本标准规定了使用磁性测厚仪器无损测量磁性金属基体上非磁性(包括釉瓷和搪瓷)覆盖层厚度的方法。该方法适用于平试样上的测量。不适用于非磁性基体上覆盖层的测量。 GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 GB/T4956-1985 标准下载解压密码：www.bzxz.net
本标准规定了使用磁性测厚仪器无损测量磁性金属基体上非磁性（包括釉瓷和搪瓷）覆盖层厚度的方法。该方法适用于平试样上的测量。不适用于非磁性基体上覆盖层的测量。

中华人民共和国国家标准
磁性金属基体上非磁性荐盖层厚度测量磁性方法
Non -magnetic coatings on magetie substrates-Measurement of coating thickness-Magnetie method
UDC 621.793 : 531
717 .11 866
.293/.295
GB 4956-85
本标准效绽了使用磁生测厚仪器无损测量磁性金属基体上非磁性（包括釉瓷和携瓷）覆盖去厚度的方法该方法适用于试样上的测量。不适用于非磁性基体覆盖层的测量。本标准等效采用用际标准1S02178·--1982《磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度的磁性测量方法》。1原理
磁性测淳仪是测量永久磁铁（测头）和基体金属之间由于存在覆益层而引起磁弓【力的变化：或者是测量通过爱盖层与基体金属磁路磁阻的变化。2影响测博精度的因素
2.1覆盖层厚度
测量梢度随覆盖层厚度的变化而变化，并与所选用的测厚仪器的设让有关。对于薄的覆盖层，其测量精度是一个常数，与覆盖层厚度无关，对丁厚的覆流长，其精度与覆盖层厚度近似成正比。2. 2基体金属磁性
偿性法测厚受基休金属磁性：变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试样基体金属具有相同性质的校准标准片对仪器进行校准亦可用待镀复试样进行校准。2.3基体金属厚度
对每-种仪器都有一…个基体金属的怖界厚度，这个临界厚度视不同型号的仪器而异。若基体金属厚度超过这·确界厚度值，测暨值将不爱基体金属厚度增加的影响。临界孕度值取决」仪器的测头和基体金属的质。如果仪器制遗厂夫提供临界厚度值，则应通过试验确定。2.4边缘效应
本方法对试样表而形状的健变敏感，因此太靠近边缘或内转角处进行测量是不可靠的，除非仪器对此测量进了专门的校准。这种边缘效成人约可以延伸到离逆缘15毫米处，但视仪器而定。2.5曲率
试样的曲率对母有影响，曲率的影响与仪器的制造利类型有关，但这种影响总是随着曲率卡径的减小行湖显地增大。
如来使叫双极测头仪器时，测头沿着或乘直了损柱体的轴问表面测然，可能得到不同的读数。限此作湾出点样上进行测献是不可靠的，除非仪器对此潮量进行了专门的校准。2.6表面粗糙度
如果在粗超表面1的荷一参考而积内所测得的，系列数值明显地超过仪器他有的重现性，则要求测最的次数心应增加到5次。
2.7基体金属机械加工方向
国家标准局198502-14发布
1985-12-01实施
GB4956-85
当使用双极式测头或被磨损而不平整的单极式测头测时，仪器的读数会受到磁性基体金属机械加下（如滚轧）方向的影响，随著测头在被测试样表面上的取尚不同而变化。2.8剩避
基体金属的剩磁对使用固定磁场仪器所测得的数值可能有影响，但对使用交变磁场磁阻型仪器进行测量时，这种影响小得多。
2.9磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地十扰磁性测厚仪的工作。2.10时若物质
山于磁性测厚仪对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质是十分敏感的，所以必须清除附着物质以保证仪器测头利被测试样表面直接接触。2.11覆差层的电导率
有些磁性测停仪器在200～2000赫兹频率池围内工作，在这-频率范制内，点电导率的厚疆盖层中会产生病流，影响读数。
2.12测头压力Www.bzxZ.net
对测头置于试样上所施加的压力会影响测量读数。所以施所在测头上的压力必须是恒定的、适当的，任不使软覆盖层变形。软覆盖层也可以用箱爱盖测，但要从测鼠结果中减去箔的厚度。测量磷化膜厚度时也必须这样操作。
2.13测头取向
应用磁引力原睡测卓仪，测量读数可能受测头相对于地球重力场方向的影响，因此仪测头在水品或到置似置上进行测量时，仪器应作相应的校准。3仪器的校准
8.1概述
