本标准对十一片可换磁盘组的磁性能作了必要的规定，以便能保证该盘组的互换性。凡涉及到盘组的一般性能和机械性能，均应符合GB 2310—80《十一片可换磁盘组的机械性能》的规定。本标准适用于数据处理系统用的盘组。 GB/T 2950-1982 十一片可换磁盘组的磁性能 GB/T2950-1982 标准下载解压密码：www.bzxz.net

中华人民共和国国家标准
十一片可换磁盘组的磁性能
Magnetic characteristics of interchangeablemagnetic eleven -disk pack
UDC 681.327.63
GB2950 -· 82
本标准对十片可换磁盘组（以下简称盘组）的磁性能作了必要的规定，以便能保证该盘组的互换性。凡涉及到盘组的-般性能和机械性能，均应符合GB2310一80《十一片可换磁盘组的机碱性能》的规定。本标准适用于数据处系统用的盘组。本标准是参考国际标准化组织标准ISO3564—1976《信息处理——+一片可换磁盘组——机械性能和磁性能》的性能部分制订的。记录面和磁头的配
二十个记录面及相应的磁头，从上往下按顺序编号，其配置如图1和表1所示。c-
B碰头情
八磁头臂
盘组施转方向。
一保护盘
-素索引盘
图1记录面与磁头配置的示意图
国家标准总局1962-03-29发布
1983-01-01实施
（磁头或记录面）
GB 2950—82
磁头和记录面的配置
往：表丨中的“U”表示磁头浮动面向上，“D”表示磁头浮动面向下。2磁道几何参数
2.1磁道数
每个记录面上应有203条不同半径的心圆磁道。2.2磁道宽度
经跨立抹除后，盘面上记录的磁道宽度应为0.175-0.02 mm。磁道间的区域应予抹除。在附录A中推学了-种测量有效磁道宽度的方法。2. 3磁道位置
2.3.1 公称位置
按图2的头盘系统的几何图形及有关常数算出的各磁道中心线半径的公称值列于表2。在23℃时，其有关尺寸常数规定如下。
磁头位移增量：
S=0.2567mm。
磁头工作缝隙的偏置距离：
Far=12.125mm,
Fbr = 10.987 mm.
73道中心线的半径
R = 148.057mm。
磁头偏角：
9 = 4°54°
磁道号
H磁头臂
心头该写
缝航存取线
-B敏头浮动块
GB 2950—82
增盘S
跨立抹除缝院
读／写疑龄
就片疑转方狗
A磁义
4磁头读/F
蜂隙存取线
A醛头泽动块一
图2头盘系统的几何图形
表2磁道半径的公称值
A避头磁道半径
166,7415
165,4614
16，4372
163,6692
163,4132
163,1572
162,9012
162,1331
：161.8771
161,6211
1608582
160,5972
160,3412
B磁火磁道半径
165,9796
165,7235
上64.4430
164,1869
163,9307
163,4186
182,9064
162,6503
162,3942
161,8821
161,6260
161,3699
161,1138
160,6017
磁道号
A磁头盛道半径
159,8292
158,8053
158,5493
158,0374
154,9659
154,4541
154,1981
153,9422
153,8863
B磁义磁道半径
159,8334
159,3213
158,8092
158，2971
156,2487
155,7386
154,7125
154,4565
154,2004
153,9444
磁道号
A磁头磁道半径
153,4304
152,9185
152,150B
151,8949
151,6390
151,1272
150,8713
150,.6154
150,3695
1501036
149,8477
149,5918
149,3360
149,0801
148,8242
148,0566
147,2890
147,0332
146,7773
146,5213
1460098
145,2423
144,9865
144,7306
114,4748
144,2190
143,963
143,7073
143,4515
143,1957
142,9399
142,1725
141,9167
GB 2950--82
续表2
H磁头磁道半径
153,1764
152,6644
152,4084
