YD/T 2964-2015.Measurement methods for characteristics of a bending-loss insensitive single-mode optical fibre for the access network.
1范围
YD/T 2964规定了B6类接入网用弯曲损耗不敏感单模光纤的测量方法，包括模场直径、截止波长、宏弯损耗、衰减等参数的测量，确立了其试验装置、试样布置、试验程序、计算方法等。
YD/T 2964适用于B6类接入网用弯曲损耗不敏感单模光纤。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 2421.1电工电子产品环境试验概述和指南
GB/T 15972(所有部分)光纤试验方法规范(EC 60793-1(all parts), Optical fibres-Measurement methods and test procedures,MOD)
GB/T 18900单模光纤偏振模色散的试验方法
3术语和定义
GB/T 15972和GB/T 18900中界定的术语和定义适用于本文件。
4测量环境条件
除非另有规定,测量应在GB 2421.1规定的测量和试验用标准大气条件下进行。标准大气条件具体为:
一温度15℃~35℃;
一相对湿度25%~75%;
一大气压力86kPa~106kPao
5 滤除高阶模
5.1高阶模滤除方式

ICS33.180.10
中华人民共和国通信行业标准
YD/T2964-2015
接入网用弯曲损耗不敏感单模光纤测量方法
Measurementmethodsforcharacteristicsofabending-lossinsensitivesingle-modeoptical fibrefortheaccessnetwork2015-10-14发布
2016-01-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布前
范围·
规范性引用文件
术语和定义·
测量环境条件
滤除高阶模
光纤端面要求·
尺寸参数·
光学和传输参数·
机械性能·
10环境性能·
附录A（资料性附录）消除高阶模对测量模场直径和截断法测量衰减的影响附录B（资料性附录）小弯曲半径现象YD/T2964-2015
YD/T2964-2015
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。请注意本文件中的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由中国通信标准化协会提出并归口。本标准起草单位：成都泰瑞通信设备检测有限公司、成都康宁光缆有限公司、长飞光纤光缆股份有限公司、江苏亨通光电股份有限公司、武汉邮电科学研究院、北京邮电大学、富通集团有限公司、成都大唐线缆有限公司、成都中住光纤有限公司、深圳市特发信息股份有限公司、江苏中天科技股份有限公司、成都普天电缆股份有限公司、中国信息通信研究院、江苏亨通光纤科技有限公司、西安西古光通信有限公司和中捷通信有限公司。
本标准主要起草人：甘露、李琳莹、杨世信、李婧、丁雪、薛梦驰、刘骋、李春生、张立永、彭媛、杨梅、张伟民、曹珊珊、代康、刘泰、陈伟、贺作为、张卫强、赵嘉荣。I
1范围
接入网用弯曲损耗不敏感单模光纤测量方法YD/T2964-2015
本标准规定了B6类接入网用弯曲损耗不敏感单模光纤的测量方法，包括模场直径、截止波长、宏弯损耗、衰减等参数的测量，确立了其试验装置、试样布置、试验程序、计算方法等。本标准适用于B6类接入网用弯曲损耗不敏感单模光纤。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T2421.1电工电子产品环境试验概述和指南GB/T15972(所有部分）光纤试验方法规范(IEC60793-1(allparts），Opticalfibres—一Measurementmethodsand testprocedures,MOD)GB/T18900单模光纤偏振模色散的试验方法3术语和定义
GB/T15972和GB/T18900中界定的术语和定义适用于本文件。4测量环境条件
除非另有规定，测量应在GB2421.1规定的测量和试验用标准大气条件下进行。标准大气条件具体为：温度15℃～35℃；
一相对湿度25%～75%：
—大气压力86kPa～106kPa。
5滤除高阶模
5.1高阶模滤除方式
