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基本信息

标准号: YS/T 666-2008

YS/T 666-2008工业镓化学分析方法 杂质素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

标准类别:有色金属行业标准(YS)

发布日期:2008-03-12

实施日期:2008-09-01

出版语种:简体中文

下载格式:.rar.pdf

相关标签: 电感 耦合 等离子体 发射光谱 杂质 原子

标准分类号

标准ICS号:冶金>>有色金属>>77.120.99其他有色金属及其合金

中标分类号:冶金>>金属化学分析方法>>H12轻金属及其合金分析方法

关联标准

出版信息

出版社:中国标准出版社

书号:155066·2-18701

页数:8页

标准价格:10.0 元

出版日期:2008-05-01

相关单位信息

起草人:梁倩、王书勤、王晓雯、张予秋、张新宇

起草单位:中国铝业股份有限公司河南分公司;中国有色金属工业标准计量质量研究所

提出单位:全国有色金属标准化技术委员会

发布部门:国家发展和改革委员会

标准简介

本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。本标准适用于工业镓[99.9%≤ω(%)≤99.995%]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。 YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 YS/T666-2008