GB/T 9546-1995
基本信息
标准号： GB/T 9546-1995
中文名称：电子设备用固定电阻器 第8部分:分规范:片式固定电阻器
标准类别：国家标准(GB)
标准状态：现行
发布日期：1995-07-02
实施日期：1996-04-01
出版语种：简体中文
下载格式：.rar.pdf
下载大小：352436
标准分类号
标准ICS号：电子学>>电阻器>>31.040.10固定电阻器
中标分类号：电子元器件与信息技术>>电子元件>>L13电阻器
出版信息
出版社：中国标准出版社
书号：155066.1-12483
页数：平装16开， 页数：12， 字数：18千字
标准价格：10.0 元
出版日期：2004-08-26
相关单位信息
首发日期：1988-06-29
复审日期：2004-10-14
起草单位：电子部43研究所
归口单位：全国电子设备用阻容件标准化技术委员会
发布部门：国家技术监督局
主管部门：信息产业部（电子）
标准简介
本规范适用于电子设备用片式固定电阻器。 GB/T 9546-1995 电子设备用固定电阻器 第8部分:分规范:片式固定电阻器 GB/T9546-1995 标准下载解压密码：www.bzxz.net
标准图片预览
标准内容
中华人民共和国国家标准
电子设备用固定电阻器
第8部分：分规范：片式固定电阻器Flxed resistors for use ia electronic equipmentPart 8: Sectional specifleallon : Flxed chip reslstorsGB/T 9546—1995
IEC 115-8—1989
QC400600
茯替GB9546
本规范等同采用国际标准EC115-8/QC:400600(1989)电了设备用固定电器第8部分：分规
范：片式固定电阻器》。
1总则
1. 1范围
本规范适用于电子设备用片式固定电阻器。1.2日的
本规范的目的是规定片式电阻器的优先额定值和特性，并从GB/T5729中选择适用的质量评定程序，试验和测量法，托给出--般性能要求。详细规范中引用本分规范所规定的试验严醋度和要求时应具有与本规范相同或较高的性能水平，不允许降低性能水平。
1.3有关文件
GB/T 5729
电子设备用固定电阻露第1部分：邀规范（可供认证用）电阻器和电容器优先数系
IEC 63(1963)
第1号修改单（1967)
第2号修改单（1977）
IEC68基本环境试验规程
IEC410(1973）计数检查抽样片案和程序[ECQ/QC001001（1986）IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）基本章程IECQ/QC001002(1986）JEC电子元器件质量评定体系（IECQ）程序规则注：上述文件除1EC68应使用总规范相应试验条款中引用的版木之外，其余均采用现行版本。1.4详细规范应给出的内容
详细规范应按有关的空口详细规范编制。详细规范不应规定低于总规范、分规范或空白详细规范的要求。当包括比总规范、分规范、空白详细规范更严酷的要求时，应列在详细规范的1.8条中，并在试验一览表中标出，例如用星号标注。注：为了方便起见，1.4.1和1.1.3条中规定的内容可用表格形式表示。每个详细规范应给出下列内容，而且应优先从本分规范相应条款给出的值中选取。1.4.1外形图和尺寸
详细规范应具有片式电阻器外形图，以便于识别并与其他片式电厘器进行比较。影响互换性和安装的尺寸及其公差应在详细规范中给出。所有尺寸都应优先以毫米为单位标注，但是当原尺寸是以英寸为单位给出的时候，则应加上换算战毫米为单位的公制尺寸。国家技术监督扇1995-07-24 批准1996-04-01实施
GB/T 9546-1995
一般应给出电阻器走体的长、宽和厚的数值，对圆柱形的则给出长度和直径。必要时，例如当某个详细规范中包括的功耗值多于一种时，则尺计及其公差应列在该图下面的表中。当外形结构与上面所述的结构不同时，详细规范应规定足以说明该种片式电阻器的尺小数值。1.4.2安装
