YS/T 24-1992
基本信息
标准号:
YS/T 24-1992
中文名称:外延钉缺陷的检验方法
标准类别:有色金属行业标准(YS)
标准状态:现行
发布日期:1992-03-09
实施日期:1993-01-01
出版语种:简体中文
下载格式:.rar.pdf
下载大小:45517
相关标签:
外延
缺陷
检验
方法
标准分类号
标准ICS号:电气工程>>29.045半导体材料
中标分类号:冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
关联标准
出版信息
页数:2页
标准价格:8.0 元
出版日期:1993-01-01
相关单位信息
起草人:施海青、金胜祖
起草单位:L海有色金属研究所
提出单位:中国有色金属工业总公司标准计量研究所
发布部门:中国有色金属工业总公司
标准简介
本标 准 规 定了外延钉缺陷的检验方法本标 准 适 用于任何直径与晶向的硅外延片上高度不小于4,u m 的钉缺陷存在与否的判断。如果钉缺陷比少且 彼此不相连,本标准可用十钉缺陷的汁数。本标 准 不 能测量钉缺陷的高度 YS/T 24-1992 外延钉缺陷的检验方法 YS/T24-1992 标准下载解压密码:www.bzxz.net
标准内容
中华人民共和国有色金属行业标准外延钉缺陷的检验方法
主题内容与适用范围
本标准规定了外延钉缺陷的检验方法。YS/T 24-—92
本标准适用于任何直径与晶向的硅外延片上高度不小于4um的钉缺陷存在与否的判断。如果钉缺陷比较少且彼被此不相连,本标准可用于钉缺陷的计数。本标准不能测量钉缺陷的高度。2方法提要
将一片聚酯塑料薄膜以特殊方式沿三个不同方向推过试样表面,在两个或两个以上方向碰到的表面突起物被判定为钉缺陷。
3器具与材料
3.1真空吸片装置或镊子。
3.2聚酯塑料薄膜,厚度为25μm,面积为50mm×50mm。4试验样品
抽样方案及试样数量由供需双方商定。5检验步骤
5.1将真空吸片装置吸住试样背面,或用镊子夹持住试样。对于仲裁检测,也可将试样外延面朝上置于清洁表面上。
5.2拇指和食指夹住聚酯塑料薄膜,使薄膜在拇指下延伸约25mm,并与试样表面成45°倾斜。5.3于参考面对面,将薄膜与试样接触,见图1。案酯膜
海膜移动力向
图1试样和聚酯膜放置方尚
5.4推动薄膜至主参考面(见图2中方向①)。中国有色金属工业总公司1992-03-09批准606
1993-01-01实施
YS/T24--92
图2移动方向
5.5使薄膜重复做一系列平行且互叠加的移动。5.6记下薄膜与突起物相碰的每一个位置。5.7对其余两个方向(见图2中方向②和方向③)重复5.5~5.6条。三个方向大致马成120°角。5.8在两个或两个以上方向上,聚酯塑料薄膜与试样表面突起物相碰的每个位餐,当作为一个钉缺陷。
注:必要时,可用显微镜检查钉缺陷的存在及位置。6精密度
本方法对单个实验室平均检出率为95%,精密度为土5%(R2S),对多个实验室平均检出率为92.6%,精密度为士10%(R2S)。7
试验报告免费标准下载网bzxz
7.1对于批量验收,试验报告应包括:产品类型;
批编号:
有钉缺陷试样数与被检试样数;c.
本标准编号,
检验单位、检验者和检验日期。7.2对于仲裁检验,还应包括标有钉缺陷大致位置的试样形貌图。附加说明:
本标准由中国有色金属工业总公司标准计壁研究所提出。本标准由上海有色金属研究所负责起草。本标推正要起草人施海青、金胜祖。本标准等效采用美国标准ASTMF815--83《外延钉缺陷检验方法》。607
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