本标准规定了荧光粉水溶性氯化物、密度、粒度分布、相对亮度、相对光谱功率分布、色度坐标、紫外辐照稳定性、余辉相对亮度、相对光度效率、余辉时间、热稳定性，干、湿粘着力的测试方法。本标准适用于各灯荧光粉，其中，紫外辐照稳定性和余辉相对亮度的试验方法仅适用于光致发光荧光粉，流明效率、余辉时间、热稳定性，干、湿粘着力的试验方法仅适用于阴极射线致荧光粉。 GB/T 4070-1996 荧光粉性能试验方法 GB/T4070-1996 标准下载解压密码：www.bzxz.net

GB/T4070—1996
本标准是对GB4070～GB4072—83的修订，由于目前还没有荧光粉方面的国际标准，因此在修订时，参考了国外有关公司相应的荧光粉试验方法。本标准对原标准GB4070~GB4072-83做了下列修订：将原三个标准合并为一个标准；原标准是按荧光粉类别来制定试验方法的，而各类荧光粉的试验方法，除少数性能试验方法不同外，大多数性能试验方法是相同的，因而使标催内容重复，修订时不按类别而按性能参数来编制试验方法，这样避免重复，对特定的试验方法的适用性，在本标准第1章中做了说明；本标准文本中废除了原标准中落后的试验方法，增加了广为采用的较先进的试验方法，为了兼顾试验方法的先进性和实用性，对于某些性能参数，本标准文本中同时摊荐了数种方法，但规定了一种仲裁试验方法。
本标准自实施之日起，同时代替GB4070~4072—83本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准出电子工业部标准化研究所归口。本标准起草单位：电子工业部标准化研究所和北京化工厂。本标准主要起草人：刘筠、朱林生、孙铁静周元标，曹维。1范围
中华人民共和国国家标准
荧光粉性能试验方法
Test methods for propertles of phosphersGB/T 4070-1996
代替GB4070~4072—83
本标准规定了荧光粉水溶性氯化物、密度、粒度分布、相对亮度，相对光谱功率分布、色度坐标、紫外辐照稳定性、余辉相对亮度、相对光度效率、余辉时间、热稳定性，干、混粘着力的测试方法。本标准适用各灯荧光粉，其中，紫外辐照稳定性和余辉相对亮度的试验方法仅适用于光致发光荧光粉，流明效率、余辉时间、热稳定性，干、粘着力的试验方法仅适用于阴极射线致火光粉。2引用标准
下列标准所包含的条文通过在本标准中引用而构成为本标准的条文，本标出版时，所示版本均为有效。所有标准部会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB 602—88化学试剂杂质测定用标准溶液的制备CB603—88化学试剂试验方法中所用制剂及制品的制备GB5838--86荧光粉名词术语
3定义
3.1余辉相对亮度
荧光粉停止激发后，在规定时间内试样与同一牌号标样的亮度之比，称为余辉相对亮度。3.2其他术语
本标准所用其他术语按GB 5838。4水溶性氧化物的测定
4.1原理
在硝酸介质中，氯离子与银离子生成雄溶的氯化银沉淀。当氧离子含量较低时，在一定时问内氯化银呈悬浮体，使溶波混浊，借此进行氟化物的比浊测定。4.2试剂和溶液
4.2.1硫酸锌溶液（50g/1.）
称取5.0g硫酸锌，溶于水，稀释至100ml.,摇勾。4.2.2磷酸（25%）
按GB603的规定制备。
4.2.3硝酸银溶液(17g/L)
按CB603的规定制备。
4.2.4氯化物标准溶液
接GB602的规定制备。
国家技术监督局1996-09-09批准1997-05-01实施
4.3测定步骤
GB/T 4070.-. 1996
4.3. 1称取 2. 0试样,放入烧杯中,加入20 mL水及1~2滴硫酸锌溶液,加热至沸腾,再冷却至室温。
4.3.2用定性滤纸过滤，将滤液盛于比色管中，并用少量热水洗涤滤渣2～3次，用水稀释率25mL。4.3.3加25%硝酸银溶液0.5mL摇匀，放置10min,所呈浊度应不大于氛化物标准溶液。4.3.4标祥与试样平行试验。
