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基本信息

标准号: GB 11114-1989

GB 11114-1989人造石英晶体位错X射线形貌检测方法

标准类别:国家标准(GB)

发布日期:1989-03-22

实施日期:1990-03-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

相关标签: 射线 晶体 人造 石英

标准分类号

标准ICS号:电子学>>31.020 电子元件综合31电子学

中标分类号:电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料

关联标准

出版信息

出版社:中国标准出版社

页数:5页

标准价格:8.0 元

出版日期:1990-03-03

相关单位信息

首发日期:1989-03-31

复审日期:2004-10-14

起草人:麦振洪、葛培文、刘承钧、张和贞、储希

起草单位:中国科学院物理研究所和机械电子工业部电子标准化研究所

发布部门:中华人民共和国机械电子工业部

主管部门:信息产业部(电子)

标准简介

本标准规定了观测人造石英晶体的位错、划痕、层错、孪晶、沉淀物和生长条纹等缺陷和估算其位错密度的X射线衍射形貌方法。本标准适用于人造石英晶体及天然石英晶体位错密度等缺陷的检测。 GB 11114-1989 人造石英晶体位错X射线形貌检测方法 GB11114-1989