GB/T 38531-2020
基本信息
标准号： GB/T 38531-2020
中文名称：微束分析 致密岩石微纳米级孔隙结构 计算机层析成像(CT)分析方法
标准类别：国家标准(GB)
标准状态：现行
出版语种：简体中文
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相关标签： 微束 分析 致密 岩石 纳米级 孔隙 结构 计算机 层析成像 CT 分析方法
标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
GB/T 38531-2020.Microbeam analysis-Computed tomography (CT) method for micro-and nano-pore structure analysis in tight rock samples.
1范围
GB/T 38531规定了计算机层析成像(CT)技术用于致密岩石微纳米级孔隙结构成像的术语和定义、分析方法、技术要求、数据处理、分析报告内容与不确定度分析。
GB/T 38531适用于泥页岩、致密碳酸盐岩、致密砂岩、煤岩等岩石的微纳米级CT分析,其他地质样品也可参照执行。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB 17589X射线计算机断层摄影装置质量保证检测规范
GB/T 27025检测 和校准实验室能力的通用要求
GB/T 29034无损检测工 业计算机层析成像(CT)指南
GB/T 29070无 损检测工业 计算机层析成像(CT)检测通 用要求
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
X射线穿透率 X-ray penetration rate
经试样吸收后,X光强度与未经试样吸收时光强度的比值。.
3.2
分辨率 pixel resolution
单个像素点代表的试样上的实际尺寸。
3.3
伪影 artifact
扫描重构后的样品图像中,非随机性出现的非样品本身所具有的特征。
注:包括环状伪影和线状伪影。
3.4
孔隙 pore
岩石中未被固体物质充填的空间。
注:包括溶洞与裂缝。
3.5
孔隙度 porosity
试样中孔隙总体积与试样总体积的比值。计算见式(1):
P=Vp/Vs X 100 %
1范围
GB/T 38531规定了计算机层析成像(CT)技术用于致密岩石微纳米级孔隙结构成像的术语和定义、分析方法、技术要求、数据处理、分析报告内容与不确定度分析。
GB/T 38531适用于泥页岩、致密碳酸盐岩、致密砂岩、煤岩等岩石的微纳米级CT分析,其他地质样品也可参照执行。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB 17589X射线计算机断层摄影装置质量保证检测规范
GB/T 27025检测 和校准实验室能力的通用要求
GB/T 29034无损检测工 业计算机层析成像(CT)指南
GB/T 29070无 损检测工业 计算机层析成像(CT)检测通 用要求
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
X射线穿透率 X-ray penetration rate
经试样吸收后,X光强度与未经试样吸收时光强度的比值。.
3.2
分辨率 pixel resolution
单个像素点代表的试样上的实际尺寸。
3.3
伪影 artifact
扫描重构后的样品图像中,非随机性出现的非样品本身所具有的特征。
注:包括环状伪影和线状伪影。
3.4
孔隙 pore
岩石中未被固体物质充填的空间。
注:包括溶洞与裂缝。
3.5
孔隙度 porosity
试样中孔隙总体积与试样总体积的比值。计算见式(1):
P=Vp/Vs X 100 %
标准图片预览
标准内容
ICS71.040.40
中华人民共和国国家标准
GB/T38531—2020
微束分析
致密岩石微纳米级孔隙结构
计算机层析成像（CT)分析方法
