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YD/T 2760-2014

基本信息

标准号: YD/T 2760-2014

中文名称:千兆以太网铜缆小型化可插拔收发模块技术条件

标准类别:通信行业标准(YD)

标准状态:现行

出版语种:简体中文

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相关标签: 千兆 以太网 小型化 插拔 收发 模块 技术

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标准简介

YD/T 2760-2014.Technical specification for copper cable small form factor pluggable transceiver used in Gigabit Ethernet.
1范围
YD/T 2760规定了千兆以太网铜缆小型化可插拔收发模块的缩略语、术语和定义、技术要求、测试方法、可靠性试验、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等要求。
YD/T 2760适用于千兆以太网铜缆小型化可插拔收发模块(以下简称千兆铜缆收发模块)。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改本)适用本文件。
GB/T 2828.1-2003计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索逐批检验抽样计划
GB 9254-2008信息技术 设备的无线电骚扰限值和测量方法
GB/T 17626.3-2006电磁兼容试验和测量技术第3 部分:射频电磁场辐射抗扰度试验
SJ/T 11363-2006电 子信息产品中有毒有害物质的限量要求
SJ/T 11364-2006电 子信息产品污染控制标识要求
SJT 11365-2006电子信息产品中有毒有害物质的检测方法
IEC 61000-4-2: 2008电磁兼 容第4-2部分:试验和测量技术-静电放电抗扰度试验(Electromagnetic compatibility (EMC) -Part 4-2: Testing and measurement techniques-Electrostatic discharge immunity test)
IEEE 802.3-2008 采用冲突检测 存取方法的载波检测多址(CSMA/CD)及物理层规范(Carrier Sense Multiple Access with Collision Detection (CSMA/CD) access method and Physical Layer specifications)

