SN/T 2003.4-2006
基本信息
标准号： SN/T 2003.4-2006
中文名称：电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定第4部分:能量色散X射线荧光光谱定性筛选法
标准类别：商检行业标准(SN)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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相关标签： 电子 电气 产品 测定 能量色散 射线 荧光 光谱 定性 筛选
标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
SN/T 2003.4-2006.Determination of lead, mercury , chromium , cadmium and bromine in electrical and electronic equipment-Part 4:Qualitative screening by energy dispersive X-ray fluorescence spectrometric method.
1范围
SN/T 2003.4规定了用能量色散X射线荧光光谱法定性筛选电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定方法。
SN/T 2003.4适用于电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的定性筛选。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过SN/T2003的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T 16597冶金产品分析方法 X 射线荧光光谱法通则
3方法提要
由x光管发射的原级x射线人射到样品上,样品元素受激发射出荧光X射线,并与原级X射线的散射线一起进入探测器进行光电转换,探测器的输出脉冲经放大器幅度放大和脉冲高度分析器的幅度甄别后,输出结果。
4试剂和材料
4.1 氧化铬、氧化镉、氧化铅、氧化汞和溴化钾:分析纯。
4.2氦气:纯度>99. 9%。
5仪器
5.1能量色散型 x射线荧光光谱仪:符合GB/T 16597的规定,其中检测限应满足表1规定的要求。
5.2 切割机。
5.3液氮冷冻粉碎机。
5.4研磨机。
5.5 压片机:压力不小于20 t。
1范围
SN/T 2003.4规定了用能量色散X射线荧光光谱法定性筛选电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定方法。
SN/T 2003.4适用于电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的定性筛选。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过SN/T2003的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T 16597冶金产品分析方法 X 射线荧光光谱法通则
3方法提要
由x光管发射的原级x射线人射到样品上,样品元素受激发射出荧光X射线,并与原级X射线的散射线一起进入探测器进行光电转换,探测器的输出脉冲经放大器幅度放大和脉冲高度分析器的幅度甄别后,输出结果。
4试剂和材料
4.1 氧化铬、氧化镉、氧化铅、氧化汞和溴化钾:分析纯。
4.2氦气:纯度>99. 9%。
5仪器
5.1能量色散型 x射线荧光光谱仪:符合GB/T 16597的规定,其中检测限应满足表1规定的要求。
5.2 切割机。
5.3液氮冷冻粉碎机。
5.4研磨机。
5.5 压片机:压力不小于20 t。
标准图片预览
标准内容
中华人民共和国出入境检验检疫行业标准SN/T2003.4--2006
200/1403
电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定第4部分：能量色散X射线荧光光谱定性筛选法
Determination of lead, mercury,chromium,cadmium and bromine inelectrical and electronic equipment-Part 4:Qualitative screening by energy dispersive X-rayfluorescence spectrometric method2006-11-10发布下载标准就来标准下载网
中华人民共和国
国家质量监督检验检疫总局
数码防伪
2007-05-16实施
本部分为SN/T2003的第4部分。
本部分的附录A为资料性附录。
本部分由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。SN/T2003.4—2006
本部分起草单位：中华人民共和国浙江出人境检验检疫局、中华人民共和国上海出人境检验检疫局。
本部分主要起草人：朱晓雨、周敏、阮毅、卫碧文、袁晶、缪俊文。本部分系首次发布的出人境检验检疫行业标准。1范围
电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定第4部分：能量色散X射线荧光光谱定性筛选法
SN/T2003.4—2006
本部分规定了用能量色散X射线荧光光谱法定性筛选电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定方法。
本部分适用于电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的定性筛选。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过SN/T2003的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T16597冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则3方法提要
由X光管发射的原级X射线入射到样品上，样品元素受激发射出荧光X射线，并与原级X射线的散射线一起进人探测器进行光电转换，探测器的输出脉冲经放大器幅度放大和脉冲高度分析器的幅度甄别后，输出结果。
4试剂和材料
4.1氧化铬、氧化镉、氧化铅、氧化汞和溴化钾：分析纯。4.2氨气：纯度>99.9%。
5仪器
5.1能量色散型X射线荧光光谱仪：符合GB/T16597的规定，其中检测限应满足表1规定的要求。表1不同基体材料铅、汞、铬、镉和溴对仪器检出限的要求元素
5.2切割机。
5.3液氮冷冻粉碎机。
研磨机。
5.5压片机：压力不小于20t。
聚合物材料
金属制品
单位为毫克每千克
电子元件
SN/T2003.4—2006
6”试样的制备
6.1均质样品的制备
对于均质样品，如电子电气产品塑料外壳和金属制品等，可直接测定。样品经切割机切割，制成大小适合放置于样品杯中：如样品较小，可集中多个样品直接置于样品杯中进行测定。液体试样要加在一特定的以塑料薄膜为底的塑料杯里，高度大于5mm，塑料杯上要有塑料盖盖住，检测时需要用氨气保护。
6.2非均质样品制备