Microbeam analysis-Computed tomography (CT) method for micro-andnano-pore structure analysis in tight rock samples2020-03-06发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2021-02-01实施
GB/T38531—2020
规范性引用文件
术语和定义
方法概述
设备、器材与测试条件：
测试步骤
数据处理
分析报告
附录A（资料性附录）致密岩石微纳米级孔隙结构计算机层析成像分析报告格式示例附录B（资料性附录）
不确定度影响因素及典型样品多家实验室对比结果参考文献
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准由全国微束分析标准化技术委员会（SAC/TC38）提出并归口。GB/T38531—2020
本标准起草单位：中国石油天然气股份有限公司勘探开发研究院、中国石油化工股份有限公司胜利油田分公司勘探开发研究院、中国石油天然气股份有限公司杭州地质研究院、中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院无锡石油地质研究所、中国石油大学（华东）、数岩科技（厦门）股份有限公司。本标准主要起草人：吴松涛、王晓琦、朱如凯、包有书、薛华庆、张文涛、金旭、崔景伟、周尚文、陈薇、杨永飞、赵天鹏。
GB/T38531—2020
致密岩石是全球非常规油气勘探的重要领域。致密岩石蕴含丰富的化石能源，潜力大，但孔隙结构复杂，表征难度大。计算机层析成像（CT）已成为致密岩石有效性评价的重要手段，其获得的微观孔隙结构与定量结果成为致密岩石储集性能评价的关键参数。为适应我国非常规储层评价试验技术发展需要，特制定本标准，以规范计算机层析成像技术在致密岩石微纳米级孔隙结构评价中的应用1范围
微束分析至
致密岩石微纳米级孔隙结构
计算机层析成像（CT）分析方法GB/T38531—2020
本标准规定了计算机层析成像（CT）技术用于致密岩石微纳米级孔隙结构成像的术语和定义、分析方法、技术要求、数据处理、分析报告内容与不确定度分析。本标准适用于泥页岩、致密碳酸盐岩、致密砂岩、煤岩等岩石的微纳米级CT分析，其他地质样品也可参照执行。
规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB17589X射线计算机断层摄影装置质量保证检测规范GB/T27025
检测和校准实验室能力的通用要求GB/T29034无损检测
工业计算机层析成像（CT）指南GB/T29070
3术语和定义
无损检测
工业计算机层析成像（CT)检测
下列术语和定义适用于本文件。3.1
X-ray penetration rate
X射线穿透率
经试样吸收后，X光强度与未经试样吸收时光强度的比值。3.2
分辨率pixelresolution
单个像素点代表的试样上的实际尺寸。3.3
伪影artifact
通用要求
扫描重构后的样品图像中，非随机性出现的非样品本身所具有的特征。注：包括环状伪影和线状伪影
孔隙pore
岩石中未被固体物质充填的空间。注：包括溶洞与裂缝。
porosity
孔隙度
试样中孔隙总体积与试样总体积的比值。计算见式（1）：P=Vp/Vs×100%
（1）
GB/T38531—2020
式中：
孔隙度；
孔隙总体积；
试样总体积。
形状因子：shapefactor
目标图像特征的数学描述。计算见式（2)：式中：
G—形状因子；
孔隙截面面积，单位为平方米（m）；P
孔隙截面形状的周长，单位为米（m）。poreconnectivitypart
孔隙连通域
connectivitypart
连通域
试样中相互连通的孔隙范围。
注：连通域分为三类（如图1所示），A类连通域指有孔隙像素落在且仅落在指有孔隙像素落在相邻模型边界上，且不为A类连通的连通界上的连通域！。
说明：
—A类连通域：
B类连通域；
C-C类连通域。
++.+..+.+.(2)
个模型边界上的连通域：B类连通域连通域指有孔隙像素落在相对的模型边图1活连通域分类示意图（以正立方体为例）3.8
孔隙连通率poreconnectivityratio连通域的孔隙体积与总孔隙体积的比值。计算见式（3）：2
式中：
Vp-Conmected
Vp-Total
方法概述
—孔隙连通率；
