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基本信息

标准号: GB/T 11685-1989

GB/T 11685-1989半导体X射线能谱仪的测试方法

标准类别:国家标准(GB)

发布日期:1989-10-14

实施日期:1990-05-01

作废日期:2004-01-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

相关标签: 射线 半导体

标准分类号

标准ICS号:计量学和测量、物理现象>>17.240辐射测量

中标分类号:能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F80核仪器与核探测器综合

关联标准

替代情况:被GB/T 11685-2003代替

采标情况:IEC 759-1983 NEQ

出版信息

页数:16页

标准价格:17.0 元

相关单位信息

标准简介

GB/T 11685-1989 半导体X射线能谱仪的测试方法 GB/T11685-1989