详细规范应对正常使用时的安装方法提供指导。对于试验和测量时的安装（有要求时）应按GB/T5729的4.31条的规定进行。T.4.3品种(GB/T$729第2.2.3条）下列品种是优选的：
RC型(圆柱型片式电阻器）
RC6123
RC3715
长度L.mm
5. 9±0. 2
b.RR型(矩形片式电阻器）
RR0805
RR1005
RR1206
RR1605
1.4.4额定值和特性
长度L,mm
2. 5上0. 3
外径D,mm
2. 8 emax
宽度 Wmm
1. 25±0. 2
1. 25±0.2
1. 6±0.2
1.25±0.2
额定值和特性应符合本规范有关条款以及下列规定。1.4.4.1标称阻值范围
见2.2.1条。优先值为IEC 63的E系列值。厚度T,mm
0. 61:0. 1
0. 61.0. 1
注：当批准产品的阻值范围与详细规范规定的阻值范围不同时，应增加下列说明：“每个品种可供应的阻值范围在合格产品一览表中给出”。1.4.5标志
详细规范应规定片式电阻器及其包装件上的标志内容。片式电阻器一般在主体上不打标志。如果在片式电阻器主体上标志时，则应晰地标出标称阻值并尽可能多地标出GB/T5729第2.4条中的其余项月。所有标志都应标在片式电阻器的包装件上。与上述要求有差别时应特别说明。2优先额定值，特性和试验严酷度2.1优先特性
详细规范中给出的各项特性值应优先从下列规定中选取。2.1.1优先气候类别
本规范所包括的片式电阻器是按照IEC:681中提出的一般规则划分气候类别的。下限和上限类别温度以及稳态热试验的持续时间应从下述规定中选取：下限类别温度；—55℃，—40℃和—25℃。上限类别温度：+85℃,+100℃，+125℃和+155℃。稳态湿热试验的持续时间+4,10，21和56天。寒冷和干势试验的严酷度应是其对应的下限和上限类别温度。某些片式电斑器由于其结构上的原因,这些温度可能处在IEC 68-2 中给出的两个优先温度之间，在这种情说下，应在片式电阻器的实际温度范围之内选取最靠近的优先湿度作为严酷度,2.1.2电阻温度系数和温度特性
GB/T 9546—1995
表1中给出了电阻温度特性试验的阻值变化优先极限值。表中每-行给出了优先电阻温度系数和对应的20℃～70C的温度特性，并根据本规范第2.1.1条的类别温度范围给出了测量电阻温度特性（见GB/T5729第4.8条?的阻值变化极限值，表1
温度特性
温度系数
20/70℃
1o t/c
150/150c
± toc
基温度/下限类别温度
++ 20/35
0.75/ 7.51 1. 13/ + 11.3
—20/—10
F 0. 9/-F-9
电阻温度特性
（阻值变化极限值，%）
基准温度/上限类别温度
—20/—25
+0.68/+6.8
+20/+85
— 0. 98/ 9. 8
+20/+100
—1. 含/—12
±0,12
+-20/ 上 125
—1,57/—15. 7
-- (1. 262
120/155
2.03/—20.3
注：上限类别温度为十85 C的电阻器不必在 20℃和70 ℃两者之间进行测量。如果还要求在另外的温度下进行测量，应在详细规范中规定，
2. 1. 3阻值变化极限值
表2规定了每项试验后不同稳定度等级要求的侦变化优先极限值。注，报24的条款号引自GB/T5729的条款号，表2
长期试验
4.23气候顺序
钩定度等绒，%
2.2优先额定值
2.2. 1标称阻值
4.24意态湿热
4.25.170℃耐久性
4.25.3上限类别温度耐久性
±(5%R+0.10)
±(3%R 10. 10)
+ (2%R+0. 10)
+(1%R+0.050)
±(0.5%R10.05)
±(0. 25%R +(. U50)
±(0. 3%R+0. 010)
4.13过载
短期试验
1.18厨焊接热
4.19温度快速变化
4.32附著力
4.33端面镶层结合强度
+(1R+0.052)
+(0. 5%R+0. 050)
1 (0. 5%R+0. 05n)
±(0. 25%R 1 0. 050)
±(0.1%R 1 0. 01n)
±(0.05%R+0.(10）
±(0. 02%R i0. 010)
见CB/T5729的2.2.7条。
2.2.2标称阻值允许偏差