为保证光纤试样在测量波长上单模工作，应采用合适的方式滤除高阶模。根据光纤的弯曲性能不同可采用如下方式滤除高阶模：
a）使用引导光纤作为滤模器，例如在光纤试样前熔接B1.3光纤；b）增加光纤试样长度：
c）弯曲光纤试样；
d）其他合适的滤模方式。
5.2判断方法
为判断测试状态下的光纤试样是否处于单模工作，可通过测量此布置状态下的光纤截止波长来验证。YD/T2964-2015
6光纤端面要求
测量光纤尺寸参数、光学参数和传输参数时，应使光纤试样的输入端面和输出端面平整、光滑、干净，端面与光纤轴的垂直度偏差宜不大于1°7尺寸参数
尺寸参数的测量按表1的规定。
表1尺寸参数的测量方法
包层直径
芯/包层同心度误差
包层不圆度
涂覆层直径
包层/涂覆层同心度误差
8光学和传输参数
8.1模场直径
8.1.1测量方法
测量方法bZxz.net
见GB/T15972.20
见GB/T15972.20
见GB/T15972.20
见GB/T15972.21
见GB/T15972.21
模场直径的测量按GB/T15972.45的要求在单模传输状态下进行，其中试样布置按本标准8.1.2的规定。
8.1.2试样布置
为滤除高阶模的影响，可采用以下试样布置方式：a）采用引导光纤作为滤模器：引导光纤为长度2m的B1.3单模光纤，在引导光纤上松绕两个半径为40mm的圈或一个半径为30mm的圈，熔接到试样的注入端，如图1所示。被测光纤试样长度为2m士0.2m，应绕成半径不小于140mm的圈。
熔接点
滤模器
2X40mm半径圈
2mB1.3光纤
2mB6光纤试样
a）在引导光纤上绕两个40mm半径圈滤模器
1×30mm半径
2mB1.3光纤
熔接点
2mB6光纤试样
b）在引导光纤上绕一个30mm半径圈图1使用引导光纤以滤除高阶模的试样布置2
YD/T2964-2015
b）增加光纤试样长度：光纤试样长度为22m土0.2m，并在试样两端各绕一个半径为40mm的圈，试样中部松绕成半径不小于140mm的圈。也可采用在试样注入端绕两个半径为40mm圈的方式。如图2所示。
注：滤除高阶模所需光纤试样的长度与光纤的弯曲性能有关，可参考附录A确定光纤试样的长度。滤模器
1×40mm半径圈
22mB6光纤试样
滤模器
1×40mm半径圈
a）在两端各绕一个半径为40mm的圈滤模器
2×40mm半径圈
22mB6光纤试样
b）在一端绕两个半径为40mm的圈图2增加光纤试样长度以滤除高阶模的试样布置c）弯曲光纤试样：根据光纤试样的弯曲性能不同，在2m土0.2m长度的光纤上采取适宜的弯曲半径和弯曲圈数滤除高阶模。
注1：滤除高阶模所需的弯曲半径和弯曲圈数与光纤的弯曲性能有关，可参见附录A。注2：某些B6类光纤可直接采用GB/T15972.45-2008的典型试样布置（试样长度2m土0.2m，绕一个半径为30mm的单圈）滤除高阶模。
d）其他滤模方式：根据光纤试样的弯曲性能，可选择其他适宜的滤模器。8.1.3试验装置
试验装置按GB/T15972.45的规定。8.1.4试验程序
试验程序按GB/T15972.45的规定。8.1.5计算
计算按GB/T15972.45的规定。
8.1.6结果
结果按GB/T15972.45的规定。
8.2截止波长
8.2.1测量方法
截止波长的测量按GB/T15972.44的方法。宜采用多模参考法。当采用弯曲参考法时，可能需要更小的弯曲半径，以保证GB/T15972.44中的4Ab不小于2dB。8.2.2试验装置
试验装置按GB/T15972.44的规定。8.2.3试验程序
试验程序按GB/T15972.44的规定。YD/T2964-2015
8.2.4计算
计算按GB/T15972.44的规定。
8.2.5结果
结果按GB/T15972.44的规定。
8.3宏弯损耗
8.3.1概述
光纤宏弯损耗的测量采用传输功率监测光功率监视法或截断法，测量光纤在不同弯曲状态下的光功率变化，以评价单模光纤的宏弯性能。8.3.2试样长度
用于试验的光纤试样长度由以下因素确定：一样品光纤的弯曲半径和弯曲圈数：一样品光纤的长度应与所使用的测量系统的信噪比相适应，保证满足测量系统的接收灵敏度。8.3.2试验装置
试验装置由能使光纤试样保持规定的弯曲半径和圈数的弯曲工具（例如：表面光滑的芯轴或引导槽）和衰减测量设备组成。弯曲工具的半径偏差应不大于土0.1mm。采用传输功率监视法的衰减测量设备应符合GB/T15972.46方法A的要求，采用截断法的衰减测量设备应符合GB/T15972.40方法A的要求。8.3.3试验程序
8.3.4.1光纤布置
