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基本信息

标准号: GB 3444-1982

GB 3444-1982半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理

标准类别:国家标准(GB)

实施日期:1983-10-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

相关标签: 随机 半导体 集成电路 存储器 基本原理 双极型

标准分类号

中标分类号:电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路

关联标准

替代情况:调整为SJ/T 10740-1996

采标情况:IEC 147-2 NEQ

出版信息

页数:33页

标准价格:22.0 元

相关单位信息

标准简介

GB 3444-1982 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 GB3444-1982