GB/T 14115-1993
基本信息
标准号： GB/T 14115-1993
中文名称：半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
标准类别：国家标准(GB)
标准状态：现行
发布日期：1993-01-21
实施日期：1993-08-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：272913
标准分类号
标准ICS号：电子学>>31.200集成电路、微电子学
中标分类号：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
关联标准
出版信息
出版社：中国标准出版社
书号：155066.1-9971
页数：平装16开， 页数：14， 字数：24千字
标准价格：12.0 元
出版日期：2004-08-13
相关单位信息
首发日期：1993-01-21
复审日期：2004-10-14
起草单位：上海件五厂
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
发布部门：国家技术监督局
主管部门：信息产业部（电子）
标准简介
本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。 GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 GB/T14115-1993 标准下载解压密码：www.bzxz.net
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标准内容
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
General princlples of measuring methods of Sample/Holdamplitiers for semfconductor lntegrated circuits1 主题内容与适用范围
GB/T 14115-93
本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器（以下简称器件电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。2引用标准
GB3439半导体巢成电路TT1电路测试方法的基本原理GB3412半导体巢成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理3总的要求
3.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。3.2测试期间，施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定。3.3测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响，测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定
3. 4被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件,3.5若有要求时，应接器件详细规范规定的顺序接通电源。3.6测试期间，被测器件应按器件详细规范规定连接外用电路和补偿网络。3.7如需外接保持电容（时，保持电容器应符合测试要求。在测试电路安排上应尽量减小外电路对保持电容的馈通与泄滞。
3.8若电参数值是出几步测试的结果经计算确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短。4警数测试
4.1线性误差EL免费标准下载网bzxz
4.1.1日的
测试器件在采样状态时实际转移特性曲线与最佳拟合直线间的最大相对偏差。4.1.2测试原理图
测试源理图如图1所示。
国家技术监督局1993-01-21批准1993-08-01实施
W4. 1.3测试条件
直流体号源
GB/T 14115—93
披测香件
失调补偿网培
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定：a.
环境温度：
电源电压：
失调补偿网络：
外接保持电容(适用时)；
控制倍号电平：
满量程输入电压和满量程输出电压；负载电阻。
测试程序
4. 1. 4. 1
按规定的坏境条件，将被测器件接入测试系统中。直流电氏表
接通规定的电源电压和直流信号源，施加控制信号，使器件处于采样状态。4.1.4.2
4. 1. 4. 4
调节直流号源，使器件的输入电压为零，调节失调补偿网络，使器件输出电压为零。在规定的满量程输人电压范围内，逐步调节器件的输人电压Vi，并测出相应于每一输入电压的输出电压Vo。
4.1.4.5根据 4.1. 4. 4测试结果，确定最佳拟合直线。4.1.4.6找出实际特性曲线与最佳拟合直线之间的最大偏差|4V。m按式(1)计算线性误差EL：
式中：Vpo—满量程输山电压。
4. 2 增益误差 E
4.2.1目的
LAVali
测试器件在采样状态时实际满量程输出电压与规定的满量程输出电压的相对偏差。4.2.2测试原图
测试源理图如图2所示。
W（1）
4.2.3测试条件
直流信号源
控制值号
GB/T 14115-- 93
被滞螺件
失调补属路
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定：a.