电子元件、集成线路板和其他一些小块样品一般都不能直接进行测定，样品经冷冻粉碎机粉碎成小于1.0mm的颗粒，混勾，再取一定代表性样品经压片机在一定压力下制成压片试样，并做好标记；对于无法压片的样品，也可直接置于样品杯中进行测定。测量步骤
7.1测量次数
同一样品至少做两份平行测定，测定结果按照GB/T-16597进行处理。7.2测量条件
电子电气产品中铅、汞、铬，镉和溴的能量色散X射线荧光光谱仪的测量条件参见附录A。7.3测量
按照仪器的操作规程开启仪器，并按照仪器厂商的规定预热仪器直至仪器稳定后，用X射线荧光光谱仪器自带系列标准样品或校正样品对仪器做校正，然后进行仪器测量8
结果处理
如果测量结果高于仪器的检测限，则需要对该样品采用其他方法进行进一步分析，反之则无需进一步分析。
附录A
（资料性附录）
能量色散×射线荧光光谱仪测量参考条件SN/T2003.4—2006
电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的能量色散X荧光光谱仪测量参考条件参见表A.1。表A.1
分析线
能量色散X射线荧光光谱仪测量参考条件激发能
电压/电流
50/Auto
50/Auto
50/Auto
50/Auto
60/Auto
检测器
滤光片
2003.4-2006
中华人民共和国出人境检验检疫行业标准
电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定第4部分：能量色散X射线荧光光谱定性筛选法
SN/T2003.4-2006
中国标准出版社出版
北京复兴门外三里河北街16号
邮政编码：100045
网址spc.net.cn
电话：6852394668517548
中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷开本880×12301/16印张0.5字数6千字2007年3月第一版2007年3月第一次印刷印数1—2000
书号：155066：2-17478
定价6.00元
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200/1403
电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定第4部分：能量色散X射线荧光光谱定性筛选法
Determination of lead, mercury,chromium,cadmium and bromine inelectrical and electronic equipment-Part 4:Qualitative screening by energy dispersive X-rayfluorescence spectrometric method2006-11-10发布下载标准就来标准下载网
中华人民共和国
国家质量监督检验检疫总局
数码防伪
2007-05-16实施
本部分为SN/T2003的第4部分。
本部分的附录A为资料性附录。
本部分由国家认证认可监督管理委员会提出并归口。SN/T2003.4—2006
本部分起草单位：中华人民共和国浙江出人境检验检疫局、中华人民共和国上海出人境检验检疫局。
本部分主要起草人：朱晓雨、周敏、阮毅、卫碧文、袁晶、缪俊文。本部分系首次发布的出人境检验检疫行业标准。1范围
电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定第4部分：能量色散X射线荧光光谱定性筛选法
SN/T2003.4—2006
本部分规定了用能量色散X射线荧光光谱法定性筛选电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定方法。
本部分适用于电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的定性筛选。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过SN/T2003的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
GB/T16597冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则3方法提要
由X光管发射的原级X射线入射到样品上，样品元素受激发射出荧光X射线，并与原级X射线的散射线一起进人探测器进行光电转换，探测器的输出脉冲经放大器幅度放大和脉冲高度分析器的幅度甄别后，输出结果。
4试剂和材料
4.1氧化铬、氧化镉、氧化铅、氧化汞和溴化钾：分析纯。4.2氨气：纯度>99.9%。
5仪器
5.1能量色散型X射线荧光光谱仪：符合GB/T16597的规定，其中检测限应满足表1规定的要求。表1不同基体材料铅、汞、铬、镉和溴对仪器检出限的要求元素
5.2切割机。
5.3液氮冷冻粉碎机。
研磨机。
5.5压片机：压力不小于20t。
聚合物材料
金属制品
单位为毫克每千克
电子元件
SN/T2003.4—2006
6”试样的制备
6.1均质样品的制备
对于均质样品，如电子电气产品塑料外壳和金属制品等，可直接测定。样品经切割机切割，制成大小适合放置于样品杯中：如样品较小，可集中多个样品直接置于样品杯中进行测定。液体试样要加在一特定的以塑料薄膜为底的塑料杯里，高度大于5mm，塑料杯上要有塑料盖盖住，检测时需要用氨气保护。
6.2非均质样品制备
电子元件、集成线路板和其他一些小块样品一般都不能直接进行测定，样品经冷冻粉碎机粉碎成小于1.0mm的颗粒，混勾，再取一定代表性样品经压片机在一定压力下制成压片试样，并做好标记；对于无法压片的样品，也可直接置于样品杯中进行测定。测量步骤
7.1测量次数
同一样品至少做两份平行测定，测定结果按照GB/T-16597进行处理。7.2测量条件
电子电气产品中铅、汞、铬，镉和溴的能量色散X射线荧光光谱仪的测量条件参见附录A。7.3测量
按照仪器的操作规程开启仪器，并按照仪器厂商的规定预热仪器直至仪器稳定后，用X射线荧光光谱仪器自带系列标准样品或校正样品对仪器做校正，然后进行仪器测量8
结果处理
如果测量结果高于仪器的检测限，则需要对该样品采用其他方法进行进一步分析，反之则无需进一步分析。
附录A
（资料性附录）
能量色散×射线荧光光谱仪测量参考条件SN/T2003.4—2006
电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的能量色散X荧光光谱仪测量参考条件参见表A.1。表A.1
分析线
能量色散X射线荧光光谱仪测量参考条件激发能
电压/电流
50/Auto
50/Auto
50/Auto
50/Auto
60/Auto
检测器
滤光片
2003.4-2006
中华人民共和国出人境检验检疫行业标准
电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定第4部分：能量色散X射线荧光光谱定性筛选法
SN/T2003.4-2006
中国标准出版社出版
北京复兴门外三里河北街16号
邮政编码：100045
网址spc.net.cn
电话：6852394668517548
中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷开本880×12301/16印张0.5字数6千字2007年3月第一版2007年3月第一次印刷印数1—2000
书号：155066：2-17478
定价6.00元
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。