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基本信息

标准号: GB/T 5201-1994

GB/T 5201-1994带电粒子半导体探测器测试方法

标准类别:国家标准(GB)

发布日期:1994-01-02

实施日期:1995-10-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

相关标签: 探测器 半导体

标准分类号

标准ICS号:计量学和测量、物理现象>>17.240辐射测量

中标分类号:能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F80核仪器与核探测器综合

关联标准

替代情况:GB 5201-1985

出版信息

出版社:中国标准出版社

页数:平装16开, 页数:17, 字数:29千字

标准价格:13.0 元

相关单位信息

首发日期:1985-07-18

复审日期:2004-10-14

起草单位:北京核仪器厂

发布部门:国家技术监督局

主管部门:国防科学技术工业委员会

标准简介

本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。全耗尽金硅面垒型探测器的某些性能测试也应参照本标准执行。 GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法 GB/T5201-1994