P=Vp-Conmeted/Vp-Tatal X100%连通域的孔隙体积；
总孔隙体积。
GB/T38531—2020
·（3)
致密岩石微纳米级孔隙结构计算机层析成像分析.利用X射线微聚焦器件将X射线源发射的X射线聚焦，穿透样品，通过数据探测传输系统采集样品吸收后的X光信号，对试样进行360°扫描，以特定算法，利用重构软件，求解出每个空间位置点的X光吸收系数，并以灰度显示试样中不同组分，获得试样孔隙结构及相关数据。
5设备、器材与测试条件
5.1X射线CT扫描仪
5.1.1设备校准
X射线CT扫描仪应按照GB/T29070的规定进行校准。5.1.2射线源
能够发射稳定的X射线光源，射线源X射线强度应满足对样品具有平均50%以上的穿透率。5.1.3试样台
试样台能够相对于射线源和探测器做垂直、水平移动，并可沿垂直轴向360°旋转。试样台垂直及水平移动最小步长应小于或等于0.01mm，沿垂直轴向旋转角度最小步长应小于或等于0.015.1.4探测器
能够接收X射线并成像，扫描图像能够转化为数字信号并存储于存储器。探测器视野应满足对直径不小于50μm致密储层样品的二维成像，探测器像素点尺寸小于0.5um。5.1.5仪器外表面X射线强度
X射线源开启及工作时，仪器外表面的每一点X射线强度应小于1μSv/h。5.2
软件系统
软件系统应具备以下功能：
调节并控制X射线源功率、探测器曝光时间、射线源、样品台及探测器位置、样品扫描角度，并a
能按照设定的扫描条件自动变换角度，扫描并存储试样投影图像。按照固定算法对投影图像计算得到二维切片，具有重构、预览、去除伪影、中心偏移及图像增强b）
等功能。
c）对二维切片进行三维模型分析，具有图像滤波功能，可计算孔隙度、孔隙直径、连通率等参数。5.3仪器工作环境
环境条件应符合GB/T27025、GB/T29070规定。GB/T38531—2020
5.4辅助材料
金颗粒：球形，直径200nm～1μm，纯度不低于90%。6测试步骤
6.1试样制备与标记
将试样制备为圆柱状，试样直径应根据扫描分辨率确定，确保试样在360°扫描过程中，试样图像应在探测器的接收范围之内。
在分辨率优于50nm的高分辨扫描时，应在试样边缘放置标记用金颗粒，并记录信息。6.2测试参数设置
6.2.1扫描模式设置
X射线源开机后，经X射线源与探测器预热，得到稳定的X射线，根据试样化学成分、最小感兴趣区与成像分辨率的关系，选定扫描模式。煤岩低密度试样宜采用相位衬度扫描模式，其余岩石试样宜采用吸收衬度扫描模式。
6.2.2试样旋转中心调节
将试样固定在试样台上，打开射线源及探测器，预览试样二维投射图像，并沿X方向（射线源与探测器连线方向）Y方向（水平面内垂直于射线源与探测器连线方向）及乙方向（竖直方向）调整试样位置，使试样图像处于探测器视野之内，调整试样轴心与试样台旋转轴心重合，保证试样在360°旋转扫描过程中，扫描图像不会超出探测器视野。调节流程符合GB/T29034、GB/T29070和GB17589的要求。
6.2.3试样X射线穿透率调节
将试样移出视野，扫描单张空白图像，再将试样移人，获取试样单张扫描图像，试样图像各像素点的灰度数值除以空白图像各点的灰度数值，得到X射线穿透率。调整X射线源电压、束流及曝光时间数值.使得试样的X射线平均穿透率在25%40%之间。记录参数。6.2.4投影图像数量选定
设定投影图像数量，宜不少于1200张，试验过程中可根据实际情况灵活调整扫描张数，记录扫描参数。
6.3数据采集
6.3.1背底采集
按照设定好的扫描条件，将试样移出X射线视域，依据6.2.3确定的参数采集背底6.3.2试样成像数据采集
背底采集完成后，将试样移回X射线视域，采用相同的扫描参数采集试样X射线成像数据。试样旋转360°采集X射线成像数据。6.3.3图像漂移消除的数据采集
GB/T38531—2020此内容来自标准下载网
采用与6.3.2相同的扫描参数，根据仪器性能采集特定张数（以15张～20张为宜）的试样360°X射线成像数据。
7数据处理
7.1背底扣除
利用6.3.2采集的试样成像数据减去6.3.1采集的背底数据，消除背底。7.2图像漂移消除
利用6.3.3数据消除试样扫描过程中物理偏移的影响。7.3图像重构
