GB/T 39867-2021.Bismuth germanate scintillation crystal for positron emission tomography.
1范围
GB/T 39867规定了正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁晶体材料的产品编号、技术要求、检测方法、检验规则、标识、包装.运输和储存。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 13181-2002闪烁 体性能测量方法
GB/T 13182-2007碘化钠(铊)闪烁体和碘化钠(铊)闪烁探测器
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
全能峰 total energy peak
在X或γ辐射测量中,相当于光子在探测物质中能量全部被吸收时的能谱响应曲线的峰。
注:改写GB/T 12564- 2008 的定义3.1.20。
3.2
脉冲幅度 pulse amplitude
用一定强度的光脉冲重复照射光阴极时,阳极输出脉冲的平均幅度,一般以幅度分布曲线峰值对应的脉冲幅度表示。对输入信号为单能的X或γ辐射,为全能峰峰值对应的脉冲幅度。
[GB/T 12564-2008,定义3.3.1]
3.3
光学透过率 light transmittance
透过晶体的光通量与其人射晶体光通量的百分比。

ICS07.030
中华人民共和国国家标准
GB/T39867—2021
正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁晶体Bismuth germanate scintillation crystal for positron emission tomography2021-03-09发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2021-10-01实施
中华人民共和
国家标准
正电子发射断层扫描仪用锗酸铋闪烁品体GB/T39867
中国标泽出版社出版发行
北京市朝阳区租平单西街中2号（100029）北京市西城区二里河北街16号（100015）网.spc.org.cn
服务热线：100-168-0510
2021年3月第版
书号：155066：1-86983
版权专有
侵权必究
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本标准按照GB/T1.12009给出的规则起草。本标准由中国建筑材料联合会提出。本标准山全同人1品体标准化技术委员会（SACTC461)归口。GB/T 39867—2021
本际起草单位：中国科学院上海硅酸研究所、云南驰宏国际铭业有限公司、广东光导稀材股份有限公司、上海硅酸盐研究所中试基地、昆山金城试剂有限公司、明峰医疗系统股份有限公司、东软医疗系统股份有限公司
本标准土要起草人：袁兰英、宋佳兰、陈俊锋、倪海洪、齐雪君、赵鹏、刘光煜、杜男、李义朋、陆裕贵、孙世允、陈甫、李翔、宋晓健、辛丽丽、王东、崔丁方、朱刘、张若飞、钱华、梁国栋。-rrKaeerkAca-
-riKacerKAca-
1范围
正电子发射断层扫描仪用酸铋闪烁晶体GB/T39867—2021
本标准规定了止了发射断层扫描仪用储酸闪烁品体材料的产品编号、技术要求、检测方法、检验规则，标识、包装、运输和诺存本标准适用丁正电子发射断层扫措仪用诺酸铋（Hi（ie:O)闪烁品体材料：2规范性引用文件
下列义件对于本义件的应用是必不可少的。儿是注期的引用文件，仅注日期的版本适用于本义件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单)适用于本文件，GB/T131812CC2闪烁体性能测量方法220C7碘化钠（轮)闪烁体和碘化钠(铊)闪烁探测器GB/T 13182
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件
total energy peak
全能峰
在X或辅射测量中，相当于光子在探测物质中能量全部被吸收时的能谱响应曲线的峰，注：改写（13/T12564—2008的定义3.1.20。3.2
脉冲幅度
pulseamplitude
用定强度的光脉冲重复照射光阴极时，阳极输出脉冲的平均幅度，般以幅度分布曲线峰位对应的脉冲幅度表示。对输人信号为单能的X或辐射，为全能峰峰值对应的脉冲幅度。_GB/T12564—2008,定义3.3.1
光学透过率
