GA/T 1062-2013
基本信息
标准号:
GA/T 1062-2013
中文名称:IC卡光标测试系统校准规范
标准类别:公共安全行业标准(GA)
标准状态:现行
出版语种:简体中文
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相关标签:
测试
系统
校准
规范
标准分类号
关联标准
出版信息
相关单位信息
标准简介
GA/T 1062-2013.Calibration specifications for IC-card cursor test system.
1范围
GA/T 1062规定了IC卡光标测试系统的计量性能要求、通用技术要求、校准条件、校准项目和校准方法。
GA/T 1062适用于IC卡光标测试系统的首次校准、后续校准和使用中检验。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
JJF 1033-2008 计量标准考核规范
JJF 1059测 量不确定度评定与表示
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1 IC卡光标测试系统IC-card cursor test system
用于检测IC卡四角的光标尺寸质量数据的设备。系统由检测器(摄像机、镜头.光源)工控机及XPE操作系统和光标测试软件等组成。
4计量性能要求
4. 1标准样板几何量值测量误差应不超过±0.01 mm
4.2光标尺 寸示值误差应不超过±0.1 mm
4.3重复性应不超过0.1 mm
5通用技术要求
5.1 外观
IC卡光标测试系统(以下简称测试系统)应标有铭牌,标明产品名称、规格型号、出厂编号、制造厂名称。
5.2 要求
5.2.1 测试系统应放置在稳定可靠,处于水平状态的工作台上使用。
5.2.2 测试系统不应有影响正常工作的各种损伤。各分离仪器完好,连接线能保证可靠工作。
标准内容
ICS17.040.01
中华人民共和国公共安全行业标准GA/T1062—2013
IC卡光标测试系统校准规范
Calibration specifications for IC-card cursor test system2013-04-01发布
中华人民共和国公安部
2013-05-01实施
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准由公安部第一研究所提出。本标准由公安部社会公共安全应用基础标准化技术委员会归口。本标准主要起草单位:公安部第一研究所本标准主要起草人:汪民、张浩、王志刚、滕旭、卢玉华、田昕。GA/T1062—2013
1范围
IC卡光标测试系统校准规范
GA/T1062—2013
本标准规定了IC卡光标测试系统的计量性能要求、通用技术要求、校准条件、校准项目和校准方法。
本标准适用于IC卡光标测试系统的首次校准、后续校准和使用中检验。2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。JF1033--2008计量标准考核规范测量不确定度评定与表示
JF1059
术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。3.1
IC-card cursor test system
IC卡光标测试系统
用于检测IC卡四角的光标尺寸质量数据的设备。系统由检测器(摄像机、镜头、光源)工控机及XPE操作系统和光标测试软件等组成,4计量性能要求bzxZ.net
标准样板几何量值测量误差应不超过士0.01mm。4.1
光标尺寸示值误差应不超过士0.1mm。3重复性应不超过0.1mm。
通用技术要求
5.1外观
IC卡光标测试系统(以下简称测试系统)应标有铭牌,标明产品名称、规格型号、出厂编号、制造厂名称。
5.2要求
5.2.1测试系统应放置在稳定可靠,处于水平状态的工作台上使用。5.2.2测试系统不应有影响正常工作的各种损伤。各分离仪器完好,连接线能保证可靠工作。5.2.3测试系统应能正常工作。
GA/T1062—2013
校准条件
环境条件
本标准的试验均应在正常大气条件下进行,即:温度:(20±10)℃;
湿度:≤85%RH;
供电电源:AC(220士11)V;50Hz;工作台面要求为水平,周围无振动干扰影响。测量标准及其他设备
测量标准及其他设备见表1。
辅助计量器具:水平仪。
表1测量标准及其他设备
校准项目
标准样板几何量值测量误差
光标尺寸示值误差
重复性
校准项目和校准方法
校准项目
校准项目见表2。
校准方法
通用技术要求的检查
工具显微镜
标推样板
测量标准及其他设备
技术特性
读数误差应不超过士0.003mm
儿何量值误差应不超过士0.01mm表2校准项目一览表
校准项目
通用技术要求的检查
标准样板几何量值测量误差
光标尺寸示值误差
重复性
