SN/T 2003. 7-2011.Screening method of lead , mercury，cadmium , chromium and bromine in electrical and electronic equipments-Part 7:Laser induced breakdown spectroscopy.
1范围
SN/T 2003. 7规定了电子电气产品中铅、汞、镉，铬.溴的激光诱导击穿光谱定性筛选方法。
SN/T 2003. 7适用于电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的定性筛选。
2方法提要
样品经制备后在各元素的定性筛选条件下用激光诱导击穿光谱仪进行测定,对收集到的图谱进行分析,根据元素特征谱峰确定待测元素是否存在。
3术语
下列术语和定义适用于本文件。
3.1激光诱导击穿光谱法Laser-induced breakdown spectrometry;LIBs
使用瞬间高能激光轰击物品,使被轰击到的物品产生等离子并发射出连续光谱和该物品的特征光谱，根据所激发的特征光谱进行物质的成分分析的方法。
4仪器
4.1 激光诱导击穿光谱仪，光谱仪的工作条件及参数见附录A.
4.2切割机。
4.3冷冻研磨 机。
4.4研磨机。
4.5压片机,压力不小于 20t。
4.6 熔样机。
5试剂和材 料
高纯氦气:纯度大于99. 99%。

中华人民共和国出入境检验检疫行业标准SN/T2003.7—2011
电子电气产品中铅、汞、镐、铬、溴的测定第7部分：激光诱导定性筛选法
Sereening method of lead,mercury,cadmium,chromiumand bromine in electrical and electronic equipmentsPart7:Laser induced breakdown spectroscopy2011-09-09发布
数码防份
中华人民共和国
国家质量监督检验检疫总局
2012-04-01实施
SN/T2003系列标准共分为7部分：前言
SN/T2003.7—2011
电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定第1部分：X射线荧光光谱定性筛选法电子电气产品中多漠联苯和多漠二苯醚的测定电子电气产品中铅，汞镭、铬和溴的测定电子电气产品中铅汞、、锅和溴的测定电子电气产品中，汞、铬，辐和漠的测定第2部分：红外光谱定性筛选法
第3部分：X射线荧光光谱定量筛选法第4部分：能量色散X射线荧光光谱定性筛选法第5部分·能量色散X射线荧光光谱定量筛选法电子电气产品中铅、汞、锯，的定性筛选方法第6部分：火花源发射光谱法电子电气产品中铅、汞、、铬、溴的测定第7部分：激光诱导定性筛选法本部分为SN/T2003系列标准的第7部分。本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本部分由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。本部分起草单位：中华人民共和国深圳出人境检验检疫局。本部分主要起草人：吴景武、刘冬、刘志红、刘丽、李彬、余淑媛、张珠福、冯均利、宋保靓、陈桂强、徐维嘉。
本部分系首次发布的出人境检验检疫行业标准。电子电气产品中铅、汞、镐、铬、溴的测定第7部分：激光诱导定性筛选法
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警告一一激光诱导击穿光谱（LIBS）使用了高强度的激光，该激光在击穿样品时会产生高亮度的等离子，因此使用过程中必须遵守仪器生产商所申明的操作要求。1范围
SN/T2003的本部分规定了电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的激光诱导击穿光谱定性筛选方法。本部分适用于电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的定性筛选。2方法提要
样品经制备后在各元素的定性筛选条件下用激光诱导击穿光谱仪进行测定，对收集到的图谱进行分析，根据元素特征谱峰确定待测元素是否存在。3术语
下列术语和定义适用于本文件。3.1
激光诱导击穿光谱法
Laser-induced breakdown spectrometry;LIBs使用瞬间高能激光轰击物品，使被轰击到的物品产生等离子并发射出连续光谐和该物品的特征光谱，根据所激发的特征光谱进行物质的成分分析的方法。4仪器
激光透导击穿光谱仪，光谱仪的工作条件及参数见附录A4.2切割机。
4.3冷冻研磨机。
4.4研磨机
4.5压片机，压力不小于20t。
4.6熔样机。
5试剂和材料
高纯氮气：纯度大于99.99%。
6测试步骤
样品制备
均质样品的制备
将待测产品拆分至均质的样品，如聚合物类、金属材料类基本上都是均匀同质性样品，尺寸符合1
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LIBs要求可以直接进行微损检测。若样品尺寸过大，通过机械加工［切割机（4.2）切割.研磨机（4.4）或冷冻研磨机（4.3）粉碎后压片机（4.5）压片，熔样机（4.6）熔融铸片等制成符合LIBs要求的样品。若样品尺寸过小，为防止样品被激光激飞，轻质样品可将其研磨至200目以上的粉末样，再用压片机（4.5）压片：重质样品置于样品杯中进行测试。6.1.2非均质样品的制备
若样品尺寸过大，通过机械方法将待测样品拆分为均质材料，按均质材料要求进行测试。若样品太小或无法被机械拆分为均质材料的样品只能作为非均质材料的样品，需通过研磨机（4.4）或冷冻研磨机（4.3）粉碎后压片机（4.5）压片或熔样机（4.6）熔融铸片等方法制成均质样品。注：由于各仪器厂商对样品的大心6.2测试
将6.1中所制备的样品放人
6.3测试次数
每一样品至少测试5～7次。
仪器检出限
不同基体材料仪器的检出限
聚合物
结果判定
样品测试中有1次或1次以上出现铅、铬和溴
提供的参考手册，
单位为mg/kgwwW.bzxz.Net
或多个元素的特征谱峰，可判定样品中含有对应的元素：若样品所有测试次数中均未出现铅，汞、锅、铬和溴的特征谱峰，可判定样品中对应的元素含量低于表1中仪器的检出限。附录A
（资料性附录）
仪器工作条件
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激光器最大脉冲能量250mJ.重复频率10Hz.分光系统覆盖波长范围：200nm~900nm。选择表A.1所列谱线作为目标元素的筛选谱线。为了避免在激光轰击的过程中空气中的元素对测试样品造成化学污染和对检测结果的干扰，检测过程在氨气（5）环境中进行，氢气流速1.0L/min。表A.1推荐分析谱线
测量元素
第一分析谐线
643.847mm
520.602mm
546.073nm
次分析谱线
228.802nm
520.451nm,520.842nm
SN/T 2003.7-2011
中华人民共和国出人境检验检疫行业标准
电子电气产品中铅、汞、镐、铬、溴的测定第7部分：激光诱导定性筛选法
SN/T2003.7-2011
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中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷开本880×12301/16印张0.5字数6千字2012年3月第一版 2012年3月第一次印刷印数1-1600
书号：155066-2-23156定价14.00元UG
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