light transmittance
透过品体的光通量与其入射品体光追量的百分比。3.4
相对光输出relative light output相同测量条件下.被测闪烁休输出的脉冲幅度与闪炼休参比样品输出的脉冲幅度的比值。3.5
能量分辨率
energy resolution
对于某给定的能量.能分辨的两个粒子能量之间的最小相对差值的量度注1：在一般应用中，能分缺率用谱仪测得的单能粒于能左分布曲线的峰的半高宽与峰位所对应的能量之比，当能虽用脉汁隔度表示时,其比值为脉冲幅度分辨率：注2：改马6B/1131822037的定义3.1.16。3.6
辐照损伤
radiation damage
闪烁品体被电离辐射(X或？别线)辐照前后光输出的下降程度，1
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GB/T39867—2021
4产品编号
由销酸铋晶体(BG0)设备编号、制备年份、制备炉次及序号组成，见图1BGO
口-口-
剖备铲次
制备年分
设备编号
销酸必品体（BGO
图1锗酸铋闪烁晶体的产品编号
示例：BG:OC05-±8G3-98表示采用号为C05的设备于2G18年制备的第03灿次中序号为08的BGO晶体5技术要求
外观质量
品休无色透明；无肉眼可见裂纹、品界和散射颗粒，5.2光学透过率此内容来自标准下载网
样品的光学透过率应大于75%（480nm处），3光学透过率不均匀性
品休的光学透过率不均匀性应小」3光（48c nm处）。5.4
相对光输出
样品的相对光输出应大于85%（辐射源为13Cs源）。能量分辨率
样品的能量分辨率应小于10.5（轴射源为3Cs源）6辐照损伤
样品的辐照损伤应小」10%（辐射源为13（源）。5.7光输出不均匀性
品体的光输出不均匀性应小于5%（辐射源为Cs源）6检验方法
6.1外观质量
采用日测法对晶体的额色，裂纹和晶界等外观质量进行检验；在功率为50m、波长为532nm的2
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激光照射下日测检查晶体内部的散射颗粒。光学透过率
接照附录A的规定进行检测。
光学透过率不均勾性
按照附录A的规定进行检测。
6.4相对光输出
GB/T39867—2021
按照GB/T13181一2002中5.1的规定进行测量，其巾的标准样品采用相同规格的13G0闪炼品体作为参比样品.制作方法按照附录B中的储酸铋闪烁品体参比样品规定的方法进行6.5
能量分辨率
按照GB/T13181—2002中第7章的方法检测辐照损伤
接照附录（的规定进行检测.
光输出不均匀性
按照附录D的见定进行检测。
检验规则
检验分类
本标准规定的检验分类如下
型式检验；
b）出厂检验。
型式检验
检验时机
凡有下列情况之一时,应迟行型式检验：a)
新产品或老产品转厂生产的鉴定；原料、工艺、设备和产品结构有重大变动，可能导致产品性能变化时；b)
单灿停产12个月以上恢复牛产时，；c
批量生产时，每隔24个月进行一次；d)
出厂检验结果与上饮型式检验结果有较大差异时；e
使用方和供应方协商确定有必要时：7.2.2抽样
在外观质量检验合格的产品中，每台晶体生长炉随机抽取1根，按照附录B的B.1参比样品的相规格加工成检测样品，避光存放。3
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GB/T39867—2021
检验项目
型式捡验和出厂检验的项具及序按表1规定表1检验项目
检验项目
外观质量
光学透过率
光学透过不均习性
相对光输出
能量分辨率
辐照损伤
光输出不均句性
型式检验
出！检验
要求的辛条号
注：“”表示必检项口，“\表示根据需要可选择检验的项甘，\一\表示不检验项日7.2.4合格判定
检验方法的章条号
若检测样品通过表1的型式检验项目，则型式检验合格：若其中一项或一项以上不合格，则型式检验不合格。
7.3出厂检验
7.3.1检验项目分组
山厂检验分A组和B组两组.详见表1，7.3.2A组检验
A组检验项日一律全检，符合5.1的要求，不合格品剔除，7.3.3B组检验
7.3.3.1抽检要求
B组检验是在A组检验的基础上实施抽检或者根据客广的要求进行抽检，7.3.3.2组批
在外观质量检验合格的晶体中同时段，采用同原料来源、同-生产线、相同工艺连续生产的晶体，以100根品体为一批,不足190根时仍可作为一批。7.3.3.3抽样
从每批品体中，随机灿联1根，按照B.1参比样品的相同规格加工成检测样品，避光存放。7.3.3.4合格判定
检测样品的性能指标应符合表1的规定，若有一项指标不合格，则应进行加倍抽样：若仍有一项或一项以上指标末符合规定委求，则判定该批产品不合格，-rrKaeerkAca-