选择两个或两个以上角度的投影图像，逐步调节转轴中心偏移量，进行预重构2。参考面图像中矿物轮廓、孔隙边缘清晰时，确定转轴中心偏移量，进行图像重构，并检查图像质量。重构后图像应无环状或线状伪影（见图2），样品边缘轮廓无重影，特征矿物品形明显，孔隙边缘清晰，否则需重新重构或者重新采集。
说明：
A—环状伪影；
线状伪影。
7.4孔隙结构分析
7.4.1图像滤波
图2环状伪影与线状伪影图像举例利用三维分析软件，将7.3重建后的二维图像数据裁剪，宜选用非局部均值滤波（Non-LocalMeans）或高斯平滑算法进一步滤波与图像增强。滤波后，灰度分布直方图不同物质差异宜提高10%以上，提高不同物质边界的清晰度（图3），不宜采用使物质边界模糊的滤波算法3.45
GB/T38531—2020
说明：
重建后二维图像；
非局部均值滤波处理后图像；
A图对应的图像灰度分布直方图；B图对应的图像灰度分布直方图。D
181264892
图3图像滤波前后对比实例
7.4.2孔隙识别与参数计算
利用阈值分割法、二维分割法、手动修正分割法等方法，确定岩石骨架与孔隙的灰度界限值，再根据灰度界限值对岩石骨架与孔隙进行识别-7。计算孔隙度、形状因子及连通率参数。同一个试样两次处理计算的孔隙度相对偏差不超过10%：否则：应重新重构或者重新采集数据注：岩石包括孔隙与岩石骨架，其中岩石骨架组成较为复杂，以常见的砂岩为例，主体包括石英、钾长石、斜长石、黑云母等，同时还含有方解石、白云石、黄铁矿、绿泥石、蒙脱石、伊利石、伊蒙混层等矿物，不同矿物的密度及粒度均有明显差异.因此在岩石CT图像中，不同的矿物组成与含量在一定程度上影响了孔隙识别的精度，尤其是密度较低、粒径较小且经常充填孔的黏土矿物，对孔识别的影响最为明显，如图3B可见孔隙内大多充填部分矿物，这些矿物与孔隙灰度切分的准确性直接影响了孔隙识别的精度。因此在对岩石样品进行孔隙识别时，在关注局部精细切分的前提下，应从图像灰度的整体分布范围进行考虑，保证孔隙识别的精度。8分析报告
8.1报告要求
报告内容应满足GB/T27025的要求，包括基本信息、设备信息、样品信息、扫描参数与分析结果。具体可参见附录A实例。
8.2报告内容
8.2.1基本信息
包括实验室名称、报告编号、分析人、审核人、签发人与报告时间。8.2.2设备信息
包括设备型号、基本参数、采纳的标准规范。样品信息
包括地区、层位、井号、深度、岩性、原编号与尺寸，8.2.4扫描参数
包括扫描模式、曝光时间、扫描张数。8.2.5分析结果
GB/T38531—2020
包括孔隙结构定量评价表及成果图件，其中孔隙结构定量评价表包括但不限于孔隙度、形状因子与孔隙连通率，成果图件包括但不限于原始扫描二维切片、孔隙识别二维切片、三维岩石模型图、三维孔隙模型图、孔隙直径分布直方图、孔隙数量分布直方图、孔隙体积分布直方图、孔隙面积分布直方图。二维切片图像应标注分辨率，宜采用“.tiff”\.png”等格式的二维图片。三维重构图像，可用于图形图像定量计算机分析，输出格式宜采用“.raw”标准格式。具体可参见附录B实例。GB/T38531—2020
附录A
（资料性附录）
致密岩石微纳米级孔隙结构计算机层析成像分析报告格式示例本附录给出了致密岩石微纳米级孔隙结构计算机层析成像分析的报告示例，见图A.1～图A.6、表A.1～表A.5。
分析校测说明
检测报告
Analysis Report
检划项目
送择单位
送样人
Uutiom ih
地济/井营
样品热您
Seuk Cou
粒测人
Arobwdhy
签发人
Armox ty
振告日期
报告贡数
Pxe Cou
色装人
单位名称
Laboratony Naune
检测报告基本信息实例
分析号
原编号
1.执行标准：
2.使用仅带：
1测试涤件：
4.联系人
5.通询通址：
6电址：
8.4活：
9.传真：
10.电子信箱：
分析报告设备信息实例
检测报告中样品信息与扫描参数实例井号
深度/
尺寸/
曝光时间/
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
中华人民共和国国家标准
GB/T38531—2020
微束分析
致密岩石微纳米级孔隙结构
计算机层析成像（CT)分析方法
