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GB 5594.4-1985

基本信息

标准号: GB 5594.4-1985

中文名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法

标准类别:国家标准(GB)

标准状态:现行

发布日期:1985-11-27

实施日期:1986-12-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

下载大小:KB

相关标签: 电子 元器件 结构 陶瓷材料 性能 测试方法 介质 损耗 正切

标准分类号

标准ICS号:31.030

中标分类号:>>>>L32

关联标准

出版信息

出版社:中国标准出版社

页数:4页

标准价格:8.0 元

出版日期:1986-12-01

相关单位信息

首发日期:1985-11-27

复审日期:2004-10-14

起草人:徐延献

起草单位:天津大学

归口单位:中华人民共和国电子工业部

提出单位:中华人民共和国电子工业部

发布部门:国家标准局

主管部门:信息产业部(电子)

标准简介

本标准适用于测定电子器件结构陶瓷材料在频率1MHz、温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。 GB 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 GB5594.4-1985 标准下载解压密码:www.bzxz.net