152,1524
151,8963
151,6403
[51,3843
150,8723
150,6164
150,3604
-149,5924
148,5685
148,3126
148,0566
147,2887
116,7768
146,5209
146,2649
145,4971
145,2412
144,7293
144,4734
144,2174
143,9615
143,7056
143,1938
142,6819
142,4260
141,9142
磁道号
A头磁道半径
141,1494
140,8936
140,3820
139,8705
139,3590
138,5917
138,3360
138,0802
137,5688
137,3130
135,2673
134,7559
134,5002
133,7332
133;4773
132,9662
132,7105
132,4549
132,1992
131,6879
131,4323
130,9210
130,6654
129,6429
B磁头磁道半径
141,1466
140,8907
140,6348
140,3789
139,8671
139,6113
139,0995
138,8437
138,3319
138,0761
137,5644
137,0527
136,7969
136,5410
136,2852
136,0293
135,7735
135,5177
134,7503
133,4712
133,2154
132,9597
132,4481
131,4250
130,9135
130,6577
130,4020
129,8905
磁道号
A头磁逆半径
12月,8761
128,1093
127,5982
127,3426
127,0870
126,5759
125,8093
125,2982
125,0427
124,5316
124,0206
123,2541
122,.9986
122,4876
122,2321
2.3.2磁道位置公差
GB2950—82
续表2
日磁头磁道半径
128,6118下载标准就来标准下载网
128,1004
127,8446
126,8218
125,5434
125,2877
1250320
124,7764
122,7312
磁道号
A磁头道半径
121,9766
121,7213
121,4657
120,6994
120,1885
119,9331
119,6776
119,4222
119,1668
118,4006
118,1452
117,6345
117,1237
116,6130
116,1023
B磁头磁道半择
121.708？
121,4531
121,1975
120,9419
120,6863
120,4307
119,9196
119,6640
119,4084
119,1529
118,3862
1181306
115,5754
在23℃时，已记录的磁道中心线的实测位置对公称位置的偏差应在±0.025mm以内往：T由于73道用于校正驱动器，故73道位置的偏差应在±0.0075mm以内。②在其他度时（在GB 2310一80中规定的范围内），磁道中心线的公称位置可用线膨胀系数24×10‘ / T:让算。
2.3.8记录偏角
在写入成读出的瞬间，磁化翻转图2所规定的磁头存取线构成的角度为451＇+302.4标志
使用如下的标志进行试。
2.4.1磁道标志
磁道标志用三伤十进制数字(000～202)表示。每个记录面从最外面的磁道开始向里面顺序编号。2.4.2记录面标志
如图1所示，用二位十进制数字（00～19）从顶部的记录盘片的下表面开始，对=十个记录面顺序编号。
2.4.3柱面地址
GB 2950-82
盘组中磁道标志号相间的所有磁道组成·个柱面。柱面地址即磁道标志号。2.4.4磁道地址
用位十进制数字表示一个磁道地址，其中高位的三位数字确定柱面地让，其余二数宁确定记录面地址（记录面地址即记录南标志号）。2.5索引
索！是确定磁道的起始和终止的点。在检出索引盘的索引缺口前缘的瞬间，索引正处于应的存取线上磁头（A磁头和B磁头，见图 3）读写缝隙的正下方。此时，存取径间向中心线与通过索引缺口前缘的半径之间的夹角（见阁3）应# = 42'g°
径尚中心
B头读写
缝助存最线
A做头谈号
缝职存取线
索引缺口
盘片心