环境温度：
电源电压：
失调补偿网络；
外接保持电容（适用时)；
控制信号电平：
满量程输入电压和满量程输出电压：负载电阻。
测试程序
4. 2. 4. 1
4. 2. 4. 2
4. 2. 4. 4
按规定的环境条件，将被测器件接人测试系统中。直薇电压囊
接通规定的电源电压和直流信号源，施加控制信号，使器件处丁采样状态。调节直流信号源，使器件的输入电压为零，调节失调补偿网络，使器件的输出电压为零。调节直流信号源，使器件输入满量程电压Vrsl。在器件的输出端测出输出电玉V\Pso：按式(2)计算增益误差Ec：
式中：Vpsn—
满母程输出电压。
4.3采集时间
4. 3. 1目的
-V'psu
测试器件从控制信号进人采样状态至输出电压最后次进入误差带所需的时间。4.3.2测试原理图
测试原理图如图3所示,测试波形图如图4所示。（2）
W.4.3.3狮试条件
控制征号
输人信号
GB/T14115-93
做测管性
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定：a
环境温度；
电源电压；
输入号和控制信号的波形和幅度；外接保持电容(适用时)：
输出电压及误差范围。
4.3.4测试程序
4. 3. 4. 1 按规定的环境条件,将被测器件接入测试系统中。接通规定的电源电压、输入信号V,和控制信号Vc。4. 3. 4. 2
W.GB/T 1411593
4.3.4.3按图4所示的波形图读取tg4.4.1目的
测试器件从控制信号进入保持状态至输出电压第一次达到保持电平所需的时间。4.4.2测试原理图
测试原理图如图5 所示,测试波形图如图 6 所示。电源
控制信号
输入信号
4.4.3测试条件
性测器性
测试期间，下列测试条件应符合器件细规范的规定：组，
环境温度：
电源电压：
输入信号和控制信号的被形和幅度：外接保持电容(造用时)。
4.4. 4测试程序
4.4. 4. 1
按规定的环境条件将被测器件接入測试系统中。舞
W.GB/T14115—93
4.4.4.2接通规定的电源电压,输入信号V,和控制信号Vc。4.4.4.3适当调节控制信号波形与输入信号波形的延迟，适当调节输入信号波形的上升速率，以便能清晰地观察到所测的孔径时问。4.4.4.4按图6所示的波形图读取值。4.5孔径不确定区t
4.5.1目的
测试器件孔径时间的变化范围。4.5.2測试原理图
测试原理图如图？所示，测试波形图如图8所示。电
控制情
被测腺件
趋入估号
Ve Hr)
4.5.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定：：
环境溢度：
b．电源电压，
W.GB/T14115—93
输入信号和控制信号的波形和幅度，c.
外接保持电容（适用时)。
4.5.4测试程序
4.5.4.1按4.4.4.1~4.4.4.4条的程序连续测试c读取tg的最大值im)和最小值mcmin。4.5.4.2按式(3)计算孔径不确定区：fej = fap(ouk) faptmin)
4.6电压跌落率Svn
4.6.1月的
测试器件从采样进入保持状态后单位时间输出电压的变化。4.6.2测试原理图
测试原理图如图9所示.测试波形图如图10所示。电源
控制信号
输入萨号
上联落电压
下跌落电压
敲测器件
WGB/T 14115—93
4.6.3测试条件
测试期问，下列测试条件应符合器件译细规范的规定：环境温度；
电源电压：
输入信号和控制信号的波形和幅度，外接保持电容（适用时）。
测试程序
按规定的环境条件，将被测器件接入测试系统中。4. 6. 4. 1
4. 6- 4. 2
4. 6. 4. 3
接通规定的电源电压和输入信号VI,控制信号Vc。当调节控制信号和输入信号的频率，以便能清晰地分辨输出波形的跌落曲线。按图1D所示的波形图读取十△Vu或一V。及其对应的时间。按式(4)计算电压嵌落率Svo。
4.7跃落电流IDR
4.7.1日的
对外接保持电容的器件，测试其从采样进入保持状态后流经保持电容的泄漏电流。4.7.2测试源理图
测试原理图如图11所示，测试波形图如图12所示。电源
控制信号
辅人伯号
被器作
W.4
4.7.3测试条件
上联算电用
下购落电压
GB/T 4115—93
测试期间，下列测试条件应符台器件详细规范的规定；环境温度：
电源电压：
输人信号和控制信号的波形和辐度，外接保持电容。
测试程序
4.7. 4. 1
4. 7.4. 3
4. 7. 4. 4
按规定的环境条件,将被测器件接人测试系统中。接通规定的电源电压、输入信号V,和控制信号Ve。适当调节控制信号和输人信号的频率，以便能清晰地分辨输出波形的跌落曲线。按图12所示的波形图读取+V。或一V。及其对应的时间。按式（5)计算跌落电流IR：
4.7. 4. 5