标称阻值的优先允许偏差如下：CB/T 9546—1995
士10%，±5%，±2%，±1%，0.5%，±0.25%和±0.1%。2.2.3额定功耗（在安装状态下）70℃下额定功耗的优先值如下：0. 03 W.0. 063 W,0. 1 W,0. 125 W,0. 25 W,0. 5 W,1 W和 2 W。详细规范应规定施加额定功耗的条件。温度超过70C时的降功耗值应按以下曲线所示，推荐的1作区
下限类别幽度
上限类均温度
详细规范可以给出个较大的工作区，但要包括上图给定的全部区域。这种情况下，详细规范应说明70℃以外各度下的充许最大功耗，曲线上的所有拐点都应用试验来证实。2.2.4元件极限电压
元件极限电压的优先值如下：
50V,75V,100V,150V,200V,250V直流或交流有效值。2.2.5绝缘电阻（如适用）
在干热试验之后绝缘电阻应该不低于1 G2.3优先试验严醋度
详细规范中给出的试验严醛度应优先从下列规定中选取2.3.1干燥
应采用GB/T 5729第4. 3条的程序 1。2.3.2过载(在安装状态下)
GB/T 5729的第 4. 13条并采用下列细则：施加的电压：2.5倍额定电压或2倍元件极限电压,取其较低者。持结时间.2
基板材料;环氧玻璃层压板或氧化铝基板,由详细规范规定。各个片式电阻器之间的距离应该不小下最大片式电阻器的尺寸，详细规范还应规定其他必要的细节(见 2. 2. 3 条)。
3质量评定程序
3.1结构类似元件
用同样的工艺和材料生产的同··种标称尺寸但阻值和温度特性不同的片式电阻器为结构类似电阻器。
3.2鉴定批准
CB/T 9546—1995
总规范GB/T5729第3.4条中给出了鉴定批准试验的程序。按照逐批和周期试验进行鉴定批*试验所用的览表按本规范的3.3条的规定。采用固定样本大小一览表的程序在下面的3.2.1和3.2.2条中给出
3.2.1按照固定样本大小进行鉴定批准的抽样程序GB/T5729第3.4.2h条中规定了窗定样本大小的程序。该样本应能代表申请批准的特性值的范围，这个范围可以是也可以不是详细规范所包括的整个范围。样本中应包括申请批准的最高和最低阻值的样品。如果提供的范围内有临界阻值，还应包括临界阻值的样品。当申请批准的电阻温度系数多于一种时，样品中应包括不同温度系数的代表样品。同样，对于申请批准的产品，样本应包括一些具有最严允许偏差的不同阻值的样品。这种具有各种特性的样品的比例应由制造厂的总检查员提出并征得国家监督检查机构(N.S.I)同意。按照下述情况允许使用备份样品：每种阻值和每种温度系数或温度特性可以有个备份样品用来替换“0”组中的允许不合格的a.
样品。
b.每种阻值和每种温度系数或温度特性可以有一个备份样品用来替换不属于制造厂的差错而造成的不合格样品。
鉴定批准试验一览表中增加试验组时，“0\组试验所需的样品数应按增加的试验组所要求的样品数来增加。
3.2.2试验
对于个详细规范所包括的片式电阻器的鉴定批准来说，表3中规定的完整的一系列试验是必要的。每个组中规定的各项试验应按给定的顺序进行。整个样本都应经过“0\组试验，然后再分到其他各组。“0”组试验中发现的不合格样品不得用于其他各组。个片式电阻器没有满足某一试验组的全部或一部分试验时算做“一个不合格品”。当不合格品数不超过每个组或每个分组的允许不合格品数，并且不超过允许不合格品总数时给子鉴定批雅。
注；表3规定了周定样本大小试验一览表。其中包括各项试验或各个试验组的抽样细节和允许不合格品数，并按GB/T 5729 的第 4 章及本规范的第 2 章所包括的试验细则给出广试验条件和性能要求的完整摘要。应该指出，表3中的试验方法.试验条件和或>性能要求必须在详细规范中选定。固定样本大小试验·览表中的试验萧件和性能要求应与详细规范中的质量一致性检验的规定相一致。表3
鉴定批准试验一览表,评定水平E注：（D除了阻变化要求应从本规范的表1和表2中相应地选定之外试验项目和性能要求的条款号引自总规范GB/T'5729。
②表中：
择本大小。
：组的合格判定数（每个组或每个分组的充许不合格品教）。总的合格定数（一个组或荐干组的总允许不合格品数，如0A组十0B组，或3组～3.5组）。D-破坏性的.