Microbeam analysis-Computed tomography (CT) method for micro-andnano-pore structure analysis in tight rock samples2020-03-06发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2021-02-01实施
GB/T38531—2020
规范性引用文件
术语和定义
方法概述
设备、器材与测试条件：
测试步骤
数据处理
分析报告
附录A（资料性附录）致密岩石微纳米级孔隙结构计算机层析成像分析报告格式示例附录B（资料性附录）
不确定度影响因素及典型样品多家实验室对比结果参考文献
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准由全国微束分析标准化技术委员会（SAC/TC38）提出并归口。GB/T38531—2020
本标准起草单位：中国石油天然气股份有限公司勘探开发研究院、中国石油化工股份有限公司胜利油田分公司勘探开发研究院、中国石油天然气股份有限公司杭州地质研究院、中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院无锡石油地质研究所、中国石油大学（华东）、数岩科技（厦门）股份有限公司。本标准主要起草人：吴松涛、王晓琦、朱如凯、包有书、薛华庆、张文涛、金旭、崔景伟、周尚文、陈薇、杨永飞、赵天鹏。
GB/T38531—2020
致密岩石是全球非常规油气勘探的重要领域。致密岩石蕴含丰富的化石能源，潜力大，但孔隙结构复杂，表征难度大。计算机层析成像（CT）已成为致密岩石有效性评价的重要手段，其获得的微观孔隙结构与定量结果成为致密岩石储集性能评价的关键参数。为适应我国非常规储层评价试验技术发展需要，特制定本标准，以规范计算机层析成像技术在致密岩石微纳米级孔隙结构评价中的应用1范围
微束分析至
致密岩石微纳米级孔隙结构
计算机层析成像（CT）分析方法GB/T38531—2020
本标准规定了计算机层析成像（CT）技术用于致密岩石微纳米级孔隙结构成像的术语和定义、分析方法、技术要求、数据处理、分析报告内容与不确定度分析。本标准适用于泥页岩、致密碳酸盐岩、致密砂岩、煤岩等岩石的微纳米级CT分析，其他地质样品也可参照执行。
规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB17589X射线计算机断层摄影装置质量保证检测规范GB/T27025
检测和校准实验室能力的通用要求GB/T29034无损检测
工业计算机层析成像（CT）指南GB/T29070
3术语和定义
无损检测
工业计算机层析成像（CT)检测
下列术语和定义适用于本文件。3.1
X-ray penetration rate
X射线穿透率
经试样吸收后，X光强度与未经试样吸收时光强度的比值。3.2
分辨率pixelresolution
单个像素点代表的试样上的实际尺寸。3.3
伪影artifact
通用要求
扫描重构后的样品图像中，非随机性出现的非样品本身所具有的特征。注：包括环状伪影和线状伪影
孔隙pore
岩石中未被固体物质充填的空间。注：包括溶洞与裂缝。
porosity
孔隙度
试样中孔隙总体积与试样总体积的比值。计算见式（1）：P=Vp/Vs×100%
（1）
GB/T38531—2020
式中：
孔隙度；
孔隙总体积；
试样总体积。
形状因子：shapefactor
目标图像特征的数学描述。计算见式（2)：式中：
G—形状因子；
孔隙截面面积，单位为平方米（m）；P
孔隙截面形状的周长，单位为米（m）。poreconnectivitypart
孔隙连通域
connectivitypart
连通域
试样中相互连通的孔隙范围。
注：连通域分为三类（如图1所示），A类连通域指有孔隙像素落在且仅落在指有孔隙像素落在相邻模型边界上，且不为A类连通的连通界上的连通域！。
说明：
—A类连通域：
B类连通域；
C-C类连通域。
++.+..+.+.(2)
个模型边界上的连通域：B类连通域连通域指有孔隙像素落在相对的模型边图1活连通域分类示意图（以正立方体为例）3.8
孔隙连通率poreconnectivityratio连通域的孔隙体积与总孔隙体积的比值。计算见式（3）：2
式中：
Vp-Conmected
Vp-Total
方法概述
—孔隙连通率；
