ＧＢ／Ｔ４０７４—２００８ 《绕组线试验方法》分为八个部分，本部分为ＧＢ／Ｔ４０７４的第２部分。GB/T 4074的本部分规定了绕组线试验方法的尺寸测量。———试验方法４：尺寸测量。定义、试验方法总则和绕组线试验方法一览表见GB/T4074.1。 GB/T 4074.2-2008 绕组线试验方法第2部分:尺寸测量 GB/T4074.2-2008 标准下载解压密码：www.bzxz.net

ICS 29. 060. 01
中华人民共和国国家标准
GB/T 4074.2--2008/IEC 60851-2:1997代替GB/T4074.2—1999
绕组线试验方法
第2部分：尺寸测量
Winding wires-Test methods-
Part 2: Determination of dimensions(IEC 60851-2:1997,IDT)
2008-04-23发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2008-12-01实施
GB/T4074一2008绕组线试验方法》分为八个部分：第1部分：一般规定;
第2部分：尺寸测量；
第3部分：机械性能；
第4部分：化学性能；
第5部分，电性能：
—一第6部分：热性能：
GB/T 4074.22008/1EC 60851-2:1997第7部分：测定漆包绕组线温度指数的试验规程（考虑中）：第8部分：测定速包绕组线温度指数的试验规程快速法(考虑中），本部分为GB/T4074的第2部分，
本部分等同采用IEC60851-21997绕组线试验方法-第2部分：尺寸最等2.1版（英文版）和第2号修改单（2003年），
为便于使用，本部分做了下列编辑性修改：用小数点”。”代替作为小数点的号“，”。本部分自实施之日起代替GB/T4074.2·-1999。本部分与 GB/T 4071.2-·1999相比，主要变化如下：3.1中允许使用两种类型的量具，即机械接勉式千分尺或光学非接触式测径仪；-对3.1.1分尺的测力作了新的规定，将表1分为表1a和表1b。本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国电线电缆标准化技术委员会归口：本部分负责起革单位：上海电缆研究所。本部分参加起草单位：大通清江机电有限公司、保定天威电力线材有限公司，上海杨行铜材有限公司，东港电线有限公司、成都西南电工有限公司、先登电工器材股份有限公司。本部分主要起草人：李福、郑启荣、高素霞、刘顺荣、毋德书、藏斑崇、孟祥富。本部分所代替标难的历次版本发布情况为：GB/T 4074.2—1983,GB/T 1343.2—1984,GB/T 1343.10—1984,GB/T 4074.2—19991范围
GE/T 4074.2—2008/1EC 60851-2:1997绕组线试验方法
第2部分：尺寸测量
GB/T4074的本部分规定了下列试验方送：试验方法4：尺寸测量
定义，试验方法总则和绕组线试验方法一览表见GB/14074.1。HINA
规范性引用文件
下列文件中的条GB/T407的本
本部分的条款
凡是注日期的引用文
两用而成
件，其随后所有的修改单不包括勤误的内容或修订版均不适用本部分，然而鼓励根据本部分达成可使用这些文件的最新版术
协议的各方研究是
部分。
GB/T4074
GB/T 407
3试验方法4
凭组线试验方祛
凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分：一般规定（GB/T）
2008绕组线试验方送
可测量
3. 1.1圆线和肩线
当绕组线尺
时，量具的精度应
2008,EC60851-1:1995,
第5部分：电性能（IEC60851-52004IDT）绕组线尺寸小于或等于0.200mm
F0.200mm时量果的精度应高于2m当机械接触式干分尺和光学非接触式测径仅均可使用，如果使用机械接触
μm。
式千分尺，其测力利测会
直径之由
北值P应符希表
自供需双方资
表1b。若需使用其施
绕纹缇种类
漆包圆线
和表16的规定
同意。
亲包圆线
导体标校
0.100凳组线种类
薄膜绕包园线
漆包扁线和薄膜绕包扁线
纤维包覆线
纸包蝎
测座直径/