将光纤松绕在芯轴或引导槽上，避免扭绞。光纤试样绕成360°的整圈，也可以绕成与之等效的2个180°或4个90°。以整圈计算圈数。芯轴之外的光纤和用于参考的光纤截留段不得有引起测量结果变化的任何弯曲。宜以不小于140mm的弯曲半径来收集剩余的光纤。8.3.4.2弯曲圈数
弯曲圈数应符合产品标准的规定。当试验采用的圈数与产品标准不一致时，应将测量结果按线性关系换算到产品标准要求的圈数。对每一个弯曲半径，选择弯曲圈数时应考虑：一在该弯曲圈数下光纤应具有足够的响应，引起的损耗明显高于测量系统的灵敏度。必要时，对弯曲损耗小的光纤，可以用比规定的圈数更多的圈数进行试验。一在该弯曲圈数下引起的弯曲损耗应明显远离测量系统的非线性区域。为降低传输模和辐射模相互干涉引起衰减随波长加强或减弱的影响，可增加弯曲圈数。例如：对于5mm~10mm的弯曲半径，弯曲圈数宜不少于5圈；对于10mm以上的弯曲半径，可能需要20圈100圈。
8.3.4.3弯曲半径
弯曲半径定义为弯曲工具（芯轴或引导槽）的曲率半径，该半径应符合产品标准的规定。8.3.4.4测量波长
测量波长按产品标准的规定，通常为1550nm或1625nm。也可根据需求，选择其他的波长或波长段。注：采用小弯曲半径时，光纤弯曲处辐射出的光又会被反射到光纤中，来回多次反复，将导致损耗一波长曲线的长波长区域出现明显波动的现象。附录B措述了这一现象及其消除方法。4
8.3.4.5测量方法
YD/T2964-2015
按GB/T15972.46方法A“传输功率监视法”或GB/T15972.40方法A“截断法”测量光功率，并采用适宜的注入条件：
传输功率监测法：测量光纤从直的状态或不引起宏弯损耗的大直径的芯轴上绕到规定直径的芯轴上这一弯曲状态所引起的损耗增加；截断法：测量光纤弯曲后的总损耗，与光纤弯曲前的总损耗进行比较，得到宏弯损耗。8.3.4计算
宏弯损耗按公式（1）计算：
L=10logl0
式中：
L一一宏弯损耗，单位为dB（分贝）：Pstr
弯曲前测得的光功率，单位为mW（毫瓦）：一弯曲后测得的光功率，单位为mW（毫瓦）(1)
当需要换算时，先按线性关系计算出单位圈数的宏弯损耗值，再乘以产品标准要求的圈数，得到要求圈数下的宏弯损耗值。
8.4衰减
8.4.1测量方法
衰减的测量按GB/T15972.40的方法。当用截断法测量衰减或谱衰减时应使高阶模不能通过截留段光纤传输，可采用本标准8.4.2的试样布置方法滤除高阶模。8.4.2试样布置
为滤除高阶模的影响，可采用以下试样布置方式：a）采用引导光纤作为滤模器：引导光纤为长度2m的B1.3单模光纤，在引导光纤上松绕两个半径为40mm的圈或一个半径为30mm的圈，熔接到试样的注入端，如图3所示。被测试样应绕成半径不小于140mm的圈。截断处为距B6试样光纤注入端2m处。熔接点
滤模器
2mB1.3光纤
2mB6试样光纤
B6试样光纤
a）在引导光纤上绕两个40mm半径圈熔接点
滤模器
2mB1.3光纤
2mB6试样光纤
B6试样光纤
b）在引导光纤上绕一个30mm半径圈图3使用引导光纤以滤除高阶模的试样布置YD/T2964-2015
增加截留段光纤长度：如图4所示，截断处为距B6试样光纤注入端22m处，注：当在1240nm测量时，可能需要更长的截留段长度或更小的弯曲半径或更多的圈数，可参见附录A。剪断
2×40mm半径圈
22mB6试样光纤
B6试样光纤
图4增加截留段光纤长度以滤除高阶模的试样布置弯曲光纤试样：根据光纤试样的弯曲性能不同，在注入端采用半径足够小的单个或多个光纤圈滤除高阶模，但圈的半径不能小到引起与波长相关的振荡出现。其他滤模方式：根据光纤试样的弯曲性能，可选择其他适宜的滤模器。8.4.3试验装置
试验装置按GB/T15972.40的规定。8.4.4试样和试样制备
试样和试样制备按GB/T15972.40的规定。8.4.5试验程序
试验程序按GB/T15972.40的规定。8.4.6计算
计算按GB/T15972.40的规定。
8.4.7结果
结果按GB/T15972.40的规定。
8.5色散特性
色散特性按GB/T15972.42的规定。8.6光纤衰减点的不连续性
光纤衰减点的不连续性按GB/T15972.40的规定。8.7偏振模色散
偏振模色散按GB/T18900的规定。机械性能
光纤的机械性能试验方法按表2的规定。表2光纤的机械性能试验方法
筛选试验
抗拉强度
涂覆层剥离力
动态疲劳参数
试验方法
见GB/T15972.30
见GB/T15972.31
见GB/T15972.32
见GB/T15972.33
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