ILR － CH
式中： CH—外接保持电容。
4.8采样—保持失调电压Voo测试器件从采样到保持状态时输出电压的动变化值。4.8-2测试原理图
W.GB/T14115—93
测试原理图如图13所示，测试波形图如图14所示。电源
格湖编号
直满信导源
4.8.3测试条件
正失调电压
负安调电压
被测器件
测试期间、下列测试条件应符合器件详细规范的规定：环境温度；
电源电压：
输入直流信号电压及控制信号的波形和幅度：外接保持电容(适用时)。
4.8.4测试程序
按规定的环境条件，将被测器件接入测试系统中。接通规定的电源电压,输入直流信号V和控制信号 Vc。4.8.4.3适当调节控制信号颗率，以便能清晰地分辨输出波形的跳变幅度。4.8.4.4按图14所示的波形图读取输出电压的跳动幅度即为VoorsH)4.9馈通误差
4.9.1日的
测试器件从采样进入到保持状态后由于输入信号满量程变化引起的输出电压的变化。W.4.9.2测试原理图
GB/T 14115—93
测试原理图剪图15所示，测试波形图如图16所示电源
输人偿号
破测器件
将制信号
4.9.3测试条件
测试期间、下列测试条件应符合器件详细规范的规定：a.
环境温度：
电源电压；
输入直流信尽及控制信号的波形和幅度：外接保持电容（适用时）
输入满量程跳变电压。
測试程序
4. 9.4. 1
按规定的环境条件，将被测器件接入测试系统中。4.9.4.2接通规定的电源电压，输入信号V,和控制信号Vc。承控您
4.9.4.3适当调整输入信号和控制信号频率，以便能清晰地分辨输出波形的跳变幅度。4.9.4.4按图16所示的波形图读取输出电压幅度的变化么V即为EFW.E
附加说明：
GB/T14115—93
附录A
电参数符号与名称对照表
（补充件）
馈通误兼
增益误差
线性误差
跌蒋电流
电压跌落率
采集时间
孔径不确定区
孔径时间
保持失谣电压
本标准由全国集成电路标准化分技术委毋会提出。本标准由上海元件五厂负责起草。主要起草人王庆光、高信龄
W.
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半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
General princlples of measuring methods of Sample/Holdamplitiers for semfconductor lntegrated circuits1 主题内容与适用范围
GB/T 14115-93
本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器（以下简称器件电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。2引用标准
GB3439半导体巢成电路TT1电路测试方法的基本原理GB3412半导体巢成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理3总的要求
3.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。3.2测试期间，施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定。3.3测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响，测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定
3. 4被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件,3.5若有要求时，应接器件详细规范规定的顺序接通电源。3.6测试期间，被测器件应按器件详细规范规定连接外用电路和补偿网络。3.7如需外接保持电容（时，保持电容器应符合测试要求。在测试电路安排上应尽量减小外电路对保持电容的馈通与泄滞。
3.8若电参数值是出几步测试的结果经计算确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短。4警数测试
4.1线性误差EL免费标准下载网bzxz
4.1.1日的
测试器件在采样状态时实际转移特性曲线与最佳拟合直线间的最大相对偏差。4.1.2测试原理图
测试源理图如图1所示。
国家技术监督局1993-01-21批准1993-08-01实施
W4. 1.3测试条件
直流体号源
GB/T 14115—93
披测香件
失调补偿网培
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定：a.