除漆包圆线以外的绕组线
导体标称直径
测杆和测座的直径范图见表1a 和PN/mm)=
测力(N)
测座直径（mm）
0.01≤P40.16
0.16P≤0.32
0.32P≤0.80
测座直径/
测力/
GB/T 4074.2—2008/IEC 60851-2:19973.1.2束毁
束线外径应用抛光锥测显，锥棒尺寸如图1所示。催度1:3
图一锥棒
3.2试验程序下载标准就来标准下载网
3.2.1导体尺寸
3.2.1.1圆线
见表2。
表2导体直径测量
导体标称直径
ds0.069mm
d>0.063 mm
量方法
蔡文母
单位为毫米
GB/T4074.5—2008中第3章
注:如果供需双方同意,导体标称直径大于 0. 063 mm小于或等于 1. 000 um 的统组线也可采用电阻测蛋法。3. 2. 1. 1. 1导体标称直径大于 0.063 mm小于或等于 0.200 mm在一根校真试样上相距各1 m的三个位置上，用不损街导体的任何方法除去绝缘层，各测一次导体直。
记录三个量值，取其平均值作为导体直径。3.2.1.1.2导体标称直径大于0.200mm在一根校直试样上，用不损伤导体的任何方法除去绝缘层，在沿导体圆周均分的三个位置上各测量一次导体直径。
记录三个测量值，取其平均值作为导体直径。3. 2. 1. 2编线
用不损伤导体的任何方法在按3.2.5.2规定的三个位置上除去绝缘层，在每个位置各测量一次宽边和窄边尺寸。
记录三个宽边和窄近尺寸测量值,取其平均值分别作为导体宽和窄边尺寸。3.2.2导体不圆度
导体不圆度为在导体每个截面上按3.2.1.1规定测量的任何两个导体直径读数的最大差值，记录导体不圆度，
3.2.3扁圆角
GB/T4074.2—2008/IEC60851-2:1997为了做好本试验，应制备绝缘线的截面，并在足够放大倍数下测量。将三根校直扁线试样在不影响绝缘性能的适当树脂中进行说铸。固化后，树脂的颤色应与绝缘的颜色呈反差。
沿垂直于扁线轴线方向切断嵌在周化树脂中的三根扁线试样，用适当的方法仔细研磨抛光截面。在能正确判断圆角圆度的适当放大倍数下检查抛光表面。记录导体圆孤及与平面连接情况，任何毛刺、粗糙和凸缘亦应记录。3.2.4绝缘厚度
绝缘厚度是外形尺寸与导体尺寸之差。3.2. 4. 1圆线
按3.2.1.1和3.2.5.1的规定测量外径和导体直径，二者之差即为绝缘厚度。3.2.4.2扁线
按3.2.1.2和3.2,5,2的规定现量扁线宽边外形尺寸和导体宽边尺寸，二者之差即为窄边绝厚度：测得的扁线窄边外形尺寸和导体窄边尺寸之差即为宽边绝缘厚度。3.2.5外形尺寸
3.2.5.1圆线
3.2.5.1.1导体标称直径小于或等于0.200加加在一根校直试样相距各1地的三个位置上，各测二次外径，记录三个测量值，取其平与值作为外径。3.2.5.1.2导体标称直径大于0.200mm在一一根饺直试样相距1丑的两个位置上，每个位置沿绝缘线圆周均分测量三饮外径。记录六个测量值，取其均值作为外径。在有关产品标准中，导体直径薄量方法采用表2规定的方法。3. 2.5.2扁线毁
在一根校直试样相距至少100 m的三个位置上，每个位置各测量一次宽边和窄边外形尺寸。若试样外形尺寸比千分尺测杆直径大，则应在试样表面中间和边缘各测一次，若两个测量值不，应取较大值。
记录三个宽边和窄边外形尺寸的测量值，取其平均值分别作为宽边外形尺寸和窄边外形尺寸。3.2.5.3束线
注：下述量方法测得的是实际有用的值，而不是精确的外径。束线外径为卷绕在锥摔上的束线层宽度除以卷绕圈数。束线应以一定张力紧密卷绕在如图1所示的锥棒上，张力(N)为束线各导体标称截面积(m㎡\)之和的65倍：外径小于或等于0,5 mm的束线的卷绕宽度应不小于 10 mm,外径大于 0.5mm的束线的卷绕宽度应不小于20mmm，测量精度应为0.5mm。测量一次。记录外径，并修约到0.01mm。3.2.6漆包圆线自粘层厚度
自粘层厚度是自粘性漆包线外径与除去自粘层后的漆包线外径的差值。自粘性漆包线外径应按3.2.5.1测量，用溶剂或其他任何合适的试剂以及不损伤底漆的任何方法除去自粘层后再次测量其外径，其差值即为自粘层厚度。
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