图3索引盘片(俯视)
2.6测试区
2.6.1标题区
为了测试，规定标题这为：在盘组转速为2400rpm吋，起始不迟丁素引后100us，终止不早厂索引后700μs之间的x域。
2.6.2数据区
为了测试，规定数据区为：在盘组转速为2400rpm时，起始不迟丁索引后700μs，并延续至下一个索引之司的区域。
3测试条件和装盘
3.1一般条件
3.1.1转速
在任何测试期间，盘组转速应为2400±24rpm，旋转方向应为逆时针方向（俯视）。3.1.2空气流量
空气流量（在标准条件下）应为0.026上0.0014m*/s，进入盘组的空气压力不超过0.5mbar。3.1.3温度
进入盘组的空气温度应为27±1℃。3.1.4相对湿度
GB 2950—82
进入盘组的空气相对湿度应为40%～60%。3.1.5 适应时间
在测试前，盘组应与测试装置在相同的坏境下适应24小吋。3,2 标准基准面
有两种标准基准面（标准幅度基准面和标准数据基准面），它们用作校正所有二级标准的基准。标准基准面保存在指定的机构内。3.2.1标准幅度基准面
8.2.1.1 特征
标准幅度基准面以刻痕所指出的区域表征，且规定该区域为刻痕边缘后50μs至275μs这段时间。以1f频率（见3.4.3）不加隧道抹除记录，并使用幅度试磁头（见3.3.1）读出时，该基准面应给出如下输山电压：
在半径115.087±0.254mm处，峰一峰值为7.0m V。在半径166.7260.254mm处，峰—峰值为11.5mV。3.2.1.2二级标准幅度基准面
二级标准幅度基准面的输出电压与标准幅度基准面的输出电压相关，其关系用校正系数CAD表示。校正系数CAn为：
标准幅度基准面输出电压
二级标准幅度基准面输电压
当按3.2.1.1规定的区域测试时，合格的一级标准幅度基准面的校正系数CAD应满足0.90≤CAD1.10,
3.2.2标准数据基准面
3.2.2.1 特征
标准数据基准面以刻痕所指出的区域表征，且规定该区域为刻痕边缘后50us至275us这段时间。在跨立抹除后，使用数据测试磁头（见3.3.2）读出时，在半径115.087±0.254mm处，该基准面应给出如下输出电压：
如以2f频率（见3.4.3）记录，峰一峰值为4.0mV。如以4f频率（见3.4.3）记录，峰一蜂值为2.0mV。3.2.2.2二级标准数据基准面
级标准数据基准面的输出电压！标准数据基准面的输出电压相关，其关系用校止系数C2f频率为CDD2，4f频率为CDD4）表示。校正系数Cnn为：
标准数据基准面输出电压
二级标准数据基准面输出电压
当按3.2.2.1规定的区域测试时，合格的二级标准数据基准面的校正系数C nD应满足0.90≤CDDr1.10g
8.3测试磁头
3.3.1幅度测试磁头
幅度测试应采用合适的幅度测试磁头*。合格的幅度测试磁头的校正系数CAH应满足0.90≤CAb≤1.10.
校正系数CA为：
标准幅度基准面输出电压
（实测的磁实输出电压）×CAD
*1SO举例的1BM2316（2311型）幅度测试磁头是一种合适的磁头。GB2950—82
其中，实测的磁头输出电压是在1f频率下，在二级标准幅度基准面（见3.2.1.2）上的两个半径处測得的。
3.3.2数据测试磁头
幅度测试以外的其他测蛋应采用合适的数据测试磁头*。合格的数据测试磁头的校正系数CDH应满足0,90≤CDH≤1.10.
校止系数CDH为：
标准数据基准面输出电压
（实测的磁头输出电压）×CDn2其中，实测的磁头输出电压是在2f频率下，在二级标准数据基准面（见3.2.2.2）上半径为115.087mm处测得的。
3.3. 2. 1 分辨率
数据测试磁头的分辨率在标准数据基准面上半径为115.087mm处同一个225μs扇段内进行测试，并由4f频率与2f频率读出幅度平均值之比确定。数据测试磁头的分辨率应为40%～60%。3.8.2.2谐振频率
在磁头引线插头处测量时，每个读/写线圈的谐振频率应不小于4.2MHz。3.4特殊条件
3.4.1度测试磁头的测量条件
3. 4,1.1 写电流
在磁头引线插头处测得的1「频率的写电流波形如图4所示。其中，写电流Iw：
Iwi+Iw2
=35±1mA.
过冲量等手（5%～10%）1w。
写电流[W的正、负幅度之差应
[Iw -Iw2<1mA,
TR =140～200ns,
Tr = 140 ~ 200s
ITR -TF I 20ns.