环境温度：
电源电压：
失调补偿网络：
外接保持电容(适用时)；
控制倍号电平：
满量程输入电压和满量程输出电压；负载电阻。
测试程序
4. 1. 4. 1
按规定的坏境条件，将被测器件接入测试系统中。直流电氏表
接通规定的电源电压和直流信号源，施加控制信号，使器件处于采样状态。4.1.4.2
4. 1. 4. 4
调节直流号源，使器件的输入电压为零，调节失调补偿网络，使器件输出电压为零。在规定的满量程输人电压范围内，逐步调节器件的输人电压Vi，并测出相应于每一输入电压的输出电压Vo。
4.1.4.5根据 4.1. 4. 4测试结果，确定最佳拟合直线。4.1.4.6找出实际特性曲线与最佳拟合直线之间的最大偏差|4V。m按式(1)计算线性误差EL：
式中：Vpo—满量程输山电压。
4. 2 增益误差 E
4.2.1目的
LAVali
测试器件在采样状态时实际满量程输出电压与规定的满量程输出电压的相对偏差。4.2.2测试原图
测试源理图如图2所示。
W（1）
4.2.3测试条件
直流信号源
控制值号
GB/T 14115-- 93
被滞螺件
失调补属路
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定：a.
环境温度：
电源电压：
失调补偿网络；
外接保持电容（适用时)；
控制信号电平：
满量程输入电压和满量程输出电压：负载电阻。
测试程序
4. 2. 4. 1
4. 2. 4. 2
4. 2. 4. 4
按规定的环境条件，将被测器件接人测试系统中。直薇电压囊
接通规定的电源电压和直流信号源，施加控制信号，使器件处丁采样状态。调节直流信号源，使器件的输入电压为零，调节失调补偿网络，使器件的输出电压为零。调节直流信号源，使器件输入满量程电压Vrsl。在器件的输出端测出输出电玉V\Pso：按式(2)计算增益误差Ec：
式中：Vpsn—
满母程输出电压。
4.3采集时间
4. 3. 1目的
-V'psu
测试器件从控制信号进人采样状态至输出电压最后次进入误差带所需的时间。4.3.2测试原理图
测试原理图如图3所示,测试波形图如图4所示。（2）
W.4.3.3狮试条件
控制征号
输人信号
GB/T14115-93
做测管性
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定：a
环境温度；
电源电压；
输入号和控制信号的波形和幅度；外接保持电容(适用时)：
输出电压及误差范围。
4.3.4测试程序
4. 3. 4. 1 按规定的环境条件,将被测器件接入测试系统中。接通规定的电源电压、输入信号V,和控制信号Vc。4. 3. 4. 2
W.GB/T 1411593
4.3.4.3按图4所示的波形图读取tg
测试器件从控制信号进入保持状态至输出电压第一次达到保持电平所需的时间。4.4.2测试原理图
测试原理图如图5 所示,测试波形图如图 6 所示。电源
控制信号
输入信号
4.4.3测试条件
性测器性
测试期间，下列测试条件应符合器件细规范的规定：组，
环境温度：
电源电压：
输入信号和控制信号的被形和幅度：外接保持电容(造用时)。
4.4. 4测试程序
4.4. 4. 1
按规定的环境条件将被测器件接入測试系统中。舞
W.GB/T14115—93
4.4.4.2接通规定的电源电压,输入信号V,和控制信号Vc。4.4.4.3适当调节控制信号波形与输入信号波形的延迟，适当调节输入信号波形的上升速率，以便能清晰地观察到所测的孔径时问。4.4.4.4按图6所示的波形图读取值。4.5孔径不确定区t
4.5.1目的
测试器件孔径时间的变化范围。4.5.2測试原理图
测试原理图如图？所示，测试波形图如图8所示。电
控制情
被测腺件
趋入估号
Ve Hr)
4.5.3测试条件
测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定：：
环境溢度：
b．电源电压，
W.GB/T14115—93
输入信号和控制信号的波形和幅度，c.
