GB/T 18114.8-2000
基本信息
标准号:
GB/T 18114.8-2000
中文名称:独居石精矿化学分析方法 氧化钇量的测定
标准类别:国家标准(GB)
标准状态:现行
发布日期:2000-06-05
实施日期:2000-11-01
出版语种:简体中文
下载格式:.rar.pdf
下载大小:80936
标准分类号
标准ICS号:采矿和矿产品>>金属矿>>73.060.99其他金属矿
中标分类号:矿业>>有色金属矿>>D43稀有金属矿
关联标准
出版信息
出版社:中国标准出版社
页数:3页
标准价格:8.0 元
出版日期:2000-11-01
相关单位信息
首发日期:2000-06-05
复审日期:2004-10-14
起草单位:湖南桃江稀土金属冶炼厂
归口单位:全国稀土标准化技术委员会
发布部门:国家质量技术监督局
主管部门:国家发展和改革委员会
标准简介
本标准规定了独居石精矿中氧化钇含量的测定方法。本标准适用于独居石精矿中氧化钇含量的测定。测定范围:1.00%~20.00%。 GB/T 18114.8-2000 独居石精矿化学分析方法 氧化钇量的测定 GB/T18114.8-2000 标准下载解压密码:www.bzxz.net
标准内容
1范围
中华人民共和国国家标准
独居石精矿化学分析方法
氧化量的测定
Methods for chemical analysis of monazite concentrates--Determination of yttrium oxide content本标准规定了独居石精矿中氧化含量的测定方法。GB/T 18114.8--2000
本标准适用于独居石精矿中氧化钇含量的测定。测定范围:1.00%~20.00%。2引用标准
下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T18114.1--2000独居石精矿化学分析方法稀土和针氧化物总量的测定3方法提要
将试料处理成稀土氧化物的形式后,采用粉末稀释压片制样,根据X射线荧光强度与含壁的线性关系,利用含量与强度的数学模型计算,进行X射线荧光光谱分析。4试剂
4.1氧化,99.99%。
4.2氧化铺,99.99%。
4.3氧化错,99.99%。
4.4氧化钕,99.99%。
4.5氧化,99.99%。免费标准bzxz.net
4.6氧化钒,99.99%。
4.7氧化镐,99.99%。
4.8氧化钻.99.99%。
4.9混合基体:称取800mg氧化镧(4.1)、2000mg氧化铺(4.2)、200mg氧化错(4.3)、680mg氧化钕(4.4)、120mg氧化(4.5)、120mg氧化钇(4.6)、80mg氧化镝(4.7)于玛瑙研钵中研磨30min,备用。
4.10纤维素粉(微晶型)。
4.11P10氟甲烷气体(10%甲烷,90%氩气体)。5仪器
5.1X射线荧光光谱仪:X射线光管功率不小于3kW,附专用计算机。国家质量技术监督局2000-06-05批准432
2000-11-01实施
5.2分光晶体:LiF200。
5.3油压机。
6试样
GB/T 18114.8-2000
6.1试样的粒度应研磨至通过0.074mm筛。6.2试样经105~~110C干燥1h,冷却后置于干燥器中,备用。6.3称取约0.5g试样(6.2)于60mI刚玉蜗中,按GB/T18114.1方法步骤将试料制成稀土和针的氧化物样品,置于干燥器中备用。7分析步骤
7.1试样片的制备
称取0.1000g试样(6.3),加入1.00g纤维素粉(4.10),在玛瑙研钵中研磨15min,在2.44×105Pa压力下压制成直径为30mm样片,于60~70℃烘干1h,备用。7.2测定数量
称取两份试样(6.3),平行测定,取其平均值。7.3分析条件
7.3.1激发电压:50kV;激发电流:40mA;细准直器(150μm);S.C探测器;真空光路;峰位;峰位测量时间205;背景测量时间20s。
7.3.2、仪器至少预热1h,设置×光管激发电压和激发电流分别为50kW和40mA,30min后方可进行测定。
7.4背景扣除
采用点法扣除背景,计算式(1)为:1=1- 16
扣除背景后的分析线净强度;
式中;I -
I——分析线总强度;
背景强度。
7.5标准样片的制备
按表1计算量准确称取各号标准样片所需混合基体(4.9)氧化钇(4.8)和纤维素粉(4.10),分别子玛瑙研钵中研磨15min;在设定压力下压制成直径为30mm的标准样片,于60~70C烘干1h,制成-套如表1所列的共16个标准样片,置于干燥器中备用。表1
标准样片
混合基体,mg
氧化钇,mg
纤维素粉,mg
标准样片
混合基体,mg
氧化钇,mg
纤维素粉,mig
7.6回归分析
GB/T18114.8-2000
按分析条件(7.3)测量标准样片(7.5)的X射线荧光强度,利用专用计算机的数学模型进行回归分析,求出回归系数,存人计算机内。7.7测定
从标准样片(7.5)中选择一个氧化含量与实际样品相近的标准样片为监控样片,按分析条件(7.3)先测定监控样片,然后测定试样片(7.1),由计算机自动计算含量并输出分析结果。8允许差
实验室之间分析结果的差值应不大于表2所列允许差。表2
氧化钇含量
1.00~10.00
10. 00 ~ 20. 00
允许差
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