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标准内容

ICS33.180.01
中华人民共和国通信行业标准
YD/T2760-2014
千兆以太网铜缆小型化可插拨收发模块技术条件
Technical specificationforcoppercablesmall formfactorpluggabletransceiverused in Gigabit Ethernet2014-10-14发布
2014-10-14实施
中华人民共和国工业和信息化部发布前言
1范围·
2规范性引用文件
3缩略语、术语和定义,
3.1缩略语
3.2术语和定义
4技术要求·
4.1传输线
4.2接口电气特性·
4.3工作条件
4.4外壳外形尺寸:
4.5引脚定义
4.6A0h地址内容
4.7环保符合性
5测试方法
5.1测试环境要求
5.2接收端输出差分幅度、误码率和眼图测试方法5.3抖动测试·
6可靠性试验
测试环境要求
6.2可靠性试验要求
6.3不合格判据
电磁兼容
7检验规则·
检验分类
7.2出厂检验·
7.3型式检验
8标志、包装、运输和贮存
8.1标志·
8.3运输
8.4贮存
附录A(资料性附录)
传输线
YD/T2760-2014
YD/T2760-2014
附录B(规范性附录)外壳外形尺寸附录C(规范性附录)引脚定义·A07地址内容
附录D(规范性附录)
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。YD/T2760-2014
本标准在编制过程中主要参考IEEE802.3-2008《采用冲突检测存取方法的载波检测多址(CSMA/CD)及物理层规范》和INF-8074i《小型化可插拔收发模块规范》。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任本标准由中国通信标准化协会提出并归口。本标准起草单位:武汉邮电科学研究院、深圳新飞通光电子技术有限公司、中兴通讯股份有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司。本标准主要起草人:张春艳、龚雪、宋梦洋、徐红春、陈悦、武成宾、刘王来。1范围
YD/T2760-2014
干兆以太网铜缆小型化可插拨收发模块技术条件本标准规定了干兆以太网铜缆小型化可插拔收发模块的缩略语、术语和定义、技术要求、测试方法、可靠性试验、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等要求。本标准适用于干兆以太网铜缆小型化可插拔收发模块(以下简称千兆铜缆收发模块)。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改本)适用本文件。GB/T2828.1-2003计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限(AOL)检索逐批检验抽样计划GB9254-2008信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法GB/T17626.3-2006电磁兼容试验和测量技术第3部分:射频电磁场辐射抗扰度试验SJ/T11363-2006电子信息产品中有毒有害物质的限量要求SJ/T11364-2006电子信息产品污染控制标识要求SJ/T11365-2006电子信息产品中有毒有害物质的检测方法IEC61000-4-2:2008电磁兼容第4-2部分:试验和测量技术-静电放电抗扰度试验(Electromagneticcompatibility (EMC) -Part 4-2: Testing and measurement techniques -Electrostatic discharge immunity test)IEEE802.3-2008采用冲突检测存取方法的载波检测多址(CSMA/CD)及物理层规范(CarrierSenseMultiple Access withCollision Detection (CSMA/CD) access method and Physical Layer specifications)TelcordiaGR-468-CORE:2004用于通信设备的光电器件通用可靠性保证要求(Genericreliabilityassurancerequirements foroptoelectronic devices used in telecommunications equipment)MIL-STD-202G电子和电气元件试验方法标准(Testmethodstandardelectronicandelectricalcomponent parts)
MIL-STD-883H微电子器件试验方法标准(Testmethodsstandardmicrocircuits)INF-8074i:2001小型化可插拔收发模块规范(SpecificationforSmallFormfactorPluggableTransceiver)
UL758-2010设备用电线材料标准(Standard forappliancewiringmaterial)3缩略语、术语和定义
3.1缩略语
下列缩略语适用于本文件。
ActiveCopperCable
AcceptanceQualityLimit
American Wire Gauge
Electro Static Discharge
Two Wire Serial
有源铜缆
接收质量限
美国电缆标准
静电放电
两线串行
YD/T2760-2014
Loss Of Signal
lowVoltagePositive-referencedEmitterCoupledLogicLVPECL
Low Voltage Transistor Transistor LogicOrganizationally Unique IdentifierPassiveCopperCable
Pseudo Random Binary SequenceReceive Data
Small Form Factor Pluggable
Transmit Data
Test Point
Unit Interval