用水平仪检查工作台面应为水平状态。应采用目测及手动方式检查,结果与5.1和5.2进行比较。7.2.2
标准样板几何量值测量误差
标准样板是用于IC卡光标测试系统校准的标准器。标准样板几何量值测试示意图如图1所示,校2
准步骤如下:
图1标准样板几何量值测试示意图将标准样板在实验室放置时间大于等于4h,达到稳定状态;a)
打开工具显微镜电源,测试系统处于正常工作条件;GA/T1062--2013
将标准样板放置在工具显微镜下测试,根据测试需要调整工具显微镜的X、Y坐标行程范围、目镜焦距等使成像清晰:
d)用工具显微镜对图1标注几何量值lo(=1,2,3,4)分别进行检测。1o值的测量方式为,在测量区域内均匀选择3个测试点,得到3个测试值,其平均值为L的标准值;将L(z=1,2,3,4)对应填入附录A表A.1中的标准值1、标准值2、标准值3和标准值e)
4位置;
标准样板几何量标称值1(6=1,2,3,4)在其说明书上给出;g)按式(1)计算误差,结果与4.1进行比较。A1=16-10z
式中:
标准样板儿何量值误差,单位为毫米(mm)l.(6=1,2.3,4)标准样板几何量标称值,单位为毫米(mm);Lo(—1.2,3,4)
标准样板几何量标准值,单位为毫米(mm)。3光标尺寸示值误差
用标准样板对IC卡光标测试系统示值误差进行校准,步骤如下:a)IC卡光标测试系统充分预热,能达到稳定工作状态;(1)
b)将标定后的标准样板放置在IC卡光标测试系统单卡测试位置。打开光标测试软件,读出质量数据区的四个测试值1(=1,2,3.4),分别为右上角黑块长度11,右下角黑块长度12和宽度L3、左下角黑色长方形宽度14。将每个数据填人附录A表A.1中的相应位置;按式(2)计算光标尺寸示值误差,结果与4.2进行比较。c)
式中:
光标尺寸示值误差,单位为毫米(mm);(=1,2,3,4)
光标尺寸测试值,单位为毫米(mm);标准样板几何量值,单位为毫米(mm)。lo(-1,2,3,4)-
7.2.4重复性
根据JJF1033一2008规定的重复性测量方法要求,校准步骤如下:·(2)
GA/T1062—2013
试验过程及方法按照7.2.3a),b)进行。在测试条件不变的情况下对上述测试值1(工=1,2,a
3,4),每个值重复10次测量,得到10个测量值1(i=1,2,10),计算得到重复性测量结果S。相对不同的工,得到四组测试值,计算得到4个重复性测量结果。将数据填人附录A表A.1的相应位置;
重复性测量结果按式(3)计算,结果与4.3进行比较Z(l-i)4
式中:
t(=1,2,3,4;=1,2,10)
n=10。
重复性,单位为毫米(mm);
第工组第i次光标尺寸测试值,单位为毫米(mm);*(3)
第工组10次测量值的算术平均值,单位为毫米(mm);c)取上述四个S值中最大值为本项目校准结果,与4.3进行比较。8
校准结果表达
按第7章进行校准,出具校准证书,内容参见附录A。标准样板几何量值测量误差、光标尺寸示值误差,根据用户要求给出校准结果的测量不确定度/误差。其中测量不确定度的评定方法按照JJF1059要求执行。9
复校时间间隔
复校时间间隔可视设备的使用频度或客户需求确定,复校时间间隔建议不超过6个月。附录A
(资料性附录)
IC卡光标测试系统校准记录格式A.1IC卡光标测试系统校准记录格式见表A.1。表A.1IC卡光标测试系统校准记录格式证书编号
送检单位
制造厂
校准地点
校准依据
校准人
计量标准名称
1.通用技术要求检查
2.标准样板几何量值测试误差
测试值
测试值
技术要求
标准值1
标准值3
3.光标尺寸示值误差
标准值1
标准值4
技术要求
测试值1
测试值4
标称值1
标称值3
(mm)
联系人
型号规格
环境温度
核验人
型号/规格
测试值
测试值
(mm)
标准值2
测试值2
出厂编号
相对湿度
校准日期
批准人
检定证书号
标准值2
标准值4
(mm)
标称值2
标称值4
标准值3
GA/T1062—2013
测试值3
GA/T1062—2013
4.重复性
重复次数
标准值1
测试值1
标准值2
测试值2
标准值3
测试值3
标准值4
测试值4
技术要求
表A.1(续)
单位:mm
[1]JJF1071—2010
参考文献
国家计量校准规范编写规则
GA/T1062—2013
GA/T1062-2013
打印H期:2014年7月28HF009.1
中华人民共和国公共安全
行业标准
IC卡光标测试系统校准规范
GA/T1062—2013
中国标准出版社出版发行
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开本880×12301/16
印张0.75字数16千字
2013年6月第一版
2013年6月第一次印刷
书号:155066-2-25299定价16.00元如有印装差错
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