两个相邻的半周期T1、T2相差应不大于 2 %。单
3.4.1.2直流抹除电流
图4写电流波形
*TSO举例的BM2316（2314型）数据测试磁头是一种合适的磁头。%
GB 2950—82
当使用直流抹除时，通过磁头读/写线圈之一的直流抹除电流应为，I E = 35 1 1 mA.
3.4.1.3读出电路
在磁头引线插头处测得的读出电路的差动输入阻抗应为7.5±0.37kg电阻和45+5pF电容（包括分布电容和集4电容）的并联（见图5）。放大器通频带的平坦度在0.1～2.0.MHz内应不超过5%。3.4.2数据测试磁头的测量条件
3.4.2.1写电流
在磁头引线插头处测得的2f频率的写电流波形如图4所示。其中I:
Iw++Iw2
=35±1mA（000～127道）
Iw = 30 ± 1 mA (128~202道)。过冲量小于或等于8%Iw。
写电流1w的正、负幅度之差应为：[Iwi -IW? | .1mA.
TH = 120 - 160ns;
TF = 120 ~ 160 n5 #
I TR - TE20ns.
两个相邻的半周期T1、T?相差应不大于2%。3.4.2.2直流抹除电流
当使用直流抹除时，通过磁头读/写线圈之一的直流抹除电流应为：I ^ = 35 ± 1 mA( 000 ~ 127道);Iz=30±1mA（128~202道）。
3.4.2.3读出电路
在磁头引线插头处测得的读出电路的差动输人阻抗应为4.20±0.21ks2电阳和30±5pF电容（包括分布电容和集中电容）的并联（见图5）。读
图5读出电路
输入阻抗大
下 100 k s2
的差动放大
读出电路应能接收峰一峰值为0.6～10.0mV的低阻抗信号电平。当频率为0.5~3.0MHz时，其线性度应在3%或0.050mV内（取大值）。3.4.3测试信号
规定1f、2f和4f频率为，
1 f =(1250 ± 1.25) × 103翻转/秒2f=（2500±2.50）×10翻转/秒4 f=（5000±5.00）×10°转/秒。8.4.4直流边缘抹除
除另有规定外，所有记录面测试和磁道质量测试都应进行边缘抹除。当使用隧道抹除（TE）幅度测试磁头时，边缘抹除电流应为：ITE=40+2mA。
当使用跨立抹除（SE）数据测试磁头时，边缘抹除电流应为：IsE= 35= mA。
3.4.6磁记录
GB 2950--82
除另有规定外，在所有写操作前都应进行直流抹除操作（见3.4.1.2和3.4.2.2）。3. 4.6 磁道位量
在磁道质量测试（见4.2)时，也要求磁道位置按2.3规定，对公称位置的偏差不超过0.025mm。3.4.7磁头加载力
磁头在加载点加载或等效加载的净加载力应为3.43±0.10N。4功能测试
4.1记录面测试
4.1.1幅度测试
4.1.1.1步
用幅度测试磁头以1f在记录面上的任何部分写入并读出。4.1.1.2 结果
在幅度最人的50μs扇段内，读出幅度经校止（见3.3.1)后的平均峰一峰值应限制在以下范围内：最大幅度在半径115.087mm处*9.3mV，此后随半径按比例增加，在半径166.726mm处增加到15.1mV，但不得超过该值。
最小幅度在半径115.087mm处为6.3mV，此后随半径按比例增加，在半径166.726mm处增加到10.0mV，但不得低丁该值。
4.1.2分辨率测试
4.1,2.1 步骤
用数据测试磁头以2f在记录面上的任何部分写入并读出，然后在同一位置经直流抹除后再以4f写人片读出。
4.1.2.2结果
在任何情况下，同一个0μs扇段内的比值，即，4f的读出电压平均值
2f的读出电平均值
应为0,55 ±0.20。
4. 1.3 重写测试
4.1.3.1 步骤