NI)-…非被坏性的。
条款号和试验项目
（见注）
4.4.1外观检查
4.4.2寸（量规检验）
4.5阻值
4.18耐焊接热
（仅适用于全浸焊的片式电阻
4.29元件耐济剂性（如适
4.17可焊性（仅适用于全浸
焊的片式电阻器！
4.7耐电压
（仗对绝缘型电阻器）
4.31安装
4.13过载
(在安装状态下）
4.30标志耐溶剂性
（如适用）
GB/T 9546—1995
续表3
样本人小和
试验条件
（见往(）
外观检查
溶剂：
溶剂温度：
方法2
恢复：
老化，如适用
好法，
绝缘电阻(仅对绝缘型电阻
基板材料和间距见本规范的bzxz.net
2. 3. 2条
随加的电压应为 2. 5 倍额定
电压或2 倍元极限电压,取
其较低者持续时间：2%
溶剂：
溶剂温：
方法1
擦拭材料：脱脂
恢复：
外观检查
合格判定数
（见注）
性能要求
（见注）
按详细规范规定
按4.18.3.
ARS(_%RF)
见详细规范
按 4. 17. 4. 5
按4. 7.3
标志清楚
无可见损伤
AR≤±(_%R+_2)
条款号和试验项日
(见注(D)
4.33端面镀层结合强度
1.33.6最后检查
4.31安装
4.32附老力
4.19温度快速变化
4.23气候序
_.· 循环湿热·试验 Th，
第一个循环
-循环湿热，试验 Db.其余
的循环
直流负荷
4.24稳态湿热
4. 25. 170 C耐久性
GB/T 9546--- 1995
续表3
试验条伴
（见注()
外观检查
基板材料，2）
外观检查
外观捡查
Ba下限类别溢度
8#：上限类别温度
外观检查
外观检查
不加极化电压
外观检查
间距按本规范的 2. 3. 2 条
持续时间：1000 1
在48,500和1 000 h 时检在;
样本大小和
合格判定数
（见注②）
性能要求
（见注）
AR≤±(_%R-_2)
无可见损怖
无可见损怖
AR±(_%R+_)
无可见损伤
无可见报伤
AR+(_YR-n)
死可见损
AR≤+(_%R+_0)
无可摄衔
标志情楚
AR≤=(_%R+_2)
条款号和试验项目
（见注①）
4. 25.3上限类别温度耐久
4.8阻慎随温度的变化
CB/T 9546--1995
续表3
样本大小和
试验条性
（见注①）
外观羧查
间距接本规范的2.3.2条
持续时间：1000h
在48.500和1000h时检查：
外观检查
下限类别温度/20 C
20C/上限类别温度
合格判定数
（见注②）
注，1）详细规范中规定只能安装在氧化铝基板上的片式电阻器不适用。性能要求
（见注）
无可处损
AR≤±(%R+_n)
无可见损
AR≤±(_%R+n)
AR/R≤_%或 a:_10-F/℃
AR/R≤_%或a:_ 10-\/C
2）当各个分组使用的基板材料不同时,详细规范应说明每个分组中使用的基板材料。3. 3质量一致性检验
3.3.1检验批的组成
一个检验批应由同一个品种的结构相似电阻器（见3.1条）组成。它应能代表该检验周期内生产的值范的最低值和最高值，除了用干包括电阻温度特性试验分组的品种之外，该周期内生产的其有不同电阻温度特性的品种可以集合在一起。已经获得的鉴定批难的阻值范围的最低和最高阻值，或者还有临界阻值以及各种电阻温度特性,应在国家监督检验机构批准的周期内进行检验。应在该检验周期的最后13周内收集\C\组和“D\组的样品。注：“最低阻借\应在现行批推的最低阻值（或批准范画内生产的最低随值)的（听和200为之间“最高阻值\应在现行批准的最高阻值（或批准范国内生产的最高阻值)的一30%和0%之间。“临界值”应在计算值的一20%和0%之间。3. 3. 2 试验一览表
质量一致性检验的逐批和周期试验一览表在空白详细规范 GB/T 9547 的第 2 章表 2 中给出。3. 3. 3 评定水平
空白详细规范中规定的评定水平应优先从下述的表 4A 和表 4B中选取检验分组\
检查水
合质盘水
检验分组
周期，月；
样本太小；
充不合格品数。
注： E 评定水平D,F和心正在考虑中。GB/T 9546—1995
2 各验验分组内容在G13/T 9547中第2 竞中规定。附加说明：
本标推由加华人晟共和国电子工业部提出本标准中企国啦了设备用降容元件标委会[。TE
