本文件描述了变形铝及铝合金、变形镁及镁合金产品的超声波检验方法。 本文件适用于采用超声波脉冲反射技术对变形铝及铝合金、变形镁及镁合金产品进行超声波检验。 本文件不适用于铝、镁及其合金生产的铸件、焊接件及层状复合材的超声波检验。

ICS。77. 040. 20
CCS H 26
中华人民共和国国家标准銀
GB/T6519—2024
代替GB/T
6519—2013
变形铝、镁合金产品超声波检验方法UItrasonie inspection of wrought aluminium and magnesium alloy products2024-03-15发布
国家市场监督管理总局
国家标准化管理委员会
2024-10-01实施
规范性引用文件
术语和定义
方法概述
检验条件
仪器设备
检验记录
质量保证和控制
12检验报告
附录A（规范性）标准试块
附录B（规范性）对比试块
附录C（规范性）动态测试参比试样目
附录D（规范性）检验技术、检验文件及检验模式说明附录E（资料性）1mm～6mm厚铝合金薄板兰姆波检验方法GB/T 6519—2024
GB/T6519—2024
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
本文件代替GB/T6519一2013《变形铝、镁合金产品超声波检验方法》，与GB/T6519一2013相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：更改了方法概述，注明了影响探伤结果的因素（见第4章，2013年版的第4章）；a
更改了检验人员要求（见5.1，2013年版的第5章）；更改了检验环境要求，明确了检验温度（见5.2，2013年版的第6章）；更改了材料，细化了标准试块、对比试块要求（见第6章，2013年版的7.1）；d)
增加了动态测试参比试样要求（见6.1.3）；f)
更改了探头（见7.1，2013年版的7.2）；g)
更改了超声波检验仪器（见7.2，2013年版的7.3）；h）
增加了检验模式和检验方法（见9.1）；增加了对特殊类型缺陷的检验可靠性验证要求（见9.7）；i）
增加了动态扫查验证要求（见9.8）；j）
更改了质量验收等级，增加了密集型缺陷的评估要求（见9.10，2013年版的9.2.7.2）；k）
增加了样品检验后处理和检验标识（见9.11）；1）
m）增加了质量保证和控制（见第11章）。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中国有色金属工业协会提出本文件由全国有色金属标准化技术委员会（SAC/TC243)归口。本文件起草单位：东北轻合金有限责任公司、山东南山铝业股份有限公司、西南铝业(集团)有限责任公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、成都盛泰科检测技术有限公司、国标（北京）检验认证有限公司、广西南南铝加工有限公司、有研工程技术研究院有限公司、南昌航空大学、山东究矿轻合金有限公司、辽宁忠旺集团有限公司、江苏三合声源超声波科技有限公司、山东创新金属科技有限公司。本文件主要起草人：王洪玉、张晓霞、赵永军、邱新东、李志刚、赵子颖、李杨、刘克伟、霍庆利、郑许、闫丽珍、陆铭慧、王韧、侯岩、杨志刚、鲍蟠虎、赵晓光、李德贵。本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为：一1985年首次发布为GB/T6519一1985，2000年第一次修订，2013年第二次修订；一本次为第三次修订。
1范围
变形铝、镁合金产品超声波检验方法本文件描述了变形铝及铝合金、变形镁及镁合金产品的超声波检验方法。GB/T6519—2024
本文件适用于采用超声波脉冲反射技术对变形铝及铝合金、变形镁及镁合金产品进行超声波检验，本文件不适用于铝、镁及其合金生产的铸件、焊接件及层状复合材的超声波检验。2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T12604.1