4.3.5测试结果
标样与试样的测试结果进行比较。5密度的测定
5.1原理
在相同温度下，分别测定充满同一密度瓶中的水的质量，由水的质量可确定密度瓶的容积即样品的体积，据据样品的质量及体积即可计算其密度。5.2仪器
5-2.1分析天平：标称值0.001g。5.2.2 温度计;分度值应不大于 0. 5℃。5.2.3度瓶；容秘为25mL
5.3测定步骤
5.3.1将3g～5g干燥试样放入密度瓶中，用大平称量。5.3.2向密度瓶中注人2/3体积的水，排除气泡，再注水至满，并擦下瓶的外表面，用天平称量5.3.3用温度计测量瓶中的水温
5.3.4倒出比重瓶中的被测液，并洗净，用相同温度的水注满比重瓶，擦干瓶的外表面，用天平称量。5-4分析结果的计算
荧光粉的密度按式(1)计算。
Pi- (m, - m3-(m, - ma) * Pe
式中：P—荧光粉的密度·g/cm\;P—tC时水的密度，g/cm；
1—密度瓶质量+8
m2密度瓶加试样的总质量；
m-密度瓶加试样再注满水后的总质量，gm密度瓶注满水后的总质量，g。5.5允差及其结果
计算结果取小数点后两位，每一试样按测定步骤测两饮，平行结果之差应不大于0.02，两次测试结果取其算数平均值。
6粒度分布的测定
6.1库尔特法（仲裁法）
6.1.1原理
悬浮在电解液中的颗粒，在减压作用下通过小孔进人小孔管。小孔管内外各有一电极，当颗粒进入小乳管内时，每·颗均会取代与其相等体积的电液，从雨导致两电极间电阻发生变化转化为电脉冲变化。脉冲幅度正比于粒径，脉冲数目正比丁题粒数。经过数据处理，绘制出粒度分布曲线。6.1.2器
GB/T 4070--1996
库尔特粒度分析仪,测定范围：0.4 μm~200 μm6.1.3测定步骤
按照产品技术标准的要求和仪器的规定，取适量样品进行分散处理后，进行测定并绘制其粒度分布曲线，计算中心粒径和平均粒径。6.2其他方遇
荧光粉粒度还可用沉降法，观察法等其他方法测定。7相对亮度的测定
7.1原理
荧光粉在规定的激发条件下发出可见光，通过光电探测器将它转换成光电流或光电压，并记录此值，与同样方法测得的标样粉的光电流或光电压值进行比较，得出样品的相对亮度。7.2装置
7.2.1光致荧光粉拍对亮度测定装置7.2.1.1紫外激发仪
253.7mm或365.0nm紫外辅射低压汞灯，功率为4W~~20W，配用380mm~760nm波长范内透射比不大于 0.1%的滤光片。
7.2.1.2光电探测器
其性能指标符合国家·级照度计对光电探测器的要求。7.2.1.3装胃原理示意图
激发光源
滤光片
样品台
光电探测器
图1光致荧光粉相对充度测定装置原理示意图7.2.2阴极射线致荧光粉相对亮度测定装置7.2.2.1阴极射线激发仪：电子束流稳定度优于1×10-3/30min。7.2-2.2光电探测器：其性能指标符合国家一级照度计对探测器的要求。7.2.2.3装置原理亲意图见图1。7.3测定步骤
7.3.1将试样和标样同时分别装人金属样品盘内，用平面玻璃压平，使表面平整。标样只能使用次。7.3.2按产品技术标准规定，激发试样和标样。7.3.3用光电探测器将试样和同一牌号标样发出的光转换成光电流（或光电压），并记录此数值，每一试样和标伴连续重复读数三次，相对误差不应超过2%，取其算术平均值进行计算。7.4分析结果的计算
试样的对亮度按式(2)或(3)计算：×100%
×100%
式中：L—试样的相对亮度,%;
I——试样的光电流数值,mA;
T——同一牌号标样的光电流数值，mA；V—试样的光电压数值，mV；
GB/T 4070—1996
V。—同一牌号标样的光电玉数值,mV7.5允差
实验室之间分析结果的差值应不于2%。8相对光谱功率分布的测定
8.1原理
荧光粉在规定的激发条件下，辐射功率按波长分布，通过分光仪器和光电探测器记录规定间隔波长下的光电流值，进行系统修正和归一化处理后，却可得出相对光谱功率分布曲线。8.2装置