本标准山华东微电子技术研究所和电子工业部标准化研流所负责起节。本标准士要起草人冯佑民、雷剑、吴凡、刘宽。本标准于1988年3月21日首次发布,1995年7片第一次修IT
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
电子设备用固定电阻器
第8部分：分规范：片式固定电阻器Flxed resistors for use ia electronic equipmentPart 8: Sectional specifleallon : Flxed chip reslstorsGB/T 9546—1995
IEC 115-8—1989
QC400600
茯替GB9546
本规范等同采用国际标准EC115-8/QC:400600(1989)电了设备用固定电器第8部分：分规
范：片式固定电阻器》。
1总则
1. 1范围
本规范适用于电子设备用片式固定电阻器。1.2日的
本规范的目的是规定片式电阻器的优先额定值和特性，并从GB/T5729中选择适用的质量评定程序，试验和测量法，托给出--般性能要求。详细规范中引用本分规范所规定的试验严醋度和要求时应具有与本规范相同或较高的性能水平，不允许降低性能水平。
1.3有关文件
GB/T 5729
电子设备用固定电阻露第1部分：邀规范（可供认证用）电阻器和电容器优先数系
IEC 63(1963)
第1号修改单（1967)
第2号修改单（1977）
IEC68基本环境试验规程
IEC410(1973）计数检查抽样片案和程序[ECQ/QC001001（1986）IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）基本章程IECQ/QC001002(1986）JEC电子元器件质量评定体系（IECQ）程序规则注：上述文件除1EC68应使用总规范相应试验条款中引用的版木之外，其余均采用现行版本。1.4详细规范应给出的内容
详细规范应按有关的空口详细规范编制。详细规范不应规定低于总规范、分规范或空白详细规范的要求。当包括比总规范、分规范、空白详细规范更严酷的要求时，应列在详细规范的1.8条中，并在试验一览表中标出，例如用星号标注。注：为了方便起见，1.4.1和1.1.3条中规定的内容可用表格形式表示。每个详细规范应给出下列内容，而且应优先从本分规范相应条款给出的值中选取。1.4.1外形图和尺寸
详细规范应具有片式电阻器外形图，以便于识别并与其他片式电厘器进行比较。影响互换性和安装的尺寸及其公差应在详细规范中给出。所有尺寸都应优先以毫米为单位标注，但是当原尺寸是以英寸为单位给出的时候，则应加上换算战毫米为单位的公制尺寸。国家技术监督扇1995-07-24 批准1996-04-01实施
GB/T 9546-1995
一般应给出电阻器走体的长、宽和厚的数值，对圆柱形的则给出长度和直径。必要时，例如当某个详细规范中包括的功耗值多于一种时，则尺计及其公差应列在该图下面的表中。当外形结构与上面所述的结构不同时，详细规范应规定足以说明该种片式电阻器的尺小数值。1.4.2安装
详细规范应对正常使用时的安装方法提供指导。对于试验和测量时的安装（有要求时）应按GB/T5729的4.31条的规定进行。T.4.3品种(GB/T$729第2.2.3条）下列品种是优选的：
RC型(圆柱型片式电阻器）
RC6123
RC3715
长度L.mm
5. 9±0. 2
b.RR型(矩形片式电阻器）
RR0805
RR1005
RR1206
RR1605
1.4.4额定值和特性
长度L,mm
2. 5上0. 3
外径D,mm
2. 8 emax
宽度 Wmm
1. 25±0. 2
1. 25±0.2
1. 6±0.2
1.25±0.2
额定值和特性应符合本规范有关条款以及下列规定。1.4.4.1标称阻值范围
见2.2.1条。优先值为IEC 63的E系列值。厚度T,mm
0. 61:0. 1
0. 61.0. 1
注：当批准产品的阻值范围与详细规范规定的阻值范围不同时，应增加下列说明：“每个品种可供应的阻值范围在合格产品一览表中给出”。1.4.5标志