GB/T18694
GB/T18852
GB/T19799.1
GB/T28880
无损检测术语超声检测
无损检测超声检验探头及其声场的表征无损检测超声检测测量接触探头声束特性的参考试块和方法无损检测超声检测1号校准试块
无损检测不用电子测量仪器对脉冲反射式超声检测系统性能特性的评定JG746超声探伤仪
水浸变形铝合金圆铸锭超声波检验方法YS/T874
YS/T1187
YS/T1188
YS/T1633
3术语和定义
铝及铝合金薄壁管材超声检测方法变形铝合金铸锭超声检测方法
变形铝及铝合金产品超声波相控阵检验方法GB/T12604.1界定的术语和定义适用于本文件，4方法概述
探头中的压电晶元在电脉冲激励下产生超声波，超声波通过耦合介质在被检样品中传播，如遇到缺陷（异质界面）将产生反射波和折射波被探头接收，探头中的压电晶元将超声波转换为电信号，被仪器接收进行信号处理和放大及显示，显示信息与验收标准规定的已知超声参考反射体超声响应信号进行比较，对检验到的缺陷进行量值和位置评估，评定被检样品的质量注1：由于被检样品表面状态、几何形状、超声波声束与入射面垂直入射发生倾斜等因素将可能影响缺陷和底反射波显示波幅值降低，这些因素会严重降低本文件规定的超声波检验方法检验结果的可靠性。注2：缺陷当量值的评估受探头特性、缺陷表面状态和缺陷性质及形状等因素的影响，本文件规定的超声波检验缺陷测试的数据与认可的超声参考反射体测试的数据进行比较评估是在受限条件下进行的，很难确定被检样品检出的缺陷实际尺寸。
注3：因为检验系统中存在许多互相影响的变量因素，将影响超声波检验结果，因此很难确定检测到的缺陷对被检样品力学性能实际定量的影响。尽管本方法提供了产品制造中对质量的可靠控制方法，但将其作为本文件检GB/T6519—2024
验产品加工工件的最终性能和质量专项指示是不合适的。5检验条件
5.1检验人员
5.1.1超声波检验人员应通过国家认可或需方认可的无损检测专业认证机构培训和考试并获得相应等级资质证书。
5.1.2超声波检验人员从事超声波检验工作应符合其资质证书技术等级的规定。5.1.3超声波检验人员上岗前还应进行本文件、检验规程及检验设备的操作培训，经考试合格并得到企业最高管理者或其授权代表批准方可上岗操作。5.2检验环境
5.2.1检验环境温度宜保持在22℃土15℃范围内，样品温度应与环境温度相同。5.2.2检验环境不应有强磁、震动、高频、灰尘大、机械噪声大、腐蚀性气体。5.2.3检验场地应安全、空间充足、光线适度，保证检验结果有效。6材料
6.1标准试块、对比试块及动态测试参比试样6.1.1标准试块应符合附录A的规定。6.1.2对比试块应符合附录B的规定。6.1.3动态测试参比试样应符合附录C的规定6.2耦合剂
耦合剂应符合表1的规定，基准灵敏度调试、被检样品检验、缺陷评估应使用相同的耦合剂表1耦合剂要求
检验技术
水浸法
接触法
7仪器设备
7.1探头免费标准下载网bzxz
7.1.1探头选择
耦合剂要求
耦合剂应采用无气泡、无杂质、清洁的水。如有需要，经相关技术部门同意，可在水中加入适量的防蚀剂和润湿剂，所有添加剂应对设备、被检样品及相关装置无腐蚀和损害，并得到需方的批准
耦合剂应透声性好、清洁，对被检样品、探头及人体无伤害。耦合剂黏度及表面润湿性应根据被检样品表面粗糙度选择，应保证声能很好地传入被检样品中7.1.1.1根据被检样品检验部位的几何形状、厚度、表面状态、检验范围、表面分辨力和缺陷特征、缺陷主平面取向及验收等级等检验条件选择探头。2
GB/T6519—2024
7.1.1.2探头频率以有效检出、分辨和评估缺陷为原则进行选择，宜为2MHz～15MHz。频率越高，声束指向性越好，深度和横向分辨力就越好，频率越低，将有更好的声穿透能力。7.1.1.3探头灵敏度、分辨力应满足样品检验要求，纵波双晶组合探头应有不小于10dB的检验灵敏度余量。
7.1.1.4检测技术、探头类型、探头测试频次、晶元尺寸及应用说明应符合表2的规定。表2检验技术、探头类型、探头测试频次、晶元尺寸及应用说明检验技术
接触法
水浸法
探头类型”
圆形直探头
