标准号： SJ/T 11399-2009
中文名称：半导体发光二极管芯片测试方法
标准类别：电子行业标准(SJ)
标准状态：现行
发布日期：2009-11-17
实施日期：2010-01-01
出版语种：简体中文
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标准ICS号：电子学>>31.260光电子学、激光设备
中标分类号：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L45微波、毫米波二、三极管
出版社：电子工业出版社
页数：11页
标准价格：0.0 元
出版日期：2010-01-01
起草人：鲍超、胡爱华、牟同升、李明远、彭万华
起草单位：中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、深圳淼浩高新科技有限公司
归口单位：工业和信息化部电子工业标准化研究所
发布部门：工业和信息化部
主管部门：工业和信息化部电子工业标准化研究所