8.2.1分光光度计
8.2. 1.1分光仪器波长读数和波长对应关系的校准:用已知波长的光源(如汞灯,钠灯),校正分光仪器出射波长与仪器波长读数的对应关系。8.2.1.2测试系统光谱响应的校准将标准漫反射白板。安放在试样位置上，在保证光电倍增管输出信号足够的情况下,用 2856K分布温度标准灯照射标准反射白板，使入射狭缝和出射获缝符合带宽的要求，按规定波长间隔记录输出的光信号响应值，接式(4)计算：a(a) = So() - Pe(u)
式中：a(a)-—系统灵敏度倒数;-2856K分布温度标准灯的相对光谱功率；S,)
-标准漫反射白板的光谱反射率；I(a)——光信号响应值。
绘制α()和 ^的关系曲线。
8.2.2激发仪
要求同 7. 2. 1. 1 或 7. 2. 2. 1。8.2-3装置源理示意图
激发源
样品台
分光光度计
图2相对光谱功率分布测定装置原理示意图8.3测定步骤
8.3.1同7.3.1。
8. 3. 2同 7. 3. 2。
8.3.3试样在稳定激发后发出的光，分光光度计，按规定室波长问隔测得光信号响应值，8.4分析结果的计算
相对光谱功率按式(5)计算：
S(A) = I(d) +α(A)
式中：S(1)试样的相对光谱功率I(1)——试样的光信号响应值：α(1)——系统灵敏度的倒数。
以最大值为100，对其他值分别进行归，绘制出试样的相对光谱功率分布曲线。以上测试和计算也可使用多道光谱仅完成。(4)
...-(5)
9色度坐标的测定
9.1装置
GB/T 4070—1996
9.1.1色度计：用2 856K分布温度标准灯进行校正。9.1.2分光光度计：要求同8.2.1.9.1.3激发仪：要求尚 7.2.1.1或7.2. 2.19.1.4光电探测器：要求同7.2.1.2。9.2测定步骤
9-2.1分光测定法（仲裁方法）
9.2.1.1测定步
测定步骤同8.3.按产品技术标准要求，采用-定功率的253.7nm或365.0nm紫外光稳定激发试样，测出其相对光谱功率分布曲线（见8.3)，乍测定线谱时，出射狭缝可以适当调整。9.2.1.2分析结果的计算
三刺激值分别按式(6)，(7)，（8),(9)计算：X=I
2a) -z(a) Ad
Y=(a) +j() .
式中：X,Y,Z--三刺激值
K——常数(归--系数);
S(a)——相对光谱功率：
P) -(A) -
Es() -() .A
(a)—色刺激函数，因荧光粉是自发的色源，所以g(a)=S(a)三（a)，（A),元(1)——光谱二刺值（见CIE1931年公布的2°视角光谱三刺撤值)。波长间隔（宽谱带取10nm，线谱取1nm）。色度垒标分别按式(10)、（11)、（12)由三刺激值导山：X=X+Y+z
y=X+Y+z
X+￥+Z
因为十3十&=1,所以只用,表示色度坐标，以上测试和计算也可使用多道光谱仪完成。9.2.2色度计测定法（推荐方法）-(7)
（19)
按7.3.1和7.3.2规定，将色度计测光头对准试样发光面，在色度计输出端，直接读出试样的色度CB/T 4070-1996
坐标值，或读出X,Y,z三刺激值，按9.2.1.2计算出色度坐标+3。9.3充差
实验案之间色度坐标元和测量结果之差值应不大于0.002。10光致荧光粉紫外辐照稳定性的测定按产品技术标准要求把试样置于规定的温度和相对湿度的环境中，保持定时间。然后放在被长为2537nm或3650nm的紫外光下辐照一定时间，与未辐期的同批试样（作为标样)按7章中规定，进行相对亮度测定，其结果不低于产品技术标准的要求。再于同样条件下，观察体色，体色不允许有变化。11光致荧光粉余辉相对亮度的测定11.1原理
荧光粉在规定条件的紫外辐照激发下发出可见光，当其亮度达饱和时停止激发并计时，待达到产品技术指标规定的时间，测定其余烊亮度，与同一牌号标样的亮度进行比较，得出余辉相对亮度。11.2装置
同7.2.1.
11.3测定步骤
11.3.1同7.3.1.