P=Vp-Conmeted/Vp-Tatal X100%连通域的孔隙体积；
总孔隙体积。
GB/T38531—2020
·（3)
致密岩石微纳米级孔隙结构计算机层析成像分析.利用X射线微聚焦器件将X射线源发射的X射线聚焦，穿透样品，通过数据探测传输系统采集样品吸收后的X光信号，对试样进行360°扫描，以特定算法，利用重构软件，求解出每个空间位置点的X光吸收系数，并以灰度显示试样中不同组分，获得试样孔隙结构及相关数据。
5设备、器材与测试条件
5.1X射线CT扫描仪
5.1.1设备校准
X射线CT扫描仪应按照GB/T29070的规定进行校准。5.1.2射线源
能够发射稳定的X射线光源，射线源X射线强度应满足对样品具有平均50%以上的穿透率。5.1.3试样台
试样台能够相对于射线源和探测器做垂直、水平移动，并可沿垂直轴向360°旋转。试样台垂直及水平移动最小步长应小于或等于0.01mm，沿垂直轴向旋转角度最小步长应小于或等于0.015.1.4探测器
能够接收X射线并成像，扫描图像能够转化为数字信号并存储于存储器。探测器视野应满足对直径不小于50μm致密储层样品的二维成像，探测器像素点尺寸小于0.5um。5.1.5仪器外表面X射线强度
X射线源开启及工作时，仪器外表面的每一点X射线强度应小于1μSv/h。5.2
软件系统
软件系统应具备以下功能：
调节并控制X射线源功率、探测器曝光时间、射线源、样品台及探测器位置、样品扫描角度，并a
能按照设定的扫描条件自动变换角度，扫描并存储试样投影图像。按照固定算法对投影图像计算得到二维切片，具有重构、预览、去除伪影、中心偏移及图像增强b）
等功能。
c）对二维切片进行三维模型分析，具有图像滤波功能，可计算孔隙度、孔隙直径、连通率等参数。5.3仪器工作环境
环境条件应符合GB/T27025、GB/T29070规定。GB/T38531—2020
5.4辅助材料
金颗粒：球形，直径200nm～1μm，纯度不低于90%。6测试步骤
6.1试样制备与标记
将试样制备为圆柱状，试样直径应根据扫描分辨率确定，确保试样在360°扫描过程中，试样图像应在探测器的接收范围之内。
在分辨率优于50nm的高分辨扫描时，应在试样边缘放置标记用金颗粒，并记录信息。6.2测试参数设置
6.2.1扫描模式设置
X射线源开机后，经X射线源与探测器预热，得到稳定的X射线，根据试样化学成分、最小感兴趣区与成像分辨率的关系，选定扫描模式。煤岩低密度试样宜采用相位衬度扫描模式，其余岩石试样宜采用吸收衬度扫描模式。
6.2.2试样旋转中心调节
将试样固定在试样台上，打开射线源及探测器，预览试样二维投射图像，并沿X方向（射线源与探测器连线方向）Y方向（水平面内垂直于射线源与探测器连线方向）及乙方向（竖直方向）调整试样位置，使试样图像处于探测器视野之内，调整试样轴心与试样台旋转轴心重合，保证试样在360°旋转扫描过程中，扫描图像不会超出探测器视野。调节流程符合GB/T29034、GB/T29070和GB17589的要求。
6.2.3试样X射线穿透率调节
将试样移出视野，扫描单张空白图像，再将试样移人，获取试样单张扫描图像，试样图像各像素点的灰度数值除以空白图像各点的灰度数值，得到X射线穿透率。调整X射线源电压、束流及曝光时间数值.使得试样的X射线平均穿透率在25%40%之间。记录参数。6.2.4投影图像数量选定
设定投影图像数量，宜不少于1200张，试验过程中可根据实际情况灵活调整扫描张数，记录扫描参数。
6.3数据采集
6.3.1背底采集
按照设定好的扫描条件，将试样移出X射线视域，依据6.2.3确定的参数采集背底6.3.2试样成像数据采集
背底采集完成后，将试样移回X射线视域，采用相同的扫描参数采集试样X射线成像数据。试样旋转360°采集X射线成像数据。6.3.3图像漂移消除的数据采集
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采用与6.3.2相同的扫描参数，根据仪器性能采集特定张数（以15张～20张为宜）的试样360°X射线成像数据。
7数据处理
7.1背底扣除
利用6.3.2采集的试样成像数据减去6.3.1采集的背底数据，消除背底。7.2图像漂移消除
利用6.3.3数据消除试样扫描过程中物理偏移的影响。7.3图像重构