纵波双晶
组合探头
横波探头
圆形平探头
聚焦探头
刷式探头
相控阵中
虚拟探头
探头测试频次
初次使用前、受损维
修后、每6个月
初次使用前、受损
维修后、每12个月
按YS/T1633
晶元尺寸”
晶元直径或晶元长边
为6.0mm~25.4mm
晶元直径或
晶元长边为
9.5mm~25.4 mm
宽度为6.35mm
12.7mm，长度
不大于50，8mm
6.0 mm~25.4 mm
应用说明
初始扫查，缺陷评估
初始扫查，在焦柱区完成缺陷评估。根据被检样品厚度和检验分辨力及检验要求选择晶元尺寸和焦距
初始扫查，缺陷评估
初始扫查，缺陷评估时采用圆形晶元初始扫查，在焦柱区完成缺陷评估。根据被检样品形状、检验范围、检验分辨力、检验质量要求选择聚焦探头的压电晶元尺寸及透镜曲率半径等参数
初始扫查，应对刷式探头初始扫查检出的缺陷采用圆形平探头进行评估
初始扫查，相控阵中的每个虚拟探头应符合常规探头的相应要求；当线性相控阵探头中的虚拟探头近似为方形，且主动孔径大于90%的被动孔径、小于110%的被动孔径时，可用于缺陷评估
对于特殊几何形状的被检样品，如需采用其他专用探头，应根据被检样品加工工艺的特点和质量验收要求，由供需双方协商确定探头形状、尺寸、技术性能指标。若探头有效晶元尺寸不在规定的范围内，需要使用其他尺寸或规格的探头时，由供需双方协商确定，并符合检验质量要求。
7.1.2探头测试
7.1.2.1一般要求
7.1.2.1.1在初次使用前应对探头按7.1.2.2规定进行有效声束测试。7.1.2.1.2接触法检验采用圆形直探头，水浸法检验采用圆形平探头时，探头最后一个声压极大值处测得的有效声束最小值与最大值之比应大于0.75，测试时不应有明显的副瓣。7.1.2.1.3采用横波探头时，应测试声入射点、前沿距离、折射角。当折射角与标称值偏差大于2°时，探头角度应修正后使用。
7.1.2.1.4采用聚焦探头时，应测试水中焦距、焦柱区长度、焦点尺寸。7.1.2.1.5采用刷式探头时，在工作水程距离设置下，调试测试参数，使验收等级平底孔超声响应波幅3
GB/T6519—2024
值为垂直极限的50%，在有效声束范围内沿探头长边方向测试灵敏度一致性，平底孔超声响应波幅值的变化应在垂直极限的40%～60%范围内，制作测试超声响应波幅值分布图，确定探头最低灵敏区域。7.1.2.1.6探头初次使用时，应测试探头峰值频率，探头峰值频率偏差为标称频率的土10%。7.1.2.1.7探头应按7.1.2.3规定制作距离-增益超声响应曲线，信噪比大于2：1。7.1.2.1.8测试数据应与初始测试数据比对。接触法检验探头距离-增益超声响应曲线偏差不应大于6dB，水浸法检验探头距离-增益超声响应曲线偏差不应大于2dB。7.1.2.1.9相控阵探头应符合YS/T1633的规定。7.1.2.2测试有效声束
7.1.2.2.1在一组同孔径、同孔深、不同埋深的平底孔对比试块中，至少选择平底孔埋深在检验范围的1/4、2/4、3/4和上表面分辨力及最后一个声压极大值处的对比试块进行有效声束测试，平底孔直径为验收等级要求的最小尺寸，对于水浸法检验探头可用钢球测试探头有效声束。7.1.2.2.2将探头移动到对比试块平底孔的上方，移动探头找平底孔最大超声响应波幅值，调整仪器增益使波幅值为垂直极限的80%；在此位置将探头分别向前后或左右方向移动，直到超声响应波幅值降至垂直极限的40%，向反方向移动探头越过最大超声响应，直到超声响应波幅值再次降至垂直极限的40%，测量探头两个中心位置之间的距离，该距离为探头有效声束尺寸。7.1.2.2.3圆形探头应分别在两个垂直方向进行有效声束测试；双晶探头应沿与隔声层平行方向进行有效声束测试；刷式探头应沿与长边相平行的方向进行有效声束测试。7.1.2.2.4采用多通道超声系统进行检验时，应对所有探头进行有效声束测试7.1.2.2.5当仪器设备更换或检修时，或水浸法检验探头水程距离改变时，应重新进行有效声束测试。7.1.2.3制作距离-增益超声响应曲线7.1.2.3.1将纵波探头放在对比试块平底孔的上方，移动探头找平底孔最大超声响应波幅值，调整仪器增益使波幅值为垂直极限80%，记录此时的增益值，用相同的方法对每一个不同埋深平底孔进行测试，绘制距离-增益超声响应曲线，对于刷式探头应根据制作测试的超声响应波幅值分布图，确定探头最低灵敏区域，制作距离-增益超声响应曲线。7.1.2.3.2将横波探头放在对比试块测试面上，移动探头找超声参考反射体最大超声响应波幅值，调整仪器增益使波幅值为垂直极限的80%，记录此时的增益值，用相同的方法对每一个不同埋深超声参考反射体进行测试，制作距离-增益超声响应曲线。7.1.3探头质量证明书与标识