详细规范应规定片式电阻器及其包装件上的标志内容。片式电阻器一般在主体上不打标志。如果在片式电阻器主体上标志时，则应晰地标出标称阻值并尽可能多地标出GB/T5729第2.4条中的其余项月。所有标志都应标在片式电阻器的包装件上。与上述要求有差别时应特别说明。2优先额定值，特性和试验严酷度2.1优先特性
详细规范中给出的各项特性值应优先从下列规定中选取。2.1.1优先气候类别
本规范所包括的片式电阻器是按照IEC:681中提出的一般规则划分气候类别的。下限和上限类别温度以及稳态热试验的持续时间应从下述规定中选取：下限类别温度；—55℃，—40℃和—25℃。上限类别温度：+85℃,+100℃，+125℃和+155℃。稳态湿热试验的持续时间+4,10，21和56天。寒冷和干势试验的严酷度应是其对应的下限和上限类别温度。某些片式电斑器由于其结构上的原因,这些温度可能处在IEC 68-2 中给出的两个优先温度之间，在这种情说下，应在片式电阻器的实际温度范围之内选取最靠近的优先湿度作为严酷度,2.1.2电阻温度系数和温度特性
GB/T 9546—1995
表1中给出了电阻温度特性试验的阻值变化优先极限值。表中每-行给出了优先电阻温度系数和对应的20℃～70C的温度特性，并根据本规范第2.1.1条的类别温度范围给出了测量电阻温度特性（见GB/T5729第4.8条?的阻值变化极限值，表1
温度特性
温度系数
20/70℃
1o t/c
150/150c
± toc
基温度/下限类别温度
++ 20/35
0.75/ 7.51 1. 13/ + 11.3
—20/—10
F 0. 9/-F-9
电阻温度特性
（阻值变化极限值，%）
基准温度/上限类别温度
—20/—25
+0.68/+6.8
+20/+85
— 0. 98/ 9. 8
+20/+100
—1. 含/—12
±0,12
+-20/ 上 125
—1,57/—15. 7
-- (1. 262
120/155
2.03/—20.3
注：上限类别温度为十85 C的电阻器不必在 20℃和70 ℃两者之间进行测量。如果还要求在另外的温度下进行测量，应在详细规范中规定，
2. 1. 3阻值变化极限值
表2规定了每项试验后不同稳定度等级要求的侦变化优先极限值。注，报24的条款号引自GB/T5729的条款号，表2
长期试验
4.23气候顺序
钩定度等绒，%
2.2优先额定值
2.2. 1标称阻值
4.24意态湿热
4.25.170℃耐久性
4.25.3上限类别温度耐久性
±(5%R+0.10)
±(3%R 10. 10)
+ (2%R+0. 10)
+(1%R+0.050)
±(0.5%R10.05)
±(0. 25%R +(. U50)
±(0. 3%R+0. 010)
4.13过载
短期试验
1.18厨焊接热
4.19温度快速变化
4.32附著力
4.33端面镶层结合强度
+(1R+0.052)
+(0. 5%R+0. 050)
1 (0. 5%R+0. 05n)
±(0. 25%R 1 0. 050)
±(0.1%R 1 0. 01n)
±(0.05%R+0.(10）
±(0. 02%R i0. 010)
见CB/T5729的2.2.7条。
2.2.2标称阻值允许偏差
标称阻值的优先允许偏差如下：CB/T 9546—1995
士10%，±5%，±2%，±1%，0.5%，±0.25%和±0.1%。2.2.3额定功耗（在安装状态下）70℃下额定功耗的优先值如下：0. 03 W.0. 063 W,0. 1 W,0. 125 W,0. 25 W,0. 5 W,1 W和 2 W。详细规范应规定施加额定功耗的条件。温度超过70C时的降功耗值应按以下曲线所示，推荐的1作区
下限类别幽度
上限类均温度
详细规范可以给出个较大的工作区，但要包括上图给定的全部区域。这种情况下，详细规范应说明70℃以外各度下的充许最大功耗，曲线上的所有拐点都应用试验来证实。2.2.4元件极限电压
元件极限电压的优先值如下：
50V,75V,100V,150V,200V,250V直流或交流有效值。2.2.5绝缘电阻（如适用）
在干热试验之后绝缘电阻应该不低于1 G2.3优先试验严醋度
