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基本信息

标准号: GB 5594.2-1985

GB 5594.2-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法

标准类别:国家标准(GB)

发布日期:1985-11-27

实施日期:1986-12-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

相关标签: 电子 结构 弹性模量 陶瓷材料 元器件

标准分类号

标准ICS号:31.030

中标分类号:>>>>L32

关联标准

出版信息

出版社:中国标准出版社

页数:3页

标准价格:8.0 元

相关单位信息

首发日期:1985-11-27

复审日期:2004-10-14

起草人:陆文汉

起草单位:天津大学

提出单位:中华人民共和国电子工业部

发布部门:国家标准局

主管部门:信息产业部(电子)

标准简介

本标准适用于室温下电子器件结构陶瓷材料的杨氏弹切变模量和泊松比的测量。 GB 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 GB5594.2-1985