在000道上以2f写入，用选频电压表测出2f信号的平均幅度。不进行直流抹除，随后以4f重写次，再用选频电压表测出2f信号的平均幅度。使用的磁头应是合格的重马磁头（见4.1.3.3）。4.1.3.2重写残余度
重写残余度规定为：
以4f重写后选测2f信号的半均幅度-×100%
以41重写前选测2f信号的平均幅度4.1.3.3合格的重写磁头
在标准数据基准面上用数据测试磁头写入和重写，当重写残余度r在 3 %～5 %之间时，该数据测试磁头即可作为合格的重与磁头。4.1.3.4 结果
被测记录面的重写残余度与数据基准面的重写残余度的比值不应大于1.3。4. 1.4 正调制测试
4.1.4. 1 步骤
用数据测试磁头以2f写人一条磁道并读出。4. 1.4. 2 结果
GB 2950-82
在该磁道上幅度最大的50μS扇段内测得的平均基一峰值应小于整个磁道平均基一峰值的146%。4. 1.5负调制测试
4. 1.8. 1 步骤
用数据测试磁头以2f写人-条磁道并读出。4.1.5.2 结果
在该磁道上幅度最小的50μs扇段内测得的平均基一峰值应大于整个磁道平均基一峰值的75%。4. 2磁道质量测试
应采用数据测试磁头对所有磁道进行质虚测试。测试的两种方法说明如下，方法A是以固定电压基准为依据。方法B是以磁道相对电压基准为依据。采用曦种方法可由双方商定。
4. 2. 1 滞脉冲测试
4.2.1.1方法A
步骤，在每条磁道上以2f写入并读出。结果：任何读出脉冲，其基一降值小下标准数据基准面在2f时输出峰一峰值（见3.2.2.1的25%即为漏脉冲。该基一峰值是模拟信号过零后在150～250丑s间出现的值。4. 2.1.2 方法B
步骤，在每条磁道上以2f 写人并读出。结果：任何读出脉冲，其基一峰值小于其前面的50μs扇段内平均基一峰值的60%即为漏脉冲。4, 2. 2需脉冲测试
4.2.2.1 方法 A
步骤：在每条磁道上以2T写入并读出，然后按3.4.2.2规定进行直流抹除并读出残余脉冲幅度。结果：任何读出残余脉冲，其幅度大于被测磁道2f 平均基一峰值的40%即为冒脉冲。任何读出残余脉冲的最大基一峰值不应超过标准数据基准面在2f时输出峰一峰值（见3.2.2.1)的22.5%。
4.2.2.2方法B
步骤，在每条磁道上以2f写人，读出并记下磁道信号最大的50μs扇段的平均峰一蜂值，称为V然后按3.4.2.2的规定进行直流抹除并读出残余脉冲幅度。结果：任何读出残余脉冲，其基一峰值超过1/2Vs的25%即为冒脉冲。4.2.8易抹性测试
4.2.8.1 方法A
步骤：在每条磁道上以2f写人并读出。按3.4.2.2规定进行直流抹除，然后读出残余信号幅度。结果：在被抹除磁道上，任何50μs扇段内测得的残余信号平均峰一峰值不应超过该磁道50us扇段内2f 信号最大平均峰一峰值的 4%（残余信号的测最与测试系统的噪音无关）。残余信号的最大峰一峰值不应超过标准数据基准面2f输出（见3.2.2.1）的10%。4.2.3.2 方法 B
步骤：在每条磁道上以2f写入，读出并记下磁道信号最大的50us扇段的平均峰一峰值，称为VA。按3.4.2.2的规定进行直流抹除，然后读出残余信号幅度。结果：读出信号最大的50μs扇段的平均电平不应超过4的10%。4.合格准则
4.8.1记录面检验准则
合格的盘组应符合4.1中规定的所有记录面测试要求。表.8.2磁避质量检验准则
4.8.2.1缺陷
GB 2850-82
凡不符合4.2中规定的任何一条要求者均属于缺陷。每.3.2.2无缺陷要求
在任何磁道的标髓区（见2.6.1）以及地址为0000磁道上应无缺陷。为了实现数据互换，个合格的盘组至少应有4000条无缺陷磁道。
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