详细规范中给出的试验严醛度应优先从下列规定中选取2.3.1干燥
应采用GB/T 5729第4. 3条的程序 1。2.3.2过载(在安装状态下)
GB/T 5729的第 4. 13条并采用下列细则：施加的电压：2.5倍额定电压或2倍元件极限电压,取其较低者。持结时间.2
基板材料;环氧玻璃层压板或氧化铝基板,由详细规范规定。各个片式电阻器之间的距离应该不小下最大片式电阻器的尺寸，详细规范还应规定其他必要的细节(见 2. 2. 3 条)。
3质量评定程序
3.1结构类似元件
用同样的工艺和材料生产的同··种标称尺寸但阻值和温度特性不同的片式电阻器为结构类似电阻器。
3.2鉴定批准
CB/T 9546—1995
总规范GB/T5729第3.4条中给出了鉴定批准试验的程序。按照逐批和周期试验进行鉴定批*试验所用的览表按本规范的3.3条的规定。采用固定样本大小一览表的程序在下面的3.2.1和3.2.2条中给出
3.2.1按照固定样本大小进行鉴定批准的抽样程序GB/T5729第3.4.2h条中规定了窗定样本大小的程序。该样本应能代表申请批准的特性值的范围，这个范围可以是也可以不是详细规范所包括的整个范围。样本中应包括申请批准的最高和最低阻值的样品。如果提供的范围内有临界阻值，还应包括临界阻值的样品。当申请批准的电阻温度系数多于一种时，样品中应包括不同温度系数的代表样品。同样，对于申请批准的产品，样本应包括一些具有最严允许偏差的不同阻值的样品。这种具有各种特性的样品的比例应由制造厂的总检查员提出并征得国家监督检查机构(N.S.I)同意。按照下述情况允许使用备份样品：每种阻值和每种温度系数或温度特性可以有个备份样品用来替换“0”组中的允许不合格的a.
样品。
b.每种阻值和每种温度系数或温度特性可以有一个备份样品用来替换不属于制造厂的差错而造成的不合格样品。
鉴定批准试验一览表中增加试验组时，“0\组试验所需的样品数应按增加的试验组所要求的样品数来增加。
3.2.2试验
对于个详细规范所包括的片式电阻器的鉴定批准来说，表3中规定的完整的一系列试验是必要的。每个组中规定的各项试验应按给定的顺序进行。整个样本都应经过“0\组试验，然后再分到其他各组。“0”组试验中发现的不合格样品不得用于其他各组。个片式电阻器没有满足某一试验组的全部或一部分试验时算做“一个不合格品”。当不合格品数不超过每个组或每个分组的允许不合格品数，并且不超过允许不合格品总数时给子鉴定批雅。
注；表3规定了周定样本大小试验一览表。其中包括各项试验或各个试验组的抽样细节和允许不合格品数，并按GB/T 5729 的第 4 章及本规范的第 2 章所包括的试验细则给出广试验条件和性能要求的完整摘要。应该指出，表3中的试验方法.试验条件和或>性能要求必须在详细规范中选定。固定样本大小试验·览表中的试验萧件和性能要求应与详细规范中的质量一致性检验的规定相一致。表3
鉴定批准试验一览表,评定水平E注：（D除了阻变化要求应从本规范的表1和表2中相应地选定之外试验项目和性能要求的条款号引自总规范GB/T'5729。
②表中：
择本大小。
：组的合格判定数（每个组或每个分组的充许不合格品教）。总的合格定数（一个组或荐干组的总允许不合格品数，如0A组十0B组，或3组～3.5组）。D-破坏性的.
NI)-…非被坏性的。
条款号和试验项目
（见注）
4.4.1外观检查
4.4.2寸（量规检验）
4.5阻值
4.18耐焊接热
（仅适用于全浸焊的片式电阻
4.29元件耐济剂性（如适
4.17可焊性（仅适用于全浸
焊的片式电阻器！
4.7耐电压
（仗对绝缘型电阻器）
4.31安装
4.13过载
(在安装状态下）
4.30标志耐溶剂性
（如适用）
GB/T 9546—1995
续表3
样本人小和
试验条件
（见往(）
外观检查
溶剂：
溶剂温度：
方法2
恢复：
老化，如适用
好法，
绝缘电阻(仅对绝缘型电阻
基板材料和间距见本规范的bzxz.net
2. 3. 2条
随加的电压应为 2. 5 倍额定
电压或2 倍元极限电压,取
其较低者持续时间：2%
溶剂：
溶剂温：
方法1
擦拭材料：脱脂
恢复：
外观检查
合格判定数
（见注）
性能要求
（见注）
按详细规范规定
按4.18.3.