8标识、包装、运输和储存
8.1标识
在产品上应该有明确标识.合格的产品应有铭牌标识包装
GB/T39867—2021
包装应采用不损伤产品的包装方式，表面应无破损，包装结构牢固无变形；并有防震、防碎、防潮措施。发货运输时.应有外包装箱。有特殊包装要求的.应接使用方和供应方之间的协议规定：3运输
产品在运输过程中应小心轻放.禁止挤压利碰撞储存
产品应储存在避光、常温、干燥的房间内5
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GB/T39867—2021
A.1检测原理
附录A
（规范性附录）
光学透过率，光学透过率不均匀性的检测方法根据物质在特定波长处或定波长范围吸收光谱的特性及朗值-比尔定律光的吸收度，对物质进行定性或定量分析。
透过率是透过品休的光道量与其人射品休光通量的而分比，用T来表示光学透过率不均匀性是沿品体的某个方向，不向位置处的光学透过率的差只，用TN来表示，表达式划式（A.1)所示：
式中：
_Tm-T×100%
..+*....(A.1)
在相同测量条件下的同次测量中，同一晶体上所有取样位置处的光学透过率最人值；在相同测量条件下的同次测量中.同一品体上所有取样位置处的光学透过率最小值；在相同测量条件下的同次测量中.同一品体上所有取样位置处的光学透过率算术平均值。A,2检测设备
紫外分光光度计（20cnm~1000mm）。A,3检测条件
测试室应具适当的避光条件，室内温度为25C二5。A.4
样品准备
A.4.1光学透过率
按照B.1参比样品的相同规格加工检测样品。A.4.2光学透过率不均匀性
检测样品准备主要步骤组下：
在外观质量检验合格的产品上，晶体的两端和间载取人于40mm>40mm×30mm的晶a)
块，依次编号(例如.S..S..S..S,).样品数量不少于3只；b）按B.1中参比样品的要求加工成检测样品，待测A.5
检测步骤
主要步骤如下：
a）接通电源，打开仪器开关，预热10min:-rrKaeerkAca-
将测量模式设为测定光学透过率，且根据需要设定波长测量范围；h)
调整光路以确保光全部进人积分球内；白动调零后，在设定的波长范围内进行扫描；用分析纯乙.醇和无纺布将加工好的样品表面擦拭干净：GB/T39867—2021
打开伴品室，放人待测样品，以其40mmX40mm而垂直对准光路：美闭样品室后开始测量：读取测得的样品的光学透过率T；更换下二个样品，重复A.5f)、g)中的方法，检测并记录所右样品480nm处的光学透过率T，记为T。
参数计算
计算过程如下：
从Ti.T..T..T,中找到最大值T
从T........T.中找到最小值T...h)
按照式(A.2)计算T,的算术平均值Te：d
将最大值Tx、最小值T..和算术平均值T.带入到式（A.1)中.计算其光学透过率不均匀）性TNU.
式中：
T，第1个检测样品在480nm处的光学透过率；检测样品的数虽。
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......
.....(A..2)
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参比样品的制作
附录B
（规范性附录）
锗酸铋闪烁晶体参比样品
从批锗酸秘闪烁晶体中，据选出外观质量合格的晶体，按以下步骤制作加工参比样品：在外观质量检验合格的产品上截取大于26mmx40mm×30mm的品块；a
将晶块置下烘箱中退火（2h从室温几至2c0℃5℃，保温4h后自然降至室温）取出后.将每只品块的两个40mm×40mm的面抛光，其余面磨秒，抛光面的粗糙度Rac
0.c5um，加工成40mm×4cmm×3cmm的样品.寸公差为二0.c4mm；退火后的样品应避光加工和存放，避免紫外光和其他高能粒了的照射。d)
参比样品的选择
参比样品应满足表B.1中的性能指标。表B.1
酸铋闪烁晶体参比样品的性能指标项
闪炼件能
内部质查
表面质盘
群品尺寸
表面加工
拖光面枉糙度
发光峰位
光学避过率
光输出
能至分辨率
无晶界和敖射颠粒
性能指标
无色、无肉眼可见划痕、崩几、裂纹40mm%40mm%30mm.尺寸公差为一0.32mm两个22mm×23mm而熟光，其他面磨修Ra.0.05pm
480am±3nm
480m波长处应大于%（光程为3cmm)9 912 pl./MeV=129 ph./MeV
应小于10%（铅射源为Cs源）
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