7.1.3.1常规探头出厂质量证明书应符合GB/T18694和GB/T18852的规定，并满足采购要求。相控阵探头质量证明书应符合YS/T1633的规定，并满足采购要求。7.1.3.2探头应有制造商标识，且至少涵盖探头编号、频率、晶元尺寸、探头类型等其他参数标识（如透镜曲率半径、在水中焦距等，如适用）。7.2超声波检验仪
7.2.1仪器应与探头相匹配，A扫显示屏最小尺寸不小于63.5mmx88.9mm,超声波检验仪性能测试应符合JJG746或制造商出厂校准规程要求，应有校准证书和测试数据。仪器与探头组合综合性能测试应按GB/T28880的规定进行，最低性能指标应符合表3的规定。仪器在规定的检验频率和所要求的检验灵敏度下，具有对接收超声波信号进行稳定的线性放大能力。4
性能指标
表3超声波检验仪最低性能指标
垂直极限（超声反射波幅值在A扫显示屏显示的最大高度）/%垂直线性上限（以垂直极限的百分比表示)/%垂直线性下限（以垂直极限的百分比表示)/%灵敏度(以垂直极限的百分比表示)/%信噪比“
铝合金对比试块入射面最大分辨力4/mm铝合金对比试块底反射面最大分辨力*/mm水平极限（在A扫显示屏上水平标尺范围内可显示的最大扫描轨迹长度）/%
水平线性范围（以水平极限的百分比表示)/%50
频率15MHz不是对所有仪器的要求，当需要时应满足这一指标要求，，采用Φ0.4mm平底孔，埋深不小于76mm铝合金对比试块。采用Φ0.8mm平底孔，埋深不小于76mm铝合金对比试块。5.0
GB/T6519—2024
频率/MHz
100（满刻度）
100%：10%
100（满刻度）
采用Φ1.2mm平底孔对比试块测试分辨力。采用90.4mm平底孔，埋深不小于76mm铝合金对比试块调试灵敏度，找平底孔最大反射波幅值，调整仪器增益使波幅值为垂直极限的80%，在不改变增益的情况下对分辨力试块进行测试，找平底孔最大反射波幅值，若波幅值低于垂直极限80%，调整增益使波幅值为垂直极限80%，平底孔反射波幅值上升沿或下降沿与相邻界面波相交点在基线上不大于垂直极限的20%；应能清晰分辨平底孔反射波与界面波。对于15MHz检验频率，平底孔反射波幅值上升沿或下降沿与相邻界面波相交点在基线上不大于垂直极限40%；应能清晰分辨平底孔反射波与界面波7.2.2超声波相控阵检验仪应符合YS/T1633的规定。7.2.3超声波检验仪每年或在初次使用前或检修更换部件后应进行校准并符合7.2.1规定。7.2.4超声波检验仪供电应稳定，在超声波检验仪信号幅度调整到垂直极限50%的情况下，电压波动引起超声波检验仪信号幅度变化应在垂直极限的47.5%52.5%范围内，当信号波幅波动超过这一范围时，应加稳压器或更换电池。7.2.5用于评估超声波检验仪的所有设备都应具有可追溯性。7.2.6需方对产品检验有特殊要求时，应由供需双方协商确定仪器最低性能指标及测试方法。7.3辅助装置
7.3.1水浸自动检验辅助装置
水浸自动检验辅助装置应使声能有效传入被检样品中，抗干扰能力强、操作方便、使用安全、运行稳定可靠，至少包含水槽或探头与被检样品声传输耦合装置、自动检验传动装置、探头操纵装置、探头基准控制装置等，具体要求如下：
在纵波垂直入射自动扫查中，能使探头始终保持声束垂直入射检验面；探头操纵装置的机械运动精度应至少每年进行一次校准；水槽或给水装置应能浸没样品被检部位，使水程距离满足检验要求，探头应有足够的平稳移动空间；
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