测量前，每台仪器应按制造厂的说明书，选择适当的校准标准片进行校准，或者选择有盖层的待测试样，用磁性法测得的厚度值与适用十有关特殊覆盖层的国标方法测得的厚度值进行比较。仪密在使用期问，每隔一段时间要进行校准。并注意第2章中所列举的影响因素以及第4章叫所规延的操作程序，
3.2校准标准片
可采用叫知厚度的箔或知覆厚度的试样作为校准标准片。3.2.1梭准箔
“范”是指非磁性金属或作金属的箱或垫片。…般可采同箱作校准标准片。为了保证良好的接触，通常不推荐用箔来校准磁引力原理的仪器，如果采取了-些必要措施，在某些情况下还是可以采用箱作校准标准片。“范”有利」曲血上的校准，而且比用有覆盖层的标准片更合适。为了避免测最误策，必领保证范与基体金属的紧密接触，避免使用有弹性的箱。校准箔易形成止意，因此婴经带更换。
3.2.2有覆盖层的标准片
在某体金虚！爱盖一层均匀的、已知厚度的，并与体企属牢结合的覆盖长作为标准片3.3检验
3.3.1校准板片的体金底的磁性利表面剂度，应当与试样基体金底的磁性和表面特糙度相保。为广实标准的适川性，可用校准标准片的居体金属与被测试样基体金属上所测得的读数进行比轻。
为了有效地排除基体机械加方向的影啊剂剩磁的影响，在校准仪器时必须将测头旋转度。3.3.2
3.3.3过送的上4全设有数3中所越的监医感连灿试样上格准标准比的基体金属厚度须相问。
GB 4$56—85
一般用足够厚度的相同材料来加校准标准片或试样，使其读数与基体金属厚度无关。3.3.4如果待测爱盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有懂盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相。4操作程序
4.1概述
每台仪器应按照制造厂说明书进行操作，并应当注意第2章中所列举的影响因素。每次测量前，要在测试场所对仪器进行校准，在问断使用中也要经常对仪器进行校准，以确保仪器处正常的工作状态。
操作时应当遵守下列条款的规定。4.2基体金属厚度
检查体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，就应按照3.3.3中所叙述的方法进行校准。4.3边缘效应
不应在靠近试样的突变处如边缘、孔洞利内转角等处进行测量，除非已验证对此测量所作的校准是可靠的。
4.4曲率
不应在试样的曲表面工进行测量，除非已验证对此测鼠所作的校准是可翰的。4.5读数的次数
通常由于仪器每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内逆行多次测盘，表面粗糙时更应如此。4.6机械加工方向
如案机械加1方间明显地影响读数，则在试样上进行测量时，要使测头的方向与校准时的取向·致，或者将测头在问个互为9度的方向上违行四次测量。4.了剩磁
如果本体金属存在剩磁，在使用战定磁场双极式测头仪器测时时，必须在互为180度的两个方问上进行测最。
为了得到可靠的测结果，必须除去试样的磁性。4.8表面清洁度
母前，应清除长面上的附着物质，如灰生，油脂及腐产物等，但不要除去任何覆盖层。测量时，应避免在有明显耳不易去除的缺陷部位上进行测量，如在焊渣，酸蚀斑、亡刺和氧化物等处进行测鼠。
4.9铅覆盖层
使用磁力型仪器测量铅覆盖层厚度时，测头公粘附覆盖层，遇此情况，可以在覆盖层表面涂层很薄的润膜，以提亮测虽读数的重现性，但应该擦掉过量的油。如使用拉力型仅器测垂时，应保持覆盖层表面下燥状态。除错覆盖层外，涂油不能用于其它爱盖层。4.10技巧
溯或读数取决于操作者的技巧，例如，每个人对测头所施加的压力或平衡力的速率足不同的。若迪操作性进行校准和测量，或使恒力测头，可以使这种影响降低，或减至最小。本方法应尽中使用恒装置测头，或使用测缺架进行测量。4.11测头定位
一股仪器的浏头应垂占」试样表而止的测量，对磁引力型仪器更是必要。供对其些仪器则希单将测头略微倾斜，并洗择获得最小读数的倾斜角。在光滑表而上测量，如果仪器的读数明显地随倾斜角的变
GB 496B-85
如果磁性测厚仪的测头是在水平或从下往上倒置进行测量时，如果没有克服测量系统所受的重力，应分别在那些位置上进行校准。5精度要求
测量精度取决于仪器的性能、操作和校准情况。此方法能使所测得的覆盖层厚度值与真实厚度值的误差在土10%或1.5微米以内，两个误差最其较大的。附加说明：
本标准由中华人民共和国机械.L业部提出，由机械T业部武汉材料保护研允所归口。本标准由机械工业部武汉材料保护研究所负责起草。本标准主要起草人胡铁骑，钟文畅。白本标准实施之月起，原部标准JB2119一77《金属覆盖层厚度试验方法磁性法作废。
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