外接保持电容（适用时)。
4.5.4测试程序
4.5.4.1按4.4.4.1~4.4.4.4条的程序连续测试c读取tg的最大值im)和最小值mcmin。4.5.4.2按式(3)计算孔径不确定区：fej = fap(ouk) faptmin)
4.6电压跌落率Svn
4.6.1月的
测试器件从采样进入保持状态后单位时间输出电压的变化。4.6.2测试原理图
测试原理图如图9所示.测试波形图如图10所示。电源
控制信号
输入萨号
上联落电压
下跌落电压
敲测器件
WGB/T 14115—93
4.6.3测试条件
测试期问，下列测试条件应符合器件译细规范的规定：环境温度；
电源电压：
输入信号和控制信号的波形和幅度，外接保持电容（适用时）。
测试程序
按规定的环境条件，将被测器件接入测试系统中。4. 6. 4. 1
4. 6- 4. 2
4. 6. 4. 3
接通规定的电源电压和输入信号VI,控制信号Vc。当调节控制信号和输入信号的频率，以便能清晰地分辨输出波形的跌落曲线。按图1D所示的波形图读取十△Vu或一V。及其对应的时间。按式(4)计算电压嵌落率Svo。
4.7跃落电流IDR
4.7.1日的
对外接保持电容的器件，测试其从采样进入保持状态后流经保持电容的泄漏电流。4.7.2测试源理图
测试原理图如图11所示，测试波形图如图12所示。电源
控制信号
辅人伯号
被器作
W.4
4.7.3测试条件
上联算电用
下购落电压
GB/T 4115—93
测试期间，下列测试条件应符台器件详细规范的规定；环境温度：
电源电压：
输人信号和控制信号的波形和辐度，外接保持电容。
测试程序
4.7. 4. 1
4. 7.4. 3
4. 7. 4. 4
按规定的环境条件,将被测器件接人测试系统中。接通规定的电源电压、输入信号V,和控制信号Ve。适当调节控制信号和输人信号的频率，以便能清晰地分辨输出波形的跌落曲线。按图12所示的波形图读取+V。或一V。及其对应的时间。按式（5)计算跌落电流IR：
4.7. 4. 5
ILR － CH
式中： CH—外接保持电容。
4.8采样—保持失调电压Voo
W.GB/T14115—93
测试原理图如图13所示，测试波形图如图14所示。电源
格湖编号
直满信导源
4.8.3测试条件
正失调电压
负安调电压
被测器件
测试期间、下列测试条件应符合器件详细规范的规定：环境温度；
电源电压：
输入直流信号电压及控制信号的波形和幅度：外接保持电容(适用时)。
4.8.4测试程序
按规定的环境条件，将被测器件接入测试系统中。接通规定的电源电压,输入直流信号V和控制信号 Vc。4.8.4.3适当调节控制信号颗率，以便能清晰地分辨输出波形的跳变幅度。4.8.4.4按图14所示的波形图读取输出电压的跳动幅度即为VoorsH)4.9馈通误差
4.9.1日的
测试器件从采样进入到保持状态后由于输入信号满量程变化引起的输出电压的变化。W.4.9.2测试原理图
GB/T 14115—93
测试原理图剪图15所示，测试波形图如图16所示电源
输人偿号
破测器件
将制信号
4.9.3测试条件
测试期间、下列测试条件应符合器件详细规范的规定：a.
环境温度：
电源电压；
输入直流信尽及控制信号的波形和幅度：外接保持电容（适用时）
输入满量程跳变电压。
測试程序
4. 9.4. 1
按规定的环境条件，将被测器件接入测试系统中。4.9.4.2接通规定的电源电压，输入信号V,和控制信号Vc。承控您
4.9.4.3适当调整输入信号和控制信号频率，以便能清晰地分辨输出波形的跳变幅度。4.9.4.4按图16所示的波形图读取输出电压幅度的变化么V即为EFW.E
附加说明：
GB/T14115—93
附录A
电参数符号与名称对照表
（补充件）
馈通误兼
增益误差
线性误差
跌蒋电流
电压跌落率
采集时间
孔径不确定区
孔径时间
保持失谣电压
本标准由全国集成电路标准化分技术委毋会提出。本标准由上海元件五厂负责起草。主要起草人王庆光、高信龄
W.
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。