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基本信息

标准号: GB 3834-1983

GB 3834-1983半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

标准类别:国家标准(GB)

实施日期:1984-07-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

相关标签: 电路 半导体 集成电路 基本原理

标准分类号

中标分类号:电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路

关联标准

替代情况:调整为SJ/T 10741-1996

采标情况:IEC 147-2 NEQ

出版信息

页数:38页

标准价格:24.0 元

相关单位信息

标准简介

GB 3834-1983 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 GB3834-1983