GA/T 1522-2018.Forensic science-Examination methods for gun shot residue-Scanning electron microscope/energy dispersive X-ray spectrometry.
1范围
GA/T 1522规定了法庭科学领域扫描电子显微镜/X射线能谱检验射击残留物的方法。
GA/T 1522适用于法庭科学领域射击残留物颗粒形态及元素成分的检验。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注8期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GA/T242微量物证的理化检验术语
3术语和定义
GA/T 242界定的术语和定义适用于本文件。
4原理
扫描电子显微镜/X射线能谱仪可对微小物体进行微观形态观察和元素成分分析。射击残留物中的无机成分(主要来自于子弹底火、弹头、弹壳和枪管)化学稳定性好,特异性强,而且由于射击时枪管内的高温高压环境,残留物的形态多为熔融状微米级的球形颗粒。利用扫描电子显微镜对这些微小颗粒高倍放大成像,进行微观形态观察;利用X射线能谱仪进行元素成分分析,判断其是否为射击残留物颗粒。常见枪弹的射击残留物大多含有金属元素Sb、Ba、Pb、Sn,Cu.Zn,Fe.Al以及非金属元素S.Cl.K、As等(或这些元素的不同组合)，在扫描电子显微镜中其背散射电子像亮度高于人体皮肤或衣物等背景材料的亮度,使用射击残留物检测专用软件实现对复杂背景中疑似射击残留物颗粒的自动查找,或用手动方式对射击残留物颗粒进行查找。

ICS13.310
中华人民共和国公共安全行业标准GA/T1522—2018
法庭科学
射击残留物检验
扫描电子显微镜/X射线能谱法
Forensic science-Examination methods for gun shot residue-Scanning electron microscope/energy dispersive X-ray spectrometry2018-09-26发布
中华人民共和国公安部
2018-09-26实施
中华人民共和国公共安全
行业标准
法庭科学射击残留物检验
扫描电子显微镜/X射线能谱法
GA/T1522—2018
中国标准出版社出版发行
北京市朝阳区和平里西街甲2号（100029）北京市西城区三里河北街16号（100045）网址：spc.org.cn
服务热线：400-168-0013
2019年11月第一版
书号：155066·2-34613
版权专有
侵权必究
本标准按照GB/T1.12009给出的规则起草。GA/T1522—2018
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本标准起草单位：公安部物证鉴定中心、北京市公安局刑侦总队。本标准起草人：权养科、郭洪玲、工萍、陶克明、刘明辉。1
1范围
法庭科学射击残留物检验
扫描电子显微镜/X射线能谱法
GA/T 1522—2018
本标准规定了法庭科学领域扫描电子显微镜/X射线能谱检验射击残留物的方法。本标准适用于法庭科学领域射击残留物颗粒形态及元素成分的检验。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GA/T242微量物证的理化检验术语3术语和定义
GA/T242界定的术语和定义适用于本文件。4原理
扫描电子显微镜/X射线能谱仪可对微小物体进行微观形态观察和元索成分分析。射击残留物中的无机成分（主要来自于子弹底火，弹头，弹壳和枪管）化学稳定性好，特异性强，而且由于射击时枪管内的高温高压环境，残留物的形态多为熔融状微米级的球形颗粒。利用扫描电子显微镜对这些微小颗粒高倍放大成像，进行微观形态观察：利用X射线能谱仪进行元素成分分析，判断其是否为射击残留物颗粒。常见枪弹的射击残留物大多含有金属元素Sb,Ba,Pb、Sn,Cu、Zn、Fe、Al以及非金属元素S、Cl、K、As等（或这些元素的不同组合），在扫描电子显微镜中其背散射电子像亮度高于人体皮肤或衣物等背景材料的亮度，使用射击残留物检测专用软件实现对复杂背景中疑似射击残留物颗粒的自动查找，或用手动方式对射击残留物颗粒进行查找。试剂和材料
一次性手套。
6仪器和设备
所需的仪器和设备如下：
a）扫描电子显微镜；
b）X射线能谱仪；
c）射击残留物样品提取台；
d）真空镀膜仪或离子溅射仪
GA/T1522—2018
7样品制备
7.1对于人体和衣物检材，根据射击残留物在人体和衣物的上分布规律，用射击残留物样品提取台在取样部位粘取附着物.粘取前应戴一次性手套。7.2对于弹壳、枪管或其他检材，用射击残留物样品提取台直接在要求检验的部位粘取，粘取前应戴一次性手套。在真空镀膜仪或离子溅射仪内给样品表面镀20nm～30nm厚的碳导电膜8仪器检测
检测条件
根据仪器所带的射击残留物检测专用软件设定加速电压、电子束电流等参数8.2
检测方法
检测方法包括以下两个步骤：
a）射击残留物颗粒的预查找：用射击残留物检测专用软件对射击残留物颗粒边行预查找和定位或用手动方式对射击残留物颗粒进行查找；b）射击残留物特征元素颗粒的确认：对查找定位的颗粒，进行显微形态分析和元素分析。9结果分析评价
根据检验颗粒的熔融状微米级的球形颗粒显微形态特征和元素组成，判断是否检出与射击残留物形态特征及元素组成一致的颗粒。典型熔融状微米级球形射击残留物颗粒的微观形态参见附录A。0注意事项
10.1弹头、弹壳、枪管、射击嫌疑人手上提取的附着物和嫌疑人衣服等检材之间应有效隔离，防止残留物颗粒的转移
10.2应保持各种工具和器材的清洁，防止样品被污染，10.3对于不同检材，提取和前处理应分别在不同的房问进行10.4不应将弹头、弹壳、枪管、衣服等检材带进电子显微镜实验室。2
附录A
（资料性附录）
典型熔融状微米级球形射击残留物颗粒的微观形态GA/T1522—2018
熔融状微米级球形射击残留物颗粒1的微观形态（加速电压25kV，放大倍数2400×，二次电子像）见图A.1。
熔融状微米级球形射击残留物颗粒2的微观形态（加速电压25kV.放大倍数1200×，二次电子像）见图A.2。
熔融状微米级球形射击残留物颗粒3的微观形态（加速电压25kV，放大倍数1256×，二次电子像）见图A.3。
熔融状微米级球形射击残留物颗粒4的微观形态（加速电压25kV.放大倍数1200×，二次电子像）见图A.4。
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图A.1熔融状微米级球形射击残留物颗粒1的微观形态（加速电压25kV.放大倍数2400×，二次电子像）2coVSpot Max Be DEx
20 μm
图A.2熔融状微米级球形射击残留物颗粒2的微观形态（加速电压25kV.放大倍数1200×，二次电子像）GA/T1522—2018
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250kV501
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图A.3熔融状微米级球形射击残留物颗粒3的微观形态（加速电压25kV，放大倍数1256×，二次电子像）26ovSoofM2a0
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图A.4熔融状微米级球形射击残留物颗粒4的微观形态（加速电压25kV，放大倍数1200×，二次电子像）GA/T1522-2018
版权专有侵权必究
书号：155066·2-34613
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