YD/T 821-1996.
1范围
YD/T 821规定了标准的和成帧的测试序列,以及在PDH和SDH系统上,差错性能测量的块长。
YD/T 821是工作在各类比特率的数字传输系统,及其复用/分用器以及开业务监测的差锖性能测量及测量设备的技术设计和制造的依据。
2标准的测试序列
标准测试序列是在某-规定的数字速率上,对数字传输设备或点对点的数字通道进行差错性能评价时,必需采用的测试序列。
比特差错测量,对评价数字传输设备的性能是一种重要的手段。只有测量序列的比特序列是完全已知时,才能进行所谓的“真”比特差错的测量,这时应能检出每个比特差错。而实际的业务申于其随机性质,通常不能满足上述条件。
所以,有必要规定可再现的,尽可能接近模拟实际业务的测试序列。可再现的测试序列也是完成点到点测量的先决条件。
具有2n-1长度的伪随机序列是此向题最普通的解答。除了n个连续0(所谓的反转信号)和n-1个连续1的字符串以外,在取决于n的字符串长度内,该序列包含任意可能0和1的组合。
(有关n的值,见第3章)
本标准规定了不同长度的伪随机序列。
3伪随机测试序列的应用
测试序列的特性应符合所测试系统的要求。通常,伪随机序列的长度应随被测量的比特率增加而增加。这样可以避免序列的重复频率太高,而与实践中遇到的状态不一致。
伪随机序列的产生,可借助于具有适当反馈的移位寄存器。如果该移位寄存器有n级,则最大的序列长度将是2n-1比特。
如果数字信号直接地从移位寄存器的输出(非反转信号)取出,则最长的连0字符个数将等于n- 1。如果该信号被反转,将产生n个连0字符。