选择两个或两个以上角度的投影图像，逐步调节转轴中心偏移量，进行预重构2。参考面图像中矿物轮廓、孔隙边缘清晰时，确定转轴中心偏移量，进行图像重构，并检查图像质量。重构后图像应无环状或线状伪影（见图2），样品边缘轮廓无重影，特征矿物品形明显，孔隙边缘清晰，否则需重新重构或者重新采集。
说明：
A—环状伪影；
线状伪影。
7.4孔隙结构分析
7.4.1图像滤波
图2环状伪影与线状伪影图像举例利用三维分析软件，将7.3重建后的二维图像数据裁剪，宜选用非局部均值滤波（Non-LocalMeans）或高斯平滑算法进一步滤波与图像增强。滤波后，灰度分布直方图不同物质差异宜提高10%以上，提高不同物质边界的清晰度（图3），不宜采用使物质边界模糊的滤波算法3.45
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说明：
重建后二维图像；
非局部均值滤波处理后图像；
A图对应的图像灰度分布直方图；B图对应的图像灰度分布直方图。D
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图3图像滤波前后对比实例
7.4.2孔隙识别与参数计算
利用阈值分割法、二维分割法、手动修正分割法等方法，确定岩石骨架与孔隙的灰度界限值，再根据灰度界限值对岩石骨架与孔隙进行识别-7。计算孔隙度、形状因子及连通率参数。同一个试样两次处理计算的孔隙度相对偏差不超过10%：否则：应重新重构或者重新采集数据注：岩石包括孔隙与岩石骨架，其中岩石骨架组成较为复杂，以常见的砂岩为例，主体包括石英、钾长石、斜长石、黑云母等，同时还含有方解石、白云石、黄铁矿、绿泥石、蒙脱石、伊利石、伊蒙混层等矿物，不同矿物的密度及粒度均有明显差异.因此在岩石CT图像中，不同的矿物组成与含量在一定程度上影响了孔隙识别的精度，尤其是密度较低、粒径较小且经常充填孔的黏土矿物，对孔识别的影响最为明显，如图3B可见孔隙内大多充填部分矿物，这些矿物与孔隙灰度切分的准确性直接影响了孔隙识别的精度。因此在对岩石样品进行孔隙识别时，在关注局部精细切分的前提下，应从图像灰度的整体分布范围进行考虑，保证孔隙识别的精度。8分析报告
8.1报告要求
报告内容应满足GB/T27025的要求，包括基本信息、设备信息、样品信息、扫描参数与分析结果。具体可参见附录A实例。
8.2报告内容
8.2.1基本信息
包括实验室名称、报告编号、分析人、审核人、签发人与报告时间。8.2.2设备信息
包括设备型号、基本参数、采纳的标准规范。样品信息
包括地区、层位、井号、深度、岩性、原编号与尺寸，8.2.4扫描参数
包括扫描模式、曝光时间、扫描张数。8.2.5分析结果
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包括孔隙结构定量评价表及成果图件，其中孔隙结构定量评价表包括但不限于孔隙度、形状因子与孔隙连通率，成果图件包括但不限于原始扫描二维切片、孔隙识别二维切片、三维岩石模型图、三维孔隙模型图、孔隙直径分布直方图、孔隙数量分布直方图、孔隙体积分布直方图、孔隙面积分布直方图。二维切片图像应标注分辨率，宜采用“.tiff”\.png”等格式的二维图片。三维重构图像，可用于图形图像定量计算机分析，输出格式宜采用“.raw”标准格式。具体可参见附录B实例。GB/T38531—2020
附录A
（资料性附录）
致密岩石微纳米级孔隙结构计算机层析成像分析报告格式示例本附录给出了致密岩石微纳米级孔隙结构计算机层析成像分析的报告示例，见图A.1～图A.6、表A.1～表A.5。
分析校测说明
检测报告
Analysis Report
检划项目
送择单位
送样人
Uutiom ih
地济/井营
样品热您
Seuk Cou
粒测人
Arobwdhy
签发人
Armox ty
振告日期
报告贡数
Pxe Cou
色装人
单位名称
Laboratony Naune
检测报告基本信息实例
分析号
原编号
1.执行标准：
2.使用仅带：
1测试涤件：
4.联系人
5.通询通址：
6电址：
8.4活：
9.传真：
10.电子信箱：
分析报告设备信息实例
检测报告中样品信息与扫描参数实例井号
深度/
尺寸/
曝光时间/
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