11.3.2同7.3. 2。
11.3.3当试样亮度达到饱和时，停止发并计时，待达到产品技术指标规定的时间后，用光电探测器测定标样和试样的余辉亮度，记录此数值。11.3.4分析结果的计算
试样的余辉相对亮度按式(13)计算：×100%
式中：L—试样的余辉相对亮度；I——试样的光信号响应值
I,——标样的光信号响应值。
12阴极射线致荧光粉流明效率的测定12.1原理
荧光粉在规定条件的电子束激发下发出可见光，通过光电探测器将它转换或光信号响应值，记录此值，与同样方法测得的标样粉的光信号响应值进行比较，得出样品的流明效率。12.2装置
同 7. 2. 2。
12.3测定步骤
同7.3。
12.4分析结果的计算
试样的流明效率按式(14)计算：=×
式中：—试样的流硼效率,1 m/W;%——标样的流明效率，1m/W；
I——试样的光信号响应值，mA；( 14 )
I—标样的光信号响应值，mA。
12.5充差
GB/T 4070—1996
实验室之间分析结果的差值应不大于2%。13阴极射线致荧光粉余辉时间的测定13.1装置
13.1.1方波信号发生器：要求方波信号的最大幅度足以使电子束停止激发样品。方波的宽度应保证试样的余辉衰减过程完全，方波前沿要小于余辉时间的1/10。13.1.2光电倍增管：要求在可见光谱区有足够的光谱灵敏度，暗电流小，积分灵敏度高，应工作在光流和光电流的线性区。测定余辉时负载电阻和分布电容应选择得使阴极回路的时间常数RC小于试样余辉时间的1/10。
13.1.3示波器：要求应有适当的频宽、增益和扫描速度。13.1.4阴极射线激发仪：要求电子束流稳定度优于1×10-\/30min。13.1.5光电探测器：其性能指标符合国家一级照度计对光电探测器的要求。13.1.6装置示意图
装置示意阁图3。
方被发生器
偏转板
样品盘
光电信塔管
示波器
图3阴极射线致荧光粉余辉时间测定装置原理示意13.2测定步骤
13. 2. 1同 7. 3, 1 ,
13.2.2按产品技术标准要求规定的电压和电流，稳定激发试样。13.2.3将方波信号加在电子枪的调制极或偏转板上，使其周期地截止或偏离电子束，在试样上周期地产生一个不移动的光斑。
13.2.4用光电倍增管将光信号转变为电信号，输入示波器，谢整延时线路，根据示波器的时标信号，用日测法或照像法，确定余解时间。或使用存储示波器测定，用记录仪或绘图仪直接画出余辉曲线，得出余辉时间。
14阴极射线致荧光粉热稳定性的测定14.1装置
14.1.1高温炉。
14.1.2石英地埚：50mL。
14.1.3阴极射线发仪：要求同7.2.2.1。14.1.4光电探测器要求同7.2.2.214. 1. 5装置原理示图:同 7. 2. 1.3,14.1.6色度计：要求同9.1.1。
14. 1.7 分光光度计,要求同 8. 2. 1。GB/T 4070—1996
14. 1. 8激发仪要求间 7.2.1.1或 7.2. 2. 1。14.1.9光电探测器：要求同7.2.1.2。14.2测定步骤
14.2.1取10g试样，放入石英中，于450℃士10℃高温炉内热1h，取出放至室温，与未经加热处理的同批试样（作为标样）按7.3规定，进行相对亮度测定，其结果应不低于产品技术标推的要求。14.2.2按9.2的规定,分别测定其色度坐标值，其对应数值之差(变化值)应符合产品技术标准的要求。
15阴极射线致荧光粉湿粘著力的测定15.1原理
在一定压力，-定流速的水柱冲击下，H喷嘴与样片保持垂直，距离相等，用同样的冲击时间.湿粘着力大小和样片上荧北粉被冲开的圆形缺{的大小成反比。15.2试剂与材料
a）标雁荧光粉；
b）试拌荧光粉，
c）硅酸钾+
d）硝酸锶，
e）玻璃片；
f）纯水。bzxz.net
15.3装置示意图
装置示意图见图1。
电磁阀
高位水楼
图4阻极射线致荧光粉湿粘着力测定装置示意图15.4测定步骗
15.4.1将试样和标样同时按选定的工艺条件沉屏制片,制片后立即试验。15.4.2将测定装置的喷嘴仲进标准片沉淀液巾，距离标准样片正上方1cm～~5cm。15.4.3打开电磁阀阀门，按产品技术标准的要求用一定压力的水柱冲击数秒钟，关闭阀门15.4.4量出标准样片上荧光粉被冲开的圆形缺门的最大直径利最小直径，并取平均值。GB/T 4070—1996
15.4.5试样片接同样方法测出缺口的平均直径，试详和标准同时做三个。15.4.6对三次试验，取算术平均值，两个缺口的平均直径比较，试样片不应大于标准样片。16阴极射线致荧光粉干粘著力的测定16.1原理
样片上的粉层在水柱冲击下出现缺口的擀间压力大小与干粘着力成正比。16.2材料
a）标样荧光粉：
b）试验荧光粉；
c）硅酸钾，
d）硝酸锶：
e）玻璃片：
f）纯水。
16.3装置示意图
装置示意图见图5。
压力表
迹气阀
图5阴极射线致荧光粉干粘着力测定装置示意图16.4测试步骤
16.4.1将试样和标样同时按选定的F艺条件沉屏制片，制片完毕后，沉淀液中取出干燥。16.4.2将标准样片放入测定装置中，打开进气压力控制阀门。16.4.3按产品技术标准的要求以一定速率增加水柱的压力冲击标准样片，当标准样片上的粉层出现缺口的瞬间记录水柱的压力。
16.4.4试样片按同样方法测出水柱压力。16.5分析结果的计算
试样和标样同时做兰次，取其算术平均值。16.6允差
两个水柱压力比较，试验片不应小于标样片。
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