3.2术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。3.2.1
千兆铜缆收发模块CopperCableSFPUsed inGigabitEthernet信号丢失
低电压正发射极耦合逻辑
低压晶体管一晶体管逻辑
组织唯一标识符
无源铜缆
伪随机码序列
接收数据
小型化可热插拔
发送数据
测试点
单元间隔
两端为SFP封装接口中间为屏蔽铜缆的千兆收发模块。包括有源于兆铜缆收发模块和无源千兆铜缆收发模块,其中有源干兆铜缆收发模块也称为有源铜缆ACC,无源千兆铜缆收发模块也称为无源铜缆PCC。
传输距离TransmissionDistance千兆铜缆收发模块两端外壳最远端之间的距离。4技术要求
4.1传输线
千兆铜缆收发模块传输距离不超过25m。标称传输距离有1m~3m、5m、7m、10m、15m、20m和25m所用传输线为两对线芯的屏蔽铜缆。屏蔽铜缆建议采用满足UL758-2010的规格:24AWG、26AWG、28AWG、30AWG。传输线规范参见附录A。4.2接口电气特性
千兆铜缆收发模块的电路原理见图1。屏蔽金属层需要连接到模块金属外壳。TD
(注:只显示了一个方向)
图1千兆铜缆收发模块电路原理
发送端的输入要求
a)发送端输入TP1点电气参数见表1。表1
发送端输入电气参数
电平类型
数据速率
时钟精度
标称信号速率
差分幅度
上升/下降时间”
总抖动
20%~80%相对于逻辑1和逻辑0
最小值
规范值
最大值
LVPECL
b)发送端输入TP1点眼图应符合图2和表2的要求。1000mV
-550mV
1000mV
1-X1-X1
图2眼图模板
表2眼图模板参数
4.2.2接收端电气特性
a)接收端TP2点电气参数见表3。参数
最小值
输出差分幅度
误码率
总抖动
测试速率是1250MBd,测试码型PRBS2°-1表3接收端电气参数
规范值
b)接收端TP2点眼图模板应符合图3的要求x2
最大值
YD/T2760-2014
Mbit/s
YD/T2760-2014
4.3工作条件
4.3.1极限工作条件
极限工作条件见表4。
参数名称
贮存温度
相对湿度
供电电压
模块功耗*
指单一端的模块功耗
4.3.2推荐工作条件
推荐工作条件见表5。
参数名称
工作温度
供电电压
外壳外形尺寸
1000mV
-1000mV
图3眼图模板
表4极限工作条件
最小值
表5推荐工作条件
最小值
千兆铜缆收发模块外壳外形尺寸应符合附录B要求。4.5引脚定义
千兆铜缆收发模块引脚定义应符合附录C要求。4.6A0h地址内容
千兆铜缆收发模块AOh地址内容应符合附录D要求。4.7环保符合性
最大值
最大值
千兆铜缆收发模块的组成单元应符合SJ/T11363-2006中表1的分类要求,有毒有害物质的限量应符合SJ/T11363-2006中表2要求,并依照SJ/T11365-2006的规定进行检测。4
5测试方法
5.1测试环境要求
千兆铜缆收发模块的性能测试应在下列环境条件下进行:温度:15℃~35℃;
—相对湿度:45%~75%:
—大气压力:86kPa-106kPa:
测试过程中采取静电放电防护措施。5.2接收端输出差分幅度、误码率和眼图测试方法a)测试配置
千兆铜缆收发模块输出差分幅度、误码率和眼图测试配置如图4所示。误
电口示波器免费标准bzxz.net
测试板1
测试板2
被测干兆铜缆收发模块
图4输出差分幅度、误码率和眼图测试配置框图b)测试步骤
1)如图4连接好测试配置:
YD/T2760-2014
2)开启电源,配置误码仪速率为1.25Gbit/s,配置码型发生器的码型为7阶PRBS非归零码,调整好电口示波器的配置:
3)调出示波器幅度测试功能,调出眼图模板,记录输出幅度,保存眼图。4)调出误码仪误码率测试功能,测试时间要求大于800s,记录测试结果。5)A与B端互换位置测试另一端的输出差分幅度、误码率和眼图,测试步骤同上述3)和4)。5.3抖动测试
按照IEEE802.3-2008的38.6.8节要求进行。6可靠性试验
6.1测试环境要求
测试环境要求同5.1。
6.2可靠性试验要求
可靠性试验要求见表6。
YD/T2760-2014
试验项目
机械冲击
完整性
变频振动
高温贮存
低温贮存
引用标准
MIL-STD-883H
方法2002.4
MIL-STD-883H
方法2007.3
表6可靠性试验要求
试验条件
加速度500g,脉冲持续时间1.0mms,5次/轴向试验条件A频率:20Hz~2000Hz,加速度:20g,扫频速率:4min/循环,循环次数:4循环/轴向,方向X、Y、Z
Telcordia GR-468-CORET=85℃t=2000h(2004)3.3.2.1
Telcordia GR-468-CORETstg=-40C T=72h(2004)3.3.2.1
MIL-STD-883H
温度循环
方法1010.8
恒定湿热MIL-STD-202G
方法103B
高温寿命
循环温度一40℃~+85℃,高温、低温转换时间≤1min,高低温持续时间为15min,循环次数:500次温度85℃,相对湿度85%,=500hTelcordiaGR-468-CORETop=70C,正常工作条件,t-2000h(2004)3.3.3.1
ESD阀值MIL-STD-883H
方法3015.8
ESD抗扰度IEC61000-4-2:2008
批充许不合格品率。
SS最少样品数。
C-允许失效数。
人体放电模型
等级4,空气放电:±15kV,10次放电:接触放电:±8kV,10次放电
抽样方案
注意在ESD极限测试中,所有样品须测试到其失效为止。“O”(失效数)表示测试ESD极限值小于最小容许值的器件数6.3不合格判据
6.3.1各项试验不合格判据(ESD抗扰度试验除外)试验完成后,手兆铜缆收发模块出现下列任意一种情况即判定为不合格:a)外壳破裂或有裂纹、内部的元器件发生脱落:b)在相同测试条件下,试验后,参数不满足4.2.2的技术指标要求。6.3.2ESD抗扰度不合格判据
试验完成后,千兆铜缆收发模块出现下列任意一种情况即判定为不合格:a)出现暂时性误码,并且恢复时间在1s以上:b)业务中断。
6.4电磁兼容
6.4.1电磁兼容试验分类
电磁兼容试验分为两类:
一射频电磁场辐射发射试验:
一射频电磁场辐射抗扰度试验。6
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