基本信息
标准号:
QX/T 546-2020
中文名称:空间高能粒子辐射效应术语
标准类别:气象行业标准(QX)
英文名称:Terminology for space energetic particle radiation effects
标准状态:现行
发布日期:2020-04-14
实施日期:2020-07-01
出版语种:简体中文
下载格式:.pdf .zip
下载大小:3.36 MB
相关标签:
空间
高能
粒子
辐射
效应
术语
标准分类号
标准ICS号:数学、自然科学>>07.060地质学、气象学、水文学
中标分类号:综合>>基础学科>>A47气象学
关联标准
出版信息
出版社:气象出版社
书号:135029-6137
标准价格:15.0
出版日期:2020-05-01
相关单位信息
起草人:唐云秋、薛炳森、闫小娟
起草单位:国家卫星气象中心(国家空间天气监测预警中心)
提出单位:全国卫星气象与空间天气标准化技术委员会空间天气监测预警分技术委员会(SAC/TC 347/SC 3)
发布部门:中国气象局
主管部门:中国气象局
标准简介
本标准界定了空间天气保障中涉及的空间高能粒子辐射效应相关的术语。本标准适用于空间天气保障,以及空间高能粒子辐射效应研究与应用。
标准内容
中华人民共和国气象行业标准 QX/T546—2020 空间高能粒子辐射效应术语 Terminology for space energetic particle radiation effects 2020-04-14发布 中国气象局 发布 2020-07-01实施
前言
本标准按照GB/T1.1—2009和GB/T20001.1—2001规则起草,由全国卫星气象与空间天气标准化技术委员会空间天气监测预警分技术委员会(SAC/TC347/SC3)提出并归口。起草单位为国家卫星气象中心(国家空间天气监测预警中心),主要起草人包括唐云秋、薛炳森、闫小娟。
1 范围
本标准界定了空间天气保障中涉及的空间高能粒子辐射效应相关术语,适用于空间天气保障,以及空间高能粒子辐射效应研究与应用。
2 粒子辐射环境
2.1 地球辐射带 (radiation belts of the earth)
地球空间中被地磁场捕获而形成的相对稳定的高能带电粒子聚集区,包括内辐射带(范艾伦带)和外辐射带。
2.2 银河宇宙线 (galactic cosmic rays; GCRs)
源于银河系的高能带电粒子流。
2.3 太阳宇宙线 (solar cosmic rays; SCRs)
太阳活动产生的高能带电粒子流。
2.4 空间高能粒子辐射环境 (space energetic particle radiation environment)
空间中能量高于几十千电子伏特的带电粒子环境,主要包括银河宇宙线、太阳宇宙线和地球辐射带高能带电粒子。
2.5 空间高能粒子辐射效应 (space energetic particle radiation effects)
空间高能粒子辐射环境对在轨航天系统及生物体产生的影响,主要包括辐射剂量效应、单粒子效应、深层充电效应和辐射生物效应。
3 航天器辐射剂量效应
3.1 辐射剂量效应 (radiation dose effect)
空间高能粒子造成的电离作用和原子位移作用,使航天器材料、电子器件性能下降甚至损坏,单指对航天器材料和电子器件的影响。
3.2 电离总剂量效应 (total ionizing dose effect)
空间高能粒子通过电离过程引起航天器材料状态改变。
3.3 位移效应 (displacement effect)
空间高能粒子辐照半导体材料时,使其原子产生位移,造成缺陷,改变电学性能,导致器件性能下降。
3.4 总电离剂量 (total ionizing dose; TID)
空间高能粒子通过电离过程,在材料中传递的能量总额。
3.5 非电离能损 (non-ionizing energy loss; NIEL)
空间高能粒子造成半导体材料原子位移所对应的能量传递。
3.6 线性能量输送 (linear energy transfer; LET)
带电粒子通过材料单位长度时输送的能量,单位为兆电子伏特平方厘米每克(MeV·cm²/g)。
4 航天器单粒子效应
4.1 单粒子效应 (single event effect; SEE)
由于单个高能粒子撞击微电子器件敏感区域而引起的器件异常。
4.2 单粒子翻转 (single event upset; SEU)
由单个高能粒子引起系统或设备中逻辑电路单元状态改变的现象。
4.3 单粒子锁定 (single event latch-up; SEL)
由单个高能粒子引起系统或设备中逻辑电路单元丧失功能的现象。
4.4 单粒子烧毁 (single event burnout; SEB)
由单个高能粒子轰击引起系统或设备中元器件损坏的现象。
4.5 单粒子栅极击穿 (single event gate rupture; SEGR)
由单个高能粒子轰击引起系统或设备中功率器件破坏性失效的现象。
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。