管堵起来，以避免填充松套管中的光纤和填充复合物被挤出。
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4.2.3方法F5C（适用于含吸水膨胀材料的光缆不超过3m的光缆用于预没渍或插细管程序。除此之外，也可采用不超过40m的较长光缆试样。在试样一端加「水密闭封头，以便施加1m高的水头。注1：如果铠装光缆的铠装层不是阳水结构，在施帅密封套之前可剥除光缆端头的铠装注2：水床可能把光纤和阻水材料从填充式光缆缆芯的松套管挤吊来。这种情况导致为“试验无效”。国此，缆芯可能需要在出口端(例如用屏障或包上布)阳止光纤出来4.3设备
4.3.1试验装置和布局
合适的试验安排分别见图3图8。方法F5A见图3，方法F5B见图4，方法F5C见图5～图8。除非详细规范另有规定，试样应水平支撑。4.3.2水
水应是饮用水，川选择白来水、去离子水或蒸馏水可使用水溶性荧光染料或其他合适的者色剂加人水中，以协助检测水泄漏：宜仔细选择荧光染料，它不应与光缆的任何构件发生反应注：荧光剂在某种程度上会抑制吸水膨胀材料的作用，可能使试验结果有偏差如果详细规范有要求，模拟海水（或其他)的水可用于试验·这样的特殊考虑适用暴露于盐水地域的光缆。
4.3.3细管（方法F5C)
一个细管可位于水源连接管到试样的位置，以限制水流速率如果采用细管，其内径应为1.50mm一0.25mm，最人长度为30mm（见图7），4.4程序
4.4.1方法F5A和15B
成施加1m高的水头持续24h
4.4.2方法F5C
4.4.2.1预浸渍
试样一端应在水桶中预没渍100mm工10mm的长度，持续10min。预浸渍程序之后，在同一端施加水密封，施加1m高的水头，持续24 h。4.4.2.2细管
如果采用的话，细管可以设置在水头源和试样之间的连接管部位。1m高的水头施川24h
4.4.2.3较长试样
1m高的水头施加24h。
4.5要求
对丁方法F5A，F5B和F5C，作规定的试验期问内试样未密封端应检测不到水。如果使用炭光染6www.bzxz.net
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