GB/T 40067-2021.Microstructure and defect determination of tungsten carbide powder.
1范围
GB/T 40067规定了碳化钨粉末微观组织观察及缺陷分析的扫描电子显微镜检测方法。
GB/T 40067适用于粒度为0.1 um~0.5 pm碳化钨粉末的微观组织及缺陷的扫描电子显微镜检测。
2规范性引用文件
本文件没有规范性引用文件。
3术语和定义
本文件没有需要界定的术语和定义。
4原理
利用扫描电子显微镜观察制备好的碳化钨粉末形貌﹐从形貌上区分碳化钨粉末硬团聚、碳化钨粉末夹粗晶粒抑制剂聚集和杂质,通过X射线能谱仪对晶粒抑制剂和杂质进行确定。
5仪器设备
5.1扫描电子显微镜。
5.2X射线能谱仪。
5.3超声波分散器。
5.4样品台:样品台应导电,端面应光滑﹑平整、干净。
6样品
待测样品应干燥,无板结,具有代表性。
7试验步骤
7.1微观组织观察
7.1.1剪取少量碳导电胶置于样品台﹐用镊子夹持样品台蘸取碳化钨粉末样品于碳导电胶上。
7.1.2将样品压平,用洗耳球吹掉未粘牢的样品后,放入扫描电子显微镜中。
7.1.3 在低倍视场下浏览整个样品,在平整部位放大5 000×~30 000×观察样品组织形貌。
注:为观察样品表面细节,建议采用低电压近距离的工作模式。
7.2缺陷分析
7.2.1用烧杯量取适量酒精或丙酮,加入少量碳化钨粉末样品,用超声波分散器分散5 min~10 min

ICS77.160
CCS H 24
中华人民共和国国家标准
GB/T 40067—2021
碳化钨粉未微观组织及缺陷检测方法Microstructure and defect determination of tungsten carbide powder2021-05-21发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2021-12-01实施
GB/T40067—2021
本文件按照GB/T1.12020标准化上作导则」第「部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利：本文件的发布机构不承扎识别专利的责任。本文件由中国有色金属工业协会提出。本文件由全国有色金属标准化技术委员会（SAC/TC243）归口。本文件起草单位：株洲硬质介金集团有限公司广东省科学院工业分析检测中心、国合通用测试评价认证有限公司、票义章源鹤业股份有限公司、南吕硬质合金有限责任公司，南大学、江西省钨与稀土产品质量监督检验中心。
本文件主要起草人：罗海矫、谓立群、梁鸿、刘铁梅、伍超群、卢风池、张丽民、左玉婷、徐国钻、钟志强、英帅、吴爱华、凌继容、黄志锋、李亚军、余音宏：I
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1范围
碳化钨粉未微观组织及缺陷检测方法GB/T40067-—2021
本文件规定了碳化钨粉末微观组织观察及缺陷分析的扫描电子显微镜检测力法。不文件适用丁粒度为0.1um~0.5孔m碳化钨粉末的微观红织及缺陷的扫描电子显微镜检测规范性引用文件
本文件没有规范性引用文件
术语和定义
本文件没有需要界定的术语和定义，原理
利用扫描电子品微镜观察制备好的碳化钨粉木形貌，从形貌1区分碳化钨粉术硬团聚、碳化钨粉木来粗、品粒抑制剂聚集和杂质·通过文射线能谱仪对品粒抑制剂和杂质进行确定。仪器设备
5.1扫描电子显微镜
5.2X射线能谱仪。
超声波分散器，
样品台：样品台应导电，端面应光、平整、十净。样品
待测样品应十燥，无板结：具有代表性。7试验步骤
微观组织观察
剪取少量碳导电胶置丁样品台.用镊子夹持样品台蘸取碳化鸽粉末样品丁碳导电胶上7.1.1
7.1.2将样品压平，用洗耳球吹掉未粘年的样品后，放人扫描电子显微镜巾，7.1.3在低倍视场下浏览整个样品，在平整部位放大5000×～30000×观察样品组织形貌。注：为观察样品表面细节，建议采用低电乐近距离的工作模式。7.2缺陷分析
用烧杯量取适量酒精或丙酮，加入少量微化钙粉末样品，用超声波分器分橄5ininl0mir1
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GB/T40067—2021
后，立即用滴管适量分散液滴在样品台「7.2.2待酒精或丙酮挥发后，放人扫描电了微镜中。注：为避免粉末脱落，制备好的样品建议立即放人扫描电子显微镜中观察，7.2.3在放人1000×~2000×视场下浏览整个样品，观察是否存在碳化钨粉末硬团聚、碳化钨粉末夹粗、品粒抑制剂聚集和杂质缺陷。7.2.4若在低倍视场下发现粉末团聚，放大到5000×~10000×观察，如果该团聚结构致密则为碳化钨粉术破团聚，测量并记录碳化钨粉未硬团聚的数量和尺寸，参见附录A图A.2.7.2.5若在低倍视场下发现碳化钨粉末夹粗.放人到5000×~~10000×观察碳化钨粉未夹粗测量并记录碳化钨粉末夹粗的数量和尺寸，参见图A.3。注：碳化钨粉术夹和为尺寸大于5倍粉未平均粒度的单个嵌化钨颗粒，粉求的平均粒度可以是费氏粒度、激光粒度或者用比表面换算的粉未平均粒度，7.2.6若发现颜色和形态与基体碳化钨粉术有明显差异的结构，利用X射线能谱仪对所观察到的结构进行元系分析，确定共是晶粒抑制剂聚集或是杂质.参见图A.4、图A.5、图A.6和图A.7，7.2.7为确保所观测的碳化钨粉木具有代表性.建议至少浏览20个视场。8试验数据处理
微观组织
提供1张具有代表性的微观组织图片，参见图A.1.8.2缺陷
提供碳化钨粉末硬团聚的数量和尺寸。8.2.1
8.2.2提供碳化钨粉未夹粗的数量和尺寸。8.2.3提供品粒抑制剂聚集或杂质的种类9试验报告
试验报告应包括以下内容：
a）本文件编号；
鉴别样品的必要说明；
检测的视场数；
碳化钨粉末微观组织图片；
缺陷类型，寸和数量：
本文件中未规定的或任选的其他操作；任何可能影响到结果的因素
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附录A
（资料性）
碳化钨粉末微观组织及典型缺陷图片碳化钨粉末微观组织及典型缺陷图片参见图A.1~图A.7。图A.1碳化钨粉末微观组织（30000×）图 A.2碳化钨粉未硬团聚(5 000×)图A.3碳化钨粉末夹粗（10000×）rrKaeerkca-
GB/T40067—2021
GB/T 400672021
a）形貌
能谱图
图A.4晶粒抑制剂Cr:C2和VC聚集（10000×）cps/e
a）形貌
a）形貌
能谱图
晶粒抑制剂Cr;C聚集（10000×）Cps/ev
b）能谱图
杂质C（10000×）
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a）形貌
cps/ev
杂质Si（10000×）
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能谱图
GB/T 40067—2021
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