ARS(_%RF)
见详细规范
按 4. 17. 4. 5
按4. 7.3
标志清楚
无可见损伤
AR≤±(_%R+_2)
条款号和试验项日
(见注(D)
4.33端面镀层结合强度
1.33.6最后检查
4.31安装
4.32附老力
4.19温度快速变化
4.23气候序
_.· 循环湿热·试验 Th，
第一个循环
-循环湿热，试验 Db.其余
的循环
直流负荷
4.24稳态湿热
4. 25. 170 C耐久性
GB/T 9546--- 1995
续表3
试验条伴
（见注()
外观检查
基板材料，2）
外观检查
外观捡查
Ba下限类别溢度
8#：上限类别温度
外观检查
外观检查
不加极化电压
外观检查
间距按本规范的 2. 3. 2 条
持续时间：1000 1
在48,500和1 000 h 时检在;
样本大小和
合格判定数
（见注②）
性能要求
（见注）
AR≤±(_%R-_2)
无可见损怖
无可见损怖
AR±(_%R+_)
无可见损伤
无可见报伤
AR+(_YR-n)
死可见损
AR≤+(_%R+_0)
无可摄衔
标志情楚
AR≤=(_%R+_2)
条款号和试验项目
（见注①）
4. 25.3上限类别温度耐久
4.8阻慎随温度的变化
CB/T 9546--1995
续表3
样本大小和
试验条性
（见注①）
外观羧查
间距接本规范的2.3.2条
持续时间：1000h
在48.500和1000h时检查：
外观检查
下限类别温度/20 C
20C/上限类别温度
合格判定数
（见注②）
注，1）详细规范中规定只能安装在氧化铝基板上的片式电阻器不适用。性能要求
（见注）
无可处损
AR≤±(%R+_n)
无可见损
AR≤±(_%R+n)
AR/R≤_%或 a:_10-F/℃
AR/R≤_%或a:_ 10-\/C
2）当各个分组使用的基板材料不同时,详细规范应说明每个分组中使用的基板材料。3. 3质量一致性检验
3.3.1检验批的组成
一个检验批应由同一个品种的结构相似电阻器（见3.1条）组成。它应能代表该检验周期内生产的值范的最低值和最高值，除了用干包括电阻温度特性试验分组的品种之外，该周期内生产的其有不同电阻温度特性的品种可以集合在一起。已经获得的鉴定批难的阻值范围的最低和最高阻值，或者还有临界阻值以及各种电阻温度特性,应在国家监督检验机构批准的周期内进行检验。应在该检验周期的最后13周内收集\C\组和“D\组的样品。注：“最低阻借\应在现行批推的最低阻值（或批准范画内生产的最低随值)的（听和200为之间“最高阻值\应在现行批准的最高阻值（或批准范国内生产的最高阻值)的一30%和0%之间。“临界值”应在计算值的一20%和0%之间。3. 3. 2 试验一览表
质量一致性检验的逐批和周期试验一览表在空白详细规范 GB/T 9547 的第 2 章表 2 中给出。3. 3. 3 评定水平
空白详细规范中规定的评定水平应优先从下述的表 4A 和表 4B中选取检验分组\
检查水
合质盘水
检验分组
周期，月；
样本太小；
充不合格品数。
注： E 评定水平D,F和心正在考虑中。GB/T 9546—1995
2 各验验分组内容在G13/T 9547中第2 竞中规定。附加说明：
本标推由加华人晟共和国电子工业部提出本标准中企国啦了设备用降容元件标委会[。TE
本标准山华东微电子技术研究所和电子工业部标准化研流所负责起节。本标准士要起草人冯佑民、雷剑、吴凡、刘宽。本标准于1988年3月21日首次发布,1995年7片第一次修IT
小提示：此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容，若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。