本标准适用于粉状、粒状和片状的部分结晶聚合物的熔点测定。本标准不适用于加有会干扰双折射的添加剂的结晶聚合物的熔点测定。 GB/T 4608-1984 部分结晶聚合物熔点试验方法 光学法 GB/T4608-1984 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
部分结晶聚合物熔点试验方法
光学法
Test for meltiug point of
semlcrystalline polymers
Optical method
本标准适用于粉状、粒状和片状的部分结晶聚合物的熔点测定。本标准不适用于加有会干扰双折射的添加剂的结晶聚合物的熔点测定。定义
部分结晶聚台物，晶棍被非晶相所包围的一-种聚合物。原理
UDC 678.7 : 678
.01 586
GB 460B--84
试样置于偏光熔点显微镜加热台上，控制定的升溢速度，观察两个正交偏振器之间双折射完全消失时的温度，即为部分结晶聚合物的熔点。3
用于测定部分结晶聚合物熔点的偏光熔点显微镜的各部件应符合以下要求：3.1偏光显微镜，放大倍数为50～100倍，并装有起偏器和检偏器。3.2显微镜加热台，为一-个安装在偏光显微镜台上的绝缘金属块。该金瞩块必须符合下列要求3.2.1有一个光通路的小孔。
3.2.2靠近光孔有个温度计插孔。3.2.3有电热。
8.2.4由加热台板和玻璃罩维成一个小空室作为保温和通情性气体覆盖用。3.3温度控制器，用来控制升温速度。8.4溫度计，分度值不大十1℃，有几个经校准过的测量范围。覆盖
温度计应定期在仪器上用试剂级化学药品校准，校准时采用试验时所选用的升温速度。推荐的化学药品如表所示：
薄荷醇-1
羟基嚒啉
乙酰栉苯铵
琥珀酸
国家标准局1984-07-30发布
熔点，
113-114
188~189
261~262
1985-05-01实施
GB 4608—84
8.5冷却装置，在测定熔点之后用来使温度迅速下降的金属块，或其他冷却装置。3,6显微镜载玻片和盖玻片。
3.7金属取样勺。
或试样
.1粉末样品。在清洁的载玻片上放1～2mg样品，盖上盖玻片，然后将该组合件放在加热台上，升温至高于聚合物的熔点10～20C，在盖玻片上轻轻加压，使样品形成厚度为0.05m以下的薄膜，关掉加热电源，让试样慢慢冷却至充分结晶。4.2粒状或片状样品。用刀片切取1～2mg样品放在载玻片上，盖上盖玻片，然后按4.1规定制备试样。
4.3每个样品取两个试样。
注：①将试样预先熔化,制或薄膜测定熔点的优点是，可以破环由于结晶聚合物分子取向或存在内应力引起的双折射，避免因此而引起的熔点误差。②对于空气能引起降解的试样,在试样制备时,应先用氮气排除加热台上小室内的空,然后一直在微弱氮流保护下制备试样。
5试验步骤
5.1将制备好的试样组合件放于显微镜的加热台上并使试样薄膜正好覆盖着光孔。5.2打开光源，调节光源到适当的光强度，并调节显微镜使之聚焦。5.调节偏振器，从国镜！打观察出现暗视场后，可再次调节偏光显微镜聚焦，直到暗视场中出现清晰的亮点。
5.4对于易氧化降解的试样，则应从加热台上空室的气体人口通入微弱的氮气流覆盖试样。6.6调节温度控制器使加热台逐渐（以不高于10C/min的速度）被加热到比预测的熔点Q低下列数值的温度：
Q<150℃，为10℃
150℃Q>200℃，为20℃。
然后调节温度控制器，使加热台以1～2℃/min的速率继续升温。5.6记下双折射消失，出现完全暗视场时的温度，此温度即为试样的熔点。5.7关闭加热台电源。
5.将另一个试样组合件放于显微镜加热台上，重复5.1～5.7的操作步骤。5.9同一操作者测定两个试样的熔点差值大于1℃C时，则应再取两个试样重新测定。6结果表示
部分结晶聚合物熔点以两次测定结果的算术平均值表示，精确到1℃。7试验报告
试验报告应包括下列内容：免费标准下载网bzxz
材料名称，规格、批号、来源或生产厂a
制备试样时的冷却速度；
测定熔点时的升温速度：
两次测定的单个熔点值及半均熔点值！试验人员，
试验日期。
GB4608-84
时加说明：
本标准由中华人民共和国化学工业部提出，日，由全国塑料标准化技术委员会物理力学方法分技术委员会归口。
本标准由晨光化工研究院一分院起草。本标准主要起草人罗寿